JPH02212170A - 自己走査型発光素子アレイおよびその駆動方法 - Google Patents
自己走査型発光素子アレイおよびその駆動方法Info
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Abstract
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Description
走査機能を有する発光素子アレイおよびその駆動方法に
間し、特に該発光素子アレイの駆動の高速化、長寿命化
に関するものである。
tEmitting Diode)及びL D (La
5er Diode)が知られている。 LEDは化合物半導体(GaAs、 GaP、 A
lGaAs、 I nGaAsP、 I nGaA
lAs等)のPNまたはPIN接合を形成し、これに順
方向電圧を加えることにより接合内部にキャリアを注入
、その再結合の過程で生じる発光現象を利用するもので
ある。 またLDはこのLED内部に導波路を設けた構造となっ
ている。あるしきい値電流以上の電流を流すと注入され
る電子−正孔対が増加し反転分布状態となり、誘導放射
による光子の増倍(利得)が発生し、へき開面なとを利
用した平行な反射鏡で発生した光が再び活性層に帰還さ
れレーザ発振が起こる。そして導波路の端面からレーザ
光が出ていくものである。 これらLED、LDと同じ発光メカニズムを有する発光
素子として発光機能を持つ負性抵抗素子(発光サイリス
タ、レーザサイリスタ等)も知られている。発光サイリ
スタは先に述べたような化合物半導体でPNPN構造を
作るものであり、シリコンではサイリスタとして実用化
されている。 (青木昌治編著、 「発光ダイオード」工業調査会、1
111167〜169参照) さらにこの発光サイリスタの中に導波路を設けLDとま
ったく同じ原理でレーザサイリスタを形成する事もでき
る。 (Y、Ta5hiro et、 al、 Ap
pl。 Phys、 Lett、 54(4)、 1989 p
p329−331)この発光サイリスタの基本構造及び
電流−電圧特性を第15図、第16図に示す。第15図
に示す構造はN形GaAs基板上にPNPN構造を形成
したもので通常のサイリスタとまったく同じ構成である
。第16図も同様に通常のサイリスタとまったく同じS
字形負性抵抗を表している。サイリスタも第15図に示
す様な2端子のみでなく、第17図に示す3端子サイリ
スタも知られている。 この3端子サイリスタのゲートはON電圧を制御する働
きを持ち、ONm圧はゲート電圧に拡散電位を加えた電
圧となる。またONL/た後、ゲート電極はカソード電
位とほぼ一致するようになる。 カソード電極が接地されていればゲート電極は零ボルト
となる。またこの発光サイリスタは外部から光を入射す
ることによりそのしきい電圧が低下することが知られて
いる。 さらにこの発光サイリスタの中に導波路を設けLDとま
ったく同じ原理でレーザサイリスタを形成する事もでき
る。 (田代他、1987年秋応用物理学会講演、番号
+8p−ZG−10)これらの様な発光素子、特にLE
Dは化合物半導体基板上に多数個作られ、切断されて一
つづつの発光素子としてパッケージジグされ販売されて
いる。また密着イメージセンサ用及びプリンタ用光源と
してのLEDは一つのチップ上に複数個のLEDを並べ
たLEDアレイとして販売されている。 一方密着形イメージセンサ、LEDプリンタ等では読み
取るポイント、書き込むポイントを指定するため、これ
ら発光素子による発光点の走査機能(光走査機Illり
が必要である。 しかし、これらの従来の発光素子を用いて光走査を行な
うためには、LEDアレイのなかに作られている一つ一
つのLEDをワイヤボンディング等の技術により駆動I
Cに接続し、このICで一つ一つのLEDを駆動させて
やる必要があった。 このためLEDの数が多い場合、同数のワイヤボンディ
ングが必要で、かつ、駆動ICも数多く必要となりコス
トが高くなってしまうという問題点があった。これは駆
動ICを設置するスペースを確保することが必要となり
、コンパクト化が困難という問題点を誘発していた。ま
たLEDを並べるピッチもワイヤボンディングの技術で
