JPH02264506A - ゲイン調整方法 - Google Patents

ゲイン調整方法

Info

Publication number
JPH02264506A
JPH02264506A JP1083943A JP8394389A JPH02264506A JP H02264506 A JPH02264506 A JP H02264506A JP 1083943 A JP1083943 A JP 1083943A JP 8394389 A JP8394389 A JP 8394389A JP H02264506 A JPH02264506 A JP H02264506A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
value
gain
output
gain setting
new
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1083943A
Other languages
English (en)
Inventor
Shuichi Yamazaki
修一 山崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP1083943A priority Critical patent/JPH02264506A/ja
Publication of JPH02264506A publication Critical patent/JPH02264506A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Control Of Amplification And Gain Control (AREA)
  • Control Or Security For Electrophotography (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ゲイン調整方法に係り、特にアナログ信号に
対してゲイン調整を施す各種電子回路、たとえば複写機
等の電子機器における各種検出信号にゲイン調整を施す
ためのゲイン調整方法に関する。
〔従来の技術〕
複写機等の画像形成装置においては、形成画像の品質を
良好に保つために構成要素の状態を検出して最良の動作
状態となるように監視することが行われる。
従来のこの種検出信号の検出と、検出した信号に対して
そのレベルに調整を施して当該構成要素の動作状態を所
定の状態に保つ、所謂ゲイン調整は、検出13号の値、
すなわち検出値を所要の目標値に調整する場合、ゲイン
を表すデータをOから1ビツトづつ増加させていき出力
値≧目標値となったときのゲイン設定値を最終ゲインと
するか、あるいは上記ゲインを表すデータを最大値から
1ビツトづつ減らしていき出力値≦目標値となったとき
のゲイン設定値を最終ゲインとする方法が採られている
第4図は従来のゲイン設定方法を説明するフローチャー
トであって、まずゲイン設定値を1としく4−1)、こ
のゲイン設定値をプログラマブルアンプに与える(4−
2)。プログラマブルアンプの出力をサンプリングして
出力値とする(4−3)。この出力値が、出力値≧目標
値か否かを判断しく4−4)、Noの場合はゲイン設定
値に+1して新たなゲイン設定値としく4−5)、(4
−2)に戻りこれを繰り返す。一方、Yesの場合はそ
のゲイン設定値を最終ゲインとして(4−6)終了する
第5図は上記従来のゲイン調整方法によるゲインのチエ
ツク動作の説明図であって、アナログ入力電圧4V、目
標値2.5vとした場合の設定ゲインと出力電圧の関係
を示したものであり、この方法によれば、160回のチ
エツク動作が必要となる。
なお、このようなゲイン調整方法は周知であるので特に
文献を挙げることはしない。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記従来の技術においては、最終ゲインが決まるまでに
最大ゲイン調整範囲のステップの回数だけ、たとえばゲ
イン調整が8ビツト(0〜255)の場合は最長256
回の繰り返し動作チエツクが、また10ビツト(0〜1
023)の場合は最長1024回の繰り返しチエツクが
必要となり、ゲイン調整のための時間が極めて多くかか
るという欠点がある。
本発明の目的は、上記従来技術の欠点を解消し、検出信
号に基づく出力値が短時間で目標値に達するようにした
ゲイン調整方法を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的は、ゲインを設定するゲイン設定範囲の1/2
の値を上記プログラマブルアンプへのゲイン設定値とし
て設定し、この設定値の172の値を差分値として記憶
し、出力値と上記目標値とを比較して出力値〉目標値の
場合はゲイン設定値−差分値を新たなゲイン設定値とし
、出力値〈目標値の場合はゲイン設定値+差分値を新た
なゲイン設定値として、差分値の172の値を新たな差
分値として記憶し、出力値−目標値の場合はこのときの
ゲイン設定値を最終的なゲインの値とすると共に、出力
