JPH02250338A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPH02250338A
JPH02250338A JP1070665A JP7066589A JPH02250338A JP H02250338 A JPH02250338 A JP H02250338A JP 1070665 A JP1070665 A JP 1070665A JP 7066589 A JP7066589 A JP 7066589A JP H02250338 A JPH02250338 A JP H02250338A
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JP
Japan
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bonding wires
bonding wire
bonding
insulating material
semiconductor device
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JP1070665A
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Hiromichi Suzuki
博通 鈴木
Hajime Hasebe
一 長谷部
Yoshio Dobashi
土橋 芳男
Tokuji Toida
戸井田 徳次
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Hitachi Ltd
Renesas Semiconductor Package and Test Solutions Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Hokkai Semiconductor Ltd
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体装置に関し、特に、樹脂封止型半導体
装置に適用して有効な技術に関するものである。
〔従来の技術〕
従来、樹脂封止型半導体装置は1例えば、第5図に示す
ように、タブ8上に配置された半導体ペレット9に設け
られているポンディングパッド10とインナーリード4
とをボンディングワイヤ11で電気的に接続し、樹脂封
止部で樹脂封止することにより形成されている。
そして、モールド時のレジンの流れに押されてボンディ
ングワイヤ11が流れ、ボンディングワイヤ11同士が
接触(ショート)するを防止するために、インナーリー
ド4の先端を折り曲げて形成し、この折曲げられた部分
に溝2を設け、該溝2の中にボンディングワイヤ11を
はめ込むようにしている。
この種の技術に関しては、例えば、特願昭61−251
736号に記載されている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、本発明者は、前記従来技術を検討した結
果、以下のような問題点を見い出した。
前記従来技術においては、インナーリード4の先端を折
り曲げた部分に溝2を設け、この溝2にボンディングワ
イヤ11をはめ込むだけであるので、ボンディングワイ
ヤ11かたるんだ場合、ボンディングワイヤ11が前記
溝2からはずれてタブ8と接触(ショート)したり、ま
た、モールド時のレジンの流れに押されてボンディング
ワイヤ11が流れ、ボンディングワイヤ11同士が接触
(ショート)するという問題があった。
また、半導体装置の多ビン化、チップサイズの減少に伴
い、インナーリード4及びボンディングワイヤ11の配
置間隔は、小さくなってきている。
そのため、インナーリード4及びボンディングワイヤ1
1の配置間隔を小さくすると、ボンデインワイヤ11同
士が接触(シ目−ト)するという問題があった。
本発明の目的は、樹脂封止型半導体装置において、ボン
ディングワイヤとタブとの接触及びボンディングワイヤ
同士の接触を防止することが可能な技術を提供すること
にある。
本発明の他の目的は、前記半導体装置において、モール
ド時の封止剤の流れに押されてボンディングワイヤが流
れるのを防止することが可能な技術を提供することにあ
る。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は1本
明細書の記述及び添付図面によって明らかになるであろ
う。
〔課題を解決するための手段〕
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概
要を簡単に説明すれば、以下のとおりである。
半導体ペレットとインナーリードとをボンディングワイ
ヤで電気的に接続した後、樹脂で封止してなる半導体装
置において、前記半導体ペレットと前記インナーリード
との間に絶縁性の材料を設けたものである。
また、前記N縁性の材料の所定の位置に溝を設け、該溝
の中に、ボンディングワイヤをはめ込むようにしたもの
である。
〔作  用〕
上述した手段によれば、ボンディングワイヤにたるみが
生じた場合にも、半導体ペレットとインナーリードとの
間に絶縁性の材料が設けられているので、ボンディング
ワイヤとタブとの接触を防止することができる。
また、ボンディングワイヤの配置間隔が小さくなった場
合にも、絶縁性の材料の所定の位置に溝を設け、該溝の
中にボンディングワイヤをはめ込むようにしているので
、ボンディングワイヤの動きは制限され、ボンディング
ワイヤ同士の接触を防止することができる。
また同時に、絶縁性の材料の溝にボンディングワイヤを
はめ込んでいるので、モールド時のレジンの流れに押さ
れてボンディングワイヤが流れ。
ボンディングワイヤ同士が接触するのを防止することが
できる。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を図面を用いて具体的に説明す
る。
なお、実施例を説明するための全回において。
同一機能を有するものは、同一符号を付け、その繰り返
しの説明は省略する。
[実施例I] 第1図は、本発明の実施例■の樹脂封止型半導体装置の
概略構成を示す断面図、第2図は、第1図の一点鎖線で
囲まれた部分■の要部拡大斜視図、第3図は、第1図に
示す樹脂封止型半導体装置のモールドする前の組立体の
平面図である。
第1図乃至第3図に示すように、実施例Iの樹脂封止型
半導体装置は、半導体ペレット9、ボンディングワイヤ
11、インナーリード4、アウターリード5、タブ8、
樹脂封止部12、絶縁性の材料1等から構成されている
前記半導体ペレット9には、図示していないが、ポンデ
