JPH02202066A - 半導体圧力センサ - Google Patents
半導体圧力センサInfo
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- JPH02202066A JPH02202066A JP2169089A JP2169089A JPH02202066A JP H02202066 A JPH02202066 A JP H02202066A JP 2169089 A JP2169089 A JP 2169089A JP 2169089 A JP2169089 A JP 2169089A JP H02202066 A JPH02202066 A JP H02202066A
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- pressure sensor
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- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims abstract description 24
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 10
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- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
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Landscapes
- Pressure Sensors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、半導体圧力センサに関し、さらに詳しくは、
圧力を感知するゲージ抵抗の対を2組用いてブリッジ回
路が構成された圧力センサ部および前記圧力センサ部か
らの信号を増幅する増幅回路を半導体基板上に集積化し
てなる半導体圧力センサに関する。
圧力を感知するゲージ抵抗の対を2組用いてブリッジ回
路が構成された圧力センサ部および前記圧力センサ部か
らの信号を増幅する増幅回路を半導体基板上に集積化し
てなる半導体圧力センサに関する。
[従来の技術]
第2図は、従来例のこの種の半導体圧力センサの圧力セ
ンサ部1゜の断面図であり、同図において、2はP形で
結晶面が(100)のシリコン単結晶の半導体基板、3
oは寄生トランジスタの発生を防止するためのフローテ
ィングコレクタとしてのN+形の埋め込み拡散層、5は
N−形のエピタキシャル成長層、12.13はP形の分
離拡散層、10oはこの分離拡散層12.13によって
分離形成された、例えば、1〜211II口の大きさの
N−形のアイランド、4oはこの矩形のアイランドlO
0の周辺部に拡散形成された4つのP形のゲージ抵抗(
図では2つのみが示されている)、11゜はアイランド
10.の電位をこの系の最高電位(−般には、電源電圧
VCc )に吊って、すなわち、各ゲージ抵抗4゜とア
イランド10oとの間に逆バイアス電圧を印加してゲー
ジ抵抗4゜を電気的に絶縁するためのA1配線引き出し
用のN十形の拡散層である。
ンサ部1゜の断面図であり、同図において、2はP形で
結晶面が(100)のシリコン単結晶の半導体基板、3
oは寄生トランジスタの発生を防止するためのフローテ
ィングコレクタとしてのN+形の埋め込み拡散層、5は
N−形のエピタキシャル成長層、12.13はP形の分
離拡散層、10oはこの分離拡散層12.13によって
分離形成された、例えば、1〜211II口の大きさの
N−形のアイランド、4oはこの矩形のアイランドlO
0の周辺部に拡散形成された4つのP形のゲージ抵抗(
図では2つのみが示されている)、11゜はアイランド
10.の電位をこの系の最高電位(−般には、電源電圧
VCc )に吊って、すなわち、各ゲージ抵抗4゜とア
イランド10oとの間に逆バイアス電圧を印加してゲー
ジ抵抗4゜を電気的に絶縁するためのA1配線引き出し
用のN十形の拡散層である。
この圧力センサ部1゜の周辺には、該圧力センサ部l。
からの信号を増幅する増幅回路などが、通常のバイポー
ラICの製造技術によって形成される。さらに、この半
導体圧力センサは、裏面側がエツチングによって薄肉化
されてダイヤフラムとなっており、ゲージ抵抗4゜の形
成面と反対側の面で受圧する裏面受圧形となっている。
ラICの製造技術によって形成される。さらに、この半
導体圧力センサは、裏面側がエツチングによって薄肉化
されてダイヤフラムとなっており、ゲージ抵抗4゜の形
成面と反対側の面で受圧する裏面受圧形となっている。
このような半導体圧力センサでは、圧力に感応して抵抗
値変化を示す前記ゲージ抵抗4Illの対を2組用いて
ブリッジ回路(ホイートストