JP2003501969A - デジタル交差接続通信ネットワーク用のテストアクセスシステム及び方法 - Google Patents

デジタル交差接続通信ネットワーク用のテストアクセスシステム及び方法

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JP2003501969A JP2001502368A JP2001502368A JP2003501969A JP 2003501969 A JP2003501969 A JP 2003501969A JP 2001502368 A JP2001502368 A JP 2001502368A JP 2001502368 A JP2001502368 A JP 2001502368A JP 2003501969 A JP2003501969 A JP 2003501969A
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Abstract

(57)【要約】 １つ又はそれ以上のテストデバイスにより複数の通信回線にアクセスするシステム及び方法が開示される。通信回線の各々は、システムを介して連結され、また、第１の電気通信終端場所における第１の終端器と、第２の電気通信終端場所における第２の終端器とを有する。上記システムは、複数の回線アクセスデバイスを有し、該回線アクセスデバイスの各々は、第１の電気通信終端場所にて終端をなす通信回線の少なくとも１つ、及び、第２の電気通信終端場所にて終端をなす通信回線の少なくとも１つに連結される。１つ又はそれ以上のモニタリングバスが、複数のリレーにより規定される。リレーの１つ又はそれ以上は、回線アクセスデバイスの１つに連結される。バスに選択式に連結されるテストデバイスインターフェースは、選択された通信回線とそれに連結される選択されたテストデバイスとの間に、双方向の接続をもたらす。活性化されたリレーの１つ又はそれ以上は、選択された通信回線の１つを、選択されたテストデバイスの１つに対して、テストデバイスインターフェースを介して連結させる。単一の又は複数のパッチ機能が、選択された通信回線間に交差接続をマニュアルで確立するために、また、通信回線接続を、選択されたテストデバイスに対して再度もたらすために備える。テストアクセスシステム及び方法が、種々の高速デジタル伝送回線プロトコルを受け入れる。上記システムを介して連結される伝送回線は、およそ数十，数百，数千のメガビット／秒（Ｍｂｐｓ）の伝送速度をもつ高速デジタル伝送回線を有している。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】 関連出願 本出願は、１９９８年１２月２３日出願の米国シリアル番号０９／２１９２６
９号の一部継続出願である。
【０００２】 本発明は、一般に通信回線テストシステムに関するものであり、より詳細には
、複数の高速デジタル通信回線のいずれかにテスト装置を選択式に接続させるた
めの、また、マニュアルの交差接続パッチアクセスを介して、選択された通信回
線間に交差接続を確立するためのテストシステムおよび方法に関するものである
。
【０００３】 ＤＳ−１という用語は、米国で広範囲に使用されたデジタル伝送に関する通信
プロトコル規格を示している。ＤＳ−１規格は、ツイストワイヤのペアを介する
１．５４４メガビット／秒（Ｍｂｐｓ）の容量を有する伝送リンクを規定する。
この容量であれば、ＤＳ−１リンクは、それぞれが６４キロビット／秒（Ｋｂｐ
ｓ）でデジタル化された、２４の音声会話（voice conversation）の相当量を処
理することができる。しかしながら、近代技術と情報スーパーハイウェイの通信
産業に対する要求が高まるにつれて、要求されるバンド幅が広がっている。かか
る要求に応じて、ＤＳ−３伝送リンクのようなより高速な通信リンクが、これら
の要求を満たすべく展開されている。従来のＤＳ−３リンクは、２８のＴ−１リ
ンク若しくは４４．７３６Ｍｂｐｓの容量と同等であり、それは、６７２の音声
会話に相当する。ＤＳ−３回線は、典型的には、光ファイバ，マイクロ波，同軸
ケーブル回線で作用する。
【０００４】 一般にＤＳ−３信号と呼ばれる、ＤＳ−３システムにおける信号プロトコルは
、ＶＨＦ（超短波）電波に匹敵するバンド幅を必要とするパルスを含む。これら
の周波数において、通信リンクとテスト装置との間で切換え可能なスイッチを設
けることで問題が生じる。それは、ＤＳ−３パルスがシステム中を伝播するよう
に信号の完全性を確保する必要があるためである。例えば、回路レベルにおいて
、固体スイッチングデバイスは、かかるデバイスに存在する高周波パラシティッ
ク（parasitic）回路経路のために、切換え可能な接続を行なうにはもはや有効
でない。プリント回路基板レベルでは、回路経路にとって、伝送回線として実質
的に現れることが必要であり、それが不履行であれば、回路基板自体において、
クロストーク（crosstalk）に加え、実質的な不一致，反射及び他の信号の歪み
がもたらされ得る。
【０００５】 発明の概要 本発明の目的は、概して、信号がシステム中を伝播する際に、該信号の完全性
を維持しつつ、複数の伝送リンクの間で、複数のテストデバイスを切り換えるた
めの方法及び装置を提供することである。とりわけ、システムにおける全ての信
号経路が、感知可能な信号の減衰又は歪みや感知可能なクロストークを全くもた
らさない伝送回線の特性を示すことが意図される。更に、本発明の目的は、複数
の伝送回線間で複数のテストデバイスを切り換える機能に加え、選択された伝送
回線間で交差接続を確立するための方法及び装置を提供することである。
【０００６】 本発明の目的，特徴及び長所を立証する１つの実施の形態によれば、複数のテ
ストデバイスにより、複数の通信信号回線に対するテストアクセスを選択式に行
なうシステムが提供される。該システムは、複数の高周波信号回線用のインター
フェースを規定する回線アクセスカードと、複数の高周波テストデバイス用のイ
ンターフェースを規定する少なくとも１つのテストカードとを含んでいる。これ
らのカードは、テストデバイスと信号回線との選択式の接続をもたらすマザーボ
ードに接続する。
【０００７】 回路及びマザーボードにおける全ての高周波信号経路は、予め規定された特性
インピーダンスを備えた伝送回線の特性をあらわし、最小の減衰，最小の歪み、
及び、最小のクロストークで高周波パルスを伝達する。切換えが、低い挿入損失
及びクロストークのリレーにより、マザーボード上でもたらされる。該リレーは
、回線アクセスカード，テストカード及びマザーボード上に設けられる。全ての
信号経路は、タップ（tap）の無い真っ直ぐなポイント間の電気回路として作用
する。回線アクセスデバイスのリアカードとマザーボードとの接続は、９６ピン
ＤＩＮコネクタによりもたらされ、インピーダンスが厳密に制御されない高周波
信号経路の唯一の部分をあらわす。しかしながら、これらコネクタを通じる信号
の完全性は、同軸の伝送回線を擬態するコネクタピンの配置及び構成を満たすこ
とにより確保される。
【０００８】 本発明の目的，特徴及び長所を立証するまた別の実施の形態によれば、システ
ムは、複数のテストデバイスによる複数の通信信号回線に対するテストアクセス
を選択式に行ない、それに加え、単一又は複数のパッチ回路を有する回線アクセ
スカードの採用によって、マニュアルのパッチング機能を提供する。この形態に
よるシステムは、自動遠隔制御テストアクセスの特徴および長所を、所望の又は
必要とされる交差接続をマニュアルで確立するという便宜性及び融通性と併せも
つものである。
【０００９】 この形態による回線アクセスカードの各々は、ＤＳ−３伝送回線等の対応通信
回線に対するジャックインターフェースアクセスを提供する。回線アクセスカー
ドは、単一のパッチング機能、又は、デュアルパッチング機能等の複数のパッチ
ング機能を組み込むことができる。また、この形態による回線アクセスカードは
、ユーザに、回線アクセスカードを介してルート設定される種々の通信回線又は
チャンネルに対するマニュアルでの直接的なアクセスをもたらす。回線アクセス
カードの各々は、通信回線を、設備側，装置側及びテストデバイスの終端に対し
て選択式にパッチングするためのモニタジャック，入力ジャック及び出力ジャッ
クを有している。
【００１０】 本発明の他の様相によれば、テストアクセスシステムを通過する選択された通
信回線と１つ又はそれ以上のテストデバイスとの間に、ブリッジレジスタが連結
されてもよい。ブリッジレジスタの値は、典型的には、テストデバイスが通信回
線上の通常のデータフローと干渉することを防止するために、テストを受ける通
信回線の特性インピーダンスの数倍の大きさを有する。本発明の他の様相によれ
ば、ブリッジレジスタとそれに対応するテストデバイスの入力との間に、増幅器
が連結されてもよい。増幅器は、テスト信号経路にブリッジレジスタを含めるこ
とから生じる減衰をオフセットするに相当するレベルまで、テスト対象のゲイン
を増大させるように構成され得る。
【００１１】 種々の形態の詳細な説明 次に、図面を参照すると、図１及び図２は、それぞれ本発明の目的と特徴を具
体化したテストアクセスシステム８の前方及び後方からの斜視図である。本発明
の原則に従い動作するシステムの一例は、ニュージャージ州，サウスハッケンサ
ック(South Hackensack)のＡＤＣハダックス社（ADC-Hadax, Inc）により提供さ
れる「２００５ＤＳ−３アクセスシステム」として利用できる。本発明の目的及
び特徴は、北アメリカで利用されているＤＳ−３伝送キャリア規格に適合する通
信ネットワークのコンテクスト（context）内でおおむね説明されるであろう。
本発明のシステム及び方法が、１０又は１００Ｍｂｐｓの程度の伝送速度を与え
る高速デジタル伝送回線を含む他の種類の通信回線にアクセスし、それらをテス
トすることに適用できることが理解される。
【００１２】 図１及び図２に最も良く見られるように、テストアクセスシステム８は、複数
の回線アクセスカード１５，テスト装置カード３５，制御カード２５及び２つの
電源２８，２９を含む。図２に見られるように、各回線アクセスカード１５は、
ＤＳ−３通信回線のような複数の通信回線の対応するコネクタを受ける複数のコ
ネクタを含む。テスト装置カード３５は、対応する複数のテストデバイスのコネ
クタを受ける複数のコネクタを含む。プログラム可能なプロセッサすなわちＣＰ
Ｕを含む制御カード２５は、テストアクセスシステム８の活動を調整する。また
、制御カード２５は、更に、通信カード１８を介して遠隔制御ユニットに通信し
てもよい。
【００１３】 本発明の好適な実施形態によれば、テストアクセスシステム８は、図１及び図
２に示されるようにモジュール化され、ラックに搭載できるように設計されてい
る。この実施の形態によれば、テストアクセスシステム８は、９つの回線アクセ
スカード１５を含み、回線アクセスカードのそれぞれは、フロント回線カード（
ＦＬＣ）１７と、リア回線カード（ＲＬＣ）１９とを有している。本発明による
テスト装置カード３５は、フロントテストカード（ＦＴＣ）３７と、リアテスト
カード（ＦＴＣ）３９とを含む。更に、図３に示されるように、テストアクセス
システム８は、両面マザーボード１０を含む。マザーボード１０は、そのマザー
ボードの前面に差し込まれたフロント回路カード１２と、そのマザーボードの背
面に差し込まれたリア回路カード１４Ｕ，１４Ｌとを有する。単一の全高の回路
カードではなく、むしろ、図３に示されるような、上側のリアカード１４Ｕ及び
下側のリアカード１４Ｌのように、２つの半分の高さの回路カードが備えられて
も良い。
【００１４】 この構成において、９つのフロント回線カード１７が、マザーボード１０の前
面に差し込まれている。マザーボード１０の背面は、合計で１８個の回線アクセ
スカード１５に対して、９つの上側のリア回線カード１９（すなわち、ＲＬＣ１
〜ＲＬＣ１７、奇数番号のみ）のバンクと、９つの下側のリア回線カード１９（
すなわち、ＲＬＣ２〜ＲＬＣ１８、偶数番号のみ）のバンクとを接続する。更に
、１つのテスト装置カード３５が、マザーボード１０に接続され、テスト装置カ
ード３５のフロントテストカード３７及びリアテストカード３９が、それぞれ、
マザーボード１０の前面及び背面に接続されている。制御カード（ＣＣ）２５、
通信カード（ＣＯＭＣ）１８及び各電源２８，２９もまた、マザーボード１０に
接続されている。
【００１５】 動作に際して、各回線アクセスカード１５上に、また、典型的には、各回線ア