ィングパッド(電極)が複数個設けられている。前記半
導体ペレット9は、タブ8上に配置されている。
前記インナーリード4.アウターリード5、タブ8等は
、同一のリードフレームにエツチング加工を施すことに
より形成されている。前記インナーリード4、前記アウ
ターリード5の夫々は、半導体ペレット9に設けられて
いるポンディングパッドの数に対応して複数個設けられ
ている。
前記ボンディングワイヤ11は、例えば金線で構成され
ている。前記ボンディングワイヤ11は、半導体ペレッ
ト9に設けられているポンディングパッドとインナーリ
ード4とを電気的に接続している。
前記絶縁性の材料1は1例えばポリイミドあるいはガラ
スエポキシ樹脂で形成されている。前記絶縁性の材料1
は、タブ8の上面の一部とインナーリード4の上面の一
部に接着され、前記半導体ペレット9の周囲を囲むよう
に設けられている。
以上示したように、前記絶縁性の材料1を前記半導体ペ
レット9とインナーリード4との間に設けたことにより
、前記ボンディングワイヤ11にたるみが生じた場合に
も、ボンディングワイヤ11とタブ8との間に前記絶縁
性の材料1があるので、ボンディングワイヤ11とタブ
8の接触を防止することができる。
また、タブ8の上面の一部とインナーリード4の上面の
一部に、絶縁性の材料1を接着しているので、ハンドリ
ング時のインナーリード4のばたつき等の発生を低減す
ることができる。
[実施例■] 第4図は、本発明の実施例■の樹脂封止型半導体装置の
要部の概略構成を示す要部拡大斜視図(実施例Iの第2
図に相当する部分の図)である。
第4図に示すように、実施例■の樹脂封止型半導体装置
では、前記実施例■の絶縁性の材料1のインナーリード
4側の端部に溝2を設け、該溝2の中にボンディングワ
イヤ11をはめ込むようにしたものである。前記溝2は
、インナーリード4の配置に対応して設けられている。
前記溝2の幅は、例えばインナーリード4より少し大き
めの幅で設けられている。前記溝2の幅は、前記ボンデ
ィングワイヤ11が、溝2の中にはめ込まれる幅があれ
ばよい、前記溝2の奥行きは、特に制限はないが、前記
ポンデイグワイヤ11の所定の長さが、該溝2の中には
め込まれるようにすればよい。また、前記溝2の深さは
、必ずしも絶縁性の材料工の厚さに相当する深さに設け
る必要はなく、例えば段差状の形状であっても、前記溝
2の中にボンディングワイヤ11がはめ込まれて固定さ
れる深さがあればよい。
以上示したように、前記絶縁性の材料1の所定の位置に
前記溝2を設け、該溝2の中にボンディングワイヤ11
をはめ込むようにしたことにより、ボンディングワイヤ
11の配置間隔が小さくなった場合にも、ボンディング
ワイヤ11の動きは制限されるので、ボンディングワイ
ヤ11同士の接触を防止す°ることができる。
また、前記溝2の中にボンディングワイヤ11がはめこ
まれているので、ボンディングワイヤ11の動きは制限
され、モールド時のレジンの流れに押されてボンディン
グワイヤ11が流れ、ボンディングワイヤ11同士が接
触することを防止することができる。
また、半導体ペレット9のサイズを大きいものに変更し
、これに合わせて、絶縁性の材料1の幅を小さくするだ
けで、リードフレームの変更なしに、大きいサイズの半
導体ペレット9を搭載することができる。
また、半導体ペレット9のサイズを小さいものに変更し
、これに合わせて、絶縁性の材料1の幅を大きくするだ
けで、リードフレームの変更なしに、小さいサイズの半
導体ペレット9を搭載することができる。
以上、本発明を実施例にもとづき具体的に説明したが、
本発明は、前記実施例に限定されるものではなく、その
要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であること
は言うまでもない。
〔発明の効果〕
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記のとおりであ
る 樹脂封止型半導体装置において、ボンディングワイヤと
タブとの接触及びボンディングワイヤ同士の接触を防止
することができる。
また、前記半導体装置において、モールド時の封止剤の
流れに押されてボンディングワイヤが流れるのを防止す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の実施例■の樹脂封止型半導体装置の
概略構成を示す断面図、 第2図は、第1図の一点鎖線で囲まれた部分■の要部拡
大斜視図、 第3図は、第1図に示す樹脂封止型半導体装置のモール
ドする前の組立体の平面図、 第4図は1本発明の実施例■の樹脂封止型半導体装置の
要部の概略構成を示す要部拡大斜視図、第5図は、従来
技術の問題点を説明するための、樹脂封止型半体装置の
要部拡大斜視図である。 図中、工・・・絶縁性の材料、2・・・溝、4・・・イ
ンナーリード、5・・・アウターリード、8・・・タブ
、9・・・半導体ペレット、11・・・ポンデイグワイ
ヤである。 第3図 纂1図 第4図 篤5図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、半導体ペレットとインナーリードとをボンディング
    ワイヤで電気的に接続した後、樹脂で封止してなる半導
    体装置において、前記半導体ペレットと前記インナーリ
    ードとの間に絶縁性の材料を設けたことを特徴とする半
    導体装置。 2、前記絶縁性の材料の所定の位置に溝を設け、該溝の
    中に、ボンディングワイヤをはめ込むようにしたことを
    特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
JP1070665A 1989-03-24 1989-03-24 半導体装置 Pending JPH02250338A (ja)

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JP1070665A JPH02250338A (ja) 1989-03-24 1989-03-24 半導体装置

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JP1070665A JPH02250338A (ja) 1989-03-24 1989-03-24 半導体装置

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ID=13438188

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