JPH02248831A - 半導体圧力センサ - Google Patents
半導体圧力センサInfo
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- JPH02248831A JPH02248831A JP7089489A JP7089489A JPH02248831A JP H02248831 A JPH02248831 A JP H02248831A JP 7089489 A JP7089489 A JP 7089489A JP 7089489 A JP7089489 A JP 7089489A JP H02248831 A JPH02248831 A JP H02248831A
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Landscapes
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、自動車などの内燃機関の吸入空気圧や大気圧
、エギゾースト圧などを検出する場合に用いる半導体圧
力センサに関する。
、エギゾースト圧などを検出する場合に用いる半導体圧
力センサに関する。
従来の技術
近年、自動車などの燃料の節約や排気対策などの社会的
要請に伴い、マイクロコンピュータによるエンジンの電
子式燃料噴射制御、点火時期制御、排気ガスの還流量の
制御などを種々のセンサを用いて行うようになっている
。
要請に伴い、マイクロコンピュータによるエンジンの電
子式燃料噴射制御、点火時期制御、排気ガスの還流量の
制御などを種々のセンサを用いて行うようになっている
。
このエンジンの電子制御において、大気圧やマニホール
ド内の絶対圧を正確に検出することは極めて重要なこと
であり、したがって、信頼性の高い圧力センサの要求に
応じるために、種々の改良された圧力センサが提案され
ている。
ド内の絶対圧を正確に検出することは極めて重要なこと
であり、したがって、信頼性の高い圧力センサの要求に
応じるために、種々の改良された圧力センサが提案され
ている。
第2図は、従来の半導体圧力センサの側面断面図を示す
。
。
第2図において、101はステム、102は台座であり
、ステム101と台座102の中心部は共に空洞であり
、また、台座102は、接合剤103を介してステム1
01上に固定されている。104は、台座102上に取
り付けられたシリコンダイヤフラムチップであり、この
チップ104は、圧力検出用のホイートストンブリッジ
抵抗が形成されたダイヤフラム106を有する。105
は、ステム101からの熱応力を緩和するために台座1
02に形成された切り欠き溝である。
、ステム101と台座102の中心部は共に空洞であり
、また、台座102は、接合剤103を介してステム1
01上に固定されている。104は、台座102上に取
り付けられたシリコンダイヤフラムチップであり、この
チップ104は、圧力検出用のホイートストンブリッジ
抵抗が形成されたダイヤフラム106を有する。105
は、ステム101からの熱応力を緩和するために台座1
02に形成された切り欠き溝である。
107は、ステム101を貫通して取り付けられたリー
ドビンであり、リードビン107とシリコンダイヤフラ
ム104のブリッジ電極は、導電性のワイヤ108を介
して接続されている。尚、ステム101とリードビン1
07の隙間は、ガラス115によりハーメチックシール
されている。 109は、ステム101上に取り付けら
れたシリコンダイヤフラム104と台座を覆って真空チ
ャンバ113を形成するためのキャップであり、キャッ
プ109の中央には予め封止穴111が形成される。
ドビンであり、リードビン107とシリコンダイヤフラ
ム104のブリッジ電極は、導電性のワイヤ108を介
して接続されている。尚、ステム101とリードビン1
07の隙間は、ガラス115によりハーメチックシール
されている。 109は、ステム101上に取り付けら
れたシリコンダイヤフラム104と台座を覆って真空チ
ャンバ113を形成するためのキャップであり、キャッ
プ109の中央には予め封止穴111が形成される。
114は、外部の流体をその先端開口からステム101