クセスカード１５のリア回線カード１９上に設けられた４つの従来のＢＮＣコネ
クタ（ＲＸＥ、ＲＸＦ、ＴＸＥ、ＴＸＦ）が、ＤＳ−３伝送回線のような１つの
双方向通信回線に対するインターフェース接続を与える。同様に、テスト装置カ
ード３５上に、また、典型的にはテスト装置カード３５のリアテストカード３９
上に設けられたＢＮＣコネクタ（ＴＸＡ，ＴＸＢ，ＲＸＡ，ＲＸＢ）が、デュア
ルテストポートを与える。デュアルテストポートは、２つの通信回線テスト装置
のそれらに対する接続を可能とする。通信カード１８は、テストアクセスシステ
ム８に対するＲＳ−２３２Ｃインターフェースを与える３つの接続を含むインタ
ーフェース２０を有する。しかしながら、ネットワークインターフェース２０の
ような他の任意の種類の通信インターフェース２０でも同様に十分に動作するこ
とが認められる。
【００１６】 本発明の１つの実施の形態によれば、各回線アクセスカード１５のフロント回
線カード１７は、一対のリア回線カード１９に制御を与える。本実施の形態によ
れば、テスト装置カード３５のフロントテストカード３７はリアテストカード３
９に制御を与える。フロント回線カード１７及びフロントテストカード３７は、
制御カード２５に設けられたＣＰＵの制御の下に動作する。
【００１７】 図４のブロック図は、どのように種々のカードがマザーボード１０を介して内
部接続されているかを説明している。テストアクセスカード８の動作はこのブロ
ック図を参照することにより最もよく理解できる。デュアル通信回線が１８個の
リア回線カード（すなわち、ＲＬＣ１〜ＲＬＣ１８）１９のそれぞれに接続され
る。２つの通信回線テスト装置がリアテストカード３９（ＲＴＣ）に接続され、
また、１８個のＲＬＣ１９のうちの１つに選択的に接続される。これは、２つの
モニタリングバスＭＢ１、ＭＢ２により実現される。ＲＴＣ３９は、バスＭＢ１
、ＭＢ２の双方、及び、ＲＬＣ１９のそれぞれに接続される。図４に示される実
施形態では、奇数（上側）のＲＬＣ１９はＭＢ１に接続され、偶数（下側）のＲ
ＬＣ１９はＭＢ２に接続される。そのような接続の仕方の詳細を以下に説明する
。この点について、モニタリングバスＭＢ１、ＭＢ２及びＲＬＣ１９の１つの間
の接続は、１つ以上のリレーを介して形成されることに注意すれば十分である。
【００１８】 図４に示す実施の形態によれば、共通スロット（すなわち、１つの上側及び下
側ＲＬＣ１９）を占有するＲＬＣ１９の各対は、対応するフロント回線カード１
７により制御される。テスト装置カード３５のフロントテストカード（ＦＴＣ）
３７はリアテストカード（ＲＴＣ）３９を制御する。ＦＬＣ１７とＦＴＣ３７は
、かわるがわる、制御カード（ＣＣ）２５において設けられたＣＰＵにより制御
される。制御カード２５は、通信カード（ＣＯＭＣ）１８を通じて与えられるＲ
Ｓ−２３２リンクを介して、端末すなわちパーソナルコンピュータのような制御
装置からコンフィギュレーションコマンド（configuration command）を受信す
る。通信カード１８は、通信ポート２０の１つを通じて、制御カード２５により
与えられるステータス情報のような出ていく情報を出力することができる。通信
リンクを利用することにより、特に、遠隔テストの効率化が図れる。
【００１９】 本発明によるテストアクセスシステム８の重要な態様は、テストアクセスシス
テム８を通して伝播する通信信号パルスとしての信号の完全性を保証することを
含む。高いレベルの信号伝送の完全性を保証するために、テストアクセスシテム
８内の全ての信号経路は、７５オームの特性インピーダンスを持ち、最小の減衰
、最小の歪み、最小のクロストークで通信信号パルスを伝送可能な不平衡伝送回
線の特性を示すように設計される。しかしながら、他のインピーダンス特性であ
っても、同様に、十分に機能することが認められる。
【００２０】 プリント回路基板レベルでのそのような信号伝達の完全性を与えるために、特
別なレイアウト技術が採用されている。本発明の１つの実施の態様によれば、情
報信号の伝送に関与するテストアクセスシステム８のカード（例えば、ＲＬＣｓ
１９, ＲＣＴ ３９ 及びマザーボード１０）が多層性であり、インピーダンス
制御されたプリント回路基板である。この実施態様による回路基板の構造が図１
０に図説され、この図は層１から層４までの４つの層を有する回路基板５０の断
面を示している。しかしながら、６つ以上の層の基板が使用され得ることが理解
されよう。
【００２１】 情報信号を伝送する全てのトレース（trace）は、７５オーム（ohm）の特性イ
ンピーダンスを持った不平衡な伝送回線として設定されている。該伝送回線は、
ストリップライン（stripline）の形態を有し、１本のコンダクタと２つの基準
面とでなり、これら基準面の１つはコンダクタの上にあり今１つはコンダクタの
下にある。最大限の電磁誘導（ＥＭＩ：electromagnetic induction）シールデ
ィングのために、信号コンダクタのどちらの側にも保護コンダクタが配置され、
あらゆる信号トレースを取り囲んでいる。上記保護コンダクタは、プリント回路
基板の信号層上に配置され、半インチ（inch）毎に両方の基準面に接続されてい
る。図１０に描かれた層１−３は、コンダクタ５２を通じて層２に設けられた高
周波（ＨＦ）の信号経路を有するストリップライン構成を規定している。保護コ
ンダクタ５４，５４もまた層２内に設けられ、信号コンダクタ５２のいずれの側
にも設けられている。層４は、比較的低速の論理（制御）信号用に用いられる。
上記プリント回路基板の基板材料は、好ましくは、ＦＲ−４である。
【００２２】 テストアクセスシステム８に用いられる構成要素は、また、７５オーム（ohm
）の特性インピーダンスと優れた周波数特性を有するように選定されている。情
報信号経路に対する入力および出力の接続は、プリント回路基板に搭載された７
５オームＢＮＣコネクタ（ＢＮＣ connector）で与えられる。切換えは、低い挿
入損失及びクロストークの７５オームＨＦリレーで与えられる。リアカード（Ｒ
ＬＣｓ，ＲＣＴ）１９，３９とマザーボード１０との間の接続は、９６ピンのＤ
ＩＮコネクタで与えられる。該ＤＩＮピンコネクタのインターフェースは、情報
信号経路でインピーダンスが厳密には制御されない唯一の部分となる。
【００２３】 しかしながら、これらのコネクタを通じての信号の完全性は、同軸の伝送回線
を模したピン構成を用い、従って、不連続性を最小化し、そして、コネクタが伝
搬する情報信号を効率的に通過せしめるようにすることにより維持される。この
ピン構成は、コネクタのコラムＢ（Column B）から１つのピン（すなわち、複数
のピンの中央のコラム）を信号コンダクタとして用い、それを取り巻く８本のピ
ンは全てシールド（shield）コンダクタとして使用される。このようなピン構成
が組み込まれたコネクタ６０が図１１に示されており、そこでは、４つの別々の
ピン群が示されている。例えば、列３１の中央のピンが信号コンダクタに接続さ
れるように示されている。同時に、列３０−３２の残りのピンは、共に、接地面
に対して接続される。
【００２４】 電気回路設計の観点から、全ての信号パスは、タップの無い真っ直ぐなポイン
ト間の電気回路である。ＲＬＣｓ１９上の異なる信号経路とＲＣＴ３９との間の
全ての接合は、リレー接点を介して成される。ＲＬＣｓ１９上には、７５０オー
ムのブリッジ抵抗器を介してモニタするために、「ノーマルスルー（normal thr
ough）」の信号経路がタップ（tap）されており、それは、モニタモードにおい
て通信回線上でのタッピング（tapping）回路の如何なる影響をも実質的に除去
する。以前に論議されたように、ＲＬＣｓ１９は、マザーボード１０上に位置し
てＦＬＣｓ１７によって制御されるリレーを介して、モニタ用バス（buss）であ
るＭＢ１及びＭＢ２に接続されている。
【００２５】 図５は、信号の完全性を保証するために、本発明のテストアクセスシステム８
において、モニタ用バスの切換えが如何にして達成されるかを説明するに有用で
ある模式的なブロック図である。図５は、図４に関して既に示され議論された構
成要素を包含しており、これらの構成要素は同様の参照文字で表示されている。
図５は、特に、スイッチとして示され、モニタ用バスの切換えを達成するリレー
を図説している。ある１つの実施態様では、ＲＴＣ３９の一部であるＲＴＣリレ
ー，ＳＷОは、ＲＴＣ３９を、ＳＷОの位置次第でＭＢ１へもＭＢ２へも接続す
ることができる。モニタ用バスであるＭＢ１及びＭＢ２については、各ＲＬＣ１
９は、対応するリレーのセットを包含している。例として、上側の（奇数番号が
付された）ＲＬＣｓ１９は、連繋させられたリレーセットＳＷ１−ＳＷ１７に連
結されている。各例において、これらリレーは、通常、下向き位置にある（すな
わち、電圧が印加されていないとき）。
【００２６】 どのＲＬＣリレーも電圧が印加されていない場合には、ＭＢ１，ＭＢ２の各モ
ニタ用バスの端から端までの連続性が与えられ、どのＲＬＣｓ１９もモニタ用バ
スに接続されることはない。しかしながら、ＲＬＣｓ１９のリレーは、ＲＬＣｓ
１９の１つを対応するモニタ用バス上に位置させるために、一時に作動させられ
る。リレーの組が、ある特定のＲＬＣ１９のために電圧を印加される場合、リレ
ーは、本来的に、図５の表示について上向き位置に位置させられ、このことは、
対応するモニタ用バスの端から端までの連続性を破り、対応するＲＬＣ１９をそ
のモニタ用バスに接続させる。上述のマザーボード１０の構造は、ＲＴＣ３９と
選択されたＲＬＣ１９との間には何時でも単一のポイント間の接続だけしかなく
、そのモニタ用バスには他の如何なるＲＬＣｓ１９も取り付けられないことを保
証する。同時に、使用されていないモニタ用バスの部分は接続されておらず、信
号の伝播と干渉することはない。
【００２７】 図６は、本発明の１つの実施の形態に係るリア回線カード（ＲＬＣ）１９の模
式的なブロック図である。一般に、ＲＬＣ１９は、１つは通信回線へのインター
フェースであり今１つはマザーボードへのインターフェースである、２つのイン
ターフェースを包含している。通信回線へのインターフェースは、４つのＢＮＣ
コネクタで与えられる。マザーボード１０へのインターフェースは、９６ピンの
ＤＩＮ雌型コネクタで与えられる。
【００２８】 図６に示されたＲＬＣ１９は、２つのインプット（ＲＸＥ及びＲＸＦ）と２つ
のアウトプット（ＴＸＥ及びＴＸＦ）を有する１つの多重通信ポートを備えてい
る。ＲＬＣ１９は、また、図６においてスイッチとして表示され、対応するＦＬ
Ｃ１７の制御の下で動作させられる複数のリレーを包含している。ＲＸＥからＴ
ＸＦへ、及びＲＸＦからＴＸＥへの、２つの所謂「ノーマルスルー」経路がある
。ＲＬＣ１９は、また、モニタ用バスに４つの経路を与えている。これら経路の
うちの２つは、ＭОＮ-ＴＸＥからＴＸＥへ、及びＭОＮ-ＴＸＦからＴＸＦへの
、ダイレクト経路（direct path）である。他の２つの経路は、ＲＸＥからＭО
Ｎ-ＲＸＥへ、及びＲＸＦからＭОＮ-ＲＸＦへの経路であり、所望のテストモー
ドに応じて、ダイレクト経路であっても良いし、或いは、Ｂ又はＢ＆Ｔ回路を介
した経路であっても良い。
【００２９】 各ＲＬＣ１９は、通信ポート部分で、ＲＸＥからＴＸＥへ、及びＲＸＦからＴ
ＸＦへのループバック（loop back）接続を付与する機能を有している。好まし
い実施態様では、各スロットにおいて２つの（上下の）リア回線カード１９が使
用されることに気付かれるべきである。この配置は、回線カードが取り換えられ
なければならない場合に、使えなくされる必要があるのは１つの回線だけである
という利点を有している。２つのデュアル通信回線に適応した単一の回線カード
も採用し得ることが理解されよう。
【００３０】 リアテストカード（ＲＴＣ）３９は、好ましくは２つのタイプで提供される。
図７Ａ及び７Ｂは、それぞれタイプ１ＲＴＣとタイプ２ＲＴＣの概略ブロック図
を示す。両方のタイプのＲＴＣは、２つの入力（ＲＸＡ及びＲＸＢ）及び２つの
出力（ＴＸＡ及びＴＸＢ）を備えた１つのデュアルテストポートを含む。各ＲＴ
Ｃ３９はまた、スイッチとして示される複数のリレーを含み、フロントテストカ
ー（ＦＴＣ）３７の制御により動作する。図７Ａに示されるタイプ１ＲＴＣ３９
は、多くの入力についてのループバックを任意の出力に対して提供できる。図７
Ｂに示されるタイプ２ＲＴＣ３９は、ＲＸＡからＴＸＡおよびＲＸＢからＴＸＢ
のみループバックを提供できる。一方、ＲＴＣタイプ１は、Ａスプリット、ＡＸ
スプリット、ＢスプリットおよびＢＸスプリットモードが選択された場合、使用
