JPH01172721A - 半導体圧力センサ - Google Patents

半導体圧力センサ

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JPH01172721A
JPH01172721A JP33194987A JP33194987A JPH01172721A JP H01172721 A JPH01172721 A JP H01172721A JP 33194987 A JP33194987 A JP 33194987A JP 33194987 A JP33194987 A JP 33194987A JP H01172721 A JPH01172721 A JP H01172721A
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JP
Japan
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pressure
sensitive diaphragm
hole
sensitive
chip
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JP33194987A
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English (en)
Inventor
Kazuhiko Mizojiri
溝尻 和彦
Shogo Asano
浅野 勝吾
Juhei Takahashi
寿平 高橋
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は自動車などの内燃機関の吸入空気圧や大気圧ま
たはエキゾースト圧などを検出するのに用いる半導体圧
力センサに関する。
従来の技術 近年、自動車などの燃料の節約や排気対策など社会的要
請に伴い、マイクロコンピュータによるエンジンの電子
式燃料噴射、点火時間および排ガス還流量の制御などを
種々なセンサを用いて行なうようになってきた。
このエンジンの電子制御において、大気およびマニホー
ルド内の絶対圧を正確に検出することは極めて重要なこ
とで、信頼性の高い圧力センサが要求される。これに伴
い種々改良された圧力センサが提案されている。
以下、従来の圧力センサの一例を図面を用いて説明する
第4図は従来の半導体圧力センサの概略構成図である。
第4図において101はステム、102は台座で接合剤
103を用いてステム101上に固定している。104
は感圧ダイヤフラム106を有したシリコン感圧ダイヤ
フラムチップで、感圧ダイヤフラム106に圧力検出用
ホイーストンブリッジ抵抗を設けて台座102上に取り
付けている。105はステム101からの熱応力を緩和
するため台座102に設けた切シ欠き溝である。
107は台座102を貫通して設けたリードビンで、台
座102との隙間はガラス1)5でハーメチック封止状
態になっている。108はシリコン感圧ダイヤフラムチ
ップ104のブリッジ電極とリードビン107とを接続
した導電性のワイヤである。109はステム101上に
収り付けたシリコン感圧ダイヤフラムチップ104と台
座102とを外側から覆って真空チャンバー1)3を形
成するキャップで、封止穴1)1を上部に設けている。
1)4はステム101および台座102内を通ってシリ
コン感圧ダイヤフラムチップ104の下面に流体を導く
圧力導入用のパイプで、ステム101の下面にロウ付け
などの手段で固定している。また台座102はシリコン
感圧ダイヤフラムチップ104と近似する熱膨張係数を
有した材質で形成し、切り欠き溝105とともにステム
101からの熱応力を緩和している。
そして上記従来の半導体圧力センサは組み立てる場合、
ステム101にキャップ109を取り付ける前に、まず
ステム101側に台座102.シリコン感圧ダイヤフラ
ムチップ104.取付用リードビン107.ワイヤ10
8および圧力導入パイプ1)4などを取シ付けておく。
次に封止穴1)1を封止していない状態でキャップ10
9をステム101に取り付け、圧接または溶接などの手
段でステム101の外周部1)0に封着接合する。この
接合後、真空中においてキャップ109内の電気を抜く
と同時に封止穴1)1をハンダ1)2で密閉封着する。
するとキャップ109内に真空チャンバー1)3が形成
されて組み立てられる。
したがって、この半導体圧力センサではシリコン感圧ダ
イヤフラムチップ104の感圧ダイヤフラム106を真