、台座102内を通ってシリコンダイアフラムチップ1
04の下面に導く圧力導入バイブであり、このバイブ1
14は、ステム101の下面にろう付けなどにより固定
されている。尚、台座102は、シリコンダイアフラム
チップ104と近似する熱膨脹係数を有する材料で形成
され、切り欠き溝105ともにステム101からの熱応
力を緩和している。
、台座102内を通ってシリコンダイアフラムチップ1
04の下面に導く圧力導入バイブであり、このバイブ1
14は、ステム101の下面にろう付けなどにより固定
されている。尚、台座102は、シリコンダイアフラム
チップ104と近似する熱膨脹係数を有する材料で形成
され、切り欠き溝105ともにステム101からの熱応
力を緩和している。
上記従来の半導体圧力センサを組み立てる場合、ステム
101にキャップを取り付ける前に、まずステム101
側に台座102、シリコンダイアフラムチップ104、
取付用リードビン107、ワイヤ108及び圧力導入バ
イブ114などを取り付ける。
101にキャップを取り付ける前に、まずステム101
側に台座102、シリコンダイアフラムチップ104、
取付用リードビン107、ワイヤ108及び圧力導入バ
イブ114などを取り付ける。
次に、封止穴111を封止していない状態で、キャップ
109をステム101に取り付け、圧接又は溶接などの
手段によりステム101の外周部に封着接合する。
109をステム101に取り付け、圧接又は溶接などの
手段によりステム101の外周部に封着接合する。
この接合後、真空中においてキャップ109内の空気を
抜(と同時に封止穴111をはんだ112で密着封着す
ると、キャップ109内に真空チャンバ113が形成さ
れる。
抜(と同時に封止穴111をはんだ112で密着封着す
ると、キャップ109内に真空チャンバ113が形成さ
れる。
したがって、この半導体圧力センサでは、シリコンダイ
アフラムチップ104のダイヤフラム106を真空チャ
ンバ113の中に収納しているので、この真空圧を基準
圧として圧力導入バイブ11がら導入される流体を絶対
圧で測定することができる。
アフラムチップ104のダイヤフラム106を真空チャ
ンバ113の中に収納しているので、この真空圧を基準
圧として圧力導入バイブ11がら導入される流体を絶対
圧で測定することができる。
発明が解決しようとする課題
しかしながら、上記従来の半導体圧力センサを用いた圧
力変換器では、基本的に一個のセンサで一つの絶対圧し
か測定できず、また、ステム101や、台座102とス
テム101間の接合剤103がらジノコンダイアフラム
チップ104に歪みを与えるので、ダイヤフラム106
に形成されたホイートストンブリッジ抵抗の値が温度に
よってばらつき、これによって圧力検出特性も太き(ば
らつくという問題点がある。
力変換器では、基本的に一個のセンサで一つの絶対圧し
か測定できず、また、ステム101や、台座102とス
テム101間の接合剤103がらジノコンダイアフラム
チップ104に歪みを与えるので、ダイヤフラム106
に形成されたホイートストンブリッジ抵抗の値が温度に
よってばらつき、これによって圧力検出特性も太き(ば
らつくという問題点がある。
尚、この問題点は主に、シリコンダイアフラムチップ1
04、ステム101、台座102及び接合剤103の熱
膨脹係数の違いに起因するものである。
04、ステム101、台座102及び接合剤103の熱
膨脹係数の違いに起因するものである。
したがって、上記従来の半導体圧力センサでは、台座1
02としてシリコンダイアフラムチップ104とできる
だけ近似する熱膨脹係数を有する材料を用いるとともに
、ステム101からの熱応力を緩和するために、台座1
02の厚みを高(したり、或は台座102に切り欠き溝
105を設けるなどの手段を施すので、台座102の加
工性が悪く、また接合箇所が多くなるので作業性も悪く
、コスト高になるばかりか信頼性も低下するという問題
点がある。
02としてシリコンダイアフラムチップ104とできる
だけ近似する熱膨脹係数を有する材料を用いるとともに
、ステム101からの熱応力を緩和するために、台座1
02の厚みを高(したり、或は台座102に切り欠き溝
