JP2510000B2 - マトリクスボ―ド - Google Patents
マトリクスボ―ドInfo
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- JP2510000B2 JP2510000B2 JP1065863A JP6586389A JP2510000B2 JP 2510000 B2 JP2510000 B2 JP 2510000B2 JP 1065863 A JP1065863 A JP 1065863A JP 6586389 A JP6586389 A JP 6586389A JP 2510000 B2 JP2510000 B2 JP 2510000B2
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- matrix
- line
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04Q—SELECTING
- H04Q1/00—Details of selecting apparatus or arrangements
- H04Q1/02—Constructional details
- H04Q1/14—Distribution frames
- H04Q1/145—Distribution frames with switches arranged in a matrix configuration
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
- H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
- H04M3/26—Arrangements for supervision, monitoring or testing with means for applying test signals or for measuring
- H04M3/28—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor
- H04M3/30—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor for subscriber's lines, for the local loop
- H04M3/301—Circuit arrangements at the subscriber's side of the line
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0286—Programmable, customizable or modifiable circuits
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
- Structure Of Printed Boards (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
- Structure Of Telephone Exchanges (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は通信網の主配線盤（MDF）等の技術分野に属
するものであり、マトリクスボードを用いた自動化MDF
において、回線試験を自動的に実施するためのマトリク
スボードの構造に関するものである。
するものであり、マトリクスボードを用いた自動化MDF
において、回線試験を自動的に実施するためのマトリク
スボードの構造に関するものである。
MDFの主要機能は、ジャンパリング（線路ケーブルと
局内ケーブルの接続・接続替え）と回線試験である。従
来、これら機能を実現するため人手を要していたが、こ
の手動MDFにおける回線試験に関する技術は次の通りで
ある。
局内ケーブルの接続・接続替え）と回線試験である。従
来、これら機能を実現するため人手を要していたが、こ
の手動MDFにおける回線試験に関する技術は次の通りで
ある。
第９図（ａ）は従来の手動MDFの概要で、１は電話
機、２は交換機、３は線路ケーブルを収容する端板群、
４は局内ケーブルを収容する端子板群、５は端子板群３
の端子と端子板群４の端子を接続するジャンパ線、８は
線路ケーブル、９は局内ケーブルである。手動MDFで
は、端子板群3,4のなかの適切な端子に人手でジャンパ
線を接続することにより、任意の線路ケーブルと局内ケ
ーブルを接続することが出来る。すなわち、ジャンパリ
ング機能を持つ。
機、２は交換機、３は線路ケーブルを収容する端板群、
４は局内ケーブルを収容する端子板群、５は端子板群３
の端子と端子板群４の端子を接続するジャンパ線、８は
線路ケーブル、９は局内ケーブルである。手動MDFで
は、端子板群3,4のなかの適切な端子に人手でジャンパ
線を接続することにより、任意の線路ケーブルと局内ケ
ーブルを接続することが出来る。すなわち、ジャンパリ
ング機能を持つ。
第９図（ｂ）は手動MDFの配線系統をより詳細に示す
図で、６は試験弾器であり、対向するばねコンタクト7,
7′を持ち、ばねコンタクト７と７′は通常は接触して
おり、電気的に接続している。他の番号は第９図（ａ）
と同様である。なお、通常の電話回線ではＡ線,B線の２
本が対で使用されているが、図は１本の線で略記してい
る。
図で、６は試験弾器であり、対向するばねコンタクト7,
7′を持ち、ばねコンタクト７と７′は通常は接触して
おり、電気的に接続している。他の番号は第９図（ａ）
と同様である。なお、通常の電話回線ではＡ線,B線の２
本が対で使用されているが、図は１本の線で略記してい
る。
以下に、従来の手動MDFで行われていた代表的な回線
試験である線路／局内切分け試験及び出会い試験の実施
方法を述べる。
試験である線路／局内切分け試験及び出会い試験の実施
方法を述べる。
（２−１）線路／局内切分け試験 この試験は、例えば回線断のような障害が発生した
時、障害箇所が線路側にあるか局内側にあるか切分ける
ためのものである。試験に当たっては、第２図に示すよ
うな試験プラグを使用する。第10図で試験プラグは11,1
2,13から成り、11,13は接触片、12は11と13を電気的に
分離する絶縁体、16は試験台、14,15は試験プラグの接
触片11,13と試験台16を結ぶ試験コードである。線路／
局内切分け試験時は、第11図のように試験プラグを試験
弾器のばねコンタクト7,7′の間に挿入する。すると試
験コード14は接触片11とばねコンタクト７の接触部を介
して線路側を試験できる状態になり、試験コード15は接
触片13とばねコンタクト７′の接触部を介して局内側を
試験できる状態になる。この状態で試験台16と試験コー
ド14を組合せて線路側の試験を、また試験台16と試験コ
ード15を組合せて局内側の試験を行うことが出来る。こ
れにより、障害箇所が線路側にあるか局内側にあるかを
切分けることが出来る。
時、障害箇所が線路側にあるか局内側にあるか切分ける
ためのものである。試験に当たっては、第２図に示すよ
うな試験プラグを使用する。第10図で試験プラグは11,1
2,13から成り、11,13は接触片、12は11と13を電気的に
分離する絶縁体、16は試験台、14,15は試験プラグの接
触片11,13と試験台16を結ぶ試験コードである。線路／
局内切分け試験時は、第11図のように試験プラグを試験
弾器のばねコンタクト7,7′の間に挿入する。すると試
験コード14は接触片11とばねコンタクト７の接触部を介
して線路側を試験できる状態になり、試験コード15は接
触片13とばねコンタクト７′の接触部を介して局内側を
試験できる状態になる。この状態で試験台16と試験コー
ド14を組合せて線路側の試験を、また試験台16と試験コ
ード15を組合せて局内側の試験を行うことが出来る。こ
れにより、障害箇所が線路側にあるか局内側にあるかを
切分けることが出来る。
（２−２）出会い試験 この試験は、多対の線路ケーブルの中から、電話機に
接続して使用する１対の電線を特定するためのものであ
る。試験は最終的に第11図の状態を作りだし、次のよう
に実施する。例えば、電話機近傍の電柱において、多対
の線路ケーブルの中から、電話機に接続して使用する１
対の電線を選定し、その端部を短絡する。一方、この選
定された１対の電線の他端が接続されていると想定され
る（使用予定の）試験弾器に試験プラグを挿入する。
接続して使用する１対の電線を特定するためのものであ
る。試験は最終的に第11図の状態を作りだし、次のよう
に実施する。例えば、電話機近傍の電柱において、多対
の線路ケーブルの中から、電話機に接続して使用する１
対の電線を選定し、その端部を短絡する。一方、この選
定された１対の電線の他端が接続されていると想定され
る（使用予定の）試験弾器に試験プラグを挿入する。
