JPH02281161A - 実装基板上のｉｃ部品の端子誤挿入検出方法 - Google Patents
実装基板上のｉｃ部品の端子誤挿入検出方法Info
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- JPH02281161A JPH02281161A JP1104190A JP10419089A JPH02281161A JP H02281161 A JPH02281161 A JP H02281161A JP 1104190 A JP1104190 A JP 1104190A JP 10419089 A JP10419089 A JP 10419089A JP H02281161 A JPH02281161 A JP H02281161A
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Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明はプリント基板に実装したＩＣ部品の各端子の誤
挿入を検出する方法に関する。
挿入を検出する方法に関する。
従来の技術
近年、ＩＣ部品を実装したプリント基板は小形化と量産
化に適するため、種々の電子装置に採用され、需要が著
しく増加している。しかし、その使用に際してはＩＣ部
品の実装状態を常に厳しく検査する必要がある。何故な
ら、適正に実装されていないと、ＩＣ部品の単なる損傷
に止まらず、装置全体の破壊に至ったりするからである
。このため、ＩＣ部品の各端子をプリント基板のリード
穴に挿入し、半田付けして実装した後、その挿入状態ｈ
８正常か、誤りかを検査する。尤も、一般にＩＣ部品は
その表裏を明確に区別できる形状となっており、電源端
子と接地端子とは対称の位置にある。従って、通常は電
源端子と接地端子とが逆に挿入されていないか検査すれ
ば済むことになる。
化に適するため、種々の電子装置に採用され、需要が著
しく増加している。しかし、その使用に際してはＩＣ部
品の実装状態を常に厳しく検査する必要がある。何故な
ら、適正に実装されていないと、ＩＣ部品の単なる損傷
に止まらず、装置全体の破壊に至ったりするからである
。このため、ＩＣ部品の各端子をプリント基板のリード
穴に挿入し、半田付けして実装した後、その挿入状態ｈ
８正常か、誤りかを検査する。尤も、一般にＩＣ部品は
その表裏を明確に区別できる形状となっており、電源端
子と接地端子とは対称の位置にある。従って、通常は電
源端子と接地端子とが逆に挿入されていないか検査すれ
ば済むことになる。
例えばインサーキットテスタを用いる場合、−般にはＩ
Ｃ部品に含まれるＴＴＬ回路等に付いている入力クラン
プダイオードやトランジスタのコレクタと接地間にある
サブストレートダイオード等の保護ダイオードが作る電
流路を利用し、プローブの接触によりＩＣ部品の電源端
子又は接地嫡子と入力端子又は出力端子との間に定電流
源を与えて電流を流し、その端子間の電圧（電位差）を
測定して正常挿入か誤挿入かを検査する。即ち、正常挿
入時の端子間電圧を先に測定して基準にし、その基準電
圧と対応する検査による測定電圧とを比較して、両電圧
の違いから誤挿入を検出する。
Ｃ部品に含まれるＴＴＬ回路等に付いている入力クラン
プダイオードやトランジスタのコレクタと接地間にある
サブストレートダイオード等の保護ダイオードが作る電
流路を利用し、プローブの接触によりＩＣ部品の電源端
子又は接地嫡子と入力端子又は出力端子との間に定電流
源を与えて電流を流し、その端子間の電圧（電位差）を
測定して正常挿入か誤挿入かを検査する。即ち、正常挿
入時の端子間電圧を先に測定して基準にし、その基準電
圧と対応する検査による測定電圧とを比較して、両電圧