されていないポートにおいてループバックを提供できない。
【００３１】 図７Ａ及び７ＢにおいてＮＲという名称が付されている４つのコネクタは、「
デイジーチェーン（daisy-chain）」構成で次のラックマウント（rack mount）
に接続を提供する。図７Ａ及び７Ｂに示される「デイジーチェーン」接点の位置
に依存して、テストポートは、現在又は次のラックマウントのモニタリングバス
のいずれか１つに接続される。「クロスバー」接点は、入力（ＲＸＡ，ＲＸＢ）
及び出力（ＴＸＡ，ＴＸＢ）に対して直接又はクロス接続を提供する。「ループ
バック」接点はＲＸＡからＴＸＡおよびＲＸＢからＴＸＢにループバック接点を
提供する。「ＭＯＮバス選択」接点が、２つのモニタリングバスＭＢ１、ＭＢ２
のいずれへの接続も提供する。
【００３２】 ＲＴＣ３９は、３つのインターフェースを含む。１つは、通信回線テスト装置
へのインターフェース、１つは次のラックマウントへのインターフェース、そし
て１つは、マザーボード１０へのインターフェースである。通信回線テスト装置
へのインターフェースは、図２に示すＲＸＡ，ＴＸＡ，ＲＸＢ，ＴＸＢなどの４
つのＢＮＣコネクタにより提供される。次のラックマウントへのインターフェー
スは、同じく図２に示される「次のラック」という名称が付された４つのＢＮＣ
コネクタにより提供される。マザーボード１０へのインターフェースは、９６ピ
ンＤＩＮ雌型コネクタにより提供される。
【００３３】 図８は、本発明の実施の形態によるフロント回線カード（ＦＬＣ）１７の動作
を示す機能的なブロック図である。限定するためではなく図示するために、ＦＬ
Ｃ１７はリア回線カード１９、ＲＬＣ１およびＲＬＣ２の対に結合されて示され
ている。各々はＦＬＣ１７により制御される。次に、ＦＬＣ１７は、制御カード
２５に設けられたＣＰＵにより制御される。ＦＬＣ１７は、２つの制御ブロック
（ＣＴＲＬ１およびＣＴＲＬ２）を含む。その各々はＲＬＣ１９のそれぞれ（Ｒ
ＬＣ１およびＲＬＣ２のそれぞれ）を制御する。
【００３４】 ＦＬＣ１７は、更に、個々のモニタリングバスＭＢ１、ＭＢ２の一部を区画す
るためのリレーの組を含む。ＦＬＣ１７の前部に設けられる２つの発光ダイオー
ド（ＬＥＤ１およびＬＥＤ２）は、対応するＲＬＣ１９の状態を示す。１つの例
として、個々のＲＬＣ１９がテストモードにあるとき、対応するＬＥＤが点灯さ
れる。それに対して、ループバックモードが選択されたとき、対応するＬＥＤは
点滅する。リレードライバに加えて、制御ブロックＣＴＲＬ１及びＣＴＲＬ２も
また、２つの８ビット制御レジスタを含む。レジスタ１及び２はＲＣＬ１につい
てＣＴＲＬ１に設けられ、レジスタ３及び４はＲＣＬ２についてＣＴＲＬ２に設
けられる。
【００３５】 本発明の実施の形態によれば、奇数レジスタ（レジスタ１およびレジスタ３）
内のビットは、対応するＲＬＣ１９のリレーに関して次の効果を有する。 Ｄ７： ０のとき、ＲＸＥからＴＸＦまでの「ノーマルスルー」経路を閉じ る。 １のとき、ＲＸＥをモニタリングバスに接続する。 Ｄ６： ０のとき、ＲＸＥからＴＸＦまでの「ノーマルスルー」経路を閉じ る。 １のとき、ＴＸＦをモニタリングバスに接続する。 Ｄ５： ０のとき、Ｂ＆Ｔ回路を選択する。 １のとき、ＲＸＥからモニタリングバスへの直接接続を選択する。 Ｄ４： ０のとき、スプリットモードを選択する。 １のとき、モニタリングモードを選択する。 Ｄ３： ０のとき、ＲＸＦからＴＸＥまでの「ノーマルスルー」経路を閉じ る。 １のとき、ＲＸＦをモニタリングバスに接続する。 Ｄ２： ０のとき、Ｂ＆Ｔ回路を選択する。 １のとき、ＲＸＦからモニタリングバスへの直接接続を選択する。 Ｄ１： ０のとき、スプリットモードを選択する。 １のとき、モニタリングモードを選択する。 Ｄ０： ０のとき、ＲＸＦからＴＸＥまでの「ノーマルスルー」経路を閉じ る。 １のとき、ＴＸＥをモニタリングバスに接続する。
【００３６】 同様に本発明の実施の形態による、偶数レジスタ（レジスタ２およびレジスタ
４）は、対応するＲＬＣ１９のリレーに関して次の意味を有する８つのビットを
有している。 Ｄ７： ０のとき、ＲＬＣからＭＯＮ＿ＲＸＥおよびＭＯＮ＿ＴＸＦを切断 する。 １のとき、ＭＯＮ＿ＲＸＥおよびＭＯＮ＿ＴＸＦをＲＬＣに接続す る。 Ｄ６： ０のとき、ＲＬＣからＭＯＮ＿ＲＸＦおよびＭＯＮ＿ＴＸＥを切断 する。 １のとき、ＭＯＮ＿ＲＸＦおよびＭＯＮ＿ＴＸＥをＲＬＣに接続す る。 Ｄ５： ０のとき、ＲＸＥからＴＸＥへのループバックを非選択にする。 １のとき、ＲＸＥからＴＸＥへのループバックを選択する。 Ｄ４： ０のとき、ＲＸＦからＲＸＦへのループバックを非選択にする。 １のとき、ＲＸＦからＴＸＦへのループバックを非選択にする。 Ｄ３： ０のとき、モニタリングバスのシールドに対するＲＸＥ−ＴＸＦス イッチ回路のシールドを切断する。 １のとき、ＲＸＥ−ＴＸＦスイッチ回路のシールドをモニタリング バスのシールドに接続する。 Ｄ２： ０のとき、モニタリングバスのシールドに対するＲＸＦ−ＴＸＥス イッチ回路のシールドを切断する。 １のとき、ＲＸＦ−ＴＸＥスイッチ回路のシールドをモニタリング バスのシールドに接続する。 Ｄ１： ０のとき、ＲＸＦ−ＴＸＥスイッチ回路のシールドに対するＲＸＥ −ＴＸＦスイッチ回路のシールドを切断する。 １のとき、ＲＸＥ−ＴＸＦスイッチ回路のシールドをＲＸＦ−ＴＸ Ｅスイッチ回路のシールドに接続する。 Ｄ０： ０のとき、対応するＲＬＣについてのＬＥＤを消す。 １のとき、対応するＲＬＣについてのＬＥＤを点灯させる。
【００３７】 ＲＬＣ１９の制御レジスタＣＮＲＬ１およびＣＮＲＬ２によれば、各レジスタ
に設けられた個々の８ビット語を利用して、数多くの異なる動作モードを実現で
きることが理解される。以下に与えられる表１は、各ＲＬＣ１９に利用可能な、
数多くの異なる動作モードを例示する。記載されているモードは、通信装置テス
ト用のベルコミュニケーションズリサーチ基準（Bellcore standards）により規
定された、様々なテストモードに対応する。
【表１】
【００３８】 図９は、本発明の１つの実施の形態にかかるフロントテストカード（ＦＴＣ）
３７の動作を示す模式的なブロック図である。ＦＴＣ３７は、リアテストカード
（ＲＴＣ）３９内のリレーを制御するが、それ自体はコントロールカード２５内
に設けられたＣＰＵによって制御される。ＦＴＣ３７は、ＲＴＣ３９に対して制
御を行うシングルコントロールブロック（ＣＴＲＬ１）を含んでいる。ＦＴＣ３
７の前部の１つの発光ダイオード（ＬＥＤ）は、ＲＴＣ３９の状態を示す。ＲＴ
Ｃ３９がループバックモードにあるときにはＬＥＤは点滅するが、ＲＴＣ３９が
テストモードにあるときにはＬＥＤは点灯される。ＦＴＣ３７はＲＴＣ３９用の
リレードライバと、２つの８ビットコントロールレジスタとを含んでいる。
【００３９】 ＦＴＣ３７内のＣＴＲＬ１のコントロールレジスタ１のビットは、本発明の１
つの実施の形態にかかるＲＴＣ３９のリレーに、以下の効果をもたらす。 Ｄ７： ０のとき、上側モニタバス（ＭＢ１）からＭＯＮ ＲＸＢ回線を選
択する。 １のとき、下側モニタバス（ＭＢ２）からＭＯＮ ＲＸＢ回線を選
択する。 Ｄ６： ０のとき、ＲＸＢ−ＴＸＢ間のループバックを非選択とする（もし
、クロスオーバがアクティブでなければ）。 １のとき、ＲＸＢ−ＴＸＢ間のループバックを選択する（もし、ク
ロスオーバがアクティブでなければ）。 Ｄ５： 使用されない。 Ｄ４： 使用されない。 Ｄ３： ０のとき、上側モニタバス（ＭＢ１）からＭＯＮ ＴＸＡ回線を選
択する。 １のとき、下側モニタバス（ＭＢ２）からＭＯＮ ＴＸＡ回線を選
択する。 Ｄ２： ０のとき、上側モニタバス（ＭＢ１）からＭＯＮ ＴＸＢ回線を選
択する。 １のとき、下側モニタバス（ＭＢ２）からＭＯＮ ＴＸＢ回線を選
択する。 Ｄ１： ０のとき、ＲＸＡ−ＴＸＡ間のループバックを非選択とする（もし
、クロスオーバがアクティブでなければ）。 １のとき、ＲＸＡ−ＴＸＡ間のループバックを選択する（もし、ク
ロスオーバがアクティブでなければ）。 Ｄ０： ０のとき、ＴＸＡ及びＴＸＢへの直接接続を選択する(クロスオー
バ) １のとき、ＴＸＡ及びＴＸＢへの交差接続を選択する(クロスオー
バ) ＦＴＣ３７内のＣＮＲＬ１のコントロールレジスタ２のビットは、本発明の１
つの実施の形態にかかるＲＴＣ３９のリレーに、以下の効果をもたらす。 Ｄ７： 使用されない。 Ｄ６： 使用されない。 Ｄ５： ０のとき、上側モニタバス（ＭＢ１）からＭＯＮ ＲＸＡ回線を選
択する。 １のとき、下側モニタバス（ＭＢ２）からＭＯＮ ＲＸＡ回線を選
択する。 Ｄ４： ０のとき、ＲＸＡ及びＲＸＢへの直接接続を選択する(クロスオー
バ) １のとき、ＲＸＡ及びＲＸＢへの交差接続を選択する(クロスオー
バ) Ｄ３： 使用されない。 Ｄ２： ０のとき、ローカルラックを選択する。 １のとき、次のラックを選択する。 Ｄ１： 使用されない。 Ｄ０： ０のとき、テストＬＥＤを消灯させる。 １のとき、テストＬＥＤを点灯させる。
【００４０】 従って、ＦＴＣ３７内のＣＮＲＬ１の２つのコントロールレジスタに有効なビ
ットの異なる組み合わせは、ＲＴＣ３９内に多数の動作モードをつくりだすこと
が理解されるであろう。下記の表２は、本発明の１つの実施の形態にかかるＲＴ
Ｃ３９に有効な種々の動作モードを例示している。
【表２】
【００４１】 別の実施態様に従って、および図１２Ａと図１２Ｂに関して、本発明の原理に
従ったテストアクセスシステム１０１は、単一パッチ回路構成要素または複数パ
ッチ回路構成要素を含む回線アクセスカード１１５を利用することにより、マニ
ュアルのパッチ機能を提供する。本発明のこの実施態様に従ったテストアクセス
システム１０１は、前述された自動遠隔制御テストアクセス機能の特徴および長
所を、所望のあるいは必要とされる交差接続をマニュアルで確立する便宜性およ
び融通性と併せもつものである。
【００４２】 交差接続機能を利用するテストアクセスシステムは、恒久的に接続された装置
に成端点を提供し、この実施態様に従ったパッチ回路構成要素を使用することに
より、典型的には同軸ジャックである、数多くの交換ジャックも収容し、それに
よりパッチコードは、一時的に接続を向け直すために利用されてよい。切替えジ
ャックおよびパッチコード／プラグを通して確立されたものを含むパッチング回
路構成要素の信号経路は、好ましくは、７５オーム特徴インピーダンスなどの特
徴インピーダンスおよび優れた周波数特徴を有するように実現される。
【００４３】 装置および設備を、交差接続機能を利用するテストアクセスシステムで成端さ
せることによって、サービスプロバイダは、障害箇所の回りで、マニュアルでパ
ッチするか、あるいはサービスを中断することなく装置および設備を配置し直す
ことができる。サービスプロバイダは、結線された接続または一時的なパッチ接
続のどちらかを通して確立された選択された通信回線をテストしてもよい。
【００４４】 図１２Ａと図１２Ｂに示されるように、テストアクセスシステム１０１は、シ
ステム１０１の多様なカードを収容するために必要とされる物理的な空間を画定
するシャシー１０９を含む。シャシー１０９は、回線アクセスカード１１５とそ
の他のカードのそれぞれとテストアクセスシステム１０１のバスの間での制御信
号および情報信号の通信に備える制御バス１１３を含む。システム１０１のカー
ドのすべてに対する配電もシャシー１０９によって提供される。シャシー１０９
は、さらに、システム１０１のすべての制御接続に物理的な接続を提供する。中
央処理装置（ＣＰＵ）１０７は、テストアクセスシステム１０１のカードに関し
て多様な制御機能を調整する。ＣＰＵ１０７は、管理ソフトウェアおよびその他
のリンクされたテストアクセスシステム１０１に関して多様な通信タスクも制御
する。
【００４５】 本発明のこの実施態様によって、回線アクセスカード１１５のそれぞれは、Ｄ
Ｓ−３伝送路などの1本または複数本の対応する通信回線へのジャックインター
フェースアクセスを提供する。ジャックインターフェースアクセス機能を利用す
る回線アクセスカード１１５は、専用バスを介した交差接続の確立にも備える。
回線アクセスカード１１５は、さらに、テストバス１１６（例えば、中継器のネ
ットワーク）を介した高速通信回線へのテストアクセス、および1台または複数
台のテスト装置にアクセスするための1本または複数本のテストバスへのアクセ
スに備える。テストカード１１１は、回線アクセスカード１１５、テスト対象の
選択済みの通信回線、および外付けまたは内蔵テスト装置間のインターフェース