この状態で、試験台16から試験コード14→接触片11→ば
ねコンタクト７→選定された１対の電線（電話機側短
絡）のルートのループ抵抗を測定することにより、選定
した１対の電線と使用予定の試験弾器が正しく対応して
いるか否かを知ることが出来る。
ねコンタクト７→選定された１対の電線（電話機側短
絡）のルートのループ抵抗を測定することにより、選定
した１対の電線と使用予定の試験弾器が正しく対応して
いるか否かを知ることが出来る。
この試験により確認した１対の電線と対応している端
子板Ａ上の端子と、使用予定の局内ケーブルの１対が接
続されている端子板Ｂ上の端子の間をジャンパ線で接続
することにより、所定の電話機と交換機の間の配線が完
了する。
子板Ａ上の端子と、使用予定の局内ケーブルの１対が接
続されている端子板Ｂ上の端子の間をジャンパ線で接続
することにより、所定の電話機と交換機の間の配線が完
了する。
（２−３）従来技術の欠点 以上述べたように、従来の手動MDFではジャンパリン
グはもとより、回線試験にも人手を要していた（人がMD
Fの設置場所に行き試験プラグを試験弾器に挿入する必
要がある）。
グはもとより、回線試験にも人手を要していた（人がMD
Fの設置場所に行き試験プラグを試験弾器に挿入する必
要がある）。
なお、ジャンパリングに関しては、マトリクススイッ
チ機能を持つマトリクスボードとマトリクススイッチ接
続を行う接続子を組合せて、接続子をロボットで操作す
ることによりジャンパリングを自動化するシステムが特
開昭51−52706号公報に提案されており、公知である。
しかし、回線試験に関しては、自動化するシステムはこ
れまで提案されていない。
チ機能を持つマトリクスボードとマトリクススイッチ接
続を行う接続子を組合せて、接続子をロボットで操作す
ることによりジャンパリングを自動化するシステムが特
開昭51−52706号公報に提案されており、公知である。
しかし、回線試験に関しては、自動化するシステムはこ
れまで提案されていない。
本発明の目的は、従来、各種の回線試験に必要な回線
状態を人手により実現していたものを、ジャンパリング
と同様の接続ピン操作で自動化して実現することにあ
る。
状態を人手により実現していたものを、ジャンパリング
と同様の接続ピン操作で自動化して実現することにあ
る。
本発明のマトリクスボードは、 （１）X,Y導体パターンと分離スルーホールを組合せた
ジャンパリング用のマトリクススイッチ機能を果たすマ
トリクス部 （２）該マトリクス部の入出力部に、分離スルーホール
を伴う１本以上のX,Y導体パターンあるいは１列以上の
分離スルーホール列を付加することにより、回線試験用
のマトリクススイッチ機能を果たすマトリクス部 の２つのマトリクス部を有することを特徴としている。
ジャンパリング用のマトリクススイッチ機能を果たすマ
トリクス部 （２）該マトリクス部の入出力部に、分離スルーホール
を伴う１本以上のX,Y導体パターンあるいは１列以上の
分離スルーホール列を付加することにより、回線試験用
のマトリクススイッチ機能を果たすマトリクス部 の２つのマトリクス部を有することを特徴としている。
従来は、回線試験を行う際には、人がMDFの設置場所
に行き、試験弾器に試験プラグを挿入することにより、
回線試験が可能な状態にしていたが、本発明により、人
がMDFの設置場所に行くことなく、遠隔制御により通常
のジャンパリングと同様の接続ピン操作で自動化して回
線試験が可能な状態にできることが異なる。
に行き、試験弾器に試験プラグを挿入することにより、
回線試験が可能な状態にしていたが、本発明により、人
がMDFの設置場所に行くことなく、遠隔制御により通常
のジャンパリングと同様の接続ピン操作で自動化して回
線試験が可能な状態にできることが異なる。
第１図は本発明の基本になるマトリクスボードの構造
を示す図で、X,Y導体パターンと分離スルーホールを組
合せたジャンパリング用のマトリクススイッチ機能を果
たすマトリクス部の例を示しており、特願昭63−283201
号と同一のものである。即ち、200,202,204,206は無電
金属の受容性を有するプリント基板、201,203,205は通
常のプリント基板、207はスルーホール、208,209は分離
スルーホールめっき、210,212はXA,XB導体パターン（添
え字のA,Bは電話機のＡ線,B線に対応）、211,213はYA,Y
B導体パターン、214は接続ピン、215,216は分離した金
めっき等である。図において、接続ピン214をスルーホ
ール207に挿入すると、ピン表面の金めっき215が分離ス
ルーホールめっき208と209を接続する。従って、該スル
ーホールに関係したXA導体パターンとYA導体パターンが
接続され、Ａ線のマトリクススイッチ接続が行われる。
同様にピン表面の金めっき216により、該スルーホール
に関係したXB導体パターンとYB導体パターンが接続さ
れ、Ｂ線のマトリクススイッチ接続が行われる。すなわ
ち、１本の接続ピンにより、同時にA,B線のマトリクス
スイッチ接続が行われる。
を示す図で、X,Y導体パターンと分離スルーホールを組
合せたジャンパリング用のマトリクススイッチ機能を果
たすマトリクス部の例を示しており、特願昭63−283201
号と同一のものである。即ち、200,202,204,206は無電
金属の受容性を有するプリント基板、201,203,205は通
常のプリント基板、207はスルーホール、208,209は分離
スルーホールめっき、210,212はXA,XB導体パターン（添
え字のA,Bは電話機のＡ線,B線に対応）、211,213はYA,Y
B導体パターン、214は接続ピン、215,216は分離した金
めっき等である。図において、接続ピン214をスルーホ
ール207に挿入すると、ピン表面の金めっき215が分離ス
ルーホールめっき208と209を接続する。従って、該スル
ーホールに関係したXA導体パターンとYA導体パターンが
接続され、Ａ線のマトリクススイッチ接続が行われる。
同様にピン表面の金めっき216により、該スルーホール
に関係したXB導体パターンとYB導体パターンが接続さ
れ、Ｂ線のマトリクススイッチ接続が行われる。すなわ
ち、１本の接続ピンにより、同時にA,B線のマトリクス
スイッチ接続が行われる。
第２図は本発明の第１図の実施例を説明する図であ
る。第２図（ａ）は第１図のプリント基板200に相当す
る基板のXA導体パターンを示す図で、210はジャンパリ
ング用のマトリクス部に関連したXA導体パターン、250
は回線試験のために回線短絡用として付加したXA導体パ
ターンで、この例では信頼性向上のために二重化してあ
る。207′は付加したX,Y導体パターンに関連したスルー
ホールであり、ジャンパリング用のマトリクス部のスル
ーホール207と同一仕様の分離スルーホールめっきを有
する分離スルーホールである。また、251,252はマトリ
クスボードの入出力用のコネクタのピンヘッダのための
スルーホールであり、スルーホールめっきは第１図の基
板200,201,202,203,204,205,206の各断面を通して生成
されており、第１図のA1面相当からA2面相当まで電気的
に導通している。スルーホール251,252の配置は一例で
ある。付加XA導体パターンXA（１）はスルーホール252
−１に、付加XA導体パターンXA（２）はスルーホール25
2−２に接続してある。
る。第２図（ａ）は第１図のプリント基板200に相当す
る基板のXA導体パターンを示す図で、210はジャンパリ
ング用のマトリクス部に関連したXA導体パターン、250
は回線試験のために回線短絡用として付加したXA導体パ
ターンで、この例では信頼性向上のために二重化してあ
る。207′は付加したX,Y導体パターンに関連したスルー
ホールであり、ジャンパリング用のマトリクス部のスル
ーホール207と同一仕様の分離スルーホールめっきを有
する分離スルーホールである。また、251,252はマトリ
クスボードの入出力用のコネクタのピンヘッダのための
スルーホールであり、スルーホールめっきは第１図の基
板200,201,202,203,204,205,206の各断面を通して生成
されており、第１図のA1面相当からA2面相当まで電気的
に導通している。スルーホール251,252の配置は一例で
ある。付加XA導体パターンXA（１）はスルーホール252
−１に、付加XA導体パターンXA（２）はスルーホール25
2−２に接続してある。
第２図（ｂ）は第１図のプリント基板202に相当する
基板のYA導体パターンを示す図で、211はジャンパリン
グ用のマトリクス部に関連したYA導体パターン、253は
回線試験のために短絡用と出会い用として付加したYA導
体パターンで、この例では信頼性向上のために各々二重
化してある。スルーホール207,207′及び251,252は第２
図（ａ）と同様である。付加YA導体パターンYA（１）は