の違いから誤挿入を検出する。
ところが、プリント基板に実装されたＩＣ部品の場合、
測定にはＩＣ部品の端子につながっている他の回路が影
響し、正常挿入、誤挿入の電圧値に僅かの差、例えば数
ｍＶしか差が発生しないことが多い。このため、インサ
ーキットテスタを用いても、実装基板におけるＩＣ部品
の端子誤挿入を検出するのは容易でない。
測定にはＩＣ部品の端子につながっている他の回路が影
響し、正常挿入、誤挿入の電圧値に僅かの差、例えば数
ｍＶしか差が発生しないことが多い。このため、インサ
ーキットテスタを用いても、実装基板におけるＩＣ部品
の端子誤挿入を検出するのは容易でない。
そこで、本出願人は先に昭和６２年特許願第３２７５９
８号として、プリント基板に実装した電源端子、接地端
子、入力端子、及び出力端子を有するＩＣ部品に対し、
両電源電゛圧の和はそのＩＣ部品に含まれるダイオード
の立ち上り電圧より大きいか、各電源電圧単独ではその
立ら上り電圧より小さくなる第１電源と第２電源とを用
い、第１電源電圧を電源端子と接地端子とに印加し、第
２電源電圧を電流計を介して電源端子又は接地端子と入
力端子又は出力端子とに印加し、電流計の指示により実
装基板上のＩＣ部品の端子誤挿入を検出する方法を提示
した。
８号として、プリント基板に実装した電源端子、接地端
子、入力端子、及び出力端子を有するＩＣ部品に対し、
両電源電゛圧の和はそのＩＣ部品に含まれるダイオード
の立ち上り電圧より大きいか、各電源電圧単独ではその
立ら上り電圧より小さくなる第１電源と第２電源とを用
い、第１電源電圧を電源端子と接地端子とに印加し、第
２電源電圧を電流計を介して電源端子又は接地端子と入
力端子又は出力端子とに印加し、電流計の指示により実
装基板上のＩＣ部品の端子誤挿入を検出する方法を提示
した。
発明が解決しようとする課題
しかしながら、このような実装基板にあけるＩＣ部品の
端子誤挿入検出方法では第４図に示すようにプリント基
板にＩＣ部品１０をただ１個実装する場合、確かにその
内部に含まれる保護ダイオードにより、（ａ）に示す正
常挿入時と（ｂ）に示す逆挿入時では電流計１２の指示
が大きく変化し、端子の誤挿入を検出できるが、第５図
に示すようにコンデンサ１４が更に実装されている場合
、（ａ）に示す正常挿入時、（ｂ）に示す逆挿入時にか
かわらず、そのコンデンサ１４に過渡現象として充電電
流が流れるため、電流計１２の指示に明確な変化がなく
、端子の誤挿入を検出し難くなることがある。即ち、前
者の正常挿入時には保護ダイオード１６にその立ら上り
電圧より大きい第１、第２の両電源１８．２０の電圧和
が順方向に加わるため、電流計１２に電源、接地、出力
の各端子２２．２４．２６を経て、大きな電流が矢印方
向に流れるのに対し、逆挿入時には保護ダイオード２８
に両電源電圧の和が逆方向に加わるため、電流計１２に
電源、接地、出力の各端子２２．２４．３０を経て、は
んの僅かの電流が矢印方向に点線に沿って流れる。又、
後者では正常挿入時でも過渡現象としてコンデンサ１４
に充電電流が矢印方向に流れていると、保護ダイオード
１６の立ち上り電圧より両電源電圧の和が下がって、電
流計１２にほんの僅かの電流しか矢印方向に流れないこ
とがある。なお、一般にプリント基板にはＩＣ部品のみ
を単品で実装することはほとんど無く、その電源端子と
接地端子との間に、セラミ′ツクコンデンサや電解コン
デンサ等のバイパスコンデンサが接続される。
端子誤挿入検出方法では第４図に示すようにプリント基
板にＩＣ部品１０をただ１個実装する場合、確かにその
内部に含まれる保護ダイオードにより、（ａ）に示す正
常挿入時と（ｂ）に示す逆挿入時では電流計１２の指示
が大きく変化し、端子の誤挿入を検出できるが、第５図
に示すようにコンデンサ１４が更に実装されている場合
