JPH0225828A - 走査光学系 - Google Patents

走査光学系

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JPH0225828A
JPH0225828A JP63176524A JP17652488A JPH0225828A JP H0225828 A JPH0225828 A JP H0225828A JP 63176524 A JP63176524 A JP 63176524A JP 17652488 A JP17652488 A JP 17652488A JP H0225828 A JPH0225828 A JP H0225828A
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JP
Japan
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light beam
photodetector
error signal
signal
optical system
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JP63176524A
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English (en)
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Shinsuke Funaki
信介 舟木
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Konica Minolta Inc
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、副走査方向の光ビームのずれを検出する機構
を有する走査光学系に関する。
C発明の背景〕 例えば、カラーレーザプリンタ装置は、第29図に示す
ようにその走査光学系が構成される。IR,IG、IB
は各々赤色光ビームRを出射するレーザ光源、緑色光ビ
ームGを出射するレーザ光源、青色光ビームBを出射す
るレーザ光源である。
その各々の光ビームR,G、Bは、コリメータレンズ2
R,2G、2Bを経由してAOM3R,3G、3Bで画
像信号でオン/オフ変調されて、シリンドリカルレンズ
CLR,CLG、CLB及びレンズ4R,4G、4Bを
経由してグイクロイックミラー5R,5G、5Bで光路
を変更され、ポリゴンミラー6に入射し、ここで走査さ
れてfθレンズ7及びシリンドリカルレンズ8を経由し
て感光材料9に入射し、その感光材料9を画像信号に応
じて露光する。
感光材料9に対する主走査はポリゴンミラー6による走
査で行われ、その走査と画像信号出力のタイミングは、
走査ライン上に配置された光検出器10で得られる同期
信号を基にして作成される。
また、副走査はその感光材料9の矢印g方向への搬送(
第30図参照)で行われる。
ところで、このように複数の光ビームを使用してカラー
画像を作成する平面走査形のレーザプリンタ装置では、
副走査方向に光ビームR,G、Bを揃えなければ色ずれ
が生じるが、この調整は困難である。
例えば、λ1、λ2の2個の波長の光ビームを結像面(
感光材料9の面上)において10μm以下の精度で一致
させようとすると、fθレンズ7のfを350鰭とした
場合、2個の光ビームのポリゴンミラー6への入射面で
の許容ずれ角度Δθ(第31図参照)は、 Δθ=jan −’ (10/Jm/ 350m)=0
.003度 =12秒 となる。
そこで従来では、結像面に専用の調整治具を配置して各
光ビームの走査ラインを検出し、オシロスコープで観測
しながら、ダイクロイックミラー5R,5G、5Bの傾
きを調整していたつ即ち、この調整治具を第32図に示
すように副走査方向に分割した2個のホトダイオード1
1A、11Bで構成し、その両ダイオードIIA、11
Bからの出力信号の差をオシロスコープで観測して、そ
の差の信号が零となるように、光ビームR用のダイクロ
イックミラー5Rの傾きを第33図に示すように調整し
ている。この調整は残りの光ビームG、B用のグイクロ
イクミラ−5G、5Bについても同様に行なっている。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところが、この従来の調整では、専用の治具を結像面に
取り付けるために、感光材料9の紙送りを行う搬送部を
一旦取り外す必要があり、手間がかかっていた。また、
調整がかなりクリティカルであり、熟練を要していた。
更に、−旦調整を完了した後でも、搬送部を再度組み込
む際に振動等で調整ずれが生じてしまう危険性もあった
本発明の目的は、専用の治具を着脱する必要なく光ビー
ム副走査方向のずれを調整できるようにすることである
〔課題を解決するための手段〕
このために本発明は、画像信号を担持した複数の異なっ
た波長の光ビームで、副走査方向に搬送される感光材料
を主走査方向に走査露光して、該感光材料にカラー画像
を形成する走査光学系において、 上記光ビームの主走査ライン上又はその近傍に該光ビー
ムの副走査方向の位置を検出する光検出器を配置し、該
光検出器より得られる信号から上記光ビームの正規位置
からのずれを示す誤差信号を生成するように構成した。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例について説明する。
(第1の実施例) 第1図は第1の実施例を示す図である。この実施例では
、第29図で示した光検出器lOの代わりに、2個に分
割したホトダイオード201.201を副走査方向に並
べて配置して構成した光検出器20を使用する。そして
、このホトダイオード201.202の検出電流を増幅
器21.22で電流/電圧変換すると共に増幅し、作動
増幅器23でその差分を取り出して、誤差信号としてオ
シロスコープに出力するようにしている。なお、両増幅
器21.22の出力を加算器24で加算し、闇値回路2
5でリミッタをかけることにより、主走査の同期信号(
SYNC)を得ることができる。この同期信号は、増幅
器21.22のいずれか一方からの出力のみを使用して
生成することもできる。
この光検出器20では、例えば赤色光ビームRが、第2
図(a)に示すようにホトダイオード201側に偏って
入射すると、同図(b)に示すように、正の誤差信号が
得られる。同時に同期信号も得られる。
また、第3図(alに示すように赤色光ビームRがホト
ダイオード202側に偏って入射すると、同図山)に示
すように、負の誤差信号が得られる。この場合も同期信
号は得られる。
更に、第4図(a)に示すように両ホトダイオード20
1.202の間に入射すると、誤差信号は零となる。同
期信号は得られる。
更に、第5図(alに示すようにホトダ・イオート20
1.202のいずれにも入射しない場合には、誤差信号
、同期信号ともに得られない。
このように、誤差信号が零となるのは、光ビームが光検
出器20の中央を通過する場合か或いは全く外れる場合
であるが、後者の場合は同期信号も得られないので、両
者を識別することができる。
以上から、各色の光ビームについて個別的に誤差信号を
オシロスコープで観測しながら、当該光ビームに対応す
るダイクロイックミラーの傾きを調整して、ビームずれ
を修正することができろ。
この場合、調整用に使用する光検出器20は同時に同期
信号生成用として完成品の一部として取り付けられてい
るので、特別な治具を着脱する必要はない。
(第2の実施例) 第6図は第2の実施例を示す図である。この例では、同
一基板上に同期信号検出用のホトダイオード261と誤
差信号検出用のホトダイオード262.263とを配置
したものである。従って、ホトダイオード261で得ら
れる電流信号を電流7/電圧変換すると共に増幅する増
幅器27を別に設けている。
(第3の実施例) 第7図は第3の実施例を示す図である。ここでは、光検
出器28を光ファイバ281.282の先端部分で構成
して、その両ファイバの端面が光ビーム入射側を向くよ
うに配置している。この場合、光伝送に関与するコア2
81a、282aが全体の1/3程度となるので、副走
査方向に1列状に並べることはできない。そこで、第7
図に示すように、光ビームの走査時間でτだけの時間差
が生じるように、ずらし、て正規のビーム走査ライン2
9にコア281a、282aの対向縁部が接するように
空間配置している。
この光ファイバ281.282で導入された光ビームは
、第8図に示すように、ホトダイオード30.31で電
流信号に変換され1、増幅器21.22で電流/電圧変
換され増幅される。そして、両増幅器21.22からの
出力電圧は作動増幅器23及び加算器24に入力するが
、一方の増幅器21の出力は遅延回路32で時間τ、だ
け遅延されて入力する。よって、作動増幅器23及び加
算器24に入力する両信号は、位相が合致するので、第
1、第2の実施例と同様に誤差信号及び同期信号が得ら
れる。
なお、ここで遅延回路32を使用しないこともできる。
この場合は、誤差信号としては第9図に示す波形の信号
が得られてオシロスコープで観測できるので、信号aと
信号すのピーク値XSYが同一となるように、ダイクロ
イックミラーの傾きを調整する。
また、ピーク値X、Yの比率が同一となるように調整し
ても同様にずれを修正できる。この方法は前述の第1及