定まり、短ピツチ化が難しいという問題点があった。 そこで発明者らは、発光素子のターンオン電圧または電
流が、別の発光素子のON状態によって影響を受けるよ
う、即ち相互作用をするよう構成し、発光素子アレイ自
身に自己走査機能をもたせることにより、先に挙げたワ
イヤボンディングの数の問題、駆動ICの問題、コンパ
クト化、短ピツチ化の問題を解決する発明を行なった。 (例えば特願昭63−65392)この先の発明の内
容を以下簡単に記す。 第6図および第7図に示す様に、接地されたN形GaA
s基板(+)上にP形半導体層(23)、N形半導体層
(22)、P形半導体層(21)の各層を形成する。 そしてホトリソグラフィ等及びエツチングにより、分離
溝(50)を形成して各単体発光素子T (−2)〜T
(+1)に分離する。 (単体発光素子T (−2)〜
T (+1)はこれらの発光素子アレイの一部を代表す
る。)アノード電gt (40)はP形半導体層(21
)とオーミック接触を有し、ゲート電極(41)はn形
半導体層(22)とオーミック接触を有する。絶縁層(
30〉は素子と配線との短絡を防ぐためのものであり、
同時に特性劣化を防ぐための保護膜でもある。 絶!を層(30)は発光サイリスタの発光波長の光がよ
く通る材質をもちいることが望ましい、N形GaAs基
板(1)はこのサイリスタのカソードとして働く。 各単体発光素子の7ノード電極(4o)は、転送りロッ
クライン(φ1、φ2、φ3)のいずれか1本が、長平
方向にφ1、φ2、φ3の順番で繰り返す様に接続され
る。またゲート電極には負荷抵抗RLが接続される。一
方路素子間に光結合が発生すると本実施例の転送動作が
影響されることがある。これを防止するため、ゲート電
極の一部を発光素子間の分離溝のなかに入れ、光結合を
防止する構造としている。 上記発光素子アレイの動作を説明すると、まず転送りロ
ックφ3がハイレベルとなり、発光素子T(0)がON
する。この時、3端子サイリスタの特性から発光素子T
(0)のゲート電極Gθは零ボルト近くまで引き下げら
れる。 (シリコンサイリスタの場合約1ボルトである
) また、上記発光サイリスタは光を感じてそのターンオン
電圧が低下する特性を持つ0発光サイリスタをその発光
が近隣の素子に入射するよう構成しであるので、発光素
子に距離的に近い素子、または光がよくあたるよう配置
された素子はそのタージオン電圧が下がることになる。 電源電圧をVGKとすると、発光素子T (0)に近く
、入射光の光量の多い素子のゲート電圧が最も低下し、
以降順に発光素子T(0)から離れるに従いゲート電圧
は上昇していく。 次の転送りロックパルスφ1は近接の発光素子T(+)
、T (−2)及びT(4)、T (−5)等に加わる
が、これらの中で最もON電圧が低い素子は発光素子T
(1)である。次に低い素子は発光素子T (−2)と
なる。 そこで転送りロックパルスφ1のハイレベル電圧を、発
光素子T(1)のゲート電圧G1と発光素子T(−2)
のゲート電圧G−2との間に設定しておけば、発光素子
T(1)のみONさせることができ、転送りロックφ1
、φ2、φ3のハイレベル電圧を交互に互いに少しづつ
重なるように設定すれば、転送動作(3相駆動自己走査
)を行なうことができる。 上記例は、発光素子の制御電極間を光結合を用いて結合
させた物であるが、該制御電極間の結合は電気的結合で
あってもかまわない。 以下に、抵抗素子を介してネットワークを形成する例を
説明する。 第9図は平面図であり、このx−x’ラインにそっての
断面図が第10図、Y−Y’ラインにそっての断面図が
第11図である。また等価回路を第12図に示す。 第1θ図において、発光素子はn形GaAs基板(1)
上に積層したn形G aA sN (24b)、n形A
IGaA sJ (24a)、p形GaAs層(23a
)、n形GaAsFI(22a)、p形AlGaAs層
(2l b)、およびp形GaAs層(21a)からな
っている。これは活性層であるp形G aA sN (
23a)、n形G aA sN (22a)へキャリア
を閉じ込めるため、バンド幅の大きいAlGaAs層(
21b)、(24a)で活性層を挟んだ構造あり、これ
により発光効率を向上させることができる。ここで各発
光素子Tに対して基板(+)はカソードとなり、nJ!