空チャンバー1)3の中に収納しているので、この真空
圧を基■圧として圧力導入パイプ1)4から導入する流
体を絶体圧で測定できる。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記従来の半導体圧力センサを用いた圧力
変換器では、基本的に一個のセンサで−つの絶対圧しか
測定できない。
またステム101や、台座102とステム101間の接
合剤103からシリコン感圧ダイヤフラムチップ104
に及ぼす熱応力の影響が大きく、この熱応力がシリコン
感圧ダイヤフラムチップ104に歪みを与える。このた
め感圧ダイヤフラム106に形成したホイーストンブリ
ッジ抵抗の値が温度によってばらつき、これに作い圧力
検出特性も大きくばらつく欠点があった。この問題は主
にシリコン感圧ダイヤフラムチップ1o4.ステム1o
1゜台座102および接合剤103の熱膨張係数の違い
に起因するものである。
このため従来の半導体圧力センチの構造では、上述した
ように台座102にシリコン感圧ダイヤフラムチップ1
04とできるだけ近似する熱膨張係数を有した材質を用
いるとともに、ステム101からの熱応力を緩和する目
的で台座102の厚みを高くしたり、あるいは台座10
2に切り欠き溝105を設けるなどの手段を施している
。この結果、台座1.02の加工性が悪く、また接合す
る箇所が多くなるため作業性も悪くコスト高になるばか
りか信頼性も低下していた。
本発明はこのような従来の問題を解決するものであり、
−個のセンサで少なくとも二つの絶対圧まだは税対圧と
相対圧とを同時に検出することができるとともに圧力検
出特性を改善して信頼性の向上を図ることのできる半導
体圧力センサを提供することを目的とするものである。
問題点を解決するだめの手段 本発明は上記目的を達成するために、少なくとも第1と
第2の感圧ダイヤフラムを並置して設けた半導体単結晶
感圧ダイヤフラムチップと、前記感圧ダイヤフラムチッ
プと近似の熱膨張係数を有した材質で形成されて前記第
1の感圧ダイヤフラムと対応した第1の貫通穴を有する
とともに前記第2の感圧ダイヤフラムとの間に真空チャ
ンバーを形成して前記感圧ダイヤフラムチップをAl−
Si(アルミニューム−シリコン)共晶結合などの手段
で封着接合したシリコンサポートウニハト、前記感圧ダ
イヤフラムチップと近似の熱膨張係数を有した材質で形
成され前記第1の貫通穴と対応した第2の貫通穴および
前記第2の感圧ダイヤフラムと対応した第3の貫通穴と
を設けて前記感圧ダイヤフラムチップと反対側で前記シ
リコンサポートウェハを陽極結合などの手段で封着接合
した台座と、前記感圧ダイヤフラムチップと近似の熱台
張係数を有した材質で形成され前記第2の貫通穴と対応
した第4の貫通穴と前記第3の貫通穴と対応する第5の
貫通穴とを設けて前記シリコンサポートウェハと反対側
で前記台座を封着接合したプレートと、前記第4の貫通
穴と対応する流体導入孔を設けた圧力導入パイプを一体
に形成し前記プレートを前記台座と反対側で封着接合し
たプラスチック製のパッケージとを備え、前記第1の感
圧ダイヤフラムと前記第2の感圧ダイヤフラムの一方の
面に同一圧力を付与させるとともに、前記第1の感圧グ
イヤフラムの他方の面に前記流体導入孔から流入した圧
力を付与する構成にしたものである。
作    用 したがって本発明によれば、少なくとも第1と第2の感
圧ダイヤフラムを形成した半導体単結晶感圧ダイヤフラ
ムチップを用いて、第1の感圧ダイヤフラムをシリコン
サポートウェハと台座にそれぞれ形成した第1と第2と
第4の貫通穴を介して圧力導入パイプの流体導入孔に開
口させるとともに、第2の感圧ダイヤフラムとサポート
クエハとの間に真空チャンバーを形成し、第1と第2の
感圧ダイヤフラムの一方の面に同一圧力を付与させ、か
つ第2の感圧ダイヤフラムの他方の面に真空圧を、また
第1の感圧ダイヤフラムの他方の面に流体導入孔から流
入した圧力を付与させる構成としているので、測定され
る圧力は絶対圧と相対圧の両方を同時に測定することが
可能で、まだ出力信号処理回路により両川力の差をとる
ことにより、例えば大気圧と吸気マニホールド圧とを同
時に絶対圧で測定することも可能になる。
またサポートクエハと台座およびプレートを、半導体単
結晶感圧ダイヤフラムチップと近似した熱膨張係数を有
する材質で形成し、これらの部材を介して半導体単結晶
感圧ダイヤフラムチップをプラスチック製のパッケージ
に封着接合しているので、温度変化時の各感圧ダイヤフ
ラムに及ぼすグラスチック製パッケージ、プレート、台
