JPH02246458A - マトリクスボード - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は通信網の主配線盤（ＭＤＦ）等の技術分野に属
するものであシ、マトリクス２−ドを用いた自動化ＭＤ
Ｆにおいて、回線試験を自動的に実施するためのマトリ
クスゲートの構造に関するものである。

〔従来の技術〕

ＭＤＦの主要機能は、ジャンノ母リング（線路ケーブル
と局内ケーブルの接続・接続替え）と回線試験である。

従来、これら機能を実現するため人手を要していたが、
この手動ＭＤＦＫＴｈける回線試験に関する技術は次の
通シである。

第９図（、）は従来の手動ＭＤＦの概要で、１は電話機
、２は交換機、３は線路ケーブルを収容する端板群、４
は局内ケーブルを収容する端子板群、５は端子板群３の
端子と端子板群４の端子を接続するジャン−線、８は線
路ケーブル、９は局内ケーブルである。手動ＭＤＦでは
、端子板群３，４のなかの適切な端子に人手でジャン、
−１線を接続することにより，任意の線路ケーブルと局
内ケーブルを接続することが出来る。すなわち、ジャン
パリング機能を持つ。

第９図（ｂ）は手動ＭＤＦの配線系統をより詳細に示す
図で、６は試験簿冊であ）、対向するばねコンタクト７
．７′を持ち、ばねコンタクト７と７′は通常は接触し
ておシ、電気的に接続している。他の番号は第９図（、
）と同様である。なお、通常の電話回線ではＡ線、Ｂ線
の２本が対で使用されるが、図は１本の線で略記してい
る。

以下に、従来の手動ＭＤＦで行われていた代表的な回線
試験である線路／局内切分は試験及び出会い試験の実施
方法管述べる。

（２−１）線路／局内切分は試験 この試験は、例えば回線断のような障害が発生した時、
障害箇所が線路側にあるか局内側にあるか切分けるため
のものである。試験に当たっては、第２図に示すような
試験プラグを使用する。第１０図で試験プラグは１１，
１２．１３から成夛、１１．１３は接触片、１２はＩＸ
と１３を電気的に分離する絶縁体、１６は試験台、１４
．１５は試験プラグの接触片１１．１３と試験台１６を
結ぶ試験コードである。線路／局内切分は試験時は、第
１１図のように試験プラグを試験性器のばねコンタクト
１，７′の間に挿入する。すると試験コード１４は接触
片１１とばねコンタクト７の接触部を介して線路側を試
験できる状態になシ、試験コード１５は接触片１３とば
ねコンタクト７／の接触部を介して局内側を試験できる
状態になる。この状態で試験台１６と試験コード１４を
組合せて線路側の試験を、ｔた試験台１６と試験コード
１５を組合せて局内側の試験を行うことが出来る。これ
によシ、障害箇所が線路側にあるか局内側にあるかを切
分けることが出来る。

（２−２）出会い試験 この試験は、多対の線路ケーブルの中かう、電話機に接
続して使用する１対の電線を特定するためのものである
。試験は最終的に第１１図の状態を作夛だし、次のよう
に実施する。例えば、電話機近傍の電柱において、多対
の線路ケーブルの中から、電話機に接続して使用する１
対の電線を選定し、その端部を短絡する。一方、この選
定された１対の電線の他端が接続されていると想定され
る（使用予定の）試験性器に試験プラグを挿入する。

この状態で、試験台１６から試験コード１４→接触片１
１→ばねコンタクト７→選定された１対の電線（電話機
側短絡）のルートのループ抵抗を測定することにより，
選定した１対の電線と使用予定の試験性器が正しく対応
しているか否かを知ることが出来る。

この試験により確認した１対の電線と対応している端子
板Ａ上の端子と、使用予定の局内ケーブルの１対が接続
されている端子板Ｂ上の端子の間をジャンノ母線で接続
することによ）、所定の電話機と交換機の間の配線が完
了する。

（２−３）従来技術の欠点 以上述べたように、従来の手動ＭＤＦではジャンパリン
グはもとよシ、回線試験にも人手を要していた（人がＭ
ＤＦの設置場所に行き試験プラグを試験性器に挿入する
必要がある）。

なお、ジャンパリングに関しては、マトリクススイッチ
機能を持つマトリクスが一ドとマトリクススイッチ接続
を行う接続子を組合せて、接続子をロデットで操作する
ことによりジャンパリングを自動化するシステムが特開
昭５１−５２７０６号公報に提案されておシ、公知であ
る。しかし、回線試験に関しては、自動化するシステム
はこれまで提案されていかい。