を提供する。電源１０５は、テストアクセスシステム１０１に必要とされる電力
を提供する。
【００４６】 パッチアクセス機能を有する回線アクセスカード１１５の実施態様は、図１３
に示される。この実施態様による回線アクセスカード１１５は、それぞれ、伝送
回線と受信回線ＴＸＦ１１０とＲＸＦ１２０を介して電気通信網の設備側１００
で発生するために、それぞれ、恒久的なおよび一時的な接続および成端を確立す
ることを含む、交差接続、切替え、テスト、および監視にも備える。図１４は、
テストアクセスシステムにインストールされたときに、「プラグを差し込むだけ
で即使用できる」動作のために設計されたモジュールに実現される回線アクセス
カード１１５の前面図を提供する。例えば、図１３と図１４に図示されるモジュ
ラー回線アクセスカード１１５は、図１２Ａと図１２Ｂに示されているシャシー
１０９の使用可能なスロットの中に滑り込ませることができる。適切にインスト
ールされたとき、それぞれシャシー１０９の上に設けられる信号コネクタおよび
電力コネクタ、および回線アクセスカード１１５は、その間に必要とされる信号
および電力の接続を確立するために、マニュアル介入の必要なく、嵌って係合す
る。
【００４７】 図１３と図１４に図示される回線アクセスカード１１５の実施態様は、単一パ
ッチング機能を組み込む。図１３と図１４で分かるように、回線アクセスカード
１１５は、ユーザに、回線アクセスカード１１５を通して経路設定される２本の
通信回線または通信路に対するマニュアルの直接アクセスを提供するためにジャ
ック１４４を含む。ＭＯＮ（モニタ）、ＯＵＴ（出力）、およびＩＮ（入力）と
して垂直に整列して図示されている設備ジャック１４４のそれぞれは、２本の通
信回線（通信路）のある特定の一方に対応する。
【００４８】 さらに図１３と図１４に示されるように、単一パッチ回路１４０を組み込む回
線アクセスカード１１５は、通信回線回路の設備側１００への直接的なアクセス
を可能にするパッチ接続１４０を提供することによってテストアクセスシステム
内で動作するように設計されている。パッチ回路１４０は、３つのインターフェ
ース、つまり、設備インターフェース１３０、切替え回路インターフェース１３
６、およびジャックインターフェース１４４を含む。設備インターフェース１３
０は、ネットワークの設備側１００（ＲＸＦ、ＴＸＦ）の装置に接続される。切
替え回路インターフェース１３６は、回線アクセスカード１１５の切替え回路１
５０に内部で接続される。ジャックインターフェース１４４は、それぞれＩＮ、
ＯＵＴ、およびＭＯＮと名前が付けられた回線アクセスカード１１５の前面に位
置する３つのジャックコネクタを含む。
【００４９】 ＩＮジャックは、ＩＮジャックが成端している装置へのアクセスを提供し、装
置入力にアクセスする、または信号を伝送するために使用することができる。Ｏ
ＵＴジャックは、ＯＵＴジャックが成端している装置からの出力信号を監視する
ために使用される。ＭＯＮジャックは、通信信号を監視することによってである
が、通信回線回路を切断することなく、ＯＵＴジャックとして類似した機能を果
たす。このようにして、ＭＯＮジャックは、回線動作に妨げられずに、デジタル
回線の使用中の橋絡に対処する。好ましい実施態様では、ＯＵＴジャックは、そ
れがパッチコードをＯＵＴジャック回路に挿入することによって成端される装置
からの出力信号を観察する。
【００５０】 図１４にも示されるように、単一パッチ回路１４０を含む回線アクセスカード
１１５は、さらに、回線アクセスカード１１５の前面パネル上に位置する２つの
ＬＥＤ１４８、１５２を含む。第１ＬＥＤは、「ＴＥＳＴ／ＡＬＭ」ＬＥＤを表
す二色ＬＥＤ１４８である。ＬＥＤ１４８は、回線アクセスポートに対応する。
「テスト」モードでは、ＴＥＳＴ／ＡＬＭ ＬＥＤ１４８は、一定の通信回線ポ
ートがテスト中であるかどうかを示すためにある特定の色（例えば、緑）に照明
する。「警報」モードでは、ＴＥＳＴ／ＡＬＭ ＬＥＤ１４８は、一定の通信回
線ポートで警報状態を示すために第２色（例えば、琥珀色）に照明する。
【００５１】 第２ＬＥＤは、「ＴＲＡＣＥＲ」ＬＥＤを表す赤いＬＥＤ１５２である。ＴＲ
ＡＣＥＲ ＬＥＤ１５２は、さまざまな通信回線回路間での交差接続の識別のた
めに使用される。ＴＲＡＣＥＲ ＬＥＤ１５２は、パッチコードがその対応する
ＭＯＮジャックに差し込まれると、あるいはトグルスイッチまたはプランジャス
イッチなどの対応するスイッチによって起動されると点灯する。初期回路と交差
接続するその他の通信回線回路も、その対応するトレーサＬＥＤ１５２を照明さ
せる。これは、ワイヤラップまたはテルコ（Ｔｅｌｃｏ）ピンコネクタを介して
、テストアクセス装置の背面のトレーサピンを、その他のテストアクセス装置の
トレーサピンと接続することによって達成される。
【００５２】 図１５から図１７に示されるように、代替の実施態様では、回線アクセスカー
ド１１５は、電気通信網の設備側１００と関連付けられたパッチ回路１４０、さ
らにネットワークの装置側２００に接続されるパッチ接続１８０を利用すること
によってデュアルパッチ機能を組み込んでよい。この実施態様によって、回線ア
クセスカード１１５は、遠隔場所（つまり、装置場所から入信する通信回線のカ
スタマ敷地）での回線テストを容易にするために、デュアルパッチ回路１４０と
１８０を組み込む。例えば、図１２Ｂに示されている回線アクセスカード１１５
のグループは、デュアルパッチ機能を組み込んだ回線アクセスカードを描く。
【００５３】 前述されたように、それぞれのパッチ回路１４０、１８０は、それぞれ、装置
インターフェース１３０、１３１、切替え回路インターフェース１４１、１８１
、およびジャックインターフェース１４４，１８４を含む。各パッチ回路１４０
、１８０の装置インターフェース１３０、１３１は、通信回線回路の設備側１０
０または装置側２００に接続される。各パッチ回路１４０、１８０の切替え回路
インターフェース１４１、１８１は、回線アクセスカード１１５の切替え回路１
５０に内部で接続される。各パッチ回路１４０、１８０のジャックインターフェ
ース１４４、１８４は、回線アクセスカード１１５の前面に位置する３つのジャ
ックコネクタを含む。
【００５４】 該３つのジャックコネクタは、それぞれＩＮ、ＯＵＴおよびＭＯＮと名付けら
れ、装置側または設備側２００、１００のどちらかと関連付けられている。それ
ぞれのＩＮジャックは、それが終端となる装置にアクセスを提供し、信号を装置
（または設備）入力に伝送するために使用することができる。ＯＵＴジャックは
、それが成端している装置からの出力信号を監視するために使用される。ＭＯＮ
ジャックは、前述されたように、その動作を妨げることなく、デジタル回線の使
用中橋絡に備える。
【００５５】 一時接続は、ジャック回路間でパッチコードを使用して行い、それにより失敗
したサービスの復旧を可能にしたり、あるいは切り換えのために一時的な接続を
提供してよい。クロスコネクトシステム環境の中で使用されるときのパッチコー
ドの通常の機能とは、回路の結線接続によって確立された成端点とは異なる成端
点に回路接続を一時的に向け直すことである。例えば、パッチコードのプラグが
回線アクセスカード１１５のＯＵＴジャックまたはＩＮジャックに差し込まれる
とき、結線接続への回路接続は切断され、その結果、パッチコード上で新しい導
電性経路が確立される。それから、パッチコードの反対側の端に接続されるパッ
チプラグは、パッチコードを通して新しい、一般的に一時的な交差接続を確立す
るために、同じシャシーまたは別のシャシー内に備えられる別の回線アクセスカ
ードの適切なＯＵＴまたはＩＮジャックに差し込まれてよい。
【００５６】 接続をマニュアルで追跡調査する目的で交差接続される回路のそれぞれのＴＲ
ＡＣＥ ＬＥＤを接続するために、クロスコネクトシステム内でＴＲＡＣＥワイ
ヤまたはランプワイヤが使用されることが、業界で理解されている。本発明のさ
らなる実施態様に従って、ＴＲＡＣＥワイヤおよびパッチコード接続は、走査信
号が一意の走査方法論によって伝送されてよい走査バスを効果的に形成するため
に活用されてよい。一意の走査プロトコルと組み合わせて、テストアクセス／ク
ロスコネクトシステム環境の中でＴＲＡＣＥワイヤおよびパッチコード接続を型
にはまらずに使用することにより、集中化されたクロスコネクトデータベース内
で維持、更新されてよい接続ステータス情報の連続的なほぼリアルタイムの獲得
に備えられる。
【００５７】 従来のマニュアルの追跡調査方法を使用して、数十万の接続の残りの正確な接
続レコードを維持することが、不可能でないにしても、実際的ではないことが判
明していることは当業者によって容易に理解される。本発明のこの実施態様によ
るクロスコネクト監視システムは、任意の数の接続に関して接続レコードの正確
で連続する電子的な監視および更新に備える。電子的かつ自動的に連続的にシス
テムの回線アクセスカードを通して確立されるすべての接続を特定、監視するイ
ンテリジェントデジタルテストアクセス／クロスコネクトシステムのこの実施態
様を実現するための詳細は、これを参照することによりそれ全体としてここに組
み込まれる、１９９７年１１月１７日に提出され、「クロスコネクトシステムの
接続を電子的に特定するためのシステムおよび方法（Ｓｙｓｔｅｍ ａｎｄ Ｍ
ｅｔｈｏｄ ｆｏｒ Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃａｌｌｙ Ｉｄｅｎｔｉｆｙｉｎｇ
Ｃｏｎｎｅｃｔｉｏｎｓ ｏｆ ａ Ｃｒｏｓｓ−Ｃｏｎｎｅｃｔ Ｓｙｓｔ
ｅｍ）」と題される、共有されている米国出願番号第０８／９７２，１５９号に
記載される。
【００５８】 図１５は、デュアルパッチ回路機能を備えた回線アクセスカード１１５のレイ
アウトを示す。図１５の路線アクセスカードは本発明の実施態様による多数のイ
ンターフェースを含む。４８フィンガーＤＩＮコネクタ１１７は、図１２Ａに示
されている制御バス１１３およびテスト／モニタバス１１６にインターフェース
を提供する。このインターフェース１１７は、データバス、制御信号、および電
源回線を含む。インターフェース１１９は、この実施態様では４つのＢＮＣコネ
クタを構成する４つの通信回線ポート接続を含む。２つのパッチ回路１４０，１
８０および対応するパッチコネクタセット１４４，１８４は、通信回線回路の設
備側および装置側１００，２００にマニュアルアクセスを提供する。
【００５９】 さらに、図１６と図１７を参照すると、デュアルパッチング機能を備える回線
アクセスカードは、回線アクセスカード１１５の前面パネルに位置するＬＥＤ１
４８，１５２の２つのグループを含む。第1グループは、「ＴＥＳＴ／ＡＬＭ」
と名付けられる二色ＬＥＤ１４８から成り立っている。ＬＥＤ１４８のそれぞれ
は、回線アクセスポートに対応する。「テスト」モードでは、ＴＥＳＴ／ＡＬＭ
ＬＥＤ１４８は、一定の通信回線ポートがテスト中であるかどうかを示すため
に、ある特定の色（例えば、緑）を照らす。「警報」モードでは、ＴＥＳＴ／Ａ
ＬＭ ＬＥＤ１４８は、一定の通信回線ポートでの警報状態を示すために、第２
色（例えば琥珀色）を照らす。
【００６０】 第２グループは、「トレーサ」と名付けられ、さまざまな通信回線回路間で確
立される交差接続の識別のために使用される２つの赤いＬＥＤ１５２から成り立
つ。ＴＲＡＣＥＲ ＬＥＤ１５２は、パッチコードが対応するＭＯＮジャックに
差し込まれるとき、またはトグルスイッチまたはプランジャスイッチなどの対応
するスイッチによって起動されるときに照らす。初期の通信回線回路とクロスコ
ネクトするそれ以外のすべての通信回線回路も、その対応するＴＲＡＣＥＲ Ｌ
ＥＤを照明させる。これは、ワイヤラップまたはテルコ（Ｔｅｌｃｏ）ピンコネ
クタを介して、テストアクセス装置の背面にあるトレーサピンをその他のテスト
アクセス装置のトレーサピンと接続することによって達成される。
【００６１】 単一パッチ接続機能またはデュアルパッチ接続機能のどちらかを含む本発明の
回線アクセスカード１１５に加えて、回線アクセスカード１１５は、図１８およ
び図１９に図示されるように、多岐に渡る回線異常および誤差情報がないか通信
回線回路を監視することができる、性能監視機能９０も含んでよい。ここでは図
１８と図１９を参照すると、各回線アクセスカード１１５には、数多くの異なる
通信回線の設備側および装置側１００、２００の両方から回線故障を収集するた
めの監視機能が備えられる。本発明のこの実施態様による監視機能は、無パッチ
