JPH02217808A - 光結合回路の製造方法 - Google Patents
光結合回路の製造方法Info
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Landscapes
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- Optical Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分舒〉
本発明はsII化に適した光結合回路の製造方法に関す
る。
る。
〈従来の技術〉
光回路の入出力は、この光回路が形成されている基板の
裏面を介して行うのが有利である。これは、光パワー分
布の異なる光回路同志を結合する整合回路を基板裏面に
作り付けることができるからである。
裏面を介して行うのが有利である。これは、光パワー分
布の異なる光回路同志を結合する整合回路を基板裏面に
作り付けることができるからである。
このように基板の裏面を介して光の入出力を行うために
は、第3図に示すように向きの異なる少なくとも2つの
反射面を基板の表面側に形成する必要がある。すなわち
、基板01の表面に形成されたコア02及びクラツデイ
ング03に交叉する反射面04a、04bが必要となる
が、これらの反射面04a、04bを形成するには、第
4図(a)〜(山に示す工程により溝05a、O5bを
形成する。この工程をさらに説明すると、第4図(a)
、(blは第1の反射面04aを形成する工程であり、
まず、クラツデイング03上に光回路の光軸と直交する
スリット06aを有するレジスト07mを形成し、基板
01に対して45度傾斜した方向からBCl3等のりア
クティブイオンビーム08を照射してドライエツチング
を行い、溝05mを形成する。かくて、第1の反射面0
4mが形成される。次に、再び、クラツデイング03上
に光回路の光軸と直交するスリット06bを有するレジ
スト07bを形成し、基板01に対して逆の方向に45
度傾斜した方向からBCI、等のりアクティブイオンビ
ーム08を照射して同様にドライエツチングを行い、導
05bを形成する。か(て、第2の反射面04bが形成
される。
は、第3図に示すように向きの異なる少なくとも2つの
反射面を基板の表面側に形成する必要がある。すなわち
、基板01の表面に形成されたコア02及びクラツデイ
ング03に交叉する反射面04a、04bが必要となる
が、これらの反射面04a、04bを形成するには、第
4図(a)〜(山に示す工程により溝05a、O5bを
形成する。この工程をさらに説明すると、第4図(a)
、(blは第1の反射面04aを形成する工程であり、
まず、クラツデイング03上に光回路の光軸と直交する
スリット06aを有するレジスト07mを形成し、基板
01に対して45度傾斜した方向からBCl3等のりア
クティブイオンビーム08を照射してドライエツチング
を行い、溝05mを形成する。かくて、第1の反射面0
4mが形成される。次に、再び、クラツデイング03上
に光回路の光軸と直交するスリット06bを有するレジ
スト07bを形成し、基板01に対して逆の方向に45
度傾斜した方向からBCI、等のりアクティブイオンビ
ーム08を照射して同様にドライエツチングを行い、導
05bを形成する。か(て、第2の反射面04bが形成
される。
このように傾斜する方向が異なる2つの反射面04a、
04bを形成した三次元光導波回路010の、例えば基
板01の裏面に光ファイバ020,030を配設すると
、光ファイバ020のコア020mからの入力光は第2
(D反射面04bで反射されてコア021C入り・又・
コア02からの出力光は第1の反射面04mで反射され
て光ファイバ030のコア030aに入るようになる。
04bを形成した三次元光導波回路010の、例えば基
板01の裏面に光ファイバ020,030を配設すると
、光ファイバ020のコア020mからの入力光は第2
(D反射面04bで反射されてコア021C入り・又・
コア02からの出力光は第1の反射面04mで反射され
て光ファイバ030のコア030aに入るようになる。
<511明が解決しようとする課題〉
しかしながら、上述した従来の光結合回路を製造するに
は、少なくとも2回のエツチング工程が必要となり、工
程が複超であると共に、ドライプロセスによるので反射
面04&。
は、少なくとも2回のエツチング工程が必要となり、工
程が複超であると共に、ドライプロセスによるので反射
面04&。
04bに凹凸が発生し、結合損失が大きくなるという欠