〔発明が解決しようとする課題〕

本発明の目的は、従来、各種の回線試験に必要な回線状
態を人手によ）実現していたものを、ジャンパリングと
同様の接続ピン操作で自動化して実現することにある。

〔課題を解決するための手段と作用〕

本発明のマトリクスポードは、 （１）　　Ｘ、Ｙ導体ノ苧ターンと分離スルーホールを
組合せたジャンパリング用のマトリクススイッチ機能を
果たすマトリクス部 （２）該マトリクス部の入出力部に、分離スルーホール
を伴う１本以上のｘ、ｙ導体・卆ターンあるいは１列以
上の分離スルーホール列を付加することにより，回線試
験用のマトリクススイッチ機能を果たすマトリクス部 の２つのマトリクス部を有することを特徴としている。

従来は、＠線試験を行う際には、人がＭＤＦＯ設置場所
に行き、試験簿冊に試験プラグを挿入することにより，
回線試験が可能な状態にしていたが、本発明により、人
がＭＤＦの股！場所に行くことなく、遠隔制御によシ通
常のジャン／４′リングと同様の接続ピン操作で自動化
して回線試験が可能な状態にできることが異なる。

〔実施例〕

第１図は本発明の基本になるマトリクスデートの構造を
示す図で、Ｘ、Ｙ導体／４ターンと分離スルーホールを
組合せたジャンパリング用のマトリクススイッチ機能を
果たすマトリクス部の例を示しておシ、特願昭６３−２
８３２０１号と同一のものである。即ち、２００、．２
０２　、２０４　。

２０６は無電金属の受容性を有するプリント基板、２０
１．２０３，２０５は通常のプリント基板、２０７はス
ルーホール、２０８，２０９は分離スルーホールめっき
、２１０，２１２はＸＡ、ＸＢＢ体パターン（添え字の
Ａ、Ｂは電話線のＡｉｌ　Ｂ線に対応）、２１１，２１
３はＹＡ　、ＹＢＢ体パターン、２１４は接続ピン、２
１５，２１６は分離し九金めりき等である１図において
、接続ピン２１４をスルーホール２０７に挿入すると、
ビン表面の金めりき２１５が分離スルーホールめっき２
０８と２０９を接続する。従りて、該スルーホールに関
係したＸＡＡ体ツクターンとＹＡ導体パターンが接続さ
れ、Ａ線のマトリクススイッチ接続が行われる。同様に
ピン表面の金めりき２１６により、核スルーホールに関
係したＸＢＢ体パターンとＹＢＢ体パターンが接続され
、Ｂ線のマトリクススイッチ接続が行われる。すなわち
、１本の接続ピンによシ、同時にＡ、Ｂ線のマトリクス
スイッチ接続が行われる。

第２図は本発明の第１の実施例を説明する図である。第
２図（、）は第１図のプリント基板２００に相当する基
板のＸＡ導導体クリーン示す図で、２１０はジャンパリ
ング用のマトリクス部に関連し７’ｔＸＡ導体パターン
、２５０は回線試験のために回線短絡用として付加した
ＸＡ導体、ｐ４ターンで、この例では信頼性向上のため
に二重化しである。

２０７′は付加し７’？Ｘ、Ｙ導体パターンに関連した
スルーホールでアシ、ゾヤンノ臂リング用のマトリクス
部のスルーホール２０７と同一仕様の分離スルーホール
めっきを有する分離スルーホールである。また、２５１
，２５２はマトリクスデートの入出力用のコネクタのビ
ンヘッダの九めのスルーホールでらシ、スルーホールめ
っきは第１図の基板２００，２０１，２０２，２０３，
２０４゜２０５．２θ６の各断面を通して生成されてお
シ、第１図のＡ１面相当からＡ２面相当まで電気的に導
通している。スルーホール２５１，２５２ｆ）配置は一
例である。付加ＸＡ導体ΔターンＸＡ（１）はスルーホ
ール２５２−１に、付加ＸＡ導体ΔターンＸ　Ａ　（２
）はスルーホール２５２−２に接続しである。

第２図（ｂ）は第１図のプリント基板２０２に相当する
基板のＹＡ導体−々ターンを示す図で、２１１はジャン
パリング用のマトリクス部に関連し九ＹＡ導体パターン
、２５３は回線試験のために短絡用と出会い用として付
加したＹＡＡ体パターンで、この例では信頼性向上のた
めに各々二重化しである。スルーホール２０１．！Ｏｒ
’及び２５１゜２５２は第２図（、）と同様である。付
加ＹＡ導導体量中ターンＡ（Ｊ）はスルーホール２５１
−１に、ＹＡ（’）は２５１−２に、Ｙ　Ａ　（５）と
Ｙ　Ａ　（４）は２５１−３に接続しである。