座、サポートウェハなどからの熱応力の影響がなくなる
このため各感圧ダイヤフラム面に形成しているホイース
トンブリッジ抵抗における抵抗値の熱応力による変動差
がなくなり、圧力センサとしての特性が安定する。
実施例 第1図乃至第3図は本発明の一実施例の構成を示すもの
である。第1図乃至第3図において、1は上面に凹部2
を設けたプラスチック製のパッケージであり、成形時に
上面側に凹部2を、また下面側に圧力導入パイプ3をそ
れぞれ一体に形成しているとともに、それぞれ5本づつ
左右側面から突出した状態でリードビン4をインサート
して取り付けている。また圧力導入パイプ3には凹部2
内へ通じた流体導入孔5を設けている。6は第4の貫通
穴と第5の貫通穴8とを有したプレートで、第4の貫通
穴7を流体導入孔5に対応させて凹部2の底面上に封着
接合され、第5の貫通穴8の下端は凹部2の底面で封止
されている。9はパイレックスガラスで成形した台座で
、プレート6の第4の貫通穴7に対応した第2の貫通穴
1)とプレート6の第5の貫通穴に対応した第3の貫通
穴12とを有し、各穴位置を一致させてプレート6上に
封着接合している。13はシリコンで形成したサポート
ウェハで、台座9の第2貫通穴1)に対応した第1の貫
通穴14を有し、第2の貫通穴1)と第1の貫通穴14
との穴位置を一致させて台座9上に陽極結合のような手
段を用いて封着接合されている。10は凹部2内に注入
固化したシリコングルーで、凹部2内に配置したプレー
ト6と台座9とを固定している。15は互いに隣接した
部分から各々圧力検出用ホイーストンブリッジ抵抗を形
成した第1の感圧ダイヤフラム16と第2の感圧ダイヤ
フラム17とを有する半導体単結晶感圧ダイヤフラムチ
ップであり、第1の感圧ダイヤフラム16を第1の貫通
穴14に対応させるとともに第2の感圧ダイヤフラム1
7を第3の貫通穴12に対応させた状態でサポートウェ
ハ13上にAl−Si(フルミニュームーシリコン)共
晶結合などの手段で封着接合している。また第1と第2
の感圧ダイヤフラム16,17は同一クエバの隣接した
部分から作られ、第1と第2の感圧ダイヤフラム16,
17の出力差を測定し、オフセット電圧のドリフトを相
殺することができるようにしている。そしてサポートウ
ェハ13上に封着接合する際に第2の感圧ダイヤフラム
17の下面とサポートウェハ13との間に真空チャンバ
ー18を形成している。この真空チャンバー18は圧力
測定時の基準圧になるもので、基準圧が0であることか
ら圧力は絶対圧で測定できる。19は第1と第2の感圧
ダイヤフラム16,17上にそれぞれ形成している圧力
検出用ホイーストンブリソジ抵抗の電極とリードピン4
とを電気接続している導電性のワイヤである。20はパ
ッケージ1の上面を閉じた上蓋で、大気開放穴21を有
している。
なおサポートウェハ13と台座9およびプレート6の熱
膨張係数は、いずれも半導体単結晶感圧ダイヤフラムチ
ップ15の熱膨張係数と近似する材質で形成している。
次に上記実施例の圧力測定方法と動作について説明する
上記実施例において、例えば内燃機関の吸入空気圧を測
定する場合に圧力導入パイプ3の他端を被測定還流とな
る吸気マニホールドの吸気孔に接続し、マニホールド吸
気孔からの流体が圧力導入パイプ3の圧力導入孔5およ
び第4.第2.第1の貫通穴7,1).14を通して第
1の感圧ダイヤフラム16で得られるようにする。
したがって、この構造において第1の感圧ダイヤフラム
16は被測定還流側からの流体と大気開放穴21から導
入された大気で歪かを与えられる。
この歪みは第1の感圧ダイヤフラム16に形成した圧力
検出用ホイーストンブリッeの抵抗値を変化させるが、
この信号は圧力導入パイプ3から導入された被測定還流
側からの流体圧力と大気との差圧として測定されてリー
ドビン4全通して外部へ取り出される。すなわち、この
抵抗値を知ることにより吸気マニホールド内の圧力と大
気中の圧力との相対圧を測定することができる。
一方、第2の感圧ダイヤフラム17は大気開放穴21を
通って導入された大気圧で歪みが与えられ、圧力検出用
ホイーストンブリッジの抵抗値が変化し、この信号もリ
ードピン4を通して外部へ取り出され絶対圧として検出
することができる。
したがって上記実施例によれば、少なくとも第1と第2
の感圧ダイヤフラム16,17を形成した半導体単結晶
感圧ダイヤフラムチップ15を用いて、第1の感圧ダイ
ヤフラム16をサポートウェハ13と台座9およびプレ
ート6に形成した第1、第2.第4の貫通穴7,1).