点がある。
点がある。
本発明はこのような事情に鑑み、製造工程が単純である
と共に結合損失が小さく、jI積化に適した光結合a#
の製造方法を提供することを目的とする。
と共に結合損失が小さく、jI積化に適した光結合a#
の製造方法を提供することを目的とする。
く課題を解決するための手段〉
前記目的を達成する本発明にががる光結合@路の製造方
法は、表面側に光回路を有する基板の表面に、上記光回
路に交叉する溝であってその再側面が当該先回路の光軸
と直交する面に対し傾斜して溝幅が内方に向って新手す
ると共にその側面を当該基板裏面を介して入射・出射す
る光の反射面として用いる溝を、少なくとも2個所に同
時に1回の工程で形成することを特徴とする。
法は、表面側に光回路を有する基板の表面に、上記光回
路に交叉する溝であってその再側面が当該先回路の光軸
と直交する面に対し傾斜して溝幅が内方に向って新手す
ると共にその側面を当該基板裏面を介して入射・出射す
る光の反射面として用いる溝を、少なくとも2個所に同
時に1回の工程で形成することを特徴とする。
〈作 用〉
再側面が逆方向に傾斜して溝幅が内方に向って新手する
溝を形成し、この溝の側面を反射面として、基板の裏面
を介して入射・出射を行うようにしている。よって、同
形状の溝を少なくともzaI所に形成すれば逆方向に傾
斜する反射面ができ、且っ1工程で製造ができろように
なる。
溝を形成し、この溝の側面を反射面として、基板の裏面
を介して入射・出射を行うようにしている。よって、同
形状の溝を少なくともzaI所に形成すれば逆方向に傾
斜する反射面ができ、且っ1工程で製造ができろように
なる。
又、この溝の形成を、塩化水素酸、臭化水素酸あるいは
リン酸からなるA液と過酸化水素水あるいは飽和臭素水
からなるB液と水あるいは酢酸からなるC液とを脛合し
てなるエツチング液を用いて湿式で行うことにょし、凹
凸がなく結合損失が小さい反射面を容易に製造すること
ができる。かかるエツチング液によると、側面と底面と
のエツチング速度が極端に異なるので、再側面が傾斜し
て最終的には断面がV形の溝となり、その側面の傾斜の
割合はAiとB液とC液との混合比により変化する。
リン酸からなるA液と過酸化水素水あるいは飽和臭素水
からなるB液と水あるいは酢酸からなるC液とを脛合し
てなるエツチング液を用いて湿式で行うことにょし、凹
凸がなく結合損失が小さい反射面を容易に製造すること
ができる。かかるエツチング液によると、側面と底面と
のエツチング速度が極端に異なるので、再側面が傾斜し
て最終的には断面がV形の溝となり、その側面の傾斜の
割合はAiとB液とC液との混合比により変化する。
く実 施 例〉
以下、本発明を実施例に基づいて説明する。
第1図には本実施例にかかる光結合回路を示す断面図、
第2図はその製造工程を示す説明図である。これらの図
面に示すように、三次元先導波間$10には光ファイバ
20,30が結合されているが、本実施例では三次元先
導波間@ioをInP系の半導体で作成した場合につい
て説明する。
第2図はその製造工程を示す説明図である。これらの図
面に示すように、三次元先導波間$10には光ファイバ
20,30が結合されているが、本実施例では三次元先
導波間@ioをInP系の半導体で作成した場合につい
て説明する。
InPからなる基板11上にはコア12及びクラツデイ
ング13が形成されているが、コア12は厚さ0.1μ
mのInGaAsP、幅3 pmのものであゆ、クラツ
デイング13はInPで厚さ3μmのものをInP基板
11上に通常のエピタキシャル成長法で作成したもので
ある。
ング13が形成されているが、コア12は厚さ0.1μ
mのInGaAsP、幅3 pmのものであゆ、クラツ
デイング13はInPで厚さ3μmのものをInP基板
11上に通常のエピタキシャル成長法で作成したもので
ある。
そして、かかる三次元光導波回路10のコア12及びク
ラツデイング13が形成された表面側には反射面14a
、14bを得るためニ2 g所にv形溝15 a p
15 b f)’形成すしている。これらV形溝15a
、15blj、光回路の光軸と直交する方向に形成され
ており、その再側面が光軸に直交する面に対し傾斜して
当該溝の輻が内方に向って新手する断面V形となってい
る。また、再側面の傾斜角はほぼ45°で等しく 、f
lj 15 aの図中内側の側面及び115bの図中内
側の側面、すなわち反射面14a及び14bは互いに逆
方向ではあるが光回路の光軸に対してほぼ45°に傾斜
している。
ラツデイング13が形成された表面側には反射面14a