第２図（ｃ）は第１図のプリント基板２０４に相当する
基板のＸＢＢ体ツタターンを示す図で、２１２はジャン
パリング用のマトリクス部に関連したＸＢ導導体ノリノ
ン２５４は回線短絡用に付加したＸＢ導体パターンであ
る。付加ＸＢ導体ノｆターンＸＢ（Ｊ）はスルーホール
２５２−１に、付加ＸＢＢ体パターンＸ　Ｂ　（２）は
スルーホール２５２−２に接続しである。従って、第２
図（、）のＸＡ（Ｚ）と第２図（ｃ）のＸＢ（Ｊ）はス
ルーホール２５２−１を介して短絡している。ＸＡ（２
）とＸＢ（２）も同様に短絡している。

第２図（ｄ）は第１図のプリント基板２０６に相当する
基板のＹＢＢ体パターンを示す図で、２１３は本来のマ
トリクス部に関連したＹＢ導体ｉ４ターン、２５５は短
絡用と出会い用に付加したＹＢ導体パターンである０図
で、付加ＹＢ導体ツクターンＹＢ（Ｚ）はスルーホール
２５１−１に、Ｙ　Ｂ　（ｊ）は１５１−２に、Ｙ　Ｂ
　（ｊ）とＹ　Ｂ　（４）は２６１−４に接続しである
。従って第２図（ｂ）のＹＡ（Ｊ）と第２図（ｄ）のＹ
Ｂ（Ｊ）はスルーホール２５１−１を介して短絡してい
る。ＹＡ（Ｊ）も同様に短絡している。

なお、第１図のプリント基板２０１，２０３゜２０５に
相当する基板に関しては、第２図（、）のジャソノ４リ
ング用のマトリクス部及び回線試験用のマトリクス部に
相当する位置にめっきを施していないスルーホールを有
する（図示せず）。

とのような構造になりているから、スルーホールｊ　０
７　（１，Ｊ）に接続ピン２１４を挿入すると、特頴昭
６３−２８３２０１号に述べたメカニズムと同様に、例
えば電話機で使用しているＡ線、Ｂ線に対応した、入力
線ＸＡ（１）が出力線Ｙ　Ａ　（ｊ）に、入力線ｘ　ｎ
　（ｉ）が出力線Ｙ　Ｂ　（Ｊ）に接続され、いわゆる
、ジャンノ母リング機能を持つ。更に、本発明によシ、
回線試験に必要な次のような基本機能が実現できる。

一回線の短絡機能− 例えば、スルーホール２ｏｙ’　（ｔ、ｚ）に接続ピン
を挿入すると、Ｘ　Ａ　（１）がＹＡ（Ｚ）に、ｘｎ（
ｔ）がＹＢ（１）に接続される。一方、ＹＡ（ｚ）とＹ
Ｂ（Ｊ）は、分離されていない通常のスルーホール２５
１−１により電気的に短絡している。従りて、回線Ｘ（
ｉ）のＡ線（ＸＡ（１））とＢ線（ＸＢ（１））はスル
ーホール２５１−１において短絡され良状態となる。な
お、スルーホール２０７’　（１，２）についても同様
の機能を持つ。

また、スルーホールｊ　０７’　（１，Ｊ）に接続ピン
を挿入すると、Ｙ　Ａ　（ｊ）がＸＡ（Ｊ）に、Ｙ　Ｂ
　（ｊ）がＸＢ（１）に接続される。一方、ＸＡ（Ｊ）
とＸ　Ｂ　（Ｊ）は、分離されていない通常のスルーホ
ール２５２−ＩＫより電気的に短絡している。従りて、
回線Ｙ　（ｊ）のＡ線（ＹＡ（ｊ））とＢ線（ＹＢ（ｊ
））はスルーホール２５２−１において短絡された状態
となる。なお、スルーホール、？　０７’　（２，ｊ）
についても同様の機能を持つ。

一回線との出会い機能− 例、ｔば、スルーホール２ｏｙ’（ｌ、ｓ）に接続ピン
を挿入すると、ＸＡ（ｉ）がＹＡ（、？）に、ＸＢ（１
）がＹＢ（ｊ）に接続される。一方、試験の専用コード
Ｔ　（Ａ、Ｂ）をあらかじめ用意しておき、例えば専用
コードのＡ線をコネクタ等を介してスルーホール２５１
−３に、専用コードのＢ線をスルーホール２５１−４に
接続しておく。このようにしておくと、回線ｘ　（ｉ）
は専用コードＴ　（Ａ、Ｂ）によって、アクセス出来、
例えば、 試験台→専用コード→回線Ｘ（ｔ） のルートのループ抵抗を測定する等の回線試験を行うこ
とが出来る。なお、スルーホール２１１＞７’（１，４
）についても同様の機能を持つ。

以上のような基本機能を有するマトリクスゲートを用い
て、自動化ＭＤＦシステムにおいて、線路／局内切分は
試験・出会い試験等の回線試験を自動化する方法を次に
述べる。