スルーホール251−１に、YA（２）は251−２に、YA
（３）とYA（４）は251−３に接続してある。
基板のYA導体パターンを示す図で、211はジャンパリン
グ用のマトリクス部に関連したYA導体パターン、253は
回線試験のために短絡用と出会い用として付加したYA導
体パターンで、この例では信頼性向上のために各々二重
化してある。スルーホール207,207′及び251,252は第２
図（ａ）と同様である。付加YA導体パターンYA（１）は
スルーホール251−１に、YA（２）は251−２に、YA
（３）とYA（４）は251−３に接続してある。
第２図（ｃ）は第１図のプリント基板204に相当する
基板のXB導体パターンを示す図で、212はジャンパリン
グ用のマトリクス部に関連したXB導体パターン、254は
回線短絡用に付加したXB導体パターンである。付加XB導
体パターンXB（１）はスルーホール252−１に、付加XB
導体パターンXB（２）はスルーホール252−２に接続し
てある。従って、第２図（ａ）のXA（１）と第２図
（ｃ）のXB（１）はスルーホール252−１を介して短絡
している。XA（２）とXB（２）も同様に短絡している。
基板のXB導体パターンを示す図で、212はジャンパリン
グ用のマトリクス部に関連したXB導体パターン、254は
回線短絡用に付加したXB導体パターンである。付加XB導
体パターンXB（１）はスルーホール252−１に、付加XB
導体パターンXB（２）はスルーホール252−２に接続し
てある。従って、第２図（ａ）のXA（１）と第２図
（ｃ）のXB（１）はスルーホール252−１を介して短絡
している。XA（２）とXB（２）も同様に短絡している。
第２図（ｄ）は第１図のプリント基板206に相当する
基板のYB導体パターンを示す図で、213は本来のマトリ
クス部に関連したYB導体パターン、255は短絡用と出会
い用に付加したYB導体パターンである。図で、付加YB導
体パターンYB（１）はスルーホール215−１に、YB
（２）は251−２に、YB（３）とYB（４）は251−４に接
続してある。従って第２図（ｂ）のYA（１）と第２図
（ｄ）のYB（１）はスルーホール251−１を介して短絡
している。YA（２）も同様に短絡している。
基板のYB導体パターンを示す図で、213は本来のマトリ
クス部に関連したYB導体パターン、255は短絡用と出会
い用に付加したYB導体パターンである。図で、付加YB導
体パターンYB（１）はスルーホール215−１に、YB
（２）は251−２に、YB（３）とYB（４）は251−４に接
続してある。従って第２図（ｂ）のYA（１）と第２図
（ｄ）のYB（１）はスルーホール251−１を介して短絡
している。YA（２）も同様に短絡している。
なお、第１図のプリント基板201,203,205に相当する
基板に関しては、第２図（ａ）のジャンパリング用のマ
トリクス部及び回線試験用のマトリクス部に相当する位
置にめっきを施していないスルーホールを有する（図示
せず）。
基板に関しては、第２図（ａ）のジャンパリング用のマ
トリクス部及び回線試験用のマトリクス部に相当する位
置にめっきを施していないスルーホールを有する（図示
せず）。
このような構造になっているから、スルーホール207
（i,1）に接続ピン214を挿入すると、特願昭63−283201
号に述べたメカニズムと同様に、例えば電話機で使用し
ているＡ線,B線に対応した、入力線XA（ｉ）が出力線YA
（ｊ）に、入力線XB（ｉ）が出力線YB（ｊ）に接続さ
れ、いわゆる、ジャンパリング機能を持つ。更に、本発
明により、回線試験に必要な次のような基本機能が実現
できる。
（i,1）に接続ピン214を挿入すると、特願昭63−283201
号に述べたメカニズムと同様に、例えば電話機で使用し
ているＡ線,B線に対応した、入力線XA（ｉ）が出力線YA
（ｊ）に、入力線XB（ｉ）が出力線YB（ｊ）に接続さ
れ、いわゆる、ジャンパリング機能を持つ。更に、本発
明により、回線試験に必要な次のような基本機能が実現
できる。
−回線の短絡機能− 例えば、スルーホール207′（i,j）に接続ピンを挿入
すると、XA（ｉ）がYA（１）に、XB（ｉ）がYB（１）に
接続される。一方、YA（１）とYB（１）は、分離されて
いない通常のスルーホール251−１により電気的に短絡
している。従って、回線Ｘ（ｉ）のＡ線（XA（ｉ））と
Ｂ線（XB（ｉ））はスルーホール251−１において短絡
された状態となる。なお、スルーホール207′（i,2）に
ついても同様の機能を持つ。
すると、XA（ｉ）がYA（１）に、XB（ｉ）がYB（１）に
接続される。一方、YA（１）とYB（１）は、分離されて
いない通常のスルーホール251−１により電気的に短絡
している。従って、回線Ｘ（ｉ）のＡ線（XA（ｉ））と
Ｂ線（XB（ｉ））はスルーホール251−１において短絡
された状態となる。なお、スルーホール207′（i,2）に
ついても同様の機能を持つ。
また、スルーホール207′（1,j）に接続ピンを挿入す
ると、YA（ｊ）がXA（１）に、YB（ｊ）がXB（１）に接
続される。一方、XA（１）とXB（１）は、分離されてい
ない通常のスルーホール252−１により電気的に短絡し
ている。従って、回線Ｙ（ｊ）のＡ線（YA（ｊ））とＢ
線（YB（ｊ））はスルーホール252−１において短絡さ
れた状態となる。なお、スルーホール207′（2,j）につ
いても同様の機能を持つ。
ると、YA（ｊ）がXA（１）に、YB（ｊ）がXB（１）に接
続される。一方、XA（１）とXB（１）は、分離されてい
ない通常のスルーホール252−１により電気的に短絡し
ている。従って、回線Ｙ（ｊ）のＡ線（YA（ｊ））とＢ
線（YB（ｊ））はスルーホール252−１において短絡さ
れた状態となる。なお、スルーホール207′（2,j）につ
いても同様の機能を持つ。
−回線との出会い機能− 例えば、スルーホール207′（i,3）に接続ピンを挿入
すると、XA（ｉ）がYA（３）に、XB（ｉ）がYB（３）に
接続される。一方、試験の専用コードＴ（A,B）をあら
かじめ用意しておき、例えば専用コードのＡ線をコネク
タ等を介してスルーホール251−３に、専用コードのＢ
線をスルーホール251−４に接続しておく。このように
しておくと、回線Ｘ（ｉ）は専用コードＴ（A,B）によ
って、アクセス出来、例えば、 試験台→専用コード→回線Ｘ（ｉ） のルートのループ抵抗を測定する等の回線試験を行うこ
とが出来る。なお、スルーホール207′（i,4）について
も同様の機能を持つ。
すると、XA（ｉ）がYA（３）に、XB（ｉ）がYB（３）に
接続される。一方、試験の専用コードＴ（A,B）をあら
かじめ用意しておき、例えば専用コードのＡ線をコネク
タ等を介してスルーホール251−３に、専用コードのＢ
線をスルーホール251−４に接続しておく。このように
しておくと、回線Ｘ（ｉ）は専用コードＴ（A,B）によ
って、アクセス出来、例えば、 試験台→専用コード→回線Ｘ（ｉ） のルートのループ抵抗を測定する等の回線試験を行うこ
とが出来る。なお、スルーホール207′（i,4）について
も同様の機能を持つ。
以上のような基本機能を有するマトリクスボードを用
いて、自動化MDFシステムにおいて、線路／局内切分け
試験・出会い試験等の回線試験を自動化する方法を次に
述べる。
いて、自動化MDFシステムにおいて、線路／局内切分け
試験・出会い試験等の回線試験を自動化する方法を次に
述べる。
まず、第３図は自動化MDFシステムの基本となる接続
部構成（３段リンク構成）例を説明する図であって、51
は１段目のマトリクスボードMB1、52は２段目のMB2、53
は３段目のMB3、54はリンク、55は入線（Ｍ本）、56は
出線（Ｎ本）である。ここで、マトリクスサイズａ×b,
c×d,e×ｆ及びMB個数n1,n2,n3を適切に選ぶことによ
り、任意の入線Ｍｉと任意の出線Njの間を接続する構成
とすることが出来る。実際の接続は、例えば１段目,2段
目,3段目のMB内の適切なマトリクス交差点に、遠隔制御
により自動的に接続ピンを挿入することにより行う。な
お、製造上の都合から、マトリクスサイズａ×b,c×d,e
×ｆは同一にすることもある。図は３段構成の例を示し
ているが、他の段数の構成でも同様である。
部構成（３段リンク構成）例を説明する図であって、51
は１段目のマトリクスボードMB1、52は２段目のMB2、53
は３段目のMB3、54はリンク、55は入線（Ｍ本）、56は
出線（Ｎ本）である。ここで、マトリクスサイズａ×b,
c×d,e×ｆ及びMB個数n1,n2,n3を適切に選ぶことによ
り、任意の入線Ｍｉと任意の出線Njの間を接続する構成
とすることが出来る。実際の接続は、例えば１段目,2段
目,3段目のMB内の適切なマトリクス交差点に、遠隔制御
により自動的に接続ピンを挿入することにより行う。な
お、製造上の都合から、マトリクスサイズａ×b,c×d,e