、（ａ）に示す正常挿入時、（ｂ）に示す逆挿入時にか
かわらず、そのコンデンサ１４に過渡現象として充電電
流が流れるため、電流計１２の指示に明確な変化がなく
、端子の誤挿入を検出し難くなることがある。即ち、前
者の正常挿入時には保護ダイオード１６にその立ら上り
電圧より大きい第１、第２の両電源１８．２０の電圧和
が順方向に加わるため、電流計１２に電源、接地、出力
の各端子２２．２４．２６を経て、大きな電流が矢印方
向に流れるのに対し、逆挿入時には保護ダイオード２８
に両電源電圧の和が逆方向に加わるため、電流計１２に
電源、接地、出力の各端子２２．２４．３０を経て、は
んの僅かの電流が矢印方向に点線に沿って流れる。又、
後者では正常挿入時でも過渡現象としてコンデンサ１４
に充電電流が矢印方向に流れていると、保護ダイオード
１６の立ち上り電圧より両電源電圧の和が下がって、電
流計１２にほんの僅かの電流しか矢印方向に流れないこ
とがある。なお、一般にプリント基板にはＩＣ部品のみ
を単品で実装することはほとんど無く、その電源端子と
接地端子との間に、セラミ′ツクコンデンサや電解コン
デンサ等のバイパスコンデンサが接続される。
本発明はこのような従来の問題点に着目してなされたも
のであり、コンデンサの過渡現象を配慮して、正確に実
装基板におけるＩＣ部品の端子誤挿入を検出する方法を
提供することを目的とする。
のであり、コンデンサの過渡現象を配慮して、正確に実
装基板におけるＩＣ部品の端子誤挿入を検出する方法を
提供することを目的とする。
課題を解決するための手段
上記目的を達成するための手段を、実施例に対応する第
１図及び第２図を用いて説明する。
１図及び第２図を用いて説明する。
この実装基板上のＩＣ部品の端子誤挿入検出方法はプリ
ント基板に実装した電源端子３４、接地端子３６、入力
端子３８、及び出力端子４０を有するＩＣ部品３２を検
査の対象にし、両電源電圧の和はそのＩＣ部品３２に含
まれる各保護ダイオード４４．４６．４８．５０の立ち
上り電圧より大きいか、各電源電圧単独ではその立ち上
り電圧より小さくなる第１電源５２と第２電源５４とを
用い、第１電源電圧を電源端子３４と接地端子３６とに
印加し、第２電源電圧を電流計５６を介して電源端子３
４又は接地端子３６と入力端子３８又は出力端子４０と
に印加し、電流計５６の指示により実装基板におけるＩ
Ｃ部品３２の端子誤挿入の検出を行なうものである。そ
の際、上記第１電源電圧を先に印加し、ＩＣ部品３２の
電源端子３４と接地端子３６に接続する実装コンデンサ
４２を充電した後、第２電源電圧を印加するという手順
を踏む。
ント基板に実装した電源端子３４、接地端子３６、入力
端子３８、及び出力端子４０を有するＩＣ部品３２を検
査の対象にし、両電源電圧の和はそのＩＣ部品３２に含
まれる各保護ダイオード４４．４６．４８．５０の立ち
上り電圧より大きいか、各電源電圧単独ではその立ち上
り電圧より小さくなる第１電源５２と第２電源５４とを
用い、第１電源電圧を電源端子３４と接地端子３６とに
印加し、第２電源電圧を電流計５６を介して電源端子３
４又は接地端子３６と入力端子３８又は出力端子４０と
に印加し、電流計５６の指示により実装基板におけるＩ
Ｃ部品３２の端子誤挿入の検出を行なうものである。そ
の際、上記第１電源電圧を先に印加し、ＩＣ部品３２の
電源端子３４と接地端子３６に接続する実装コンデンサ
４２を充電した後、第２電源電圧を印加するという手順
を踏む。
作用
上記のように構成すると、第１電源電圧を先に電源端子
３４と接地端子３６とに印加し、過渡現象たるコンデン
サ４２の充電を終了するため、それ以後コンデンサ４２
には電流が流れなくなる。
３４と接地端子３６とに印加し、過渡現象たるコンデン
サ４２の充電を終了するため、それ以後コンデンサ４２
には電流が流れなくなる。