まず、第３図は自動化ＭＤＦシステムの基本となる接続
部構成（３段リンク構成）例を説明する図でありて、５
１は１段目のマトリクスゲートＭＢＺ、５２は２段目の
ＭＢ２．５３は３段目のＹＢ３．５４はリンク、５５は
入線（Ｍ本）、５６は出線（Ｎ本）である。ここで、マ
トリクスサイズａＸｂ。

ｃＸｄ　、ｅＸｆ及びＭＢ個数ｙＩＪ、ｎ２．ｎＪを適
切に選ぶことにより、任意の入線Ｍｉと任意の出線Ｎｊ
の間を接続する構成とすることが出来る。

実際の接続は、例えば１段目、２段目、３段目のＭＢ内
の適切なマトリクス交差点に、遠隔制御によシ自動的に
接続ピンを挿入することにより行う。

なお、製造上の都合から、マトリクスサイズａＸｂ＋ｅ
Ｘｄ、・Ｘｆは同一にすることもある。図は３段構成の
例を示しているが、他の段数の構成でも同様である。

つぎに、第４図は本発明のマトリクスゲートを用いて、
自動化ＭＤＦシステムの回線試験を自動化する方法を説
明する図であって、前記のマトリクスサイズａＸｂ、ｃ
Ｘｄ、ｅＸｆを同一にした例を基本としている。図にお
いて、１０１及び１０３は本来のマトリクス部に付加し
た短絡用導体パタ−ンであ゛す、例えば１３０（Ｂｌ）
に接続ビンを挿入すると、前述のメカニズムにより、短
絡導体パターンに直交する該回線１１２　（Ｌ（Ａ、Ｂ
）　）のＡ、Ｂ線を短絡状態にする機能を持つ。１０２
は本来のマトリクス部に付加した出会い用の導体パター
ンであシ、例えば１３１（Ｂ、？）に接続ピンを挿入す
ると、前述のメカニズムによシ、出会い用導体ツクター
ンに直交する該回線１１２　（Ｌ（Ａ、Ｂ）　）のＡ＃
Ｂ＋ＩＪＩに、出会い用導体ノリーンの引出し線１２１
　（Ｔｊ（Ａ、Ｂ））を介して、アクセスできる機能を
持つ。１１１は電話機、１１２は線路ケーブル、１１３
，１１４は各段を接続するリンクケーブル、１１５は局
内ケーブル、１１６は交換機、１１７は試験台、１２０
．１２１は出会い用導体ツクターンの引出し線、１２２
は１段目の各マトリクスボードの出会い用導体Ｉ−ター
ンを共通化して交換機に導入する共通線（第４図ではマ
トリクス？−ド内で、１２０と１２１を共通化した例を
示したが、どちらの構成でもよい）、１３０，１３１，
１３２，１３３゜１３４．１３５，１３６，１３７，１
３８，１３９は接続ピンの挿入位置の例、１５０は局内
ケーブル１１５の交換機への収容部、１５１は共通線１
２２の交換機への収容部である。ここで、出会い用導体
ツクターンの引出し線Ｊ　Ｊ　Ｏ（ＴＶ（Ａ、Ｂ）　）
と出会い用導体Δターンの引出し線Ｚ　Ｊ　Ｊ　（Ｔ２
（Ａ、Ｂ））において、各々のＡ＠Ｔｌ（Ａ）とＴ　２
　（Ａ）は共通線１２２のＡ１１Ｔ（Ａ）で短絡してお
シ、同様に各各のＢｌｉｌＢｌｌｌＴとＴ　２　（Ｂ）
は共通線１２２のＢＭＴ（Ｂ）で短絡している。このよ
うな構成にしたことによシ、次のように回線試験に必要
な回線状態を自動化して実現できる。

一線路／局内切分は試験− 例えば、電話機１１１と交換機１１６の間のどこかに回
線断が生じて、チエツクする時には、次のよう九線路／
局内のどちらに回線断の箇所があるか判定することが出
来る。まず、電話機１１１と交換機収容部１５０間は、
通常時は接続ビン位置１３２に挿入され九接続ピン、リ
ンククープル１１３、接続ピン位置１３５に挿入された
接続ピン、リンクケーブルＩＩ４、接続ピン位置１３８
に挿入された接続ピン、局内ケーブル１１５を介して接
続されている。この状態で、該回線１１２（Ｌ（ＡｔＢ
））に対応する短絡用導体ノ母ターン１０１上の接続ピ
ン位置１３０に接続ピンを挿入（ロボットの手によシ、
自動的に遠隔操作が可能）すると、前記電話機１１１と
交換機収容部１５０間の該回線Ｊ　Ｚ　ｚ　（（Ａ、Ｂ
））は接続ビン位置１３０近傍でＡ、Ｂ線が短絡された
状態になる。ここで、試験台１１７から交換機１１６の
該回線が収容されている収容部１５０を呼び出し、接続
ピン位置１３０の近傍でＡ、Ｂ線が短絡状態になってい
る該回線のループ抵抗等を測定する。その測定値が正常
であれば回線断の箇所は線路側と判定でき、その測定値
が異常であれば回線断の箇所は局内側と判定できる。