、単一パッチ、およびデュアルパッチの回路構成要素を利用するテストアクセス
システムで実現されてよい。
【００６２】 好ましくは、本発明の回線アクセスカード１１５に組み込まれる性能監視機能
回路９０は、高インピーダンス装置を表し、その結果、回線アクセスカード１１
５を通過する情報信号は劣化されない。この機能は、通信回線の非侵入性の（ｎ
ｏｎｉｎｔｒｕｓｉｖｅ）監視を可能にするために重要である。１つの実施態様
では、回線情報はつねに収集され、１５分レジスタ、1時間レジスタ、および1日
レジスタに記憶される。性能監視は、回線アクセスポート９１、９３のそれぞれ
で同時に発生する。すなわち、多重化は好ましい実施態様で発生せず、性能監視
機能が、関連付けられた回線（例えば、ＲＸＥ、ＲＸＦ）のそれぞれから同時リ
アルタイムデータを受け入れることを可能にする。情報はレジスタに記憶され、
管理システム１２によって任意の時点で検索できる。
【００６３】 いったん警報状態が検出されると、ＣＰＵはただちに警報状態信号を、受信時
にそれをユーザに提示する管理システムに送信する。各警報イベントは、時刻お
よび日付のスタンプ付きで、ＣＰＵを介して管理ソフトウェアに提示される。レ
ジスタ情報は、任意の時点でＣＰＵから収集されてよい。ページング機能付きの
ＳＮＭＰ管理ソフトウェアが使用される場合、管理ソフトウェアは、警報の発生
ごとにユーザをページングすることができる。テストアクセスシステム環境での
使用に十分に適した本発明の遠隔管理システムは、これにより参照してここに全
体として組み込まれる、１９９８年１２月２３日に提出され、「クロスコネクト
通信網用のテストアクセス性能監視システムおよび方法（Ｔｅｓｔ Ａｃｃｅｓ
ｓ ａｎｄ Ｐｅｒｆｏｒｍａｎｃｅ Ｍｏｎｉｔｏｒｉｎｇ Ｓｙｓｔｅｍ
ａｎｄ Ｍｅｔｈｏｄ ｆｏｒ Ｃｒｏｓｓ−Ｃｏｎｎｅｃｔ Ｃｏｍｍｕｎｉ
ｃａｔｉｏｎ Ｎｅｔｗｏｒｋｓ）」と題される、共有される米国出願番号第０
９／２１９，８１０号に開示されている。
【００６４】 本発明のテストアクセスシステムの性能監視および警報機能によってサポート
されている性能パラメータは、近端回線性能パラメータ、および近端経路性能パ
ラメータおよび警報を含む。性能監視および警報の機能は、回線および経路の両
方についてその異常や欠陥を監視、検出することを目的とする。回線異常は、過
去のパルスの同じ極性の非ゼロパルスとして発生する二色違反（ＢＰＶ）、およ
び１５個の連続ゼロ（ＡＭＩ）より大きいゼロ文字列長さだけではなく、７個の
連続するゼロ（Ｂ８ＺＳ）より大きいゼロ文字列長さも含む過剰なゼロ（ＢＸＺ
）を含む。
【００６５】 経路異常は、ＣＲＣ−６エラーおよびフレームビット誤差（ＦＥ）を含む。Ｃ
ＲＣ−６エラーは、受信済みのＣＲＣ−６コードが受信されたデータから計算さ
れたＣＲＣ−６コードに一致しないときに検出される。フレームビット誤差は、
受信されたフレームビットパターンで発生するビット誤差である。回線欠陥は、
信号の損失（ＬＯＳ）を含むが、経路欠陥は、同期はずれ（ＯＯＦ）、誤差の著
しいフレーム（ＳＥＦ）、および警報表示信号（ＡＩＳ）を含む。誤差の著しい
フレームは、ウィンドウ内で２つ以上のフレームビット誤差の発生を含む。ＡＩ
Ｓイベントは、少なくとも３秒間存在する少なくとも９９．９％という「１の（
ｏｎｅ‘ｓ）密度」を有するフレームのない（ｕｎｆｒａｍｅｄ）信号の発生を
示す。これは、上流伝送中断を示す。
【００６６】 近端回線故障の場合、ＬＯＳは、ＬＯＳ欠陥が２．５秒、±０．５秒の間続い
たときに発生する。装置がそれが入信信号を失ったと判断するときに発信方向で
伝送される信号を示す遠端回線故障が遠隔警報表示（ＲＡＩ）を含む一方、近端
回線故障はＡＩＳおよびＬＯＳを含む。その他のインジケータは、近端回線故障
カウント（近端回線故障のカウント）および遠端回線故障カウントを含む。近端
回線性能パラメータは、コード違反回線（ＣＶ−Ｌ）、誤差のある第２回線（Ｅ
Ｓ−Ｌ）、および誤差の著しい第２回線（ＳＥＳ−１）を含む。近端回線性能パ
ラメータは、コード違反経路（ＣＶ−Ｐ）、誤差のある第２経路（ＥＳ−Ｐ）、
誤差の著しい第２経路（ＳＥＳ−Ｐ）、ＳＥＦ／ＡＩＳ第２経路（ＳＡＳ−Ｐ）
、および使用不可能な第２経路（ＵＡＳ−Ｐ）を含む。サポートされている警報
は、それぞれ、信号の損失（ＬＯＳ）に対応する赤警報、青警報、黄警報、警報
表示信号（ＡＩＳ）および遠隔警報表示（ＲＡＩ）を含む。
【００６７】 図２０から図２２は、本発明の遠隔テストアクセスシステム２０１を使用する
数多くの電気通信回線２０２の非侵入性監視を容易にするための多様な接続構成
を含む。遠隔テストアクセスシステム２０１と１台または複数台のテスト装置２
０３間の選択された通信回線２０２を接続する方法は、データ転送速度、特定の
テスト装置２０３の感度、およびテストアクセスシステム２０１とテスト装置２
０３間の距離を含む、数多くの要因に依存して変化する。
【００６８】 図２０を参照して、数多くの通信回線２０２が、結線接続または前述されたパ
ッチ接続のどちらかまたは両方を使用して通過する遠隔テストアクセスシステム
２０１が示される。選択された通信回線２０１は、テスト装置２０３に接続され
、テスト装置２０３による非侵入性監視およびテストにさらされる。図２０の実
施態様では、ブリッジレジスタ２０５が、テストアクセスシステム２０１および
テスト装置２０３を通過する選択された通信回線２０２の間で結合される。ブリ
ッジレジスタ２０５の値は、典型的にはテストにさらされる通信回線の特徴イン
ピーダンスの９倍から１０倍大きい。
【００６９】 ブリッジレジスタ２０５の値は、テスト装置２０３が、通信回線２０２での正
常のデータの流れを妨げることを防止するほど十分に大きくなくてはならない。
この構成では、典型的には、テストにさらされる通信回線２０２の特徴インピー
ダンスに同等であるテスト装置２０３の入力インピーダンスと関連するブリッジ
レジスタ２０５は、監視点での認知できる信号減衰（例えば、−２０ｄＢ）を生
じさせることが認識されるだろう。一定のテスト装置２０３は、通信回線テスト
の目的のために大いに減衰された信号を回復することができない可能性があるこ
とが注記される。
【００７０】 図２１に示されるテスト構成に関しては、テストアクセスシステム２０１とテ
スト装置２０３の間の接続配列が、監視点での０ｄＢの信号減衰に備える。この
構成では、テスト装置２０３は、テストにさらされる通信回線２０１での正常な
データの流れを破壊することを避けるために、十分に高い入力インピーダンスを
提供することを要求される。一般的には、テストアクセスシステム２０１とテス
ト装置２０３の間の接続は非常に短くなければならない。図２１に示されるテス
ト構成は、主題の通信回線２０２上での正常なデータの流れのかなりの度合いで
妨害されると、相対的に高いデータ転送速度が生じる結果となる可能性があるた
め、ＤＳ−１データ転送速度などの相対的に低いデータ転送速度に最もよく適し
ている。
【００７１】 図２２に描かれているテスト構成は、監視点での０ｄＢ信号減衰、およびテス
トを受ける通信回線２０２上でのデータの正常な流れの最小の妨害に備える。図
２２のテスト構成は、特に、監視機能および／またはテスト機能を実行するため
に回線レベル信号を必要とする（または好む）テスト装置２０３を使用する高い
データ転送速度の伝送路２０２の監視によく適している。図２２に示される実施
態様によって、ブリッジレジスタ２０５は、テストアクセスシステム２０１およ
びテスト装置２０３を通過する選択された通信回線２０２の間で結合される。図
２０で示される実施態様でのように、ブリッジレジスタ２０５の値は、テストを
受ける通信回線上での正常なデータの流れの妨害を引き起こさないほど十分に高
く、その結果、監視点での認知できる信号減衰を生じさせる。
【００７２】 増幅器２０７は、ブリッジレジスタ２０５とテスト装置２０３の対応する入力
の間に結合される。増幅器２０７は、好ましくは、テスト信号経路内にブリッジ
レジスタ２０５を含めた結果生じる減衰を相殺するために同等なレベルまで、テ
ストを受ける信号の利得を増す。増幅器２０７は、指定されたテスト装置２０３
に最も適切な方法でテストを受ける信号を調整する回路要素を含んでよい。例え
ば、増幅器２０７は、ブリッジレジスタ２０５によって減衰される信号の増幅か
ら生じることがある位相歪みを最小限に抑えるために濾過要素を含んでよい。
【００７３】 本発明を実現する好ましいシステムおよび方法は、例示的な目的で開示されて
きたが、当業者は、本発明の範囲から逸脱することなく、多くの追加、修正、お
よび置き換えが可能であることを理解するだろう。例えば、システムは、ＤＳ−
３通信リンクにテストアクセスを提供するために記述されてきた。本発明は、欧
州Ｅ−３プロトコル（３４Ｍｂｐｓ）またはＳＴＭ−１プロトコル（１５５Ｍｂ
ｐｓ）を含む、その他の伝送速度およびプロトコルのために活用されてよいこと
が熟慮される。さらに、本発明が、ヨーロッパで、毎秒約１０億ビット（Ｂｂｐ
ｓ）以上の信号速度だけではなく、５６５．１４８Ｍｂｐｓという容量を提供す
る、ＤＳ−５信号などの実質的にさらに高い周波数信号に関して活用されてよい
ことが熟慮される。すべてのこのような変形は、添付請求項に提供されるように
、本発明の範囲内にあることが意図される。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明の実施の形態に係るテストアクセスシステムの前方からの
斜視図である。
【図２】 本発明の実施の形態に係るテストアクセスシステムの後方からの
斜視図である。
【図３】 本発明の実施の形態により、回線アクセスモジュールのフロント
及びリアカードがどのように接続するかを説明するマザーボードの側面図である
。
【図４】 本発明の実施の形態に係るテストアクセスシステムの動作を説明
する機能的なブロック図である。
【図５】 本発明の実施の形態に係る、リアテストカードとリア回線カード
との間の切換えアクセスを可能とするモニタリングバスのアーキテクチャ（arch
itecture）を説明するテストアクセスシステムの機能的なブロック図である。
【図６】 本発明の実施の形態に係る回線アクセスモジュールのリア回線カ
ードを概略的に示すブロック図である。
【図７Ａ】 本発明の実施の形態に係るタイプ−１のリアテストカードを概
略的に示すブロック図である。
【図７Ｂ】 本発明の実施の形態に係るタイプ２のリアテストカードを概略
的に示すブロック図である。
【図８】 本発明の実施の形態に係る回線アクセスモジュールのフロント回
線カードの動作を説明する機能的なブロック図である。
【図９】 本発明の実施の形態に係るテストカードモジュールのフロントテ
ストカードの動作を説明する機能的なブロック図である。
【図１０】 本発明の好適な実施の形態において用いられるような回路カー
ドの一部を示す断片的な断面図である。
【図１１】 有効な伝送回線を構成するように設計されるピン構成を備えた
、本発明の好適な実施の形態において用いられるような９６ピンコネクタを説明
する概略図である。
【図１２Ａ】 個々の回線アクセスカードに装備される単一又は複数のパッ
チ回路を用いて、交差接続機能を組み込む、本発明のテストアクセスシステムを
示す図である。
【図１２Ｂ】 個々の回線アクセスカードに装備される単一又は複数のパッ
チ回路を用いて、交差接続機能を組み込む、本発明のテストアクセスシステムを
示す図である。
【図１３】 本発明の１つの実施の形態による、単一の交差接続パッチを組
み込む通信回線アクセスカードのブロック図，正面図および端子のレイアウトで
ある。
【図１４】 本発明の１つの実施の形態による、単一の交差接続パッチを組
み込む通信回線アクセスカードの正面図である。
【図１５】 本発明の１つの実施の形態による、単一の交差接続パッチを組
み込む通信回線アクセスカードの端子のレイアウトである。
【図１６】 本発明の他の実施の形態による、デュアル交差接続パッチパネ
ルを組み込む、通信回線アクセスカードのブロック図である。
【図１７】 本発明の他の実施の形態による、デュアル式の交差接続パッチ
パネルを組み込む、通信回線アクセスカードの正面図である。
【図１８】 本発明の１つの実施の形態による、性能モニタリング機能及び
単一交差接続パッチング機能を組み込む通信回線アクセスカードを概略的に示す
図である。
【図１９】 本発明の１つの実施の形態による、性能モニタリング機能及び
単一交差接続パッチング機能を組み込む通信回線アクセスカードを概略的に示す
図である。