そこで、次に第２電源電圧を印加すると、コンデンサ４
２の充電により一旦下がった第１電源電圧も旧に復し、
そこに第２電源電圧が新たに加わるので、ＩＣ部品のみ
をただ１個実装した場合と同様に、両電源電圧の和がダ
イオード４６の立ち上り電圧より大きくなる。従って、
正常挿入時と逆挿入時とで電流削５６に流れる電流は大
きく変化し、その指示も大ぎく変わるため、実装基板に
おける端子の誤挿入を容易に検出できる。
２の充電により一旦下がった第１電源電圧も旧に復し、
そこに第２電源電圧が新たに加わるので、ＩＣ部品のみ
をただ１個実装した場合と同様に、両電源電圧の和がダ
イオード４６の立ち上り電圧より大きくなる。従って、
正常挿入時と逆挿入時とで電流削５６に流れる電流は大
きく変化し、その指示も大ぎく変わるため、実装基板に
おける端子の誤挿入を容易に検出できる。
実施例
以下、添付図面に基づいて、本発明の詳細な説明する。
第１図は本発明による実装基板上のＩＣ部品の端子誤挿
入検出方法をプリント基板に正常挿入したＩＣ部品に適
用し、そのダイオード電流の測定に至る過程を示す回路
図、第２図は同検出方法をプリント基板に逆挿入したＩ
Ｃ部品に適用し、同様にそのダイオード電流の測定に至
る過程を示づ回路図である。図中、３２はプリント基板
に実装した電源端子３４、接地端子３６、入力端子３８
、及び出力端子４０を有するＩＣ部品、４２はその電源
端子３４と接地端子３６に接続するコンデンサである。
入検出方法をプリント基板に正常挿入したＩＣ部品に適
用し、そのダイオード電流の測定に至る過程を示す回路
図、第２図は同検出方法をプリント基板に逆挿入したＩ
Ｃ部品に適用し、同様にそのダイオード電流の測定に至
る過程を示づ回路図である。図中、３２はプリント基板
に実装した電源端子３４、接地端子３６、入力端子３８
、及び出力端子４０を有するＩＣ部品、４２はその電源
端子３４と接地端子３６に接続するコンデンサである。
このＩＣ部品３２の内部には第１図に示すように電源、
接地、出力の各端子３４．３６．４０に対しては、等価
回路的に２個の保護ダイオード４４．４６が含まれてい
る。即ち、両ダイオド４４．４６は電源、接地の両端子
３４．３６の間に、各カソードを電源端子側に向けて直
列に接続した上、その中間点を更に出力端子４０と接続
する。又、第２図に示すように電源、接地、入力の各端
子３４．３６．３８に対しては等価回路的に２個の保護
ダイオード４８．５０を含んでいる。但し、両ダイオー
ド４８．５０は電源、接地の両端子３４．３６の間に、
各カソードを電源端子側に向けて直列に接続した上、そ
の中間点を入力端子３８に接続する。なお、正常挿入時
にＩＣ部品３２の電源端子３４が挿入されるランドをア
ース電位にする。
接地、出力の各端子３４．３６．４０に対しては、等価
回路的に２個の保護ダイオード４４．４６が含まれてい
る。即ち、両ダイオド４４．４６は電源、接地の両端子
３４．３６の間に、各カソードを電源端子側に向けて直
列に接続した上、その中間点を更に出力端子４０と接続
する。又、第２図に示すように電源、接地、入力の各端
子３４．３６．３８に対しては等価回路的に２個の保護
ダイオード４８．５０を含んでいる。但し、両ダイオー
ド４８．５０は電源、接地の両端子３４．３６の間に、
各カソードを電源端子側に向けて直列に接続した上、そ
の中間点を入力端子３８に接続する。なお、正常挿入時
にＩＣ部品３２の電源端子３４が挿入されるランドをア
ース電位にする。
このような実装基板におけるＩＣ部品３２の各端子３４
．３６．３８、及び４０の挿入状態を検査するには先ず
第１電源５２を用い、第１図（ａ）に示すようにＩＣ部
品３２の電源、接地の両端子３４．３６に接続する。す
ると、第１電源５２よりコンデンサ４２に矢印方向の充
電電流が流れる。