(22)はゲート、 pl’!(2+)はアノードと
なる。各発光素子T上には、絶縁保護被膜(31)が被
覆され、各々に分離される。 各発光素子のゲー) (22)は、絶縁保護被膜(3o
)に設けられたコンタクト孔CI、 絶縁保護波11
g(30)上に設けられた金属薄膜配線(41)、
絶縁保護被膜(30)に設けられたコンタクト孔C3,
n形GaAS基板(1)上に積層されて発光素子群と分
離されたn形G aA sFl (22a)、 :]
ンタクト孔C3,金属薄膜配線(41)、 コンタク
ト孔CIを介して各々接続されている。 各発光素子のアノード電極は、絶縁保護被膜(30)に
設けられたコンタクト孔CI、 絶縁保護被膜(30
)上に設けられた金属薄膜配線(40)、 金属薄膜
配線(40)上の絶縁保護被膜(31)に設けられたコ
ンタクト孔C2を介して転送りロックラインに接続され
る。転送りロックラインはφ1、φ2、φ3の3本が形
成され、各発光素子のアノード電極は、φ1、φ2、φ
3のいずれか1本に、長さ方向に向かってφ1、φ2、
φ3の順番で繰り返し接続される。 また、各発光素子ゲー) (22)は、絶縁保護被膜(
30)に設けられたコンタクト孔CI、wAs保護被膜
(30)上に設けられた金属薄膜配線(41)、 絶
縁保護被膜(30)に設けられたコンタクト孔C3,n
形GaAs基板(1)上に積層されて発光素子群と分離
されたn形GaAs層(22a)、 コンタクト孔C
3,絶縁保護被膜(30)上に=9けられた金属薄膜配
線(42)を介して電源電圧VGKに接続されている。 上記構造の発光素子アレイの動作を説明すると、今転送
りロックラインφ3がハイレベル電圧となり発光素子T
(0)がON状態になっているとする。このとき発光素
子T(0)のノードG、Ilはほぼ零ボルトとなってい
る。すると各発光素子のゲート電極を結合した抵抗ネッ
トワークに電流が流れ、発光素子T(0)に近いノード
が最も電圧が引き下げられ、離れていくほど影響は少な
くなる0例えば次の転送りロックφ1にハイレベル電圧
が加わると、3素子おきの発光素子T(1)とT (−
2)がON可能となるが、 ノードG1のほうがノード
G−2より低い電圧となっているため、電源電圧を発光
素子T(1)が動作する電圧より高く、かつ発光素子T
(−2)が動作する電圧より低く設定しておくと、発
光素子T (1)のみをONさせることができる。この
動作を繰り返すと、3本の転送りロックラインを用いて
発光素子の走査を行なうことができる。 上記の様に、先に発明した発光素子アレイは、発光素子
のターンオン電圧または電流が、別の発光素子のON状
態によって影響を受ける様、即ち、相互作用をするよう
構成したことにより発光の自己走査機能を実現した物で
ある。 該発光素子の制御電極間の結合は、抵抗素子を介したも
のに限定されず、第13図、第14図にしめず様な電流
または電圧の一方向性のある素子を介して接続すること
も可能で、該一方向性素子を介して接続すると、2相の
転送パルスで自己走査を発生させることが出来る。 一般に光プリンタに用いる発光素子アレイは、発光点の
移動だけでなく発光強度の変調が必要となる。上記自己
走査型発光素子アレイにおいては、以下の駆動方法によ
り発光強度の変調も可能である。 (例えば特願昭63
−65392)この駆動方法の原理を第8図に示す、第
8図の上に示した回路画では特に示されてはいないが、
各発光素子のゲート端子は第12図または第13図に示
す様な電気的手段または光学的手段で接続されている、
各発光素子のアノードには転送りロックラインφ1、φ
2、φ3のいずれか1本が長平方向にφ1、φ2、φ3
の順番で繰り返し接続されている。転送りロックライン
φ1、φ2、φ3には、各々電t’R[l +、12、
I3が制御回路信号φ1により制御可能の様に接続さ
れ、発光素子T(0)にはスタートパルスφθが接続さ
れている。 転送りロックラインφ1、φ2、φ3には、転送パルス
として矩形信号が時刻tに対して各々遅れtlで印加さ
れる。各転送パルスはわずかな重なり時間を持つように
設定される。 発光素子T(0)に矩形のスタートパルスφeを印加し
、該スタートパルスにわずかな重なり時間を持つ転送り
ロックφ1、引続き転送りロックφ2、φ3、φ1を繰
り返し印加することにより、発光素子アレイは、自己走
査を始めるが、ここで制御回路信号φ1に転送りロック
φ1、φ2、φ3に同期した信号を送り、転送りロック
に電流源■1、 I2、I3を乗せると自己走査により
発光状態にある発光素子を他の発光素子よりも強く発光
させることができる。 第8図においては、ここでは発光素子T(3)の輝度を
特に強くするよう、転送りロックφ3に電流源■3を自
己走査により発光素子T(3)が発光状態になる時刻t
に乗せている。 上記自己走査型発光素子アレイは、このような方法によ