、14bを得るためニ2 g所にv形溝15 a p
15 b f)’形成すしている。これらV形溝15a
、15blj、光回路の光軸と直交する方向に形成され
ており、その再側面が光軸に直交する面に対し傾斜して
当該溝の輻が内方に向って新手する断面V形となってい
る。また、再側面の傾斜角はほぼ45°で等しく 、f
lj 15 aの図中内側の側面及び115bの図中内
側の側面、すなわち反射面14a及び14bは互いに逆
方向ではあるが光回路の光軸に対してほぼ45°に傾斜
している。
したがって、反射面14a、14bに対応する基板11
の裏面側に、光ファイバ20゜30を基板表面に直交す
るように配設することにより、例えば光ファイバ20の
コア20aからコア1zへの入力及びコア12から光フ
ァイバ30のコア30aへの出力が可能となる。
の裏面側に、光ファイバ20゜30を基板表面に直交す
るように配設することにより、例えば光ファイバ20の
コア20aからコア1zへの入力及びコア12から光フ
ァイバ30のコア30aへの出力が可能となる。
次に第2図(a)、(b)を参照しながら実施例のV形
溝の製造方法を説明する。
溝の製造方法を説明する。
まず、第2図(、)に示すように、三次元光導波間g8
10のクラツデイング13上に、その光回路の光軸と直
交する方向にスリンh 16g。
10のクラツデイング13上に、その光回路の光軸と直
交する方向にスリンh 16g。
16bを有するレジスト17を形成する。スリット16
g、16bは幅871mであり、上述した入射位置と出
射位置との両方の■形溝15 a、 15 bに対応
する位置に形成されている。
g、16bは幅871mであり、上述した入射位置と出
射位置との両方の■形溝15 a、 15 bに対応
する位置に形成されている。
次いで、飽和臭素水(SBWI と臭化水素と水とを混
合したエツチング液によりエツチングを行った。本実施
例ではSBW液と臭化水素水(47%)と水とを側面の
傾斜が45゛のV形溝が形成する混合比10: l:
40とし、エッチレートは0.7μm/分であり、溝
の深さは4μmであった。
合したエツチング液によりエツチングを行った。本実施
例ではSBW液と臭化水素水(47%)と水とを側面の
傾斜が45゛のV形溝が形成する混合比10: l:
40とし、エッチレートは0.7μm/分であり、溝
の深さは4μmであった。
なお、HBr、 H2O,、CH3CO0Hからなるエ
ツチング液を用いて同様にエツチングを行ったところ、
同様な■形溝が形成できた。
ツチング液を用いて同様にエツチングを行ったところ、
同様な■形溝が形成できた。
また、本実施例では、InP系の基板及びクラツデイン
グのものについて行ったが、GaAs系の基板でも同様
なことが行えろ。
グのものについて行ったが、GaAs系の基板でも同様
なことが行えろ。
また、上記実施例では断面がV形となるまでエツチング
を行ったが、基板表面と平行な底面を有する断面台形状
の溝としても、その側面を同様な反射面として作用させ
ることが可能である。
を行ったが、基板表面と平行な底面を有する断面台形状
の溝としても、その側面を同様な反射面として作用させ
ることが可能である。
さらに、反射面の傾斜は例えば光ファイバを結合の容易
さからほぼ45度付近が好ましいが、他の傾斜角として
も同様な効果を奏するものである。
さからほぼ45度付近が好ましいが、他の傾斜角として
も同様な効果を奏するものである。
〈発明の効果〉
以上説明したように、本発明では略V形溝の61面を反
射面として使うため、異なる2方向の反射面を同形状の
V形溝あるいは台形溝を少な(とも2個所に形成すれば
よいので1回のプロセスで形成することができ、反射面
形成工程を大幅に簡略化できる。
射面として使うため、異なる2方向の反射面を同形状の
V形溝あるいは台形溝を少な(とも2個所に形成すれば
よいので1回のプロセスで形成することができ、反射面
形成工程を大幅に簡略化できる。
また、特定成分を混合したエツチング液を用いたウェッ
トエツチングによりV形溝あるいは台形溝を容易に形成
することができ、この場合、凹凸のない平滑な反射面と
なるので、結合損失の小さい光結合回路が製造できる。
トエツチングによりV形溝あるいは台形溝を容易に形成
することができ、この場合、凹凸のない平滑な反射面と
なるので、結合損失の小さい光結合回路が製造できる。
第1図は本発明の一実施例にかかる光結合回路を示す断
面図、第2図はその製造工程を示す説明図、第3図は従
来技術にかかる光結合回路を示す断酊図、第4図はその