．３６．３８、及び４０の挿入状態を検査するには先ず
第１電源５２を用い、第１図（ａ）に示すようにＩＣ部
品３２の電源、接地の両端子３４．３６に接続する。す
ると、第１電源５２よりコンデンサ４２に矢印方向の充
電電流が流れる。
なお、第１電源５２の電圧は各保護ダイオード４４．４
６の立ち上り電圧よりも小さくする。この充電電流は過
渡的なものであり、一定時間経過すると充電が終了する
ので、以後電流が流れなくなる。このため、−以下がっ
た第１電源電圧も旧に復する。次に、第２電源５４を用
い、第１図（ｂ）に示すように電流計５６を介してＩＣ
部品３２の電源、出力の各端子３４．４０に接続する。
６の立ち上り電圧よりも小さくする。この充電電流は過
渡的なものであり、一定時間経過すると充電が終了する
ので、以後電流が流れなくなる。このため、−以下がっ
た第１電源電圧も旧に復する。次に、第２電源５４を用
い、第１図（ｂ）に示すように電流計５６を介してＩＣ
部品３２の電源、出力の各端子３４．４０に接続する。
この第２電源５４の電圧も各保護ダイオード４４．４６
の立ち上り電圧より小さくする。このため、保護ダイオ
ード４６には第１、第２両電源５２．５４の電圧和が加
わる。このような両電源電圧の和は立ち上り電圧より大
きくする。例えばシ□リコンダイオードであれば、その
立ち上り電圧が０．６Ｖ程であるから、第１電源５２の
電圧を０．４Ｖ程に、第２電源５４の電圧を０．２Ｖ程
にする。
の立ち上り電圧より小さくする。このため、保護ダイオ
ード４６には第１、第２両電源５２．５４の電圧和が加
わる。このような両電源電圧の和は立ち上り電圧より大
きくする。例えばシ□リコンダイオードであれば、その
立ち上り電圧が０．６Ｖ程であるから、第１電源５２の
電圧を０．４Ｖ程に、第２電源５４の電圧を０．２Ｖ程
にする。
すると、ダイオード４６が立ち上り電流計５６を通って
大きな電流が矢印方向に流れる。その際、コンデンサ４
２は充電されているので、そこに電流が流れることもな
く、両型源５２．５４の負担が小さくなり、ＩＣ部品の
みをただ１個実装した場合と同様になる。従って、プリ
ント基板にＩＣ部品３２が正常挿入されている場合には
電流計５６が大きく振れることになる。
大きな電流が矢印方向に流れる。その際、コンデンサ４
２は充電されているので、そこに電流が流れることもな
く、両型源５２．５４の負担が小さくなり、ＩＣ部品の
みをただ１個実装した場合と同様になる。従って、プリ
ント基板にＩＣ部品３２が正常挿入されている場合には
電流計５６が大きく振れることになる。
次に、プリント基板にＩＣ部品３２が逆挿入されている
場合にも同様に、先ず第１電源５２を第２図（ａ）に示
すようにＩＣ部品３２の電源、接地の両端子３４．３６
に接続する。すると、コンデンサ４２が充電される。次
に、第２電源５４を第２図（ｂ）に示すように電流計５
６を介して、ＩＣ部品３２の電源、入力の各端子３６．
３８に接続する。このため、保護ダイオード５０には第
２電源５４の電圧が加わり、保護ダイオード４８には第
１、第２両電源５２．５４の電圧和か加わる。
場合にも同様に、先ず第１電源５２を第２図（ａ）に示
すようにＩＣ部品３２の電源、接地の両端子３４．３６
に接続する。すると、コンデンサ４２が充電される。次
に、第２電源５４を第２図（ｂ）に示すように電流計５
６を介して、ＩＣ部品３２の電源、入力の各端子３６．
３８に接続する。このため、保護ダイオード５０には第
２電源５４の電圧が加わり、保護ダイオード４８には第
１、第２両電源５２．５４の電圧和か加わる。
しかし、各電源電圧単独では各ダイオード４８．５０の
立ち上り電圧より小さくするため、ダイオード５０は導
通しない。又、両電源電圧の和をダイオード４８の立ら
上り電圧より大きくしても、そこには逆方向電圧が加わ