【図２０】 本発明の遠隔テストアクセスシステムを通過する選択された通
信回線と１つ又はそれ以上の遠隔テストデバイスとの間に接続を確立するための
テスト構成を、ブロック図形式で示す。
【図２１】 本発明の遠隔テストアクセスシステムを通過する選択された通
信回線と１つ又はそれ以上の遠隔テストデバイスとの間に接続を確立するための
別のテスト構成を、ブロック図形式で示す。
【図２２】 本発明の遠隔テストアクセスシステムを通過する選択された通
信回線と１つ又はそれ以上の遠隔テストデバイスとの間に接続を確立するための
また別のテスト構成を、ブロック図形式で示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＣＹ， ＤＥ，ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，Ｉ Ｔ，ＬＵ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＯＡ(ＢＦ，ＢＪ ，ＣＦ，ＣＧ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＧＷ，ＭＬ， ＭＲ，ＮＥ，ＳＮ，ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＧＨ，ＧＭ，Ｋ Ｅ，ＬＳ，ＭＷ，ＳＤ，ＳＬ，ＳＺ，ＴＺ，ＵＧ，ＺＷ )，ＥＡ(ＡＭ，ＡＺ，ＢＹ，ＫＧ，ＫＺ，ＭＤ，ＲＵ， ＴＪ，ＴＭ)，ＡＥ，ＡＬ，ＡＭ，ＡＴ，ＡＵ，ＡＺ， ＢＡ，ＢＢ，ＢＧ，ＢＲ，ＢＹ，ＣＡ，ＣＨ，ＣＮ，Ｃ Ｒ，ＣＵ，ＣＺ，ＤＥ，ＤＫ，ＤＭ，ＥＥ，ＥＳ，ＦＩ ，ＧＢ，ＧＤ，ＧＥ，ＧＨ，ＧＭ，ＨＲ，ＨＵ，ＩＤ， ＩＬ，ＩＮ，ＩＳ，ＪＰ，ＫＥ，ＫＧ，ＫＰ，ＫＲ，Ｋ Ｚ，ＬＣ，ＬＫ，ＬＲ，ＬＳ，ＬＴ，ＬＵ，ＬＶ，ＭＡ ，ＭＤ，ＭＧ，ＭＫ，ＭＮ，ＭＷ，ＭＸ，ＮＯ，ＮＺ， ＰＬ，ＰＴ，ＲＯ，ＲＵ，ＳＤ，ＳＥ，ＳＧ，ＳＩ，Ｓ Ｋ，ＳＬ，ＴＪ，ＴＭ，ＴＲ，ＴＴ，ＴＺ，ＵＡ，ＵＧ ，ＵＺ，ＶＮ，ＹＵ，ＺＡ，ＺＷ (72)発明者 デイビッド・フォーニ アメリカ合衆国07631ニュージャージー州 イーグルウッド、ファウンテン・ロード 269番 (72)発明者 ハイム・ジェイコブソン アメリカ合衆国07670ニュージャージー州 テナフライ、イネス・ロード20番 (72)発明者 ドブリン・ツォツコフ アメリカ合衆国07660ニュージャージー州 リッジフィールド・パーク、６ストリート 15番 (72)発明者 ロバート・ジェイ・コジー アメリカ合衆国55337ミネソタ州バーンズ ビル、パークウッド・レイン13516番 Ｆターム(参考） 5K030 GA11 JA10 KX30 LE07 MA04 MB04 MC08 【要約の続き】 された通信回線間に交差接続をマニュアルで確立するた めに、また、通信回線接続を、選択されたテストデバイ スに対して再度もたらすために備える。テストアクセス システム及び方法が、種々の高速デジタル伝送回線プロ トコルを受け入れる。上記システムを介して連結される 伝送回線は、およそ数十，数百，数千のメガビット／秒 （Ｍｂｐｓ）の伝送速度をもつ高速デジタル伝送回線を 有している。

Claims (52)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 １つ又はそれ以上のテストデバイスにより複数の通信回線に
    アクセスするシステムであり、複数の通信回線の各々は、該システムを介して連
    結され、また、第１の電気通信終端場所での第１の終端器と、第２の電気通信終
    端場所での第２の終端器とを有しており、 各々が、少なくとも１つの第１の電気通信終端場所で終端をなす通信回線と、
    少なくとも１つの第２の電気通信終端場所で終端をなす通信回線とに連結される
    複数の回線アクセスデバイスと、 その１つ又はそれ以上が上記回線アクセスデバイスのうちの１つに連結された
    、１本のバスを規定する複数のリレーと、 上記バスに連結されたテストデバイスインターフェースであって、上記リレー
    のうちの作動させられた１つ又はそれ以上が、該テストデバイスインターフェー
    スを介して、上記テストデバイスのうちの選択された１つに、上記通信回線のう
    ちの選択された１つを連結させるテストデバイスインターフェースと、 回線アクセスデバイスの各々に装備され、第１又は第２の電気通信終端場所の
    一方で終端をなす選択された通信回線と、選択されたテストデバイスとの間に交
    差接続をマニュアルで確立するための、若しくは、第１又は第２の電気通信終端
    場所でそれぞれ終端をなす選択された通信回線間で接続をマニュアルで確立する
    ためのパッチ回路と、を有しているシステム。
  2. 【請求項２】 上記パッチ回路の各々は、それに対応する回線アクセスデバ
    イスに連結された通信回線へのローカルアクセスを提供する、請求項１記載のシ
    ステム。
  3. 【請求項３】 上記パッチ回路の各々は、上記交差接続をマニュアルで確立
    するための、入力（ＩＮ）ポートおよび出力（ＯＵＴ）ポートを有している、請
    求項１記載のシステム。
  4. 【請求項４】 上記パッチ回路の各々は、入力（ＩＮ）ポート，出力（ＯＵ
    Ｔ）ポート及びモニタ（ＭＯＮ）ポートを有している、請求項１記載のシステム
    。
  5. 【請求項５】 上記入力（ＩＮ）ポート，出力（ＯＵＴ）ポート及びモニタ
    （ＭＯＮ）ポートの各々が、ジャック式のコネクタを有している、請求項４記載
    のシステム。
  6. 【請求項６】 上記パッチ回路の各々は、入力（ＩＮ）ポート，出力（ＯＵ
    Ｔ）ポート，モニタ（ＭＯＮ）ポート、及び、１つ又はそれ以上の視覚的な指示
    器を有しており、 交差接続された回線アクセスデバイスの各対のモニタ（ＭＯＮ）ポートと連結
    された視覚的な指示器は、各モニタ（ＭＯＮ）ポートの少なくとも１つに対する
    パッチコネクタの差し込みに応じて明るくなる、請求項１記載のシステム。
  7. 【請求項７】 上記回線アクセスカードの各々は、スイッチ回路を有してお
    り、 上記回線アクセスカードのパッチ回路及びスイッチ回路の各対は、上記選択さ
    れたテストデバイスと選択された通信回線へ連結される設備との間に接続をもた
    らすために共働する、請求項１記載のシステム。
  8. 【請求項８】 上記テストデバイスインターフェースは、上記選択された通
    信回線と選択されたテストデバイスとの間に双方向の接続をもたらす、請求項１
    記載のシステム。
  9. 【請求項９】 上記リレー，テストデバイスインターフェース、及び、回線
    アクセスデバイスの一部を通過するように規定される１つ又はそれ以上の信号経
    路が、利用されていないポイント間の接続を規定する、請求項１記載のシステム
    。
  10. 【請求項１０】 上記通信回線が、高速デジタル伝送回線を有している、請
    求項１記載のシステム。
  11. 【請求項１１】 上記通信回線が、約数十，数百若しくは数千メガビット毎
    秒（Ｍｂｐｓ）の伝送速度をもつ高速デジタル伝送回線を有している、請求項１
    記載のシステム。
  12. 【請求項１２】 上記システムが更にシャシーを有しており、上記回線アク
    セスデバイス及びテストデバイスインターフェースの各々が、上記シャシーに設
    けられた複数のスロットの１つに取外し出来るように差し込み可能である、請求
    項１記載のシステム。
  13. 【請求項１３】 上記システムが更に制御デバイス及び通信デバイスを有し
    ており、 上記制御デバイス及び通信デバイスの各々は、上記シャシーに設けられた複数
    のスロットの１つに取外し出来るように差し込み可能である、請求項１２記載の
    システム。
  14. 【請求項１４】 上記テストデバイスインターフェースの各々は、動作状態
    の情報を連絡するための１つ又はそれ以上の視覚的な指示器を有している、請求
    項１記載のシステム。
  15. 【請求項１５】 上記テストデバイスインターフェースは、テストカードを
    有しており、該テストカードが、上記テストデバイスインターフェースの動作状
    態を連絡するための１つ又はそれ以上の視覚的な指示器を有している、請求項１
    記載のシステム。
  16. 【請求項１６】 上記テストカードは、フロントテストカード及びリヤテス
    トカードを有しており、該フロントテストカードが、上記テストデバイスインタ
    ーフェースの動作状態を連絡するための１つ又はそれ以上の視覚的な指示器を有
    している、請求項１１記載のシステム。
  17. 【請求項１７】 上記回線アクセスデバイスの各々は、回線カードを有して
    おり、該回線カードの各々が、動作状態情報を連絡するための１つ又はそれ以上
    の視覚的な指示器を有している、請求項１記載のシステム。
  18. 【請求項１８】 上記回線アクセスデバイスの各々は、上記通信回線及びフ
    ロント回線カードの少なくとも一方に連結されるリヤ回線カードを有しており、
    該フロント回線カードは、対応するリヤ回線カードを制御し、また、上記パッチ
    回路に連結される少なくともＩＮ及びＯＵＴ接続ジャックを有している、請求項
    １記載のシステム。
  19. 【請求項１９】 上記システムは、デジタル信号交差接続（ＤＳＸ）の環境
    で動作する、請求項１記載のシステム。
  20. 【請求項２０】 上記システムは、更に、上記バスとテストデバイスインタ
    ーフェースとの間に連結されるブリッジレジスタを有している、請求項１記載の
    システム。
  21. 【請求項２１】 上記システムは、更に、上記ブリッジレジスタの各々とテ
    ストデバイスインターフェースとの間に連結される増幅器を有している、請求項
    ２０記載のシステム。
  22. 【請求項２２】 １つ又はそれ以上のテストデバイスによる複数の通信回線
    に対するアクセスをもたらすためのシステムであり、 各々が通信回線の少なくとも１つに連結され、また、交差接続を確立するため
    のパッチ回路を有している複数の回線アクセスデバイスと、 テストデバイスインターフェースと、 バスを規定する複数のリレーであって、該リレーのうちの活性化された１つ又
    はそれ以上が、上記テストデバイスインターフェースを介して、上記テストデバ
    イスのうちの選択された１つに、上記通信回線のうちの選択された１つを連結さ
    せるリレーと、 上記回線アクセスデバイス及びテストデバイスインターフェースに連結され、
    それらを制御する制御デバイスと、 上記制御デバイスへ連結され、遠隔制御デバイスにより上記システムへの遠隔
    アクセスを可能とする通信デバイスと、を有しているシステム。
  23. 【請求項２３】 上記通信デバイスは、上記システムと遠隔制御デバイスと
    の間での情報の通信をもたらす、請求項２２記載のシステム。
  24. 【請求項２４】 上記通信デバイスは、上記システムと遠隔制御デバイスと
    の間での構成又は状態についての情報の通信をもたらす、請求項２２記載のシス
    テム。
  25. 【請求項２５】 上記遠隔制御デバイスは、コンピュータ又は終端器を有し
    ている、請求項２２記載のシステム。
  26. 【請求項２６】 上記通信デバイスは、上記通信回線をテストするために、
    上記システムと遠隔制御デバイスとの間の情報の通信をもたらす、請求項２２記
    載のシステム。
  27. 【請求項２７】 上記パッチ回路の各々は、上記交差接続をマニュアルで確
    立するための、入力（ＩＮ）ポートおよび出力（ＯＵＴ）ポートを有している、
    請求項２２記載のシステム。
  28. 【請求項２８】 上記パッチ回路の各々は、入力（ＩＮ）ポート，出力（Ｏ
    ＵＴ）ポート及びモニタ（ＭＯＮ）ポートを有している、請求項２２記載のシス
    テム。
  29. 【請求項２９】 上記入力（ＩＮ）ポート，出力（ＯＵＴ）ポート及びモニ
    タ（ＭＯＮ）ポートの各々が、ジャック式のコネクタを有している、請求項２８
    記載のシステム。
  30. 【請求項３０】 １つ又はそれ以上のテストデバイスによる複数の通信回線
    に対するアクセスをもたらすためのシステムであり、 各々が通信回線の少なくとも１つに連結され、また、交差接続を確立するため