14を介して圧力導入パイプ3の流体導入孔5に開口さ
せ、第2の感圧ダイヤフラム17はサポートウェハ13
との間で真空チャンバー18を形成する構成としている
ので、測定される圧力は絶対圧と相対圧の両方が同時に
測定可能になる。したがって出力信号処理回路を用いて
両出力の差をとることによシ、例えば大気圧と吸気マニ
ホールド圧とを絶対圧で、しかも同時に測定可能になる
また大気開放穴21から導入される流体の圧力は第2の
感圧ダイヤフラム17の被測定圧力となるばかりでなく
、圧力導入パイプ3から導入される流体の圧力を第1の
感圧ダイヤフラム16で相対圧から絶対圧に変換するた
めのリファレンス圧力にすることができる。
またパフケ1月とプレート6と台座9とサポートウェハ
13とを半導体単結晶感圧ダイヤフラムチップ15と近
似の熱膨張係数を有する材質で形成しているので、温度
変化時の半導体単結晶感圧ダイヤフラムチップ15に及
ぼすパッケージl側からの熱応力の影響がなくなる。こ
のため第1゜第2の感圧ダイヤフラム16,17に形成
したホイーストンブリッジ抵抗系の熱応力による変動差
がなくなり、圧力センサとしての特性が安定する。
また半導体単結晶感圧ダイヤフラムチップ15には第1
と第2の感圧ダイヤフラム16,17を同一ウェハの隣
接した部分から作っているので、電気回路部でのトリミ
ングなどによる温度補償のための調整を二つの感圧ダイ
ヤフラム16,17ではソ同一にできる。したがって信
号処理部で出力の差をとるとオフセット電圧の温度ドリ
フトが相殺できる。
発明の効果 本発明は上記実施例により明らかのように、少なくとも
第1と第2の感圧ダイヤフラムを形成した半導体単結晶
感圧ダイヤフラムチップを用いて、第1の感圧ダイヤフ
ラムをシリコンサポートウェハと台座およびプレートに
形成した第1.第2゜第4の貫通穴を介して圧力導入パ
イプの流体導入孔に開口させ、第2の感圧ダイヤフラム
はサポートウェハとの間で真空チャンバーを形成する構
成としているので、測定される圧力は絶対圧と相対圧の
両方が同時に測定可能になる。したがって出力信号処理
回路を用いて両出力の差をとることにより、例えば大気
圧と吸気マニホールド圧とを絶対圧で、しかも同時に測
定可能になる。
また大気開放穴から導入される流体の圧力は第2の感圧
ダイヤフラムの被測定圧力となるばかりでなく、圧力導
入パイプから導入される流体の圧力を第1の感圧ダイヤ
フラムで相対圧から絶対圧に変換するためのリファレン
ス圧力にすることができる。
またパッケージ1とプレートと台座とサポートウェハと
を半導体単結晶感圧ダイヤフラムチップと近似の熱膨張
係数を有する材質で形成しているので、温度変化時の半
導体単結晶感圧ダイヤフラムチップに及ぼすパッケージ
側からの熱応力の影響がなくなる。このため第1.第2
の感圧ダイヤフラムに形成したホイーストンブリッジ抵
抗系の熱応力による変動差がなくなり、圧力センサとし
ての特性が安定する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係る半導体圧力センサの上
若を取り外して見た上面図、第2図は第1因のA−A線
に沿う同上センサの縦断面図、第3図は第1図のB−B
線に沿う同上センサの縦断面図、第4図は従来の半導体
圧カヤンザの一例を示した断面図である。 1・・・パッケージ、3・・・圧力導入パイプ、5・・
・流体導入孔、6・・・プレート、7・・・第4の貫通
穴、8・・・第5の貫通穴、9・・・台座、1)・・・
第2の貫通穴、12・・・第3の貫通穴、13・・・シ
リコンサポートウェハ、14・・・第1の貫通穴、15