×ｆは同一にすることもある。図は３段構成の例を示し
ているが、他の段数の構成でも同様である。
つぎに、第４図は本発明のマトリクスボードを用い
て、自動化MDFシステムの回線試験を自動化する方法を
説明する図であって、前記のマトリクスサイズａ×b,c
×d,e×ｆを同一にした例を基本としている。図におい
て、101及び103は本来のマトリクス部に付加した短絡用
導体パターンであり、例えば130（B1）に接続ピンを挿
入すると、前述のメカニズムにより、短絡導体パターン
に直交する該回線112（Ｌ（A,B））のA,B線を短絡状態
にする機能を持つ。102は本来のマトリクス部に付加し
た出会い用の導体パターンであり、例えば131（B2）に
接続ピンを挿入すると、前述のメカニズムにより、出会
い用導体パターンに直交する該回線112（Ｌ（A,B））の
A,B線に、出会い用導体パターンの引出し線121（T2（A,
B））を介して、アクセスできる機能を持つ。111は電話
機、112は線路ケーブル、113,114は各段を接続するリン
クケーブル、115は局内ケーブル、116は交換機、117は
試験台、120,121は出会い用導体パターンの引出し線、1
22は１段目の各マトリクスボードの出会い用導体パター
ンを共通化して交換機に導入する共通線（第４図ではマ
トリクスボード内で、120と121を共通化した例を示した
が、どちらの構成でもよい）、130,131,132,133,134,13
5,136,137,138,139は接続ピンの挿入位置の例、150は局
内ケーブル115の交換機への収容部、151は共通線122の
交換機への収容部である。ここで、出会い用導体パター
ンの引出し線121（T1（A,B））と出会い用導体パターン
の引出し線121（T2（A,B））において、各々のＡ線T1
（Ａ）とT2（Ａ）は共通線122のＡ線Ｔ（Ａ）で短絡し
ており、同様に各各のＢ線T1（Ｂ）とT2（Ｂ）は共通線
122のＢ線Ｔ（Ｂ）で短絡している。このような構成に
したことにより、次のように回線試験に必要な回線状態
を自動化して実現できる。
て、自動化MDFシステムの回線試験を自動化する方法を
説明する図であって、前記のマトリクスサイズａ×b,c
×d,e×ｆを同一にした例を基本としている。図におい
て、101及び103は本来のマトリクス部に付加した短絡用
導体パターンであり、例えば130（B1）に接続ピンを挿
入すると、前述のメカニズムにより、短絡導体パターン
に直交する該回線112（Ｌ（A,B））のA,B線を短絡状態
にする機能を持つ。102は本来のマトリクス部に付加し
た出会い用の導体パターンであり、例えば131（B2）に
接続ピンを挿入すると、前述のメカニズムにより、出会
い用導体パターンに直交する該回線112（Ｌ（A,B））の
A,B線に、出会い用導体パターンの引出し線121（T2（A,
B））を介して、アクセスできる機能を持つ。111は電話
機、112は線路ケーブル、113,114は各段を接続するリン
クケーブル、115は局内ケーブル、116は交換機、117は
試験台、120,121は出会い用導体パターンの引出し線、1
22は１段目の各マトリクスボードの出会い用導体パター
ンを共通化して交換機に導入する共通線（第４図ではマ
トリクスボード内で、120と121を共通化した例を示した
が、どちらの構成でもよい）、130,131,132,133,134,13
5,136,137,138,139は接続ピンの挿入位置の例、150は局
内ケーブル115の交換機への収容部、151は共通線122の
交換機への収容部である。ここで、出会い用導体パター
ンの引出し線121（T1（A,B））と出会い用導体パターン
の引出し線121（T2（A,B））において、各々のＡ線T1
（Ａ）とT2（Ａ）は共通線122のＡ線Ｔ（Ａ）で短絡し
ており、同様に各各のＢ線T1（Ｂ）とT2（Ｂ）は共通線
122のＢ線Ｔ（Ｂ）で短絡している。このような構成に
したことにより、次のように回線試験に必要な回線状態
を自動化して実現できる。
−線路／局内切分け試験− 例えば、電話機111と交換機116の間のどこかに回線断
が生じて、チェックする時には、次のように線路／局内
のどちらに回線断の箇所があるか判定することが出来
る。まず、電話機111と交換機収容部150間は、通常時は
接続ピン位置132に挿入された接続ピン、リンクケーブ
ル113、接続ピン位置135に挿入された接続ピン、リンク
ケーブル114、接続ピン位置138に挿入された接続ピン、
局内ケーブル115を介して接続されている。この状態
で、該回線112（Ｌ（A,B））に対応する短絡用導体パタ
ーン101上の接続ピン位置130に接続ピンを挿入（ロボッ
トの手により、自動的に遠隔操作が可能）すると、前記
電話機111と交換機収容部150間の該回線112（（A,B））
は接続ピン位置130近傍でA,B線が短絡された状態にな
る。ここで、試験台117から交換機116の該回線が収容さ
れている収容部150を呼び出し、接続ピン位置130の近傍
でA,B線が短絡状態になっている該回線のループ抵抗等
を測定する。その測定値が正常であれば回線断の箇所は
線路側と判定でき、その測定値が異常であれば回線断の
箇所は局内側と判定できる。
が生じて、チェックする時には、次のように線路／局内
のどちらに回線断の箇所があるか判定することが出来
る。まず、電話機111と交換機収容部150間は、通常時は
接続ピン位置132に挿入された接続ピン、リンクケーブ
ル113、接続ピン位置135に挿入された接続ピン、リンク
ケーブル114、接続ピン位置138に挿入された接続ピン、
局内ケーブル115を介して接続されている。この状態
で、該回線112（Ｌ（A,B））に対応する短絡用導体パタ
ーン101上の接続ピン位置130に接続ピンを挿入（ロボッ
トの手により、自動的に遠隔操作が可能）すると、前記
電話機111と交換機収容部150間の該回線112（（A,B））
は接続ピン位置130近傍でA,B線が短絡された状態にな
る。ここで、試験台117から交換機116の該回線が収容さ
れている収容部150を呼び出し、接続ピン位置130の近傍
でA,B線が短絡状態になっている該回線のループ抵抗等
を測定する。その測定値が正常であれば回線断の箇所は
線路側と判定でき、その測定値が異常であれば回線断の
箇所は局内側と判定できる。
さらに、本構成では必要に応じて、局内側が回線断の
時には接続ピンを順次、接続ピン位置133,134,136,137,
139と挿入してゆくことにより、同様の測定及び判定基
準により、回線断の箇所が１段目MBのマトリクス部、リ
ンクケーブル113、２段目MBのマトリクス部、リンクケ
ーブル114、３段目のマトリクス部のどこであるかを特
定することが出来る。
時には接続ピンを順次、接続ピン位置133,134,136,137,
139と挿入してゆくことにより、同様の測定及び判定基
準により、回線断の箇所が１段目MBのマトリクス部、リ
ンクケーブル113、２段目MBのマトリクス部、リンクケ
ーブル114、３段目のマトリクス部のどこであるかを特
定することが出来る。
このように、本構成によれば、従来MDFの設置場所に
人が行き、所定の試験弾器に試験プラグを挿入して実現
していた回線の状態を、遠隔操作によるロボットの手
で、短絡用導体パターン上の所定の接続ピン位置に接続
ピンを挿入することにより自動化して実現することがで
きる。
人が行き、所定の試験弾器に試験プラグを挿入して実現
していた回線の状態を、遠隔操作によるロボットの手
で、短絡用導体パターン上の所定の接続ピン位置に接続
ピンを挿入することにより自動化して実現することがで
きる。
−出会い試験− 出会い試験は、共通線122を利用して、次のように自
動化して行う。
動化して行う。
例えば、電話機111近傍の電柱において、多対の線路
ケーブルの中から、電話機に接続して使用する１対の電
線112（Ｌ（A,B））を選定し、その端部でＡ線Ｌ（Ａ）
とＢ線Ｌ（Ｂ）を短絡する。一方、この選定された１対
の電線の他端が収容されていると想定される１段目MBの
入力側の番地に対応した出会い用導体パターン102上の
接続ピン位置131に接続ピンを挿入する。この状態で、
試験台117から交換機116の共通線122が収容されている
収容部151を呼び出し、 試験コード122→出会い用導体パターンの引出し線121→
接続ピン位置131→線路ケーブル（１対の電線）112 のルートのループ抵抗を測定することにより、選定した
１対の電線と使用予定の１段目MBの線路収容位置が正し
く対応しているか否かを知ることが出来る。
ケーブルの中から、電話機に接続して使用する１対の電
線112（Ｌ（A,B））を選定し、その端部でＡ線Ｌ（Ａ）
とＢ線Ｌ（Ｂ）を短絡する。一方、この選定された１対
の電線の他端が収容されていると想定される１段目MBの
入力側の番地に対応した出会い用導体パターン102上の
接続ピン位置131に接続ピンを挿入する。この状態で、