    のパッチ回路を有している複数の回線アクセスデバイスと、 テストデバイスインターフェースと、 バスを規定する複数のリレーであって、該リレーのうちの活性化された１つ又
    はそれ以上が、上記テストデバイスインターフェースを介して、上記テストデバ
    イスのうちの選択された１つに、上記通信回線のうちの選択された１つを連結さ
    せるリレーと、を有しており、 上記リレー，テストデバイスインターフェース、及び、上記回線アクセスデバ
    イスの少なくとも一部が、選択された通信回線のインピーダンスにほぼ等しい特
    性インピーダンスをもつ不平衡の伝送回線の特性をあらわす、システム。
  31. 【請求項３１】 上記リレー，テストデバイスインターフェース、及び、回
    線アクセスデバイスの一部を通過するように規定される１つ又はそれ以上の信号
    経路が、利用されていないポイント間の接続を規定する、請求項３０記載のシス
    テム。
  32. 【請求項３２】 上記特性インピーダンスが約７５オームである、請求項３
    ０記載のシステム。
  33. 【請求項３３】 上記リレー，テストデバイスインターフェース、及び、回
    線アクセスデバイスの一部を通過するように規定される１つ又はそれ以上の信号
    経路が、ストリップライン構成を有している、請求項３０記載のシステム。
  34. 【請求項３４】 上記リレー，テストデバイスインターフェース、及び、回
    線アクセスデバイスの一部を通過するように規定される１つ又はそれ以上の信号
    経路が、プリント回路基板（ＰＣＢ）上又は内に設けられている、請求項３０記
    載のシステム。
  35. 【請求項３５】 上記プリント回路基板（ＰＣＢ）が、ストリップライン構
    成を有する１つ又はそれ以上の信号経路が設けられる複数の層を有している、請
    求項３４記載のシステム。
  36. 【請求項３６】 上記リレー，テストデバイスインターフェース、及び、回
    線アクセスデバイスの一部を通過するように規定される１つ又はそれ以上の信号
    経路が、複数の基準面の間に配置された信号コンダクタを有している、請求項３
    ０記載のシステム。
  37. 【請求項３７】 上記システムは、更に、上記信号コンダクタの各々の両側
    にそれぞれ配置された第１及び第２のガードコンダクタを有しており、該ガード
    コンダクタは、所定位置にて基準面に連結され、電磁気誘引（ＥＭＩ）遮蔽をも
    たらす、請求項３６記載のシステム。
  38. 【請求項３８】 コネクタのピンが、複数の遮蔽コンダクタピンがその周り
    に配置される信号コンダクタピンを有している、請求項３６記載のシステム。
  39. 【請求項３９】 上記コネクタが、ＤＩＮコネクタを有している、請求項３
    ６記載のシステム。
  40. 【請求項４０】 上記システムが、テストモード及びループバックモードで
    選択式に動作する、請求項３０記載のシステム。
  41. 【請求項４１】 上記通信回線が、約数十，数百若しくは数千メガビット毎
    秒（Ｍｂｐｓ）の伝送速度をもつ高速デジタル伝送回線を有している、請求項３
    ０記載のシステム。
  42. 【請求項４２】 上記システムが、更に、上記バスとテストデバイスインタ
    ーフェースとの間に連結されるブリッジレジスタを有している、請求項３０記載
    のシステム。
  43. 【請求項４３】 上記システムが、更に、上記ブリッジレジスタの各々とテ
    ストデバイスインターフェースとの間に連結される増幅器を有している、請求項
    ４２記載のシステム。
  44. 【請求項４４】 １つ又はそれ以上のテストデバイスにより複数の通信回線
    へのアクセスをもたらす方法であって、 複数の通信回線のうちの１つを選択するステップと、 複数のテストデバイスインターフェース出力のうちの１つを選択するステップ
    と、 上記選択された通信回線と選択されたテストデバイスインターフェース出力と
    の間に、結線接続の若しくは一時的な信号伝導経路を確立するステップと、 上記選択されたテストデバイスインターフェース出力に連結されたテストデバ
    イスによるアクセスに際して、選択されたテストデバイスインターフェース出力
    へ上記選択された通信回線を介して伝送される情報信号を提供するステップと、
    を有している方法。
  45. 【請求項４５】 上記信号伝導経路を確立するステップが、上記一時的な信
    号伝導経路をマニュアルで確立することを有している、請求項４４記載の方法。
  46. 【請求項４６】 上記信号伝導経路を確立するステップが、上記複数の通信
    回線のうちの１つを、上記選択されたテストデバイスインターフェース出力に対
    して、選択式に連結しまた切り離す１つ又はそれ以上のリレーを活性化すること
    を有している、請求項４４記載の方法。
  47. 【請求項４７】 上記情報信号を提供するステップが、更に、上記選択され
    たテストデバイスインターフェース出力に対して情報信号を提供すること、又は
    、上記選択された通信回線に対して情報信号をループバックすることを選択式に
    有している、請求項４４記載の方法。
  48. 【請求項４８】 上記方法が、更に、上記選択されたテストデバイスインタ
    ーフェース出力に連結される上記選択された通信回線又はテストデバイスの状態
    を視覚的に指示することを有している、請求項４４記載の方法。
  49. 【請求項４９】 上記複数の通信回線のうちの１つを選択するステップが、
    更に、上記複数の通信回線のうちの１つを遠隔操作で選択することを有している
    、請求項４４記載の方法。
  50. 【請求項５０】 上記複数のテストデバイスインターフェース出力のうちの
    １つを選択するステップが、更に、上記複数のテストデバイスインターフェース
    出力のうちの１つを遠隔操作で選択することを有している、請求項４４記載の方
    法。
  51. 【請求項５１】 上記方法が、更に、上記選択されたテストデバイスインタ
    ーフェース出力に対して上記情報信号を提供する前に、上記情報信号を減衰させ
    ることを有している、請求項４４記載の方法。
  52. 【請求項５２】 上記方法が、更に、上記選択されたテストデバイスインタ
    ーフェース出力に対して減衰された情報信号を提供する前に、該減衰された情報
    信号を増幅させることを有している、請求項５１記載の方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007526584A (ja) * 2004-03-03 2007-09-13 ハベル、インコーポレーテッド データ端末装置、電力供給、およびデータ収集のための回路分離を備えるミッドスパン型パッチ・パネル
JP2007535837A (ja) * 2004-03-03 2007-12-06 ハベル、インコーポレーテッド データ端末装置、電力供給、およびデータ収集のための回路分離を備えるミッドスパン型パッチ・パネル

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6561827B2 (en) 2000-12-18 2003-05-13 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) Apparatus for interconnecting multiple nodes
US6892171B2 (en) * 2001-02-28 2005-05-10 Intel Corporation Method for modeling a reflected electrical wave in a digital simulation
US6757855B1 (en) * 2001-04-09 2004-06-29 Advanced Micro Devices, Inc. Integrated test apparatus and method therefor
US20060256931A1 (en) 2002-03-11 2006-11-16 Udo Bendig Contact bank measurement arrangement including a contact bank telecommunications module provided with contact bank or a measurement arrangement and telecommunications assembly including plural modules
US20030208592A1 (en) * 2002-05-01 2003-11-06 Taylor William Scott System and method for proactive maintenance through monitoring the performance of a physical interface
US7155004B1 (en) * 2002-11-22 2006-12-26 Adc Incorporated System and method of delivering DSL services
US7409053B1 (en) 2002-11-22 2008-08-05 Adc Telecommunications, Inc. System and method of providing DSL services on a telephone network
US6898720B2 (en) * 2002-12-24 2005-05-24 Sunrise Telecom Incorporated Scalable extensible network test architecture
US7302361B2 (en) * 2003-11-26 2007-11-27 Trend Communications, Inc. Modular telecommunication test unit
US7643631B2 (en) * 2005-08-26 2010-01-05 Adc Telecommunications, Inc. Enclosure for broadband service delivery system
US20070047526A1 (en) * 2005-08-26 2007-03-01 Bryan Kennedy Systems and methods for conecting between telecommunications equipment
US7522721B2 (en) * 2005-08-26 2009-04-21 Adc Telecommunications, Inc. System for broadband service delivery
US7946863B2 (en) 2008-04-25 2011-05-24 Adc Telecommunications, Inc. Circuit protection block
CN110297282B (zh) * 2019-08-06 2021-11-12 深圳面元智能科技有限公司 地震勘探设备测试仪

Family Cites Families (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4538868A (en) 1982-09-07 1985-09-03 Magnetic Controls Company Terminal block
US4663776A (en) * 1982-12-08 1987-05-05 Wiltron Company System for accessing electrical circuits and relay switch thereof
US4611101A (en) * 1984-08-29 1986-09-09 Tii Computer Systems, Inc. Method and apparatus for testing communication systems
US4840568A (en) 1987-03-31 1989-06-20 Adc Telecommunications, Inc. Jack assembly
DE3713262A1 (de) 1987-04-18 1988-11-03 Heidelberger Druckmasch Ag Steckverbindungs-codierung fuer elektrische kabel