製造工程を示す説明図である。 図 面 中、 10は三次元先導波回路、 11は基板、 12はコア、 13はクラツデイング、 14m、14bは反射面、 15 a、 15 bはVB溝、 16a、16bはスリット、 17はレジスト、 20゜ 0は光ファイバ) Oa。 0bはコアである。 特 許 出 願 人 日本電信電話株式会社 代 理 人
面図、第2図はその製造工程を示す説明図、第3図は従
来技術にかかる光結合回路を示す断酊図、第4図はその
製造工程を示す説明図である。 図 面 中、 10は三次元先導波回路、 11は基板、 12はコア、 13はクラツデイング、 14m、14bは反射面、 15 a、 15 bはVB溝、 16a、16bはスリット、 17はレジスト、 20゜ 0は光ファイバ) Oa。 0bはコアである。 特 許 出 願 人 日本電信電話株式会社 代 理 人
Claims (2)
- (1)表面側に光回路を有する基板の表面に、上記光回
路に交叉する溝であってその再側面が当該光回路の光軸
と直交する面に対し傾斜して溝幅が内方に向って斬小す
ると共にその側面を当該基板裏面を介して入射・出射す
る光の反射面として用いる溝を、少なくとも2個所に同
時に1回の工程で形成することを特徴とする光結合回路
の製造方法。 - (2)請求項1に記載の溝を形成するに当り、塩化水素
酸、臭化水素酸あるいはリン酸からなるA液と過酸化水
素水あるいは飽和臭素水からなるB液と水あるいは酢酸
からなるC液とを混合してなるエッチング液を用いて湿
式によりエッチングすることを特徴とする光結合回路の
製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3834889A JPH02217808A (ja) | 1989-02-20 | 1989-02-20 | 光結合回路の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3834889A JPH02217808A (ja) | 1989-02-20 | 1989-02-20 | 光結合回路の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02217808A true JPH02217808A (ja) | 1990-08-30 |
Family
ID=12522777
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3834889A Pending JPH02217808A (ja) | 1989-02-20 | 1989-02-20 | 光結合回路の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02217808A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0659163A (ja) * | 1992-01-31 | 1994-03-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学装置 |
JP2004125854A (ja) * | 2002-09-30 | 2004-04-22 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | 光導波路素子及びその製造方法 |
-
1989
- 1989-02-20 JP JP3834889A patent/JPH02217808A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0659163A (ja) * | 1992-01-31 | 1994-03-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学装置 |
JP2004125854A (ja) * | 2002-09-30 | 2004-04-22 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | 光導波路素子及びその製造方法 |
US7260288B2 (en) | 2002-09-30 | 2007-08-21 | Sumitomo Osaka Cement Co., Ltd. | Optical wave guide element, and manufacture therefor |
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