値−目標値、もしくは上記新たな差分値が1以下となる
まで上記第2の段階を繰り返し実行し、新たな差分値が
1以下となった場合、このときのゲイン設定値を最終的
なゲインとすることにより達成される。
〔作用〕
ゲイン調整のチエツク動作が使用するプログラマブルア
ンプのビット数以下で済み、ゲイン調整のための時間が
短縮される。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図は本発明によるゲイン調整方法の一実施例を適用
する複写機の要部ブロック図であって、■はマイクロコ
ンピュータ(μCOM:たとえば、NEC製μPD78
10) 、2はプログラマブルアンプ、3は乗算型A/
Dコンバータ(A/D:たとえば、A07528) 、
4はオペアンプ(OP:たとえば、NJ0084) 、
5はA/D、コントロールバス、6は検出信号入力であ
る。
同図において、検出信号人力6は原稿濃度検知入力、P
センサー検知入力等のアナログ電圧入力であり、この検
出人力5が乗算型A/Dコンバータ3とオペアンプ4と
からなるプログラマブルアンプ2の入力端子INに入力
される。
オペアンプ4の出力はマイクロコンピュータ1のアナロ
グ入力の一つ(同図ではANO)に入力される。マイク
ロコンピュータ1からはA/Dコントロールバス5を介
してA/Dコンバータ3にO〜255の値が設定される
と、オペアンプ4の出力は、 「オペアンプ出力(マイクロコンピュータのアナログ入
力)=アナログ入力電圧×データ(0〜255)/25
5J となるように回路定数が定められる。
ここで、[データ(0〜255)/255Jはゲインで
ある。
第2図は本発明の一実施例を説明するゲイン調整方法の
フローチャートであって、プログラマブルアンプ(以下
、単にアンプということもある)の出力を目標値になる
ようにゲインを決定する動作を示す。
ここでは、プログラマブルアンプのゲインはO〜1の範
囲であるから、アンプ出力≧目標値となっていることが
一つの条件である。また、ここでは、プログラマブルア
ンプは8ビツトであるから、ゲイン設定範囲は、O/2
55.1/255.・・・255/255の256とお
りである。フローチャート中でゲインと記しであるのは
、この設定値O/〜255の値のことであり、実際のゲ
インはこの値の1/255の値である。
同図において、まずゲイン設定値を256の二分の−の
128に、ゲイン差分値をゲイン設定値の二分の−であ
る64にしこれを記憶する(2−1)。次に、プログラ
マブルアンプにゲイン設定値を与える(2−2)、プロ
グラマブルアンプの出力をサンプリングしく2−3)、
アンプ出力値=目標値となったときは、そのときのゲイ
ン設定値を最終ゲインとする(2−10)。
一方、(2−4)でアンプ出力値−目標値とならない場
合、アンプ出力値〉目標値か否かを判断しく2 5)、
Yesならばそのときのゲイン設定値−ゲイン差分値を
ゲイン設定値としく2−6) 、Noならばそのときの
ゲイン設定値+ゲイン差分値をゲイン設定値とする(2
−7)。そして、ゲイン差分値がOか否かを判断しく2
−8>、Yesならば(2−10)に行き、そのときの
ゲイン設定値を最終ゲインとして終了し、Noの場合は
ゲイン差分値を右に1ビットローチー1− (すなわち
、ゲインを表すデータをLSB側に1ビットシフト)シ
てこれを新たなゲイン差分値としく2−9)、(2−2
)に戻りプログラマブルアンプにこれを設定する。
第3図は本発明によるゲインのチエツク動作の説明図で
あって、前記第5図の場合と同様に、アナログ入力電圧
4V、目標値2.5■とした場合の設定ゲインと出力電
圧の関係を示したものであり、本発明の方法によれば、
3回のチエツク動作で最終ゲインに設定できることが示
されている。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、例えば複写機の
原稿濃度検知、感光体上に形成された顕像パターン濃度
を検知するPセンサー等の検出信号のゲイン調整におい
て、標準原稿あるいは標準パターンからの検出値を入力
とし、プログラマブルアンプによってゲインを調整して
、所定の出力値に設定できるので、装置の初期調整時な
どのゲイン調整を短時間で行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるゲイン調整方法の一実施例を通用
する複写機の要部ブロック図、第2図は本発明の一実施
例を説明するゲイン調整方法のフローチャート、第3図
は本発明によるゲインのチエツク動作の説明図、第4図
は従来のゲイン設定方法を説明するフローチャート、第
5図は上記従来のゲイン調整方法によるゲインのチエツ
ク動作の説明図である。 1・・・・マイクロコンピュータ、2・・・・プログラ
マブルアンプ、3・・・・乗算型A/Dコンバータ、4
・・・・オペアンプ、5・・・・A/D、コントロール
バス、6・・・・it 出(S 号入力。 第 ! 図 Yイフロコ〉こ゛ユーク フ゛ロク′う?フ1しYンフ。 乗″HwI!A10コンバーグ オヘ1Yン71 A10.コントロールバ゛ス イ官号入力 第3図 第4図 第5図 ナエ・リフ圃II