さらに、本構成では必要に応じて、局内側が回線断の時
には接続ピンを順次、接続ピン位置１３３゜１３４．１
３６，１３７，１３９と挿入してゆくことにより、同様
の測定及び判定基準によシ、回線断の箇所が１段目ＭＢ
のマトリクス部、リンクケーブル１１３．２段目ＭＢの
マトリクス部、リンクケーブル１１４，３段目のマトリ
クス部のどこであるかを特定することが出来る。

このように、本構成によれば、従来ＭＤＦの設置場所に
人が行き、所定の試験簿冊に試験プラグを挿入して実現
していた回線の状態を、遠隔操作によるロボットの手で
、短絡用導体パターン上の所定の接続ピン位置に接続ピ
ンを挿入することによシ自動化して実現することができ
る。

−出会い試験− 出会い試験は、共通線１２２を利用して、次のように自
動化して行う。

例えば、電話機１１１近傍の電柱において、多対の線路
ケーブルの中から、電話機に接続して使用する１対の電
線Ｉ　Ｚ　２　（Ｌ（Ａ、Ｂ））を選定し、その端部で
Ａ１５Ｌ（Ａ）とＢ線Ｌ　（Ｂ）を短絡する。一方、こ
の選定されｆ？、、１対の電線の他端が収容されている
と想定される１段目ＭＢの入力側の番地に対応した出会
い用導体パターン１０２上の接続ピン位置１３１に接続
ピンを挿入する。この状態で、試験台１１７から交換機
１１６の共通線１２２が収容されでいる収容部１５ノを
呼び出し、試験コード１２２→出会い用導体ツヤターン
の引出し線１２１→接続ビン位置１３１→線路ケーブル
（１対の電線）１１２ のルートのループ抵抗を測定することにより、選定し九
１対の電線と使用予定の１段目ＭＢの線路収容位置が正
しく対応しているか否かを知ることが出来る。

この試験により確認した１対の電線１１２と所定の交換
機１１ｇの収容部１５０の間を、各段のＭＢの本来のマ
トリクス部の所定の接続ピン位置１３２．１３５．１３
１１に接続ピンを挿入して配線ルートを設定することに
より、所定の電話機１１１と交換機の収容部ＸＳＯ間の
配線を行うことが出来る。

一４線の折返し短絡試験− 専用線を利用する電話機等では２回線分を周込て使用す
ることがあり、第５図に示すような４線の折返し短絡試
験を実施する。第５図は回線１（ＬＺ（Ａ、Ｂ））と回
線Ｊ　（ＬＺ（Ａ、Ｂ））のＡ線相互（ＬＪ　（Ａ）（
！：　Ｌｊ　（Ａ））　ｌ’　Ｂ　ａ相互（ＩＪ（Ｂ）
　トＬ２（Ｂ））　ｔ　ＭＤＦの線路側で短絡した状態
を示す。この状態で、所定の測定器を用いて回線試験を
行う。

この試験を実施できる回線状態を実現する操作を、第４
図において説明する。

１６０．１６１は回線１及び回線２１．１６２゜１６３
は２本の出会い用導体ノ９ターン１０２上の回線１及び
回線２に対応する接続ピン位置、１６４゜１６５．１６
６．１６’／は本来のマトリクス部で回線のルートを設
定するための接続ピン位置、１６Ｂは専用線モジエール
、１６９は遠隔試験装置（Ｒ７Ｅ）、１７０は保守・試
験のための操作卓（ＯＰＥ）である。この構成で４線の
折返し短絡状態にするには、該回線に対応した接続ピン
位置１６２゜１６３に接続ピンを、口？ットの手を遠隔
制御することにより挿入する。これによシ、回線Ｉは引
出し線Ｊ　ｚ　Ｏ（ＴＪ（Ａ、Ｂ））に引出され、回線
２は引出しｍ　Ｉ　２１　（’ｒ’（ＡｔＢ））に引出
された状態となる。−方、前述のように接続ピン位置１
６２の出会い用導体ツヤターンの引出し線ｚ　ｚ　Ｏ（
ＴＩ（Ａ、Ｂ））と接続ピン位置１６３の出会い用導体
パターンの引出し線ｚ２ｚ（Ｔ２（Ａ、Ｂ））において
、Ｔ　Ｉ　（Ａ）と１２体）は共通線１２２のＴ　（Ａ
）で短絡しており、同様にＴ　Ｉ　（Ｂ）と’ｒ　２　
（Ｂ）は共通１ｌｉ１１２２のＴ　（Ｂ）で短絡してい
る。従って、上記の接続ピン挿入により、回＠　１　（
ＩＪ（Ａ、Ｂ））と回線ｚ　（Ｌ、？（Ａ、Ｂ））のＡ
線相−互（Ｌｚ（＊）とＩＪ（Ａ））及びＢ線相互（Ｉ
Ｊ（Ｂ）とＩＪ（Ｂ））ｙ　ＭＤＦ　ｏ　ｇ路側で短絡
し良状態、いわゆる４線の折返し短絡状態に々る。この
状態で、操作卓１７０から遠隔試験装置１６９を呼び出
し、専用線モジエール１６８を介して所定の回線試験を
実施することが出来る。