105を設けるなどの手段を施すので、台座102の加
工性が悪く、また接合箇所が多くなるので作業性も悪く
、コスト高になるばかりか信頼性も低下するという問題
点がある。
本発明は上記従来の問題点に鑑み、圧力検出特性を改善
し、かつ構造を単純化して信頼性の向上と品質の安定化
を図ることができる半導体圧力センサを提供することを
目的とする。
し、かつ構造を単純化して信頼性の向上と品質の安定化
を図ることができる半導体圧力センサを提供することを
目的とする。
課題を解決するための手段
本発明は上記目的を達成するために、ダイヤフラムが形
成された半導体単結晶チップと、この半導体単結晶チッ
プと近似する熱膨脹係数を有する材料で貫通孔を備える
ように形成され、その貫通孔の上端開口に半導体単結晶
チップが接合される台座と、半導体単結晶チップと近似
する熱膨脹係数を有する材料で、台座の貫通穴と対応す
るように貫通孔を備え、台座の下端が接合される凹部が
形成されたステムと、このステムの凹部の裏側にフィル
タを介して接合される圧力導入パイプとを備えたもので
ある。
成された半導体単結晶チップと、この半導体単結晶チッ
プと近似する熱膨脹係数を有する材料で貫通孔を備える
ように形成され、その貫通孔の上端開口に半導体単結晶
チップが接合される台座と、半導体単結晶チップと近似
する熱膨脹係数を有する材料で、台座の貫通穴と対応す
るように貫通孔を備え、台座の下端が接合される凹部が
形成されたステムと、このステムの凹部の裏側にフィル
タを介して接合される圧力導入パイプとを備えたもので
ある。
作用
本発明は上記構成により、台座とステムが°ともに、半
導体単結晶チップと近似する熱膨脹係数を有する材料で
形成されているので、圧力検出特性を改善し、かつ構造
を単純化して信頼性の向上と品質の安定化を図ることが
できる。
導体単結晶チップと近似する熱膨脹係数を有する材料で
形成されているので、圧力検出特性を改善し、かつ構造
を単純化して信頼性の向上と品質の安定化を図ることが
できる。
実施例
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。第1図
(a)は、本発明に係る半導体圧力センサの一実施例を
示す平面図、第1図(b)は、第1図(a)の線X−X
に沿った断面図、第1図(c)は、第1図(a)の線Y
−Yに沿った断面図である。
(a)は、本発明に係る半導体圧力センサの一実施例を
示す平面図、第1図(b)は、第1図(a)の線X−X
に沿った断面図、第1図(c)は、第1図(a)の線Y
−Yに沿った断面図である。
第1図において、1は、金属がプレス成形されたステム
であり、ステム1の底部には、貫通穴17a、17bを
有する凹部12a、12bが形成されるとともに、パイ
プ13.14.15.16の外周部がろう付けなどによ
り気密固定されている。
であり、ステム1の底部には、貫通穴17a、17bを
有する凹部12a、12bが形成されるとともに、パイ
プ13.14.15.16の外周部がろう付けなどによ
り気密固定されている。
パイプ13〜16の穴にはそれぞれ、電源供給用リード
ビン18、出力用リードビン19.20、アース用リー
ドビン21がステム1の上下面にそれぞれ突出するよう
に、封着ガラス4により絶縁かつハーメチックで固定さ
れている。11は、各リードビン18〜21に装着され
た貫通コンデンサである。
ビン18、出力用リードビン19.20、アース用リー
ドビン21がステム1の上下面にそれぞれ突出するよう
に、封着ガラス4により絶縁かつハーメチックで固定さ
れている。11は、各リードビン18〜21に装着され
た貫通コンデンサである。
ステム1の凹部12a、12bの裏側には、圧力導入孔
22a、22bを有する圧力導入バイブ3a、3bが溶
接等により気密固定され、ステム1の凹部12a、12
b内にはそれぞれ、台座8a、8bが接合剤により固定
されている。
22a、22bを有する圧力導入バイブ3a、3bが溶
接等により気密固定され、ステム1の凹部12a、12
b内にはそれぞれ、台座8a、8bが接合剤により固定
されている。
台座8a、8bにはそれぞれ、ステム1の貫通穴17a