るため、やはり導通しない。従って、電流計５６には矢
印方向に点線に沿ってほんの僅かの電流が流れるだけで
あり、はとんど振れない。
立ち上り電圧より小さくするため、ダイオード５０は導
通しない。又、両電源電圧の和をダイオード４８の立ら
上り電圧より大きくしても、そこには逆方向電圧が加わ
るため、やはり導通しない。従って、電流計５６には矢
印方向に点線に沿ってほんの僅かの電流が流れるだけで
あり、はとんど振れない。
このようにして正常挿入時と逆挿入時とで電流計５６に
流れる電流は大きく変化し、その指示も大きく変わるた
め、嫡子の誤挿入を容易に検出できる。なお、上記実施
例では第３図（ａ）に示すように第２電源５４を電流計
５６を介してＩＣ部品３２の右上隅部付近に配置し、そ
の近傍にある電源又は接地端子と出力又は入力端子に接
続したか、第３図（ｂ） 、（ｃ） １．（ｄ）に示す
ように他の３隅部付近にそれぞれ配置し、その近傍にあ
る同様端子と接続してもよい。尤も、後者の接続法では
正常挿入時に電流計がほとんど振れず、逆挿入時に電流
計が大きく振れる場合がある。結局、いずれの接続法で
も、正常挿入時と逆挿入時で電流ｉ−１の指示が大ぎく
変わるため、端子の誤挿入を検出できる。なお、このよ
うな検出方法をインリーキットテスタに適用すれば、当
然実装基板におけるＩＣ部品の端子誤挿入の検出率が向
上する。
流れる電流は大きく変化し、その指示も大きく変わるた
め、嫡子の誤挿入を容易に検出できる。なお、上記実施
例では第３図（ａ）に示すように第２電源５４を電流計
５６を介してＩＣ部品３２の右上隅部付近に配置し、そ
の近傍にある電源又は接地端子と出力又は入力端子に接
続したか、第３図（ｂ） 、（ｃ） １．（ｄ）に示す
ように他の３隅部付近にそれぞれ配置し、その近傍にあ
る同様端子と接続してもよい。尤も、後者の接続法では
正常挿入時に電流計がほとんど振れず、逆挿入時に電流
計が大きく振れる場合がある。結局、いずれの接続法で
も、正常挿入時と逆挿入時で電流ｉ−１の指示が大ぎく
変わるため、端子の誤挿入を検出できる。なお、このよ
うな検出方法をインリーキットテスタに適用すれば、当
然実装基板におけるＩＣ部品の端子誤挿入の検出率が向
上する。
発明の詳細
な説明した本発明によれば、ＩＣ部品と共にプリント基
板に実装されたコンデンυの過渡現象の影響を除くこと
ができるため、実装基板におＣプるＩＣ部品の端子の誤
挿入を正確に検出することができる。又、ＩＣ部品の欠
品状態も正確に検出できる。
板に実装されたコンデンυの過渡現象の影響を除くこと
ができるため、実装基板におＣプるＩＣ部品の端子の誤
挿入を正確に検出することができる。又、ＩＣ部品の欠
品状態も正確に検出できる。
第１図は本発明による実装基板上のＩＣ部品の端子誤挿
入検出方法をプリント基板に正常挿入したＩＣ部品に適
用し、そのダイオード電流の測定に至る過程を示す回路
図、第２図は同検出方法をプリント基板に逆挿入したＩ
Ｃ部品に適用し、同様にそのダイオード電流の測定に至
る過程を示す回路図である。 第３図は本発明による同検出方法をプリント基板に挿入
したＩＣ部品に適用し、そのダイオード電流の測定過程
を示す回路図である。 第４図は従来の同検出方法をプリント基板に正常挿入及
び逆挿入したＩＣ部品に適用し、そのダイオード電流の
測定を示す回路図である。 第５図は従来の同検出方法をプリント基板にコンデンサ
と共に正常挿入及び逆挿入したＩＣ部品に適用し、その
ダイオード電流の測定を示す回路図−Ｃある。
入検出方法をプリント基板に正常挿入したＩＣ部品に適
用し、そのダイオード電流の測定に至る過程を示す回路
図、第２図は同検出方法をプリント基板に逆挿入したＩ
Ｃ部品に適用し、同様にそのダイオード電流の測定に至