以上第１の実施例においては、回蔵試験用の接続ビンは
ジャンパリング用のものと共用したが、非共用もあシ得
る。この場合には、接続ピンが２種類とな）運用管理が
煩わしくなるデメリットがある反面、以下に述べるよう
に、マトリクス＆　−ドの回線試験の九めの付加導体ノ
リ―ンを簡略化できるメリットがある。

第６図は本発明の第２の実施例であシ、第１図における
接続ビン２１４０分離した金めつき２１５゜２１６を電
気的に導通したいわゆるショートビンを併用する場合の
マトリクスポードを示す。シ覆−トピンを併用する場合
のマトリクスポードの構造は第２図のままでもよいが、
必要最小限の構造を９６図に示す。第６図（１）は第２
図（、）の付加分離スルーホール２０　Ｆ’は残し、付
加ＸＡ導体パターンＸＡ（Ｊ）、ＸＡ（、？）のみを除
去したものである。

第６図ｒｂ＞は同様に第２図（ｂ）の付加ＹＡ導体Δタ
ーンＹＡ（Ｚ）、ＹＡ（、？）を除去したものである。

第６図（、）は同様に第２図（ｅ）の付加ＸＢ導体ノ母
ターンＸＢ　（Ｊ）、　Ｘ　Ｂ　（２）を除去したもの
である。第６図（ｄ）は同様に第２図（ｄ）の付加ＹＢ
厚導体々ターンＹＢ（Ｊ）、Ｙ　Ｂ　（！’）を除去し
たものである。

第６図の、例えば、スルーホール２０７’（Ｓ、１）に
ショートビンを挿入するとＸ　Ａ　（１）とＸ　Ｂ　（
１）が短絡されるので、回線Ｘ（１）はスルーホール２
０７′（１，Ｊ）において短絡状態になる。スルーホー
ル２０７’　（１，、？　）についてもシ璽−トピンで
同様の状態を実現できる。まな、スルーホール２０７’
（１，ｊ）にシ璽−トピンを挿入するとＹ　Ａ　（ｊ）
とＹ　Ｂ　（ｊ）が短絡されるので、回線Ｙ　（ｊ）は
スルーホール２０７′（１，ｊ）において短絡状態とな
る。スルーホール２０７’（’、ｊ）についてもシ曹−
トピンで同様の状態を実現できる。

また、回線との出会い機能については第２図の場合と同
様に実現できる。

従りて、第６図のマトリクスデートに通常の接続ビンと
シ璽−トピンを組合せることによ〕、第４図で述べた線
路／局内切分は試験・出会い試験・４線折返し試験等の
回線試験がほぼ同様に実施できる。

さらに、以上の実施例１，２はいずれも１本の接続ピン
によ〕、電話回線のＡ、Ｂ　＠を一括してマトリクスス
イッチ接続するタイプのマトリクス？−ド（Ａ、Ｂ線を
ボード内で立体的に配置できる）に関するものでありた
が、ＡＩ！ｉＩとＢ線のマトリクススイッチ接続を独立
の２本の接続ピンで行うタイプのマトリクスが一ド（？
−ドの同一平面上でＡ、Ｂ線を配置する）もある、この
場合には、マトリクスゲート面積が２倍になるデメリッ
トがあるが、マトリクス？−ドを構成するプリント基板
の暦数を１７２に出来て構造が単純化出来ること及び接
続ピンの構造が単純化されるメリットがある。

第７図は本発明の第３の実施例のベースになるマトリク
スゲートの構造を示す図で、ジャンパリング用のマトリ
クススイッチ機能を果たすマトリクス部の例を示してい
る。２ｏｏ、ｘｏｘは無電金属の受容性を有するプリン
ト基板、２０１は通常のプリント基板、２０７はスルー
ホール、２０８゜２０９は分離スルーホールめっき、２
１０はＸ導体パターン、ｊ　Ｊ　Ｊ　ハＹ　４　体ノｆ
ターン、２１４は接続ピン、２１５は金めりき等である
。図において、接続ピン２１４をスルーホール２０７に
挿入すると、ビン表面の金めつき２１５が分離スルーホ
ールめっき２０８と２０９を接続する。従りて、該スル
ーホールに関係したＸ導体パターンとＹ導体パターンが
接続され　−２）リクススイッチ接続が行われる。なお
、このマトリクス？−ドにおいては、ゲートの同一平面
上で電話回線のＡ、Ｂ線を配置する必要があシ、Ａ線と
Ｂ線のマトリクススイッチ接続を独立の２本の接続ピン
で行う。

第８図は本発明の第３の実施例を示すものである。第８
図（、）はプリント基板２００に相当する基板のＸＡ、
ＸＢ導体Δターンを示す図で、この場合には回線のＡ、
Ｂ線を同一面内に収容する必要がある。３１０はジャン
パやリング用のマトリクス部に関連したＸＡ、ＸＢ導体
パターンである。３５０は回線試験の九めに回線短絡用
として付加したＸＡ、ＸＢ導体パターンであり、ＸＡ（
Ｊ）とＸＢ　（Ｚ）は一端で短絡している。３０７′は
付加した導体パターンに関連したスルーホールであシ、
ジャンパリング用のマトリクス部のスルーホール３０７
と同一仕様の分離スルーホールめりきを有する分離スル
ーホールである。３５１．３５２はマトリクスゲートの
入出力用のコネクタのビンヘッダのためのスルーホール
であり、スルーホールめっきは基板２００，２０１，２
０２の各断面を通して生成されている。スルーホール３
５１，３５２１）配置は一例である。

第８図（ｂ）はプリント基板２０２に相当する基板のＹ
Ａ　、ＹＢ導体パターンを示す図で、回線のＡ＃Ｂ＃を
同一面内に収容する必要がある。３１１はジャンパリン
グ用のマトリクス部に関連したＹＡ、ＹＢ導体ノ４ター
ンである。３５３は回線試験のために回線短絡用として
付加したＹＡ、ＹＢ導体パターンであシ、ＹＡ（１）と
ＹＢ（Ｚ）は一端で短絡している。ＹＡ（Ｊ）はスルー
ホール３５１−１に、ＹＢ□）はスルーホール３５１−
２に接続している。

なお、第７図のプリント基板２０１に相当する基板１に
関しては、第８図（、）のジャン・臂リング用ツマトリ
クス部及び回線試験用のマトリクス部に相当する位置に
めっきを施していないスルーホールを有する（図示せず
）。

本実施例により、前記実施例同様次のような回線試験に
必要な基本機能が実現できる。

−回線の短絡機能− 例えば、スルーホール３０７’Ａ（１，１）とスルーホ
ー　ルｓ　ｏ　ｙ’Ｂ（１、ｚ）　Ｉｃ接続ビンを挿入
すると、ＸＡ（ｉ）とＹ　Ａ　（Ｊ）、Ｘ　Ｂ　（１）
とＹ　Ｂ　（Ｊ）が接続される。ここで、Ｙ　Ａ　（ｘ
）とＹ　Ｂ　（Ｊ）は短絡されているので、回線Ｘ（１
）ＯＡ線（ＸＡ（１））とＢ線（ＸＢ　（１）　）が短
絡され九ことに彦る。なお、十分な空間があれば、スル
ーホール３０７’Ｂ（１，１）の代わシにスルーホール
３０７”Ｂ（ｌ、１）に接続ビンを挿入しても、同様の
結果が得られる。

また、例えば、スルーホールｓ　ｏ　ｙ’＊（ｚ、ｊ）
とスルーホール３０７’Ｂ（１，Ｊ）　Ｋ接続ピンを挿
入すると、Ｙ　Ａ　（Ｊ）とＸ　Ａ　（７）、Ｙ　Ｂ　
（ｊ）とＸ　Ｂ　（Ｊ）が接続される。

ここで、ＸＡ（Ｚ）とＸ　Ｂ　（Ｚ）は短絡されている
ので、回線Ｙ（ｊ）のＡ線（ｙＡ（ｊ））とＢ線（ＹＢ
（ｊ））が短絡されたことになる。

一回線の出会い機能− 例えば、スルーホール３０７’Ａ（１，２）とスルーホ
ー　／１７３　ｏ　７’Ｂ（１，２）に接続ビンを挿入
すると、　ＸＡ（ｉ）とＹＡ（２）、Ｘ　Ｂ　（１）と
Ｙ　Ｂ　（２）が接続される。一方、試験の専用コード
Ｔ（Ａ、Ｂ）をあらかじめ用意しておき、例えば専用コ
ーｒＯＡ線をコネクタ等を介してスルーホール３５１−
１に、専用コードのＢ線をスルーホール３５１−２に接
続しておく。このようにしておくと、回線Ｘ（１）は専
用コードＴ　（Ａ、Ｂ　）によりて、アクセス出来る。