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 アナログ値を、デジタル値でゲイン設定可能なプログラ
    マブルアンプを介して目標値に変換するゲイン調整方法
    において、 上記ゲインを設定するゲイン設定範囲の1/2の値を上
    記プログラマブルアンプへのゲイン設定値として設定し
    、この設定値の1/2の値を差分値として記憶する第1
    の段階と、 出力値と上記目標値とを比較して出力値>目標値の場合
    はゲイン設定値−差分値を新たなゲイン設定値とし、出
    力値<目標値の場合はゲイン設定値+差分値を新たなゲ
    イン設定値として、差分値の1/2の値を新たな差分値
    として記憶し、出力値=目標値の場合はこのときのゲイ
    ン設定値を最終的なゲインの値とする第2の段階と、 出力値=目標値、もしくは上記新たな差分値が1以下と
    なるまで上記第2の段階を繰り返し実行し、新たな差分
    値が1以下となつた場合、このときのゲイン設定値を最
    終的なゲインとする第3の段階と、 からなるゲイン調整方法。
JP1083943A 1989-04-04 1989-04-04 ゲイン調整方法 Pending JPH02264506A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1083943A JPH02264506A (ja) 1989-04-04 1989-04-04 ゲイン調整方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1083943A JPH02264506A (ja) 1989-04-04 1989-04-04 ゲイン調整方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02264506A true JPH02264506A (ja) 1990-10-29

Family

ID=13816669

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1083943A Pending JPH02264506A (ja) 1989-04-04 1989-04-04 ゲイン調整方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02264506A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003060458A (ja) * 2001-08-10 2003-02-28 Fujitsu Ltd アナログ制御方法、アナログ制御装置、及びagc

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003060458A (ja) * 2001-08-10 2003-02-28 Fujitsu Ltd アナログ制御方法、アナログ制御装置、及びagc

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5272449A (en) Vertical amplifier system for multitrace oscilloscope and method for calibrating the same
JPH0856160A (ja) Adコンバータの異常検出装置
US6922071B2 (en) Setting multiple chip parameters using one IC terminal
JPH02264506A (ja) ゲイン調整方法
JP3674156B2 (ja) ディジタルリレーのアナログ監視及び自動調整方式
US4775852A (en) Apparatus for compensating digital to analog converter errors
JP3150444B2 (ja) スペクトラムアナライザのピークホールド回路
JP2652559B2 (ja) レベル掃引装置
JPH0535362B2 (ja)
JP2868038B2 (ja) 半導体集積回路装置のテスト回路
JP2624920B2 (ja) 多現象オシロスコープの垂直増幅器校正装置
US5093724A (en) Semiconductor device containing video signal processing circuit
JPS6255580A (ja) 受信レベル変動補償ステツプトラツク追尾方式
JP3071875B2 (ja) Icテスト装置
JPH04147071A (ja) テスト回路
JP3178563B2 (ja) 多値電圧高速比較装置
JP2672690B2 (ja) 半導体デバイスの試験方法
US20020149813A1 (en) Line quality monitoring apparatus and method
JP3313664B2 (ja) 半導体装置の試験方法
JP3003282B2 (ja) 回路検査装置
JP3134401B2 (ja) テレビジョンカメラ装置のオートホワイトバランス回路
JPH02236118A (ja) ゼロ点及びスパン調整装置
JP2003344510A (ja) 特性測定回路及びそれを用いた半導体装置
JPS61149869A (ja) 波形解析システム
CN116743168A (zh) 直流电压补偿信息处理方法、装置、电子设备及存储介质