る過程を示す回路図である。 第３図は本発明による同検出方法をプリント基板に挿入
したＩＣ部品に適用し、そのダイオード電流の測定過程
を示す回路図である。 第４図は従来の同検出方法をプリント基板に正常挿入及
び逆挿入したＩＣ部品に適用し、そのダイオード電流の
測定を示す回路図である。 第５図は従来の同検出方法をプリント基板にコンデンサ
と共に正常挿入及び逆挿入したＩＣ部品に適用し、その
ダイオード電流の測定を示す回路図−Ｃある。
Claims (1)
- プリント基板に実装した電源端子、接地端子、入力端子
、及び出力端子を有するＩＣ部品に対し、両電源電圧の
和はそのＩＣ部品に含まれる保護ダイオードの立ち上り
電圧より大きいか、各電源電圧単独ではその立ち上り電
圧より小さくなる第１電源と第２電源とを用い、第１電
源電圧を電源端子と接地端子とに印加し、第２電源電圧
を電流計を介して電源端子又は接地端子と入力端子又は
出力端子とに印加し、電流計の指示により実装基板上の
ＩＣ部品の端子誤挿入を検出する方法において、上記第
１電源電圧を先に印加し、ＩＣ部品の電源及び接地の両
端子に接続する実装コンデンサを充電した後、第２電源
電圧を印加することを特徴とする実装基板上のＩＣ部品
の端子誤挿入検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1104190A JPH0652290B2 (ja) | 1989-04-24 | 1989-04-24 | 実装基板上のｉｃ部品の端子誤挿入検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1104190A JPH0652290B2 (ja) | 1989-04-24 | 1989-04-24 | 実装基板上のｉｃ部品の端子誤挿入検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02281161A true JPH02281161A (ja) | 1990-11-16 |
| JPH0652290B2 JPH0652290B2 (ja) | 1994-07-06 |
Family
ID=14374068
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1104190A Expired - Lifetime JPH0652290B2 (ja) | 1989-04-24 | 1989-04-24 | 実装基板上のｉｃ部品の端子誤挿入検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0652290B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2014147723A1 (ja) * | 2013-03-18 | 2014-09-25 | 株式会社日立システムズ | Ｉｃタグ取り付け電子部品組み立て体及びその誤差し検知システム並びに誤差し検知方法 |
-
1989
- 1989-04-24 JP JP1104190A patent/JPH0652290B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2014147723A1 (ja) * | 2013-03-18 | 2014-09-25 | 株式会社日立システムズ | Ｉｃタグ取り付け電子部品組み立て体及びその誤差し検知システム並びに誤差し検知方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0652290B2 (ja) | 1994-07-06 |
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