US4833708A (en) 1987-11-19 1989-05-23 Remote Switch Systems, Inc. Remote cable pair cross-connect system
US4815104A (en) 1988-01-11 1989-03-21 Telect, Inc. Digital telecommunications network, cross-connect module
US4916444A (en) 1988-03-25 1990-04-10 King Fred N Method and apparatus for mapping communications media
US4901004A (en) 1988-12-09 1990-02-13 King Fred N Apparatus and method for mapping the connectivity of communications systems with multiple communications paths
US4845736A (en) 1988-04-19 1989-07-04 Pacific Bell Cross-connect switch and method for providing test access thereto
JPH0213197A (ja) 1988-06-30 1990-01-17 Fujitsu Ltd 蓄積プログラム制御システムにおけるオフィスデータの自動編集方式
US4989202A (en) * 1988-10-14 1991-01-29 Harris Corporation ISDN testing device and method
DE3918144A1 (de) 1989-05-31 1990-12-06 Siemens Ag Verfahren zur ermittlung von rufnummernverteilungen auf hauptverteilern
US4998240A (en) * 1989-08-15 1991-03-05 C & P Of Virginia Method of and system for remote testing of integrated services digital networks
US5107532A (en) 1989-09-22 1992-04-21 Cable Management International, Inc. Automated documentation system for a communications network
GB2236398A (en) 1989-09-29 1991-04-03 James Alexander Carter Self documenting patch panel
US5195902A (en) 1990-05-11 1993-03-23 Rit-Rad Interconnection Technologies Ltd. Electrical connector
US5052940A (en) 1990-05-11 1991-10-01 Rit-Rad Interconnection Technologies Ltd. Hermaphroditic self-shorting electrical connector
IL97227A0 (en) 1991-02-13 1992-05-25 Bynet System Applic Ltd Patching panel
US5166970A (en) 1991-06-10 1992-11-24 Ward Timothy K Multi-conductor identifier with voice communication capability
US5343461A (en) 1991-08-27 1994-08-30 Ameritech Services, Inc. Full duplex digital transmission facility loop-back test, diagnostics and maintenance system
US5715474A (en) 1992-04-30 1998-02-03 Motorola, Inc. Simultaneous control of radio frequency modem in a multi-tasking system using a single session manager program with separate command queue for each application program
US5483467A (en) 1992-06-10 1996-01-09 Rit Technologies, Ltd. Patching panel scanner
US5325361A (en) 1992-12-01 1994-06-28 Legent Corporation System and method for multiplexing data transmissions
JP2658801B2 (ja) 1993-04-28 1997-09-30 日本電気株式会社 ディジタルクロスコネクトシステム
US5523747A (en) 1993-05-03 1996-06-04 The Whitaker Corp. Asset management in a cable management system
US5394503A (en) 1993-10-08 1995-02-28 Data Switch Corporation Optical fiber connection monitoring apparatus, patch panel control system and method of using same
US5432847A (en) 1994-03-29 1995-07-11 Telect, Inc. Low frequency telecommunication digital network interface patch panel
US5448675A (en) 1994-06-09 1995-09-05 At&T Ipm Corp. Telecommunications distribution frame with tracing
IL110859A (en) 1994-09-04 1999-12-31 Rit Techn Ltd Interconnection monitor system for telephone network
US5546282A (en) 1995-05-02 1996-08-13 Telect, Inc. Telecommunication network digital cross-connect panels having insertable modules with printed circuit board mounted coaxial jack switches
US5594347A (en) 1995-05-22 1997-01-14 Adc Telecommunications, Inc. Non-invasive testing of video signals with a jack module and amplification circuit
JP3512948B2 (ja) 1996-05-31 2004-03-31 株式会社アドバンテスト 通信用測定器
EP0814620A3 (en) 1996-06-21 2001-04-25 Lucent Technologies Inc. Method and apparatus for crossconnecting transmission members in the outside distribution plant of a telecommunications network
US5831979A (en) 1996-06-21 1998-11-03 Lucent Technologies Inc. Method and apparatus for crossconnecting transmission members in the outside distribution plant of a telecommunications network for providing access to customer lines to a plurality of service providers
FR2751103B1 (fr) 1996-07-15 1998-10-30 Assistance Reseau Et Implantat Installation pour la commande et le controle des connexions entre les conducteurs de deux reseaux distincts
US5761272A (en) 1996-11-26 1998-06-02 Mci Communications Corporation Method of and system for performing telecommunications stress testing
US6314102B1 (en) 1997-07-10 2001-11-06 Alcatel Telecommunications system for providing both narrowband and broadband services to subscribers
US5982744A (en) 1997-08-14 1999-11-09 Alcatel Usa Sourcing, L.P. High density unit shelf and method
US6438226B1 (en) 1997-10-06 2002-08-20 Ccs Holdings, Inc. XDSL splitter assembly for main distribution frame
WO1999034549A1 (en) 1997-12-24 1999-07-08 Adc Telecommunications, Inc. Test access system and method for digital communication networks
AR018733A1 (es) 1998-04-13 2001-12-12 Adc Telecommunications Inc Disposicion y metodo para acceder a una pluralidad de lineas de comunicacion por medio de uno o mas dispositivos de ensayo
US6259676B1 (en) 1998-06-17 2001-07-10 Nokia Telecommunications Oy Upgrading of subscriber connection
US6333931B1 (en) 1998-12-28 2001-12-25 Cisco Technology, Inc. Method and apparatus for interconnecting a circuit-switched telephony network and a packet-switched data network, and applications thereof

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007526584A (ja) * 2004-03-03 2007-09-13 ハベル、インコーポレーテッド データ端末装置、電力供給、およびデータ収集のための回路分離を備えるミッドスパン型パッチ・パネル
JP2007535837A (ja) * 2004-03-03 2007-12-06 ハベル、インコーポレーテッド データ端末装置、電力供給、およびデータ収集のための回路分離を備えるミッドスパン型パッチ・パネル
JP4712792B2 (ja) * 2004-03-03 2011-06-29 ハベル、インコーポレーテッド データ端末装置、電力供給、およびデータ収集のための回路分離を備えるミッドスパン型パッチ・パネル

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