試験台117から交換機116の共通線122が収容されている
収容部151を呼び出し、 試験コード122→出会い用導体パターンの引出し線121→
接続ピン位置131→線路ケーブル（１対の電線）112 のルートのループ抵抗を測定することにより、選定した
１対の電線と使用予定の１段目MBの線路収容位置が正し
く対応しているか否かを知ることが出来る。
この試験により確認した１対の電線112と所定の交換
機116の収容部150の間を、各段のMBの本来のマトリクス
部の所定の接続ピン位置132,135,138に接続ピンを挿入
して配線ルートを設定することにより、所定の電話機11
1と交換機の収容部150間の配線を行うことが出来る。
機116の収容部150の間を、各段のMBの本来のマトリクス
部の所定の接続ピン位置132,135,138に接続ピンを挿入
して配線ルートを設定することにより、所定の電話機11
1と交換機の収容部150間の配線を行うことが出来る。
−４線の折返し短絡試験− 専用線を利用する電話機等では２回線分を用いて使用
することがあり、第５図に示すような４線の折返し短絡
試験を実施する。第５図は回線１（L1（A,B））と回線
２（L2（A,B））のＡ線相互（L1（Ａ）とL2（Ａ））及
びＢ線相互（L1（Ｂ）とL2（Ｂ））をMDFの線路側で短
絡した状態を示す。この状態で、所定の測定器を用いて
回線試験を行う。
することがあり、第５図に示すような４線の折返し短絡
試験を実施する。第５図は回線１（L1（A,B））と回線
２（L2（A,B））のＡ線相互（L1（Ａ）とL2（Ａ））及
びＢ線相互（L1（Ｂ）とL2（Ｂ））をMDFの線路側で短
絡した状態を示す。この状態で、所定の測定器を用いて
回線試験を行う。
この試験を実施できる回線状態を実現する操作を、第
４図において説明する。
４図において説明する。
160,161は回線１及び回線２、162,163は２本の出会い
用導体パターン102上の回線１及び回線２に対応する接
続ピン位置、164,165,166,167は本来のマトリクス部で
回線のルートを設定するための接続ピン位置、168は専
用線モジュール、169は遠隔試験装置（RTE）、170は保
守・試験のための操作卓（OPE）である。この構成で４
線の折返し短絡状態にするには、該回線に対応した接続
ピン位置162,163に接続ピンを、ロボットの手を遠隔制
御することにより挿入する。これにより、回線１は引出
し線120（T1（A,B））に引出され、回線２は引出し線12
1（T2（A,B））に引出された状態となる。一方、前述の
ように接続ピン位置162の出会い用導体パターンの引出
し線120（T1（A,B））と接続ピン位置163の出会い用導
体パターンの引出し線121（T2（A,B））において、T1
（Ａ）とT2（Ａ）は共通線122のＴ（Ａ）で短絡してお
り、同様にT1（Ｂ）とT2（Ｂ）は共通線122のＴ（Ｂ）
で短絡している。従って、上記の接続ピン挿入により、
回線１（L1（A,B））と回線２（L2（A,B））のＡ線相互
（L1（Ａ）とL2（Ａ））及びＢ線相互（L1（Ｂ）とL2
（Ｂ））をMDFの線路側で短絡した状態、いわゆる４線
の折返し短絡状態になる。この状態で、操作卓170から
遠隔試験装置169を呼び出し、専用線モジュール168を介
して所定の回線試験を実施することが出来る。
用導体パターン102上の回線１及び回線２に対応する接
続ピン位置、164,165,166,167は本来のマトリクス部で
回線のルートを設定するための接続ピン位置、168は専
用線モジュール、169は遠隔試験装置（RTE）、170は保
守・試験のための操作卓（OPE）である。この構成で４
線の折返し短絡状態にするには、該回線に対応した接続
ピン位置162,163に接続ピンを、ロボットの手を遠隔制
御することにより挿入する。これにより、回線１は引出
し線120（T1（A,B））に引出され、回線２は引出し線12
1（T2（A,B））に引出された状態となる。一方、前述の
ように接続ピン位置162の出会い用導体パターンの引出
し線120（T1（A,B））と接続ピン位置163の出会い用導
体パターンの引出し線121（T2（A,B））において、T1
（Ａ）とT2（Ａ）は共通線122のＴ（Ａ）で短絡してお
り、同様にT1（Ｂ）とT2（Ｂ）は共通線122のＴ（Ｂ）
で短絡している。従って、上記の接続ピン挿入により、
回線１（L1（A,B））と回線２（L2（A,B））のＡ線相互
（L1（Ａ）とL2（Ａ））及びＢ線相互（L1（Ｂ）とL2
（Ｂ））をMDFの線路側で短絡した状態、いわゆる４線
の折返し短絡状態になる。この状態で、操作卓170から
遠隔試験装置169を呼び出し、専用線モジュール168を介
して所定の回線試験を実施することが出来る。
以上第１の実施例においては、回線試験用の接続ピン
はジャンパリング用のものと共用したが、非共用もあり
得る。この場合には、接続ピンが２種類となり運用管理
が煩わしくなるデメリットがある反面、以下に述べるよ
うに、マトリクスボードの回線試験のための付加導体パ
ターンを簡略化できるメリットがある。
はジャンパリング用のものと共用したが、非共用もあり
得る。この場合には、接続ピンが２種類となり運用管理
が煩わしくなるデメリットがある反面、以下に述べるよ
うに、マトリクスボードの回線試験のための付加導体パ
ターンを簡略化できるメリットがある。
第６図は本発明の第２の実施例であり、第１図におけ
る接続ピン214の分離した金めっき215,216を電気的に導
通したいわゆるショートピンを併用する場合のマトリク
スボードを示す。ショートピンを併用する場合のマトリ
クスボードの構造は第２図のままでもよいが、必要最小
限の構造を第６図に示す。第６図（ａ）は第２図（ａ）
の付加分離スルーホール207′は残し、付加XA導体パタ
ーンXA（１）、XA（２）のみを除去したものである。第
６図（ｂ）は同様に第２図（ｂ）の付加YA導体パターン
YA（１）、YA（２）を除去したものである。第６図
（ｃ）は同様に第２図（ｅ）の付加XB導体パターンXB
（１）、XB（２）を除去したものである。第６図（ｄ）
は同様に第２図（ｄ）の付加YB導体パターンYB（１）、
YB（２）を除去したものである。
る接続ピン214の分離した金めっき215,216を電気的に導
通したいわゆるショートピンを併用する場合のマトリク
スボードを示す。ショートピンを併用する場合のマトリ
クスボードの構造は第２図のままでもよいが、必要最小
限の構造を第６図に示す。第６図（ａ）は第２図（ａ）
の付加分離スルーホール207′は残し、付加XA導体パタ
ーンXA（１）、XA（２）のみを除去したものである。第
６図（ｂ）は同様に第２図（ｂ）の付加YA導体パターン
YA（１）、YA（２）を除去したものである。第６図
（ｃ）は同様に第２図（ｅ）の付加XB導体パターンXB
（１）、XB（２）を除去したものである。第６図（ｄ）
は同様に第２図（ｄ）の付加YB導体パターンYB（１）、
YB（２）を除去したものである。
第６図の、例えば、スルーホール207′（i,1）にショ
ートピンを挿入するとXA（ｉ）とXB（ｉ）が短絡される
ので、回線Ｘ（ｉ）はスルーホール207′（i,1）におい
て短絡状態になる。スルーホール207′（i,2）について
もショートピンで同様の状態を実現できる。また、スル
ーホール207′（1,j）にショートピンを挿入するとYA
（ｊ）とYB（ｊ）が短絡されるので、回線Ｙ（ｊ）はス
ルーホール207′（1,j）において短絡状態となる。スル
ーホール207′（2,j）についてもショートピンで同様の
状態を実現できる。
ートピンを挿入するとXA（ｉ）とXB（ｉ）が短絡される
ので、回線Ｘ（ｉ）はスルーホール207′（i,1）におい
て短絡状態になる。スルーホール207′（i,2）について
もショートピンで同様の状態を実現できる。また、スル
ーホール207′（1,j）にショートピンを挿入するとYA
（ｊ）とYB（ｊ）が短絡されるので、回線Ｙ（ｊ）はス
ルーホール207′（1,j）において短絡状態となる。スル
ーホール207′（2,j）についてもショートピンで同様の
状態を実現できる。
また、回線との出会い機能については第２図の場合と
同様に実現できる。
同様に実現できる。
従って、第６図のマトリクスボードに通常の接続ピン
とショートピンを組合せることにより、第４図で述べた
線路／局内切分け試験・出会い試験・４線折返し試験等
の回線試験がほぼ同様に実施できる。
とショートピンを組合せることにより、第４図で述べた
線路／局内切分け試験・出会い試験・４線折返し試験等
の回線試験がほぼ同様に実施できる。
さらに、以上の実施例1,2はいずれも１本の接続ピン
により、電話回線のA,B線を一括してマトリクススイッ
チ接続するタイプのマトリクスボード（A,B線をボード
内で立体的に配置できる）に関するものであったが、Ａ
線とＢ線のマトリクススイッチ接続を独立の２本の接続