、17bに対応する貫通穴7a、7bが形成され、した
がって、その貫通穴7a、7bと、ステム1の貫通穴1
7a、17bと、フィルタ6a、6bと、圧力導入バイ
ブ3a、3bの圧力導入孔22a、22bがそれぞれ連
通した一体の貫通穴となる。
、17bに対応する貫通穴7a、7bが形成され、した
がって、その貫通穴7a、7bと、ステム1の貫通穴1
7a、17bと、フィルタ6a、6bと、圧力導入バイ
ブ3a、3bの圧力導入孔22a、22bがそれぞれ連
通した一体の貫通穴となる。
23a、23bはともに、シリコンダイヤフラムチップ
などの半導体単結晶チップであり、半導体単結晶チップ
23a、23bをそれぞれ台座8a、8bの上端に取り
付けることにより、ダイヤフラム24a、24bがそれ
ぞれ台座8a、8bの上端開口を封止し、この封止した
ダイヤフラム24a、24bを2つの流体の圧力印加部
にしている。尚、ステム1と台座8a、8bは、半導体
単結晶チップ23a、23bの熱膨脹係数と近似する材
料で形成される。
などの半導体単結晶チップであり、半導体単結晶チップ
23a、23bをそれぞれ台座8a、8bの上端に取り
付けることにより、ダイヤフラム24a、24bがそれ
ぞれ台座8a、8bの上端開口を封止し、この封止した
ダイヤフラム24a、24bを2つの流体の圧力印加部
にしている。尚、ステム1と台座8a、8bは、半導体
単結晶チップ23a、23bの熱膨脹係数と近似する材
料で形成される。
25は、半導体単結晶チップ23a、23bのブノッジ
電極と、ステム1上に接着された基板10の温度補償や
増幅用の回路を接続する導電性ワイヤ、2は、ステム1
上に台座8a、8b、半導体単結晶チップ23a、23
b、導電性ワイヤ25を取り付けた後、これらの部材を
覆うようにステム1上に取り付けて真空チャンバ26を
形成するためのキャップである。
電極と、ステム1上に接着された基板10の温度補償や
増幅用の回路を接続する導電性ワイヤ、2は、ステム1
上に台座8a、8b、半導体単結晶チップ23a、23
b、導電性ワイヤ25を取り付けた後、これらの部材を
覆うようにステム1上に取り付けて真空チャンバ26を
形成するためのキャップである。
上記構成に係る半導体圧力センサを組み立てる場合は、
キャップ2を取り付ける前に、まずパイプ13〜16、
リードビン18〜21をステム1に取り付け、また、半
導体単結晶チップ23a、23bをそれぞれ取り付けた
台座8a、8bをステム1に取り付ける。
キャップ2を取り付ける前に、まずパイプ13〜16、
リードビン18〜21をステム1に取り付け、また、半
導体単結晶チップ23a、23bをそれぞれ取り付けた
台座8a、8bをステム1に取り付ける。
次いで、フィルタ6a、6bを装着した圧力導入バイブ
3a、3bを溶接などによりステム1に固定するととも
に、基板10とワイヤ25などを取り付け、真空中で圧
接又は溶接などにより、キャップ2をステム1上の外周
部に封着接合する。したがって、キャップ2内に真空チ
ャンバ26が形成され、真空チャンバ26内の圧力が基
準圧になる。
3a、3bを溶接などによりステム1に固定するととも
に、基板10とワイヤ25などを取り付け、真空中で圧
接又は溶接などにより、キャップ2をステム1上の外周
部に封着接合する。したがって、キャップ2内に真空チ
ャンバ26が形成され、真空チャンバ26内の圧力が基
準圧になる。
次に、上記実施例の動作を説明する。
上記実施例において、例えば内燃機関の吸入空気圧を測
定する場合に、例えば圧力導入バイブ3aをマニホール
ドの吸気孔に接続し、吸気マニホールドの吸気孔からの
流体の圧力が圧力導入バイブ3aの貫通穴22a、ステ
ム1の貫通穴17a、台座8aの貫通穴7aを介してダ
イヤプラム24aの圧力印加部に印加されるようにし、
他方、大気が他方の圧力導入パイプ3bの貫通穴22b
に通じるようにし、大気圧が他方のダイヤフラム24b
の圧力印加部に印加されるようにする。
定する場合に、例えば圧力導入バイブ3aをマニホール
ドの吸気孔に接続し、吸気マニホールドの吸気孔からの
流体の圧力が圧力導入バイブ3aの貫通穴22a、ステ
ム1の貫通穴17a、台座8aの貫通穴7aを介してダ
イヤプラム24aの圧力印加部に印加されるようにし、