って任意の場所の輝度を上げることができ、光プリンタ
等へ画像を書き込むことが可能となる。
形成することを考える。 A4の短辺(約21 cm)相当のプリントを16ドツ
ト/■−の解像度で印字するためには約3400ビツト
必要になる。しかしながら、従来例にて説明してきた自
己走査型発光素子アレイでは、発光しているポイントは
常に一つで、この発光中の発光素子の強度を変化させて
画像を書き込む構造となっている。この方法で光プリン
タを形成すると、通常使用されている光プリンタ用LE
Dアレイ(これは画像を書き込むポイントが同時に発光
するよう駆動ICによって制御されている)に比べ、画
像書き込み時に3400倍の輝度が必要となり、書き込
み光量を同じにするためには、3400倍の電流を流す
必要がある0発光時間は逆に通常のLEDアレイに比へ
1/3400となるが、発光素子は一般的に電流が増え
ると加速度的に寿命が短くなる傾向があり、いくらデユ
ーティが1/3400とはいえ従来のLEDプリンタに
比べ、寿命が短くなってしまうという問題点があった。 第6図、第7図の構成例(光結合による方法)ではゲー
ト電極を設ける必要がなく構造が簡単で、簡単な製造工
程で製造できる。しかしながら第9図、第10図、第1
1図に示した構成例(電気的接続による方法)では、抵
抗RL−R1を設けこれらを互いに内部配線する必要が
あること、この抵抗値によって特性が支配されるため精
度良く形成する必要があること等のため製造コストが高
くなるという問題点があった。 本発明は従来問題であった画像書き込み時の高い電流注
入量を軽減し、発光素子アレイの長寿命化を行なうもの
である。
ものであって、しきい電圧もしくはしきい電流を外部か
ら制御するための制御電極を有する発光素子を多数個、
一次元、二次元、もしくは三次元的に配列し、互いに近
傍に位置する少なくとも2つの発光素子の制御電極を電
気的手段にて接続すると共に各発光素子に電源ラインを
電気的手段にて接続してネットワーク配線を形成し、各
発光素子に外部から電圧もしくは電流を印加させる複数
のクロックラインを接続した発光素子アレイであって、
該発光素子アレイを複数の発光素子よりなる複数のブロ
ックに分け、 lブロック内の全発光素子に同一のクロ
ックパルスを印加できるクロックラインを設けた発光素
子アレイである。 該lブロック内の各発光素子に同一のクロックパルスを
印加できるlブロックの発光素子と同数のクロックライ
ンを各1本づつ設ければ、lブロックごとの転送を行な
う転送パルス信号をブロックごとに印加すると共に、各
発光素子に接続するクロックラインに各々別々の変v4
信号を印加でき、この方法により発光素子アレイの駆動
の高速化および長寿命化が実現出来る。 また、上記発明は例えば、しきい電圧もしくはしきい1
!流が外部から制御可能な制御電極を有する発光素子を
多数個、一次元、二次元、もしくは三次元的に配列し、
互いに近傍に位置する少なくとも2つの発光素子の制御
電極を電気的手段にて接続すると共に各発光素子に電源
ラインを電気的手段にて接続し、各発光素子に、複数の
クロックラインの内の一つを接続した、発光素子アレイ
であって、発光素子群を複数の発光素子よりなる複数の
ブロックに分け、各ブロック内においては、各発光素子
の、クロックラインの接続された第1導電型半導体に接
する第2導電型半導体制御電極同士を接続し、かつ隣接
ブロック間は、発光素子の、バイアス電圧が印加される
第2導電型半導体に接する第1導電型半導体制御電極同
士を接続し、同一ブロック内の発光素子には同一のクロ
ックラインを接続する構造においても実施できる。 上記例は、発光素子の制御電極同士を!気的手段により
接続する方法を改良し、電気的手段として抵抗を使用せ
ず、従って製造工程の簡素化を可能とするものである。 上記例は、抵抗を使用せずに電気的接続を行なうための
手段として、先の発明の例で示したような、クロックラ
インが印加される第】導電型半導体層(P形半導体層)
に接する第2導電型半導体層(N形半導体層)である第
1ゲート層間を抵抗R(、R1を介して電気的に接続す
る方法を取らず、クロックラインを同時に複数の互いに
隣接する発光素子に印加するよう構成し、該クロックラ
インが接続される第1導電形半導体層に隣接する第2導
電形半導体層である第1ゲート層を同一クロックライン
が接続される発光素子(ブロック)間で互いに11続し
、かつバイアス電圧に接続される第2導電形半導体層に
隣接する第1導電形半導体層である第2ゲート層を前記
クロックラインと別のクロックラインに接続される発光
素子群(別ブロック)の一部の発光素子の第2ゲート層
に接続するよう構成したものである。 本発明に使用する発光素子としては、しきい電圧もしく
はしきい電流が外部から制御可能な素子、例えばP導電