び第2の実施例についても適用できる。即ち、3本の光
ビームが同一走査ラインを通過すれば良いのであるから
、各光ビームは必ずしも光検出器20.26の中間を通
過させる必要はなく、いずれ一方に偏るようにしてもよ
い。
(第4の実施例) 以上説明した第1〜第3の実施例では、光ビームが光検
出器20.26.28を横切るのが一瞬であるので、オ
シロスコープを使用して波形観測を行う必要があった。
そこで、この第4の実施例では、第1図に示した増幅器
21.22をピークホールド機能付きの増幅器33.3
4に代えたく第1O図参照)。
この増幅器33の一例を第11図に示す。なおここでは
、電流/電圧変換部分は省略した。331は演算増幅器
である。その非反転入力端子に入力電圧信号が印加する
と、ダイオードD1の出力側に現れる電圧が上昇してコ
ンデンサC1が充電され、その充電電圧が入力電圧と等
しくなると、演算増幅器331の出力電圧が零となり、
ダイオードD1が逆バイアスされて、コンデンサC1の
電圧が出力電圧として得られる。このようにコンデンサ
DIには非反転入力端子に入力した電圧のピーク値がホ
ールドされるようになる。
従って、このような増幅器33を使用すれば、オシロス
コープ等ではなく通常のメータ類を使用してそのレベル
を監視しながら、グイクロイクミラーの傾きを調整する
ことができるようになり、その調整が簡素化される。
なお、コンデンサC1の充電はスイッチslを取り付け
ておくことにより、放電させることができる。また抵抗
R1を接続して放電させることもできる。光ビームの走
査は周期的であるので、抵抗接R1の接続の方が簡単で
ある。
第12図は第11図の回路を更に具体化した回路を示す
図である。D3、D4がピークホールド用のダイオード
である。演算増幅器331に対する帰還は、バッファ3
32の出力から抵抗R3を介して行っている。この抵抗
R2とダイオードD2は応答性改善のためのものである
。抵抗R4はダイオードD3、D4が逆バイアスされた
際にその共通接続点の電位を出力電圧と等しくして、ダ
イオードD4のリークを少なくするためのものである。
R2は第11図のスイッチS1に相当するトランジスタ
0117時の放電時の限流抵抗である。
(第5の実施例) 第I3図は光検出器35として、同期信号を得るための
ホトダイオード351とリニアセンサとしての例えば1
00画素構成のCCD 352を組み合わせたものであ
る。ホトダイオード351で得られる信号は、第6図に
示したホトダイオード261で得られる信号と全く同様
に処理される。
CCD352においては、第14図に示すように、同期
信号(SYNC)によりSHパルスの強制同期をとる。
このCCD352を光ビームが横切ると、第15図に示
すように、続出クロック(CLK)に同期して副走査方
向(CODではライン方向)のビームの強度に応じたア
ナログの出力が得られる。よって、例えば1個のSHパ
ルス内で3色の光ビームのすべてが横切れば、COD出
力(第14図)の斜線部分の信号のみを使用すれば良い
が、次のSHパルスの後、つまり■の部分までも時間が
かかるようであれば、その時間領域も必要となる。
まず、1個のSHパルス内で3本の光ビームが横切る場
合は、第16図に示すように、3個の出力信号の合計の
幅T1が最小となるように、かつSHパルス到来時から
の時間τ2 (基準位置に対するする時間)経過時にそ
の幅T−の中心がくるように、各ダイクロイックミラー
5R,5G、5Bの傾きを調整する。
このとき、2本のビームが入射しないように例えばシャ
ッタ等で遮断して1本つづ光ビームを入射させ、各々の
光ビームがCCD352の同一画素を横切るように調整
することもできる。この場合は、この好ましくは1色づ
つSHパルス到来がら時間で2分だけ経過した時にピー
クがくるように調整する。この時間τ2は続出クロック
の数に置き換えることもできる。
2個以上のSHパルスに亘って3本の光ビームが入射す
る場合には、CCD352からは第17図に示すような
出力が得られる。従って、このような場合でも、SHパ
ルス到来時から時間τ寞経過時にビームの中心がくるよ
うに調整すれば良い。
(第6の実施例) この第6の実施例は、2分割ホトダイオード201.2
01でなる光検出器20を使用する第1の実施例(第1
図参照)を更に発展させて、調整を自動化できるように
したものである二ここでは、光ビームの入射順序が、R
−G−Hの順序で入射するものとする。よって第18図
及び第19図に示すように、各光ビームの走査で得られ
る同期信号(SYNC)をカウンタ36でカウントして
、そのカウント値に応じて、アナログマルチプレクサ3
7において誤差信号をピークホールド回路38.39.