ピンで行うタイプのマトリクスボード（ボードの同一平
面上でA,B線を配置する）もある。この場合には、マト
リクスボード面積が２倍になるデメリットがあるが、マ
トリクスボードを構成するプリント基板の層数を1/2に
出来て構造が単純化出来ること及び接続ピンの構造が単
純化されるメリットがある。
により、電話回線のA,B線を一括してマトリクススイッ
チ接続するタイプのマトリクスボード（A,B線をボード
内で立体的に配置できる）に関するものであったが、Ａ
線とＢ線のマトリクススイッチ接続を独立の２本の接続
ピンで行うタイプのマトリクスボード（ボードの同一平
面上でA,B線を配置する）もある。この場合には、マト
リクスボード面積が２倍になるデメリットがあるが、マ
トリクスボードを構成するプリント基板の層数を1/2に
出来て構造が単純化出来ること及び接続ピンの構造が単
純化されるメリットがある。
第７図は本発明の第３の実施例のベースになるマトリ
クスボードの構造を示す図で、ジャンパリング用のマト
リクススイッチ機能を果たすマトリクス部の例を示して
いる。200,202は無電金属の受容性を有するプリント基
板、201は通常のプリント基板、207はスルーホール、20
8,209は分離スルーホールめっき、210はＸ導体パター
ン、211はＹ導体パターン、214は接続ピン、215は金め
っき等である。図において、接続ピン214をスルーホー
ル207に挿入すると、ピン表面の金めっき215が分離スル
ーホールめっき208と209を接続する。従って、該スルー
ホールに関係したＸ導体パターンとＹ導体パターンが接
続され、マトリクススイッチ接続が行われる。なお、こ
のマトリクスボードにおいては、ボードの同一平面上で
電話回線のA,B線を配置する必要があり、Ａ線とＢ線の
マトリクススイッチ接続を独立の２本の接続ピンで行
う。
クスボードの構造を示す図で、ジャンパリング用のマト
リクススイッチ機能を果たすマトリクス部の例を示して
いる。200,202は無電金属の受容性を有するプリント基
板、201は通常のプリント基板、207はスルーホール、20
8,209は分離スルーホールめっき、210はＸ導体パター
ン、211はＹ導体パターン、214は接続ピン、215は金め
っき等である。図において、接続ピン214をスルーホー
ル207に挿入すると、ピン表面の金めっき215が分離スル
ーホールめっき208と209を接続する。従って、該スルー
ホールに関係したＸ導体パターンとＹ導体パターンが接
続され、マトリクススイッチ接続が行われる。なお、こ
のマトリクスボードにおいては、ボードの同一平面上で
電話回線のA,B線を配置する必要があり、Ａ線とＢ線の
マトリクススイッチ接続を独立の２本の接続ピンで行
う。
第８図は本発明の第３の実施例を示すものである。第
８図（ａ）はプリント基板200に相当する基板のXA,XB導
体パターンを示す図で、この場合には回線のA,B線を同
一面内に収容する必要がある。310はジャンパリング用
のマトリクス部に関連したXA,XB導体パターンである。3
50は回線試験のために回線短絡用として付加したXA,XB
導体パターンであり、XA（１）とXB（１）は一端で短絡
している。307′は付加した導体パターンに関連したス
ルーホールであり、ジャンパリング用のマトリクス部の
スルーホール307と同一仕様の分離スルーホールめっき
を有する分離スルーホールである。351,352はマトリク
スボードの入出力用のコネクタのピンヘッダのためのス
ルーホールであり、スルーホールめっきは基板200,201,
202の各断面を通して生成されている。スルーホール35
1,352の配置は一例である。
８図（ａ）はプリント基板200に相当する基板のXA,XB導
体パターンを示す図で、この場合には回線のA,B線を同
一面内に収容する必要がある。310はジャンパリング用
のマトリクス部に関連したXA,XB導体パターンである。3
50は回線試験のために回線短絡用として付加したXA,XB
導体パターンであり、XA（１）とXB（１）は一端で短絡
している。307′は付加した導体パターンに関連したス
ルーホールであり、ジャンパリング用のマトリクス部の
スルーホール307と同一仕様の分離スルーホールめっき
を有する分離スルーホールである。351,352はマトリク
スボードの入出力用のコネクタのピンヘッダのためのス
ルーホールであり、スルーホールめっきは基板200,201,
202の各断面を通して生成されている。スルーホール35
1,352の配置は一例である。
第８図（ｂ）はプリント基板202に相当する基板のYA,
YB導体パターンを示す図で、回線のA,B線を同一面内に
収容する必要がある。311はジャンパリング用のマトリ
クス部に関連したYA,YB導体パターンである。353は回線
試験のために回線短絡用として付加したYA,YB導体パタ
ーンであり、YA（１）とYB（１）は一端で短絡してい
る。YA（２）はスルーホール351−１に、YB（２）はス
ルーホール351−２に接続している。
YB導体パターンを示す図で、回線のA,B線を同一面内に
収容する必要がある。311はジャンパリング用のマトリ
クス部に関連したYA,YB導体パターンである。353は回線
試験のために回線短絡用として付加したYA,YB導体パタ
ーンであり、YA（１）とYB（１）は一端で短絡してい
る。YA（２）はスルーホール351−１に、YB（２）はス
ルーホール351−２に接続している。
なお、第７図のプリント基板201に相当する基板に関
しては、第８図（ａ）のジャンパリング用のマトリクス
部及び回線試験用のマトリクス部に相当する位置にめっ
きを施していないスルーホールを有する（図示せず）。
しては、第８図（ａ）のジャンパリング用のマトリクス
部及び回線試験用のマトリクス部に相当する位置にめっ
きを施していないスルーホールを有する（図示せず）。
本実施例により、前記実施例同様次のような回線試験
に必要な基本機能が実現できる。
に必要な基本機能が実現できる。
−回線の短絡機能− 例えば、スルーホール307′Ａ（i,1）とスルーホール
307′Ｂ（i,1）に接続ピンを挿入すると、XA（ｉ）とYA
（１）、XB（ｉ）とYB（１）が接続される。ここで、YA
（１）とYB（１）は短絡されているので、回線Ｘ（ｉ）
のＡ線（XA（ｉ））とＢ線（XB（ｉ））が短絡されたこ
とになる。なお、十分な空間があれば、スルーホール30
7′Ｂ（i,1）の代わりにスルーホール307′Ｂ（i,1）に
接続ピンを挿入しても、同様の結果が得られる。また、
例えば、スルーホール307′Ａ（1,j）とスルーホール30
7′Ｂ（1,j）に接続ピンを挿入すると、YA（ｊ）とXA
（１）、YB（ｊ）とXB（１）が接続される。ここで、XA
（１）とXB（１）は短絡されているので、回線Ｙ（ｊ）
のＡ線（YA（ｊ））とＢ線（YB（ｊ））が短絡されたこ
とになる。
307′Ｂ（i,1）に接続ピンを挿入すると、XA（ｉ）とYA
（１）、XB（ｉ）とYB（１）が接続される。ここで、YA
（１）とYB（１）は短絡されているので、回線Ｘ（ｉ）
のＡ線（XA（ｉ））とＢ線（XB（ｉ））が短絡されたこ
とになる。なお、十分な空間があれば、スルーホール30
7′Ｂ（i,1）の代わりにスルーホール307′Ｂ（i,1）に
接続ピンを挿入しても、同様の結果が得られる。また、
例えば、スルーホール307′Ａ（1,j）とスルーホール30
7′Ｂ（1,j）に接続ピンを挿入すると、YA（ｊ）とXA
（１）、YB（ｊ）とXB（１）が接続される。ここで、XA
（１）とXB（１）は短絡されているので、回線Ｙ（ｊ）
のＡ線（YA（ｊ））とＢ線（YB（ｊ））が短絡されたこ
とになる。
−回線の出会い機能− 例えば、スルーホール307′Ａ（i,2）とスルーホール
307′Ｂ（i,2）に接続ピンを挿入すると、XA（ｉ）とYA
（２）、XB（ｉ）とYB（２）が接続される。一方、試験
の専用コードＴ（A,B）をあらかじめ用意しておき、例
えば専用コードのＡ線をコネクタ等を介してスルーホー
ル351−１に、専用コードのＢ線をスルーホール351−２
に接続しておく。このようにしておくと、回線Ｘ（ｉ）
は専用コードＴ（A,B）によって、アクセス出来る。
307′Ｂ（i,2）に接続ピンを挿入すると、XA（ｉ）とYA
（２）、XB（ｉ）とYB（２）が接続される。一方、試験
の専用コードＴ（A,B）をあらかじめ用意しておき、例
えば専用コードのＡ線をコネクタ等を介してスルーホー
ル351−１に、専用コードのＢ線をスルーホール351−２
に接続しておく。このようにしておくと、回線Ｘ（ｉ）
は専用コードＴ（A,B）によって、アクセス出来る。
従って、本実施例の上記基本機能により、第４図で述
べた方法とほぼ同様にして、線路／局内切分け試験・出
会い試験等の各種回線試験に必要な回線状態を自動化し
て実現できる。
べた方法とほぼ同様にして、線路／局内切分け試験・出
会い試験等の各種回線試験に必要な回線状態を自動化し