形半導体領域及びN導電形半導体領域を複数積層した負
性抵抗を有する発光素子を用いることができる。
ク化し、この各ブロックごとに発光状態の転送を行う、
また画像の書き込みはこのブロック内の各発光素子に同
時に行なう。これによって移動する発光点が従来の様に
1点のみでなく、ブロック内に含まれる複数の点となる
ため、画像書き込みに必要な電流がその分小さくなり、
長寿命化することができる。 また、各発光素子の、クロックラインの接続された第1
導電型半導体に接する第2導電型半導体制御電極同士を
接続し、かつ隣接ブロック間は、発光素子の、バイアス
電力が印加される第2導電型半導体に接する第1導電型
半導体制御電極同士を接続し、同一ブロック内の発光素
子には同一のクロックラインを接続する構造にすれば、
ハイレベル電圧が印加されるクロックラインに接続され
た複数の発光素子(ブロックとよぶ)がONしている場
合、該発光素子の第2ゲート層から別のクロックライン
が接続される発光素子の第2ゲート層Jこ電流が流れ、
従ってこの発光素子のしきい電圧を低下させる。これが
ON状態転送の引金として作用し、自己走査機能を具備
することができる。
、pJLl! (23)、nFI (22)、pl(2
1)を形成し、ホトエツチングにより素子量分M溝(5
0)を形成する。基板(1)はカソードとなり、 (2
2)がゲート、 (21)がアノードとなる− T(
−1)、T(0)、T(+)はブロックを示す。この実
施例では一つのブロックの中にアノード(21)が4つ
できることになる。三つは発光用であり、残る一つは接
続用ダイオードである。接続用ダイオード端は隣接する
素子のゲートに接続され、発光用アノードは転送りロッ
クに接続される。 上記実施例の等価回路図を第2図に示す。上記実施例は
、転送動作を行なう各ブロックに3ケの発光素子が含ま
れる例を示したものである。 発光素子(TI(−1)、Ts(−1)、Ts(−1)
)、発光素子(TI (0)、Ts(0)、TI(0)
)、発光素子(TI(−1)、Ts(−1)、TI(−
1))等がブロックを表し、ブロック内の素子TI、T
s、TIが個別の発光を行なえる。各ブロックは結合用
ダイオードD−+、Ds、D+により電気的に接続され
、発光素子は負荷抵抗RLを介して電源電圧VGKに接
続されている。各ブロックのアノードには同じクロック
が印加される0例えばブロック(−1)、(1)には転
送りロックφ2が、ブロック(0)には転送りロックφ
1が印加される。各転送り口・ンクラインφ電1・φ1
2・φ+3sφ21・φ22%φ23にはお互いのON
状態が影響しあわない様、それぞれバッファを設けてい
る。 動作は従来と同じで、 1素子づづONL/、それが転
送していたものがブロックごとの転送に変わったのみで
ある。ビット総数が同じ条件で比較すると、この例では
ブロックに3素子入っているため、従来の方式に比べ1
素子の発光時間を3倍に延長することができる。 次に画像情報を書き込む場合を考える。第2図において
各転送りロックラインφ目、φ12、φ13、φ21%
φ221φ23に電流RI ++−112−113%
l 21.122、I23が接続され、電流R1z、I
+2は転送りロックラインφ目に、電流源[12,12
2は転送りロックラインφ12に、M、流源113、+
23は転送りロックラインφ13に同門して変化する。 いま発光素子T2(0)の発光を強くして画像を書き込
む場合は転送りロックラインφ1に同期して転送りロッ
クラインφ2をハイにして電流[112、I22をON
させ電流を流させればよい。電流源+12からの電流は
発光素子T2(0)に流れ発光強度を上げる。電流[I
22の電流は素子側に流れ込まず、バッファを介して外
部に出る様にする。この電流[122の電流は発光に寄
与せず、消費電力の増加につながるので6ケの電流源を
全く別に駆動してもよい。 各ブロックのON時間は従来法の二倍であるため、同一
積分輝度を得るためにON素子に流す電流は概略]/3
でよく、従来例に比べ長寿命化することが可能である。 上記実施例の場合、電流源の電流値を約IAとすること
により、同輝度の発光を得るために電流値を設定した従
来型の発光素子アレイと比べて約10倍の素子寿命が実
現できた。 また以上の説明では発光サイリスタに限定して説明した
が同様な機能を持つデバイスであればこれに限られず何
であっても良い、さらにはレーザサイリスタであっても
よい。 尚ここではダイオード結合方式の自己走査型発光素子ア
レイを例として示したが、発光素子アレイの電気的結合
方式は抵抗ネットワークによる方式などであってもかま
わない。 またブロックに上記実施例においては、 lブロック内
に3素子含まれる場合を示したが、この数はいくっても
よい。 尚、以上述べてきた本発明の一連の実施例は基板として
