KR200156793Y1 - 전전자교환기의 가입자 라인 시험패널 - Google Patents

Abstract

본 고안은 가입자 라인에 대한 시험용 커넥터를 별도의 패널상에 복수개 갖춤으로써 보다 안정된 시험환경에서 가입자 라인의 시험을 간편하게 수행할 수 있도록 한 전전자교환기의 가입자 라인 시험패널을 제공하기 위한 것이다.

이를 위해 본 고안은, 시험하고자 하는 가입자블럭의 백보드(1)상에 존재하는 각 채널별 Tip, Ring단자에 일정길이의 신호선(4)을 매개로 접속되는 복수의 채널별 커넥터를 갖추고, 그 신호선(4)은 일정길이의 켸이블(3)내부를 통하도록 구성되어, 가입자 라인의 시험을 보다 간편하게 수행할 수 있을 뿐만 아니라 시험에 소요되는 시간을 단축시킬 수 있고, 보다 안정된 시험환경을 조성하게 된다.

Description

전전자교환기의 가입자 라인 시험패널

제1도는 일반적인 가입자블럭의 백보드(back board)를 나타낸 도면.

제2도는 본 고안의 바람직한 실시예에 따른 전전자교환기의 가입자 라인 시험패널을 나타낸 도면이다.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1 : 가입자블럭의 백보드 2 : 가입자 라인 시험패널

3 : 케 이 블 4 : 신호선

본 고안은 전전자교환기의 가입자 라인 시험패널에 관한 것으로, 보다 상세하게는 가입자 라인의 테스트를 손쉽게 행할 수 있도록 한 전전자교환기의 가입자 라인 시험패널에 관한 것이다.

1939년 경부터 진공관을 이용하여 전자교환기의 개발이 착수된 이래, 여러 차례의 현장실험과 반도체에 대한 기술경험을 바탕으로 1965년 5월에 세계 최초의 전자교환기인 No.1 ESS가 미국 ATT에 의하여 개발 실용화되었고, 그 후 새로운 기술의 도입으로 전자교환기는 계속적인 발전을 하여 왔다.

이러한 전자교환기는 트랜지스터와 집적회로 등 고속으로 동작되는 전자소자를 이용하여 가입자의 통화로를 신속정확하게 접속하고 유지보수작업을 용이하게 하며, 복잡한 정보사회를 선도할 수 있도록 융통성(flexibility)과 신뢰도(reliability) 및 다양한 서비스를 제공할 수 있는 시스템으로서, 요즘에는 소위 전전자교환기 라고 하는 TDX계열의 전자교환기 등이 주로 실용화되고 있는 실정이다.

그러한 전전자교환기는 다양한 통신망의 특성에 대처할 수 있도록 한국전기통신연구소를 중심으로 소정의 교환기 생산업체가 공동개발한 대용량 교환기로서, 농어촌의 소용량 규모에서부터 대도시의 대용량의 규모까지 경제적으로 구성할 수 있도록 모듈화 구조에 입각한 새로운 기능의 추가가 용이하고, 32비트 상용 마이크로프로세서를 사용한 제이기능의 분산화 및 고속 IPC(lnterProcessor Communication ; 프로세서간 통신)에 의한 메시지통신이 가능하도록 하였으며, 광섬유(optic fiber)링크에 의한 서브시스템간 고속통신이 이루어지도록 하였다.

이와 같은 전전자교환기에서는 가입자 라인을 사용하여 교환기의 여러가지 기능을 시험하게 되는데, 그 시험항목으로는 특수서비스 호처리 및 운용시험, 아날로그 가입자 시험, 중계호 기능시험, 과금시험기능 등이 있다.

그런데, 이러한 시험(예컨대, 아날로그 가입자 시험)을 수행하기 위해서는 가입자와 교환기사이의 연결을 절단하고, 가입자선로에 시험장비(TEC 및 TEM, 전화기 등)를 연결하여 가입자 선로 두선중 한선을 Tip, 다른 한선을 Ring으로 구분하여, Tip-Ring간, Tip-Ground간 및 Ring-Ground간에 대해 직류전압, 교류전압, 루프저항, 절연저항, 정전용량 등을 측정한다거나 오프훅검출(off-hook detection)을 수행하여 가입자 선로가 정상적으로 서비스가능한지를 확인하게 된다.

다시 말해서, 예를 들어 제1도에 도시된 바와 같이, 가입자블럭의 백보드(1) 커넥터에 있는 가입자 라인의 Tip, Ring단자에 전화기를 직접 연결하여 오프훅검출에 대한 시험을 수행하게 되는 바, 현재에는 상기 가입자블럭의 백보드(1)에 상호 일정간격을 유지하면서 일정길이로 돌설된 커넥터핀에 2핀 커넥터(female ; 전화기에 연결된 것임)를 차례대로 또는 각각 연결한 후 채널별로 해당 수화기를 오프혹시킴으로써 해당 채널에 대한 서비스제공의 정상여부를 가리게 된다.

그로 인해, 비정상적인 2핀 커넥터접속으로 인해 시험검증시 불안정성이 발생될 뿐만 아니라, 합선으로 인해 통화불통이 되는 경우가 자주 발생되었고, 일일이 각 채널별 커넥터핀(Tip, Ring단자)에 전화기를 정확히 연결하기 위해 세심한 신경을 기울여야 될 뿐만 아니라 시간낭비적인 요소가 발생되었다.