他方、大気が他方の圧力導入パイプ3bの貫通穴22b
に通じるようにし、大気圧が他方のダイヤフラム24b
の圧力印加部に印加されるようにする。
吸気マニホールドの吸気孔からの流体の圧力と大気圧が
それぞれ、ダイヤフラム24a、24bに歪みを与え、
ダイヤフラム24a、24bに形成された圧力検出用ホ
イートストンブリッジの抵抗値を変化させ、圧力検出信
号が出力用リードビン19.20を介して取り出される
。
それぞれ、ダイヤフラム24a、24bに歪みを与え、
ダイヤフラム24a、24bに形成された圧力検出用ホ
イートストンブリッジの抵抗値を変化させ、圧力検出信
号が出力用リードビン19.20を介して取り出される
。
したがって、上記実施例によれば、ダイヤフラム24a
、24bを境に圧力印加側と真空チャンバ26 (il
lIとが反対に位置するので、2つの流体の絶対圧を同
時に測定することができる。
、24bを境に圧力印加側と真空チャンバ26 (il
lIとが反対に位置するので、2つの流体の絶対圧を同
時に測定することができる。
また、上記実施例では、ステム1と、台座8a、8bと
半導体単結晶チップ23a、23bが近似の熱膨脹係数
を有する材料で形成されているので、温度変化時にステ
ム1と、台座8a、8b半導体単結晶チップ23a、2
3bに及ぼす熱応力の影響を少なくすることができ、し
たがって、ダイヤフラム24a、24bに形成された圧
力検出用ホイートストンブリッジの抵抗値の熱応力によ
る変動差がなくなり、圧力センサとしての特性が安定す
る。
半導体単結晶チップ23a、23bが近似の熱膨脹係数
を有する材料で形成されているので、温度変化時にステ
ム1と、台座8a、8b半導体単結晶チップ23a、2
3bに及ぼす熱応力の影響を少なくすることができ、し
たがって、ダイヤフラム24a、24bに形成された圧
力検出用ホイートストンブリッジの抵抗値の熱応力によ
る変動差がなくなり、圧力センサとしての特性が安定す
る。
更に、圧力導入パイプ3a、3bがそれぞれ、フィルタ
6a、6bを介してステムlに取り付けられているので
、圧力導入パイプ3a、3bの先端を直接エンジンの吸
気ホースに接続することができ、また、温度補償や増幅
用の回路基板10が内蔵されているので、トランスデユ
ーサ自体がセンサとして機能し、したがって、従来外付
けされていた圧力検出回路の部品点数が少なくなるとと
もに、効率的に回路を組み立てることができ、信頼性が
向上する。
6a、6bを介してステムlに取り付けられているので
、圧力導入パイプ3a、3bの先端を直接エンジンの吸
気ホースに接続することができ、また、温度補償や増幅
用の回路基板10が内蔵されているので、トランスデユ
ーサ自体がセンサとして機能し、したがって、従来外付
けされていた圧力検出回路の部品点数が少なくなるとと
もに、効率的に回路を組み立てることができ、信頼性が
向上する。
発明の詳細
な説明したように、本発明は、ダイヤフラムが形成され
た半導体単結晶チップと、この半導体単結晶チップと近
似する熱膨脹係数を有する材料で貫通孔を備えるように
形成され、その貫通孔の上端開口に半導体単結晶チップ
が接合される台座と、半導体単結晶チップと近似する熱
膨脹係数を有する材料で、台座の貫通穴と対応するよう
に貫通孔を備え、台座の下端が接合される凹部が形成さ
れたステムと、このステムの凹部の裏側にフィルタを介
して接合される圧力導入パイプとを備えたので、圧力検
出特性を改善し、かつ構造を単純化して信頼性の向上と
品質の安定化を図ることができる。
た半導体単結晶チップと、この半導体単結晶チップと近
似する熱膨脹係数を有する材料で貫通孔を備えるように
形成され、その貫通孔の上端開口に半導体単結晶チップ
が接合される台座と、半導体単結晶チップと近似する熱
膨脹係数を有する材料で、台座の貫通穴と対応するよう
に貫通孔を備え、台座の下端が接合される凹部が形成さ
れたステムと、このステムの凹部の裏側にフィルタを介
して接合される圧力導入パイプとを備えたので、圧力検
出特性を改善し、かつ構造を単純化して信頼性の向上と
品質の安定化を図ることができる。
第1図(a)は、本発明に係る半導体圧力センサの一実