半導体基板を用い、その電位を零ボルト(接地)とした
例を示してきたが、本発明はこれに限られず基板として
他の物質を用いてもよい。 もっとも近い例でいえばクロム(Cr)等をドウブした
半絶縁性G aA s基板上に実施例のn形GaAS基
板に相当するn形GaAs層を形成し、この上に実施例
で説明した構造を形成してもよい。また例えばガラス、
アルミナ等の絶縁基板上に半導体膜を形成し、この半導
体を用いて実施例の構造を形成してもよい。 実施例−2 実施例−2の等価回路図を第3図に示す。これは発光し
きい電圧、電流が外部から制御できる発光素子の一例と
して、最も標準的な三端子の発光サイリスタを用いた場
合を表している。 発光サイリスタT (−1)、 T ’(−1)、
T (0)、 T ’(0)、 T (+)、
T ’(+)は、それらが−列に並べられた構成とな
っており、発光サイリスタT (−1)とT’(−1)
1発光サイリスタT(0)とT’(の9発光サイリスタ
T(1)とT ’(1)とが、それぞれブロック(即ち
同一クロックラインが印加される発光素子のグループ;
この実施例の場合、ブロックは2素子で構成される。 )を形成している。発光サイリスタT(−1)、 T
(0)、 T (1)の各発光サイリスタはトラン
ジスタTrlS Tr2の組合せとして、同じく発光サ
イリスタT ’(−1)、 T ’(0)、 T
’(+)の各発光サイリスタはトランジスタT r3、
Tr4の組合せとして表わしている。トランジスタT
rl、Tr3はPNP トランジスタ、トランジスタT
r2、Tr4はNPN)ランジスタであり、 トラン
ジスタT rl、Tr3にはクロックライン、 トラン
ジスタT r2、Tr4にはバイアス電圧に接続される
。 発光サイリスタ間の接続としては、同しブロック内では
トランジスタT rl、Tr3のベース電極(第1ゲー
トとよぶ)、異ブロック間ではトランジスタT r2、
Tr4のベース電極(第2ゲートとよぶ)が互いに接続
される。各ブロックのトランジスタTrl、Tr3のエ
ミッタ電極には3本の転送りロックライン(φ1、φ2
、φ3)がそれぞれ3ブロックごとに接続される。クロ
ックラインには電流制限用抵抗Reが設けられる。 動作を説明する。まず転送りロックφ1がハイレベルと
なり、発光サイリスタT (−1)、T’(−1)がO
Nしているとする。この時トランジスタT r2(i)
、T r4(1)のベース電位は電流が流せるよう高い
電位(約IV)になっている。トランジスタTr4(−
1)のベースはトランジスタT r2(0)のベースに
接続されているため、発光サイリスタT(0)はONL
/やすくなっている。ON状態の影響は発光サイリスタ
T(0)のみに与えられ発光サイリスタT ’(0)に
は影響しない、同様にブロック(−2)では発光サイリ
スタT ’(−2)のみONL/やすくなり、発光サイ
リスタT (−2)には影響しない。ONしているブロ
ックに対し第2近接ブロック、即ちブロック(−3)(
+)においては影響を受けない。 この状態で次の転送りロックφ2が適当なハイレベル電
圧に設定されると発光サイリスタT(0)はただちにO
Nする。そしてトランジスタTrl(0)、トランジス
タT r3(0)のベースが発光サイリスタT(0)が
ONL/たためにほぼ零電位になっており、トランジス
タT r3(0)に電流が流れる。このため発光サイリ
スタT’(0)も続いてONすることになる。 一方転送りロックφ2が印加される別のブロック(例え
ば(−3))はブロック(−りの影響を受けず、従って
ONL/ない。この転送動作可能なハイレベル電圧の値
の範囲はかなり広く、低電圧側では1゜5〜2■、高電
圧側では各発光サイリスタの耐圧て定まる電圧まで可能
である。次に転送りロックφ1をローレベルにするとブ
ロック(−1)がOFFとなり、よってON状態は(−
1)から(0)へ移動したことになる。 各クロックパルスφ1、φ2、φ3をそのハイレベルが
互いに重なりあうように設定しておくと、ON状態発光
素子が順次転送されていくことになる。 これから自己走査可能な発光素子アレイを実現すること
ができる。 以上より本実施例では発光素子間を接続する抵抗を使用
することなく自己走査機能を実現させることが出来、か
つ転送りロックパルスの転送可能なハイレベル電圧の幅
も、低圧側では1. 5〜2V、高圧側では発光サイリ
スタの耐圧電圧まで、とかなり余裕をもたせる事が出来
る。 本実施例では転送りロックパルスが3相の場合で動作を
説明したが、3相以上であってももちろん動作する。さ
らに第3図では発光素子を一列に並べているが、配列を
直線にする必要はなく、応用によって蛇行させてもよい
し、途中から二列以上に増やすことも可能である。また
この説明では発光サイリスタに限定して説明したが同様
な゛機能を持つデバイスであればこれに限られず何てあ