て実現できる。
以上、本発明によればMDFの設置場所に人が行くこと
なく、通常の自動化MDFのジャンパリングと同様の接続
ピン操作により、代表的な回線試験について試験に必要
な回線状態を自動化して実現できることを述べた。な
お、MDFで必要な他の回線試験、例えば局外線路試験、
導通試験、発信試験等についても、試験に必要な回線状
態を自動化して実現できるが、ほぼ同様の操作であり、
当業者には容易に理解できるので記述は省略する。
なく、通常の自動化MDFのジャンパリングと同様の接続
ピン操作により、代表的な回線試験について試験に必要
な回線状態を自動化して実現できることを述べた。な
お、MDFで必要な他の回線試験、例えば局外線路試験、
導通試験、発信試験等についても、試験に必要な回線状
態を自動化して実現できるが、ほぼ同様の操作であり、
当業者には容易に理解できるので記述は省略する。
以上説明したように、本発明のマトリクスボードは （１）X,Y導体パターンと分離スルーホールを組合せた
ジャンパリング用のマトリクススイッチ機能を果たすマ
トリクス部 （２）該マトリクス部の入出力部に、分離スルーホール
を伴うX,Y導体パターンあるいは分離スルーホール列を
付加することにより、回線試験用のマトリクススイッチ
機能を果たすマトリクス部 の２つから構成されているので、従来実現されていたジ
ャンパリング機能に加えて、回線試験において必要にな
る回線短絡機能及び回線との出会い機能の２つの基本機
能を新たに実現した。この回線試験用の基本機能を活用
することにより、自動化MDFシステムにおいて、MDFで行
う各種の回線試験において必要な回線状態を、MDFの設
置場所に人が行くことなく、自動化MDFの通常のジャン
パリングと同様の接続ピン操作により、自動化して実現
できる。従って、MDF回線試験作業の省力化の利点があ
る。
ジャンパリング用のマトリクススイッチ機能を果たすマ
トリクス部 （２）該マトリクス部の入出力部に、分離スルーホール
を伴うX,Y導体パターンあるいは分離スルーホール列を
付加することにより、回線試験用のマトリクススイッチ
機能を果たすマトリクス部 の２つから構成されているので、従来実現されていたジ
ャンパリング機能に加えて、回線試験において必要にな
る回線短絡機能及び回線との出会い機能の２つの基本機
能を新たに実現した。この回線試験用の基本機能を活用
することにより、自動化MDFシステムにおいて、MDFで行
う各種の回線試験において必要な回線状態を、MDFの設
置場所に人が行くことなく、自動化MDFの通常のジャン
パリングと同様の接続ピン操作により、自動化して実現
できる。従って、MDF回線試験作業の省力化の利点があ
る。
【図面の簡単な説明】 第１図は本発明の基本になるマトリクスボードのジャン
パリング用マトリクス部の構造例図、第２図は本発明の
第１の実施例に係るプリント基板を示す平面略図、第３
図は本発明に係る自動化MDFシステムの接続構成例のブ
ロック図、第４図は本発明に係る自動化MDFシステムの
回線試験を自動化する方法を説明する構成図、第５図は
本発明に係る４線の折返し短絡状態の図、第６図は本発
明の第２の実施例に係るプリント基板を示す平面略図、
第７図は本発明の第３の実施例の基本になるマトリクス
ボードのジャンパリング用マトリクス部の構造例図、第
８図は本発明の第３の実施例に係るプリント基板を示す
平面略図、第９図は従来の手動MDFの概要図及び配線系
統図、第10図は従来の試験プラグの概要図、第11図は従
来の試験プラグを用いた回線試験の概要図である。 200,202,204,206…無電金属の受容性を有するプリント
基板、201,203,205…通常のプリント基板、207,207′…
スルーホール、208,209…分離スルーホールめっき、21
0,212…XA,XB導体パターン、211,213…YA,YB導体パター
ン、214…接続ピン、215,216…分離した金めっき、250
…回線試験のために回線短絡用として付加したXA導体パ
ターン、251,252…スルーホール、253…回線試験のため
に短絡用と出会い用として付加したYA導体パターン、25
4…回線短絡用に付加したXB導体パターン、255…短絡用
と出会い用に付加したYB導体パターン。
パリング用マトリクス部の構造例図、第２図は本発明の
第１の実施例に係るプリント基板を示す平面略図、第３
図は本発明に係る自動化MDFシステムの接続構成例のブ
ロック図、第４図は本発明に係る自動化MDFシステムの
回線試験を自動化する方法を説明する構成図、第５図は
本発明に係る４線の折返し短絡状態の図、第６図は本発
明の第２の実施例に係るプリント基板を示す平面略図、
第７図は本発明の第３の実施例の基本になるマトリクス
ボードのジャンパリング用マトリクス部の構造例図、第
８図は本発明の第３の実施例に係るプリント基板を示す
平面略図、第９図は従来の手動MDFの概要図及び配線系
統図、第10図は従来の試験プラグの概要図、第11図は従
来の試験プラグを用いた回線試験の概要図である。 200,202,204,206…無電金属の受容性を有するプリント
基板、201,203,205…通常のプリント基板、207,207′…
スルーホール、208,209…分離スルーホールめっき、21
0,212…XA,XB導体パターン、211,213…YA,YB導体パター
ン、214…接続ピン、215,216…分離した金めっき、250
…回線試験のために回線短絡用として付加したXA導体パ
ターン、251,252…スルーホール、253…回線試験のため
に短絡用と出会い用として付加したYA導体パターン、25
4…回線短絡用に付加したXB導体パターン、255…短絡用
と出会い用に付加したYB導体パターン。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０５Ｋ 3/46 Ｇ０１Ｒ 31/28 Ｖ (72)発明者 熊倉 保夫 東京都千代田区内幸町１丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (72)発明者 廣野 侃夫 東京都千代田区内幸町１丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (72)発明者 藤倉 弘 東京都千代田区内幸町１丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (72)発明者 千葉 直樹 東京都千代田区内幸町１丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 昭59−124186（ＪＰ，Ａ)
Claims (3)
- 【請求項１】ジャンパリング用のマトリクス部を構成す
るXA導体パターンと回線試験のために短絡用として付加
したマトリクスボードの入出力用コネクタのピンヘッダ
のためのスルーホール（252−１）に接続されているXA
（１）導体パターン（250）よりなるXA導体パターンを
有するプリント基板（200）と、 このXA導体パターンを有するプリント基板に絶縁性のプ
リント基板を介して積層され、ジャンパリング用のマト
リクス部を構成するYA導体パターンと回線試験のために
短絡用として付加したマトリクスボードの入出力用コネ
クタのピンヘッダのためのスルーホール（251−１）に
接続されたYA（１）導体パターン（253）と、出会い用
として付加した試験の専用コードのＡ線に接続されてい
るマトリクスボードの入出力用コネクタのピンヘッダの
ためのスルーホール（251−３）に接続されたYA（３）
導体パターン（253）よりなるYA導体パターンを有する
プリント基板（202）と、 このYA導体パターンを有するプリント基板に絶縁性のプ
リント基板を介して積層され、ジャンパリング用のマト
リクス部を構成するXB導体パターンと回線試験のために
短絡用として付加したマトリクスボードの入出力用コネ
クタのピンヘッダのためのスルーホール（252−１）に
接続されているXB（１）導体パターン（254）よりなるX
B導体パターンを有するプリント基板（204）と、 このXB導体パターンを有するプリント基板に絶縁性のプ
リント基板を介して積層され、ジャンパリング用のマト
リクス部を構成するYB導体パターンと回線試験のために
短絡用として付加したマトリクスボードの入出力用コネ
クタのピンヘッダのためのスルーホール（251−１）に
接続されたYB（１）導体パターン（255）と、出会い用
として付加した試験の専用コードのＢ線に接続されてい
るマトリクスボードの入出力用コネクタのピンヘッダの
ためのスルーホール（251−４）に接続されたYB（３）
導体パターン（255）よりなるYB導体パターンを有する
プリント基板（206）と、 前記各導体パターンの交点に対応した位置にそれぞれ前
記XA導体パターンを有するプリント基板からYB導体パタ
ーンを有するプリント基板まで貫通して設けられ、それ
ぞれの内壁にはXA導体パターン,YA導体パターン,XB導体
パターン,YB導体パターンに接続されている独立した４
個の接点が設けられた複数のスルーホールと、 前記各導体パターンに接続され、前記XA導体パターンを
有するプリント基板からYB導体パターンを有するプリン
ト基板まで貫通して設けられ、スルーホール内壁にマト
リクスボードの表面から裏面まで一体のスルーホールめ
っきが施されたマトリクスボードの入出力用のコネクタ
のピンヘッダのための複数のスルーホールとを具備し、 前記独立した４個の接点が設けられたスルーホールの適
宜の箇所に、XA導体パターンとYA導体パターン、XB導体
パターンとYB導体パターンをそれぞれ接続する２個の導
電部を有する接続ピンを挿入するようにしたことを特徴
とするマトリクスボード。 - 【請求項２】ジャンパリング用のマトリクス部を構成す
るXA導体パターンよりなるXA導体パターンを有するプリ
ント基板と、 このXA導体パターンを有するプリント基板に絶縁性のプ
リント基板を介して積層され、ジャンパリング用のマト
リクス部を構成するYA導体パターンと出会い用として付
加した試験の専用コードのＡ線に接続されているマトリ
クスボードの入出力用コネクタのピンヘッダのためのス
ルーホール（251−３）に接続されたYA（３）導体パタ
ーン（253）よりなるYA導体パターンを有するプリント
基板（202）と、 このYA導体パターンを有するプリント基板に絶縁性のプ
リント基板を介して積層され、ジャンパリング用のマト
リクス部を構成するXB導体パターンよりなるXB導体パタ
ーンを有するプリント基板（204）と、 このXB導体パターンを有するプリント基板に絶縁性のプ
リント基板を介して積層され、ジャンパリング用のマト
リクス部を構成するYB導体パターンと出会い用として付
加した試験の専用コードのＢ線に接続されているマトリ
クスボードの入出力用コネクタのピンヘッダのためのス
ルーホール（251−４）に接続されたYB（３）導体パタ
ーン（255）よりなるYB導体パターンを有するプリント
基板（206）と、 前記各導体パターンの交点に対応した位置にそれぞれ前
記XA導体パターンを有するプリント基板からYB導体パタ
ーンを有するプリント基板まで貫通して設けられ、それ
ぞれの内壁にはXA導体パターン,YA導体パターン,XB導体
パターン,YB導体パターンに接続されている独立した４
個の接点が設けられた複数のスルーホールと、 前記各導体パターンに接続され、前記XA導体パターンを
有するプリント基板からYB導体パターンを有するプリン
ト基板まで貫通して設けられ、スルーホールの内壁にマ
トリクスボードの表面から裏面まで一体のスルーホール
めっきが施されたマトリクスボードの入出力用のコネク
タのピンヘッダのための複数のスルーホールとを具備
し、 前記独立した４個の接点が設けられたスルーホールの適
宜の箇所に、XA導体パターンとYA導体パターン、XB導体
パターンとYB導体パターンをそれぞれ接続する２個の導
電部を有する接続ピンを挿入するようにすると共に、前
記独立した４個の接点が設けられた回線試験用に付加さ
れた分離スルーホールの適宜の箇所に、XA導体パターン
・YA導体パターン・XB導体パターン・YB導体パターン全
部を接続する１個の導電部を有するショートピンあるい
は前記接続ピンを挿入するようにしたことを特徴とする
マトリクスボード。 - 【請求項３】ジャンパリング用のマトリクス部を構成す
るXA導体パターン,XB導体パターンと、回線試験のため
に短絡用として付加した一端どうしが接続されたXA
（１）導体パターン,XB（１）導体パターン（350）より
なるXA導体パターン,XB導体パターンを有するプリント
基板（200）と、 このXA導体パターン,XB導体パターンを有するプリント
基板に絶縁性のプリント基板を介して積層され、ジャン
パリング用のマトリクス部を構成するYA導体パターン,Y
B導体パターンと、回線試験のために短絡用として付加
した一端どうしが接続されたYA（１）導体パターン,YB
（１）導体パターン（353）と、出会い用として付加し
た試験の専用コードのＡ線、Ｂ線に接続されているマト
リクスボードの入出力用コネクタのピンヘッダのための
スルーホール（351−１、351−２）に接続されたYA
（２）導体パターン,YB（２）導体パターン（353）より
なるYA導体パターン,YB導体パターンを有するプリント
基板（202）と、 前記各導体パターンの交点に対応した位置にそれぞれ前
記XA導体パターン,XB導体パターンを有するプリント基
板からYA導体パターン,YB導体パターンを有するプリン
ト基板まで貫通して設けられ、それぞれの内壁にはXA導
体パターン,YA導体パターン，あるいはXB導体パターン,
YB導体パターンに接続されている独立した２個の接点が
設けられた複数のスルーホールと、 前記各導体パターンに接続され、前記XA導体パターン,X
B導体パターンを有するプリント基板からYA導体パター
ン,YB導体パターンを有するプリント基板まで貫通して
設けられ、スルーホールの内壁にマトリクスボードの表
面から裏面まで一体のスルーホールめっきが施されたマ
トリクスボードの入出力用のコネクタのピンヘッダのた
めの複数のスルーホールとを具備し、 前記独立した２個の接点が設けられたスルーホールの適
宜の箇所に、XA導体パターンとYA導体パターン、XB導体
パターンとYB導体パターンをそれぞれ接続する１個の導
電部を有する接続ピンを挿入するようにしたことを特徴
とするマトリクスボード。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1065863A JP2510000B2 (ja) | 1989-03-20 | 1989-03-20 | マトリクスボ―ド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1065863A JP2510000B2 (ja) | 1989-03-20 | 1989-03-20 | マトリクスボ―ド |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02246458A JPH02246458A (ja) | 1990-10-02 |
| JP2510000B2 true JP2510000B2 (ja) | 1996-06-26 |
Family
ID=13299268
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1065863A Expired - Lifetime JP2510000B2 (ja) | 1989-03-20 | 1989-03-20 | マトリクスボ―ド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2510000B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0847007A (ja) * | 1994-07-26 | 1996-02-16 | Nec Corp | 本配線盤 |
| CN111830376A (zh) * | 2020-07-14 | 2020-10-27 | 北京航天新立科技有限公司 | 一种配电器综合检测平台 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2497726A1 (fr) * | 1981-01-12 | 1982-07-16 | Brochier Fils J | Article textile multicouches pour le renforcement de materiaux stratifies et procede pour son obtention |
| US4407885A (en) * | 1981-01-28 | 1983-10-04 | General Electric Company | Composite article |
| JPS61138743A (ja) * | 1984-12-12 | 1986-06-26 | 東レ株式会社 | 繊維強化樹脂用補強材料およびその製造方法 |
| JPS63197751A (ja) * | 1987-02-13 | 1988-08-16 | 新日本製鐵株式会社 | 炭素繊維強化無機質板 |
-
1989
- 1989-03-20 JP JP1065863A patent/JP2510000B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02246458A (ja) | 1990-10-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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