施例を示す平面図、第1図(b)は、第1図(a)の線
X−Xに沿った断面図、第1図(c)は、第1図(a)
の線Y−Yに沿った断面図図、第2図は、従来の半導体
圧力センサを示す断面図である。 1・・・ステム、2・・・キャップ、3a、3b・・・
圧力導入パイプ、6a、6b・・・フィルタ、7al
7bl 22a、22b・・・貫通孔、8a、8b・・
・台座、10 ・・・基板、12a、12b−凹部、2
3a、23b・・・半導体単結晶チップ、24a、24
b・・・ダイヤフラム、26・・・真空チャンバ。 第1図 (久) Y−’−1 (e) 代テ人の片名
施例を示す平面図、第1図(b)は、第1図(a)の線
X−Xに沿った断面図、第1図(c)は、第1図(a)
の線Y−Yに沿った断面図図、第2図は、従来の半導体
圧力センサを示す断面図である。 1・・・ステム、2・・・キャップ、3a、3b・・・
圧力導入パイプ、6a、6b・・・フィルタ、7al
7bl 22a、22b・・・貫通孔、8a、8b・・
・台座、10 ・・・基板、12a、12b−凹部、2
3a、23b・・・半導体単結晶チップ、24a、24
b・・・ダイヤフラム、26・・・真空チャンバ。 第1図 (久) Y−’−1 (e) 代テ人の片名
Claims (3)
- (1)ダイヤフラムが形成された半導体単結晶チップと
、 前記半導体単結晶チップと近似する熱膨脹係数を有する
材料で貫通孔を備えるように形成され、その貫通孔の上
端開口に前記半導体単結晶チップが接合される台座と、 前記半導体単結晶チップと近似する熱膨脹係数を有する
材料で、前記台座の貫通穴と対応するように貫通孔を備
え、前記台座の下端が接合される凹部が形成されたステ
ムと、 前記ステムの凹部の裏側にフィルタを介して接合される
圧力導入パイプとを有する半導体圧力センサ。 - (2)前記半導体単結晶チップと、台座と、圧力導入パ
イプを2つ備えた請求項(1)記載の半導体圧力センサ
。 - (3)前記半導体単結晶チップにより検出された圧力検
出信号を温度補償し、増幅する回路部品が実装された基
板を前記ステム上に取り付けた請求項(1)又は(2)
記載の半導体圧力センサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7089489A JPH02248831A (ja) | 1989-03-23 | 1989-03-23 | 半導体圧力センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7089489A JPH02248831A (ja) | 1989-03-23 | 1989-03-23 | 半導体圧力センサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02248831A true JPH02248831A (ja) | 1990-10-04 |
Family
ID=13444694
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7089489A Pending JPH02248831A (ja) | 1989-03-23 | 1989-03-23 | 半導体圧力センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02248831A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005134221A (ja) * | 2003-10-29 | 2005-05-26 | Kyocera Corp | 圧力検出装置用パッケージ |
-
1989
- 1989-03-23 JP JP7089489A patent/JPH02248831A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005134221A (ja) * | 2003-10-29 | 2005-05-26 | Kyocera Corp | 圧力検出装置用パッケージ |
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