っても良い。発光素子としてレーザサイリスタであって
もよい。この駆動方法は発光素子を単体部品で構成して
もよく、また次の実施例で示すようになんらかの方法に
より集積化してもよい。 上記説明では等価回路を示し説明したが、以下に集積化
して作成する場合の構成について説明するものである。 まず第3図にしめした等価回路図をより模式的に書き直
した図を第4図に示す。発光サイリスタは基本的にはP
形半導体層とN形半導体層とを4層順番に並べた構造と
して表わされる。このPNPN構造の内、PNP部分が
第3図のトランジスタTrl、Tr3に相当し、NPN
部分がトランジスタT r2、Tr4に相当する。第4
図は第3図の接続をこのPNPN構成に置き換えたもの
である。 この構成を現実的な構成としたものを第5図に示す、接
地されたN形GaAs基板(1)上にN形半導体層(2
4)、P形半導体層(23)、N形半導体層(22)、
P形半導体層(21〉の各層を形成する。そしてホトリ
ソグラフィ等及びエツチングにより、各単体発光素子T
(−1)〜T(1)に分離され、第5図の形状が形成
される。 この構造の特徴は発光素子T ’(−1)とT(0)、
発光素子T ’(0)とT(1)の下側PN部分を共通
とし、発光素子T (−1)とT’(−1)、発光素子
T(0)とT’(0)、発光素子T(1)とT”(+)
の上側PN部分を配線材料にて接続したことである。各
発光サイリスタはアノード電極(40)、ゲート電極(
41)(第1ゲート)を有し、絶縁層(30)により分
離されている。 発光サイリスタT、T’のうち、実際に発光素子として
使われるのはTであり、T’は隣接素子間の接続用とし
てもちいられる。光は上部に取り出される。 上記構成は上述の動作をする。従って、転送りロックφ
1、φ2、φ3のハイレベル電圧を順番に互いに少しづ
つ重なるように設定すれば、発光サイリスタのON状慈
は順次転送されていく、即ち、発光点が順次転送される
。 以上より本実施例では発光素子間を接続する抵抗が不要
であり、しかも転送りロックパルスの転送可能なハイレ
ベル電圧の幅も、低圧側では1゜5〜2V、 高圧側
では発光サイリスタの耐圧電圧までとかなり余裕をもた
せる事が出来る。 本実施例では転送りロックパルスとして、φ1、φ2、
φ3の3相を想定したが、より安定な転送動作を求める
場合にはこれを4相、5相と増加させてもよい。 また本実施例では発光サイリスタの構造を最も簡単な場
合について示したが、発光効率を上げるために、より複
雑な構造、層構成を導入することも本発明の範囲に含ま
れる。その具体的な例としてダブルへテロ構造の採用が
挙げられる。−例を第18図に示す。 (田代他198
7年春応用物理学会講演、番号28p−ZE−8)これ
はN形GaAs基板上に0.5μmのN形GaAs層を
積み、その上にバンドギャップの広いN形AlGaAs
を1μm、 P形G aA sFlを5nm、N形G
aAs層を1μm、 バンドギャップの広いP形Al
GaAsを1μm、そして取り出し電極とのオーミック
接触をとるためのP形GaAs層を0.15μ11積層
した構成である。発光層は間に挟まれた、1μmのN形
G aA sFjである。これは注入された電子、正孔
がバンドギャップの狭いG aA sF’に閉じ込めら
れ、この領域で再結合し発光する。 またここではPNPNのサイリスタ構成を例に説明した
が、この電位を検知し、しきい電圧が低下し、これを利
用して転送動作を行わせるという構成は、PNPN構成
のみに限られず、その機能が達成できる素子であれば特
に限定されない。例えば、PNPN4層構成でなく、6
層以上の構成でも同様な効果を期待でき、まったく同様
な自己走査機能を達成することが可能である。さらには
静電誘導(Sl)サイリスタまたは電界制御サイリスタ
(FCT)と呼ばれるサイリスタを用いてもまったく同
様である。このSlサイリスタまたはFCTは電流ブロ
ックとして働く中央のP形半導体層を空乏層で置き換え
た構造となっている(S、M、Sze 著、 Phy
sics of Sem1conductor
Devices、 2nd Edition pp23
8−240)。 またここでは半導体層としてG aAs、 A IG
aASを例示したが、これに限らず他の半導体を用い
ても良い。 尚、以上述べてきた本発明の一連の実施例は基板として
半導体基板を用い、その電位を零ボルト(接地)とした
例を示してきたが、本発明はこれに限られず基板として
他の物質を用いてもよい。 もっとも近い例でいえばクロム(Cr)等をドウブした
半絶縁性GaAs基板上に実施例のn形GaAS基板に
相当するn形GaAs層を形成し、この上に実施例で説
明した構造を形成してもよい。また例えばガラス、アル
ミナ等の絶縁基板上に半導体膜を形成し、この半導体を