従って、本実施例の上記基本機能によシ、第４図で述べ
た方法とほぼ同様にして、線路／局内切分は試験中出会
い試験等の各種回線試験に必要な回線状態を自動化して
実現できる。

以上、本発明によればＭＤＦの設置場所に人が行くこと
なく１通常の自動化ＭＤＦのジャンパリングと同様の接
続ピン操作によシ、代表的な回線試験について試験に必
要な回線状態を自動化して実現できることを述べ危。な
お、　ＭＤＦで必要な他の回線試験、例えば局外線路試
験、導通試験、発信試験等についても、試験に必要な回
線状態を自動化して実現できるが、はぼ同様の操作であ
シ、当業者には容易に理解できるので記述は省略する。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明のマトリクスゲートは （１）　　Ｘ　、　Ｙ導体パターンと分離スルーホール
を組合せたジャンパリング用のマトリクススイッチ機能
を果たすマトリクス部 （２）　　該マトリクス部の入出力部に、分離スルーホ
ールを伴うＸ、Ｙ導体パターンあるいは分離スルーホー
ル列を付加することによ〕、回線試験用のマトリクスス
イッチ機能を果たすマトリクス部 の２つから構成されているので、従来実現されていたジ
ャンパリング機能に加えて１回線試験において必要にな
る回線短絡機能及び回線との出会い機能の２つの基本機
能を新たに実現した。この回線試験用の基本機能を活用
することにより、自動化ＭＤＦシステムにおいて、　Ｍ
ＤＦで行う各種の回線試験において必要な回線状態を、
ＭＤＦの設置場所に人が行くことなく、自動化ＭＤＦの
通常のジャンパリングと同様の接続♂ン操作によシ、自
動化して実現できる。従って、ＭＤＦ回線試験作業の省
力化の利点がおる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の基本になるマトリクスゲートのジャン
パリング用マトリクス部の構造例図、第２図は本発明の
第１の実施例に係るプリント基板を示す平面略図、第３
図は本発明に係る自動化ＭＤＦシステムの接続構成例の
ブロック図、第４図は本発明に係る自動化ＭＤＦシステ
ムの回線試験を自動化する方法を説明する構成図、第５
図は本発明に係る４線の折返し短絡状態の図、第６図は
本発明の第２の実施例に係るプリント基板を示す平面略
図、第７図は本発明の第３の実施例の基本になるマトリ
クスが−ドのジャンパリング用マトリクス部の構造例図
、第８図は本発明の第３の実施例に係るプリント基板を
示す平面略図、第９図は従来の手動ＭＤＦの概要図及び
配線系統図、第１０図は従来の試験プラグの概要図、第
１１図は従来の試験プラグを用いた回線試験の概要図で
ある。 ２００．２０２，２０４，２０６・・ψ無電金属の受容
性を有するプリント基板、２０１，２０３゜２０５・・
・通常のプリント基板、２０７，２０７’・・・スルー
ホール、：！０８，２０９−・・分離スルーホールめっ
き、２１０，２１２・・・ＸＡ　、ＸＢ導体パターン、
２１１，２１３・・・ＹＡ、ＹＢ導体パターン、２１４
・・・接続ピン、２１５，２１６・・・分離した金めり
き、２５０−・・回線試験のために回線短絡用として付
加したＸＡ導体パターン、２５１．２５２・・・スルー
ホール、ｊ５Ｊ−・・回線試験のために短絡用と出会い
用として付加したＹＡ導導体クリーン２５４・・・回線
短絡用に付加したＸＢ導体ノ９ターン、２５５−・・短
絡用と出会い用に付加し九ＹＢ導体ノ９ターン。 出願人代理人　　弁理士　鈴　江　武　彦２５０：ＸＡ
　導体パターン ２５１２５２ニスルーホール 第 図（ａ） ２００．２０２，２０４，２０６：無電金属の受容性を
有するプリント基板２１４：接続ビン ２１５．２１６　：分離した金めっき 図（ｂ） 第 図（Ｃ） 第 図（ｄ） 第５ 図 第 図（ａ） 筒 図（ｂ） 笥 図（Ｃ） 第 図 第６ 図（ｄ） 筒８ 図（ａ） 第８ 図（ｂ） （ａ）手動ＭＤＦの概要 （ｂ）手動ＭＤＦの配線系統 第９図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 　Ｘ，Ｙ導体パターンと分離スルーホールを組合せたジ
   ャンパリング用のマトリクススイッチ機能を果たすマト
   リクス部と、 該マトリクス部の入出力部に、分離スルーホールを伴う
   １本以上のＸ，Ｙ導体パターンあるいは１列以上の分離
   スルーホール列を付加することにより，回線試験用のマ
   トリクススイッチ機能を果たすマトリクス部と から構成されることを特徴とするマトリクスボード。