・・・半導体単結晶感圧ダイヤフラムチップ、16・・
・第1の感圧ダイヤフラム、17・・・第2の感圧ダイ
ヤフラム、18・・・真空チャンバー、19・・・導電
性ワイヤ、20・・・上蓋。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名/−
−−パーツゲージ 陣   臥1

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)少なくとも第1と第2の感圧ダイヤフラムを並置
    して設けた半導体単結晶感圧ダイヤフラムチップと、前
    記感圧ダイヤフラムチップと近似の熱膨張係数を有した
    材質で形成されて前記第1の感圧ダイヤフラムと対応し
    た第1の貫通穴を有するとともに前記第2の感圧ダイヤ
    フラムとの間に真空チャンバーを形成して前記感圧ダイ
    ヤフラムチップをAl−Si(アルミニウム−シリコン
    )共晶結合などの手段で封着接合したシリコンサポート
    ウエハと、前記感圧ダイヤフラムチップと近似の熱膨張
    係数を有した材質で形成された前記第1の貫通穴と対応
    した第2の貫通穴および前記第2の感圧ダイヤフラムと
    対応した第3の貫通穴とを設けて前記感圧ダイヤフラム
    チップと反対側で前記シリコンサポートウエハを陽極結
    合などの手段で封着接合した台座と、前記感圧ダイヤフ
    ラムチップと近似の熱膨張係数を有した材質で形成され
    前記第2の貫通穴と対応した第4の貫通穴と前記第3の
    貫通穴と対応する第5の貫通穴とを設けて前記シリコン
    サポートウエハと反対側で前記台座を封着接合したプレ
    ートと、前記第4の貫通穴と対応する流体導入孔を設け
    た圧力導入パイプを一体に形成し前記プレートを前記台
    座と反対側で封着接合したプラスチック製のパッケージ
    とを備え、前記第1の感圧ダイヤフラムと前記第2の感
    圧ダイヤフラムの一方の面に同一圧力を付与させるとと
    もに、前記第1の感圧ダイヤフラムの他方の面に前記流
    体導入孔から流入した圧力を付与する構成にした半導体
    圧力センサ。
  2. (2)前記第1と第2の感圧ダイヤフラムからの出力差
    を検出し、二種類の流体圧力を絶対圧で同時に測定する
    ことを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の半導
    体圧力センサ。
  3. (3)前記第2の感圧ダイヤフラムは絶対圧を検出し、
    前記第1の感圧ダイヤフラムは相対圧を測定することを
    特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の半導体圧力
    センサ。
  4. (4)前記第1の感圧ダイヤフラムをリファレンス感圧
    ダイヤフラムにして、前記第2の感圧ダイヤフラムから
    の測定値を絶対圧に変換し出力することを特徴とする特
    許請求の範囲第(1)項記載の半導体圧力センサ。
  5. (5)前記半導体単結晶感圧ダイヤフラムチップは同一
    ウエハの隣接した部分から作られ、前記第1と第2の感
    圧ダイヤフラムの出力差を測定しオフセット電圧のドリ
    フトを相殺することを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の半導体圧力センサ。
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