따라서 본 고안은 상기한 사정을 감안하여 이루어진 것으로, 그 목적은 가입자 라인에 대한 시험용 커넥터를 별도의 패널상에 복수개 갖춤으로써 보다 안정된 시험환경에서 가입자 라인의 시험을 간편하게 수행할 수 있도록 한 전전자교환기의 가입자 라인 시험패널을 제공함에 있다.

상기한 목적을 달성하기 위해 본 고안의 바람직한 실시예에 따르면, 시험하고자 하는 가입자블럭의 백보드상에 존재하는 각 채널별 Tip, Ring단자에 일정길이의 신호선을 매개로 접속되는 복수의 채널별 커넥터를 갖추고, 그 신호선은 일정길이의 케이블내부를 통하도록 된 전전자교환기의 가입자 라인 시험패널이 제공된다.

바람직하게, 상기 채널별 커넥터는 암놈이다.

상기와 같이 구성된 본 고안의 실시예에 따르면, 가입자 라인 시험패널에 갖추어진 각 채널별 커넥터에 전화기의 커넥터를 접속시키게 되면 간편하게 각 채널에 따른 시험(예컨대, 오프훅검출)올 수행하게 된다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 고안의 실시예에 대해 보다 상세히 설명한다.

제2도는 본 고안의 바람직한 실시예에 따른 전전자교환기의 가입자 라인 시험패널을 나타낸 도면으로서, 본 고안의 실시예는 가입자블럭의 백보드(1), 가입자 라인 시험패널(2), 케이블(3), 신호선(4)으로 구성된다.

동 도면에서, 상기 가입자 라인 시험패널(2)은 운용자(시험자)가 시험하고자 희망하는 가입자 라인의 채널에 전화기의 커넥터(예컨대, 수놈의 형태를 취함)를 접속할 수 있도록 하는 채널별 커넥터(예컨대, 암놈의 형태를 취함)를 다수개 갖추게 되는 바, 그 채널별 커넥터의 단자(즉, 암놈으로 형성됨)는 가입자블럭의 백보드(1)에 존재하는 각 채널별 커넥터핀(즉, Tip단자, Ring단자)과 신호선(4)에 의해 각각 연결되고, 그 신호선(4)은 일정길이의 케이블(3 ; 예컨대 원통형)에 의해 고정되게 감싸여져서 보호된다.

그리고, 상기 케이블(3)은 상기한 보호기능외에도. 미관상 보기 좋도록 하기 위해 채용되는 것이다.

이와 같이 구성된 본 고안의 실시예에 따른 전전자교환기의 가입자 라인 시험패널에 의한 시험동작에 대해 설명하면 다음과 같다.

일단, 운용자(시험자)는 케이블(3)내부에 존재하는 각 채널별 신호선(4)의 일단을 상기 가입자블럭의 백보드(1)상에 존재하는 각 채널별 Tip, Ring단자에 연결함과 더뷸어 그 각 채널별 신호선(4)의 타단을 상기 가입자 라인 시험패널(2)에 갖추어진 각 채널별 커넥터의 단자에 접속시키게 된다.

그리고 나서, 시험하고자 하는 가입자 라인의 채널(예컨대, 채널 0∼15에서 채널 1)에 전화기의 커넥터(즉, 수놈)를 꽂은 후 전화기의 수화기를 들게되면, 채널 1에 대한 오프혹(off-hook)이 정상인지 아닌지를 검출할 수 있게되는 것이다.

그리고, 시험하고자 하는 가입자 라인이 여러개인 경우, 상기 백보드(1)상의 커넥터핀을 해당 채널의 Tip, Ring단자로 이동시킬 필요없이, 전화기의 커넥터를 상기 가입자 라인 시험패널(2)상의 해당 채널의 커넥터에 접속시키기만 하면 간단히 시험할 수 있다.

그리고, 본 고안의 실시예에서는 오프혹검출에 대해 설명하였으나, 상술한 구성을 이용하여 Tip-Ring간의 직류전압, 교류전압, 루프저항, 절연저항, 정전용량 등을 측정할 수 있다.

한편, 본 고안은 상술한 실시예로만 한정되는 것이 아니라, 본 고안의 요지를 벗어나지 않는 범위내에서 수정 및 변형하여 실시할 수 있는 것이다.

이상 설명한 바와 같은 본 고안에 의하면, 가입자 라인의 시험을 보다 간편하게 수행할 수 있을 뿐만 아니라 시험에 소요되는 시간을 단축시킬 수 있고, 보다 안정된 시험환경을 조성하게 된다.

Claims (2)

1. 복수개의 채널을 가지고, 그 각각의 채널별로 한쌍의 팁(Tip)과 링(Ring)단자를 가진 가입자 블럭의 백보드(1)와, 상기 백보드(1)의 채널수에 대응되는 개수의 채널별 커넥터를 가진 라인 시험패널(2)과, 일측은 상기 백보드(1)의 채널의 팁과 링단자에 연결되고, 그 타측은 상기 라인 시험패널의 채널별 커넥터에 접속된 다수개의 신호선94)과, 상기 신호선(4)의 일정길이를 감싸는 케이블(3)로 이루어진 것을 특징으로 하는 전전자교환기의 가입자 라인 시험패널.
2. 제 1항에 있어서, 상기 채널별 커넥터는 암놈인 것을 특징으로 하는 전전자교환기의 가입자 라인 시험패널.