40に選択的に取り出すようにする。この場合は、赤光
ビームRが到来した時は、その誤差[がピークホールド
回路38に、緑光ビームGが到来した時は、その誤差信
号がピークホールド回路39に、青光ビームBが到来し
た時は、その誤差信号がピークホールド回路40に、各
々区別して得られる。41はカウンタ36をクリアする
ためのワンショットマルチである。
一方、各他用のダイクロイックラ−5R,5G。
5Bの各々には、ピエゾスタックを取り付けておいて、
このピエゾスタックにより対応するダイクロイクミラ−
5R,5G、5Bの傾きを個別的に制御できるようにす
る。
従って、上記した各色の光ビーム毎に自動的に得られる
誤差信号で上記とニジスタックを駆動すれば、自動的に
副走査方向のずれが3本のビームの各々について調整さ
れるようになる。
ピエゾスタックは、第20図t3)、伽)に示すように
、直流電圧Vを印加すると厚みtがΔtだけ変位する特
性を有する。つまり、Sを歪、Eを電界、kを定数とす
ると、 S=Δt/l =k −E=V/l が成立する0通常はこのような素子を積層して大きな変
位を得るように構成したものを使用する。
そこで、第21図に示すように、誤差信号Vlを基準電
圧■rIIfが印加された減算器42でv2に低下させ
て、更に可変抵抗43でレベル調整して電圧v3として
、オフセット電圧V。11が基準電圧として印加されて
いる加算器44を経由させて電圧v4として、ピエゾス
タックを駆動するドライバに出力する。、−こで得られ
る電圧■4は、V 4 =V 3 +V(IB −K 
・V 2 + Votf=K (Vrar ’−V 1
) +Vott=−に−V 1 +Vott +K =
Vrsrとなり、定数にとオフセット電圧V。ffを適
当に設定することにより、ピエゾスタックの動作点を決
めることができる。なお、減算基準電圧V I’llf
は零にすることもできる。
(第7の実施例) 第22図及び第23図は第7の実施例を示す図である。
ここでは、コンパレータ45で誤差信号の極性を判定し
て、その極性が正の場合には、同期信号をカウントする
アップダウンカウンタ46をアップカンラントさせ、負
の場合にはダウンカウントさせて、そのカウント出力を
D/A変換器47で°7ナログ信号に変換した信号をピ
エゾドライバに送出するようにしている。
従って、誤差信号が正ならばピエゾスタックを1単位ず
つ誤差信号が負となる方向に駆動し、逆に負ならば正と
なる方向に駆動することにより、ビームのずれを修正す
ることができる。この場合は、ポリゴンミラーのふれ角
度とピエゾの電圧とが比例関係にある必要はない。
(第8の実施例) 上述のようにリアルタイムでビームのずれを修正する場
合において、CODを使用する場合、1個のCODでか
つそのCCDのISHパルス期間に複数の光ビームが入
ると、分離する必要がある。
そこで、この場合は、各色の光ビーム毎に補正を行って
行く、このとき、CODの出力のピークをとれば良いが
、第24図に示すようにある閾値vthで切っても良い
。そして、その閾値vthを越えるまでのCCDの続出
クロックをカウント出力、これが規定値となるようにピ
エゾスタックを制御する。
第25図はこのための回路図である。CCD出力信号は
、コンパレータ48で閾値vthと比較して、そのコン
パレータ48の出力が立ち上がるまでの間カウンタ49
をイネーブルにして続出クロックでカウントし、そのカ
ウント値をラッチ50でラッチして、そのラッチ出力を
D/A変換器51でアナログ信号に変換し、設定値と比
較する演算増幅器52からピエゾドライバに送出するよ
うにする。カウンタ49のクリアはSHパルスで行う。
この動作を繰り返し、D/A変換器51の出力が設定値
と同一となった時点で、光ビームのずれが修正されて、
零となる。
この動作は、デジタル的に行うこともできる。
第26図はその回路で、第25図におけるラッチ50の
回路以降の回路をデジルタ回路で構成したものである。
ここでは、ラッチ51の出力Aをデジタルコンパレータ
53で設定値Bと比較する。
54はSHパルスをカウントするカウンタで、デジタル
コンパレータ53での比較が、A>Bのときアップカウ
ント、A<Bのときダウンカウントして、そのカウント
値をD/A変換器55に送出する。よって、設定値に近
づくようにカウンタ54の出力が制御される。A−Bと
なって、カウント動作が停止して、光ビームのずれ調整
が完了する。
(第9の実施例) CODを使用する場合において、ISHパルス間に1個
の光ビームのみが入射する場合には、ISHパルス毎に
例えばR→G−Bの順で取り込んで、第27図に示すよ
うにカウンタ56でカウントして、アナログマルチプレ
クサ57から、対応するCODの出力を選択的に振り分
けて取り出すようにする。取り出した後の誤差信号の処
理は、第8の実施例(第25図)のコンパレータ48に
入力する。第28図は第27図のタイミングチャートで
ある。