用いて実施例の構造を形成してもよい。 また実施例で示してきた構成において、導電型のPとN
をそれぞれ逆転してもバイアス条件等を反転すれば全く
同様に動作し、本発明の範囲に含まれる。 以上の実施例にて説明してきた自己走査可能な発光素子
アレイは、光走査の密着イメージセンサ、光プリンタの
書き込みヘッド、デイスプレィ等が挙げられ、これらの
機器の低価格化、高性能化に大きな寄与をすることがで
きる。
化し、ブロックごとに纒めて転送するようにし、そして
画像書き込みは個々の素子を別々に行うことで、従来問
題であった画像書き込み時の高い電流注入量を軽減し、
5LEDの長寿命化を行うことができる。 以上述べてきたように、本発明により、先の発明で示し
た利点、即ち、ワイヤボンディングの数の問題、駆動I
Cの問題、コンパクト化、短ピツチ化等の種々の問題を
さらに容易に解決することができる。
等価回路図、第3図は第2の実施例の等価回路図、第4
図は第3図のPNNイー−図、第5図は同構造のの断面
図、第6図は自己走査性を有する発光素子アレイの概略
を示す等価回路図、第7図は同構成断面図、第8図は自
己走査変調動作を生じるパルスタイミングの一例を示す
図、第9図は自己走査性を有する別タイプの発光素子ア
レイの概略を示す平面図、第10図は同断面図、第11
図は同別方向断面図、第12図は同等価回路図、第13
図および第14図は自己走査性を有する別タイプの発光
素子アレイの概略を示す等価回路図および断面構成図、
第15図は従来の発光サイリスタの概略構造を示す断面
図、第16図は該発光サイリスタの電流−電圧特性を示
す図、第17図は3端子サイリスタの概略構造を示す断
面図、第18図はダブルへテロ構造の発光サイリスタの
概略を表わす断面図である。 第2図 T(−+ 1 T+−+ ) Tja+ T〈1〕 第4 図 T(1) 第5 図 第6図 jI7 図 第9 図 第10図 ↓ 番 ↓ 番 番 番 ↓ 第 図 第12図 電圧□ 電圧−電圧特性 第16図 構 造 第17図 第14図 構 造 第18図
Claims (4)
- (1)しきい電圧もしくはしきい電流を外部から制御す
るための制御電極を有する発光素子を多数個、一次元、
二次元、もしくは三次元的に配列し、互いに近傍に位置
する少なくとも2つの発光素子の制御電極を電気的手段
にて接続すると共に各発光素子に電源ラインを電気的手
段にて接続し、各発光素子に外部から電圧もしくは電流
を印加させる複数のクロックラインを接続した発光素子
アレイであつて、該発光素子アレイを複数の発光素子よ
りなる複数のブロックに分け、該クロックラインを1ブ
ロック内の全発光素子に同一の転送パルス信号を印加で
きるように設けた発光素子アレイ。 - (2)1ブロック内の各発光素子に、1ブロックの発光
素子数と同数で、該同一の転送パルス信号および各々独
立の発光信号を伝えるクロックラインを各々の発光素子
に1本づつ接続した請求項1記載の発光素子アレイ。 - (3)しきい電圧もしくはしきい電流が外部から制御す
るための制御電極を有する発光素子を多数個、一次元、
二次元、もしくは三次元的に配列し、互いに近傍に位置
する少なくとも2つの発光素子の制御電極を電気的手段
にて接続すると共に各発光素子に電源ラインを電気的手
段にて接続し、各発光素子に外部から電圧もしくは電流
を印可させる複数のクロックラインを接続した発光素子
アレイであって、該発光素子アレイを複数の発光素子よ
りなる複数のブロックに分け、各ブロックに、1ブロッ
ク内の全発光素子に同一の転送パルス信号を印加できる
、1ブロックの発光素子数と同数のクロックラインを各
々の発光素子に1本づつ接続した発光素子アレイに、1
ブロックごとの転送を行なう転送パルス信号をブロック
ごとに印加すると共に該クロックラインに変調信号を印
加する発光素子アレイの駆動方法。 - (4)しきい電圧もしくはしきい電流が外部から制御可
能な制御電極を有する発光素子を多数個、一次元、二次
元、もしくは三次元的に配列し、互いに近傍に位置する
少なくとも2つの発光素子の制御電極を電気的手段にて
接続すると共に各発光素子に電源ラインを電気的手段に
て接続し、各発光素子に、複数のクロックラインの内の
一つを接続した発光素子アレイであって、発光素子群を
複数の発光素子よりなる複数のブロックに分け、各ブロ
ック内においては、各発光素子の、クロックラインの接
続された第1導電型半導体に接する第2導電型半導体制
御電極同士を接続し、かつ隣接ブロック間は、発光素子
の、バイアス電圧が印加される第2導電型半導体に接す
る第1導電型半導体制御電極同士を接続し、同一ブロッ
ク内の発光素子には同一のクロックラインを接続したこ
とを特徴とする発光素子アレイ。
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