(変形例) なお、上記した第6〜第9の実施例において、グイクロ
イックミラーを駆動してその傾きを調整するためにピエ
ゾスタックを使用したが、この他に、AOMを主走査方
向に対して縦となるように配置して、キャリア周波数を
変化させることにより光ビームを副走査方向に変位させ
てそのずれを調整することもできる。また、ターイクロ
イックミラーの微動に、モータとリードスクリューの組
合せや、ボイスコイルモータ、リニアモータ等を使用す
ることもできる。
、〔発明の効果〕 以上のように本発明によれば、光ビームの主走査ライン
上又はその近傍に該光ビームの副走査方向の位置を検出
する光検出器を配置し、該光検出器より得られる信号か
ら上記光ビームの正規位置からのずれを示す誤差信号を
生成するようにしたので、従来のような特別な治具を使
用せず、簡単にその光ビームのずれ修正を行うことがで
きる。
また、この誤差信号により光ビームの光学系を制御すれ
ば、自動的にずれ修正を行うこともできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は第1の実施例の光ビーム検出処理部の回路図、
第2図(al、(b)〜第5図(a)、(b)は第1の
実施例の作用説明図、 第6図は第2の実施例の光ビーム検出処理部の回路図、 第7図は第3の実施例の光検出器説明図、第8図ゆ第3
の実施例の光ビーム検出処理部の回路図、第9図は第8
図において遅延回路を使用しない場合に得られる誤差信
号の波形図、 第10図は第4の実施例の光ビーム検出処理部の回路図
、第11図はピークホールド回路の原理図、第12図は
同回路の具体的回路図、第13図は第5の実施例のCO
Dを含む光検出器の説明図、第14図と第15図はCC
Dの動作説明図、第16図は3個の光ビームかISHパ
ルス内に入射する場合の説明図、第17図は2SHパル
スに亘って入射する場合の説明図、第18図は第6の実
施例の光ビーム検出処理部の回路図、第19図は第18
図の回路の動作説明図、第20図(a)はピエゾスタッ
クの動作説明図、(b)は動作特性図、第21図はピエ
ゾスタックを駆動するための誤差信号判定部の回路図、
第22図は第7の実施例における誤差信号判定部の回路
図、第23図はその判定部の動作説明図、第24図は第
8の実施例におけるCODに1個のビームが入射する場
合の当該ビーム位置検出の説明図、第25図は得られる
ビーム位置信号からピエゾスタック駆動用の信号を作成
する回路の回路図、第26図は第25図の回路の一部を
デジタル回路に代えた場合の回路図、 第27図は第9の実施例におけるCCDにISHパルス
当たり1本づつ光ビームが入射する場合に誤差信号を得
るための同図、第28図はその動作説明図、 第29図はレーザビームプリンタ装置の走査光学系の平
面の説明図、第30図は同光学系のポリゴンミラーから
結合部までを示す側面図、第31図はポリゴンミラーへ
の光ビーム入射説明図、第32図は従来使用されていた
治具の説明図、第33図はグイクロイックミラーの調整
の説明図である。 代理人 弁理士 長 尾 常 明 号 第 図 t 第6 第7 図 図 第18図 2q 第19図 −を t □■ 第22図 第24図 初−二10.クロ勺ント 第25図 第23図 D/A七カ 第26図 第27図 H CCD″r−n 第28図 第29図 第30図 第31図 第32図 第33図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)、画像信号を担持した複数の異なった波長の光ビ
    ームで、副走査方向に搬送される感光材料を主走査方向
    に走査露光して、該感光材料にカラー画像を形成する走
    査光学系において、 上記光ビームの主走査ライン上又はその近傍に該光ビー
    ムの副走査方向の位置を検出する光検出器を配置し、該
    光検出器より得られる信号から上記光ビームの正規位置
    からのずれを示す誤差信号を生成することを特徴とする
    走査光学系。
  2. (2)、上記誤差信号を使用して、上記光ビームの光学
    系を制御し、上記ずれを修正することを特徴とする特許
    請求の範囲第1項記載の走査光学系。
JP63176524A 1988-07-15 1988-07-15 走査光学系 Pending JPH0225828A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000180746A (ja) * 1998-12-16 2000-06-30 Fuji Xerox Co Ltd 画像形成装置
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JP2018161866A (ja) * 2017-03-27 2018-10-18 キヤノン株式会社 光走査装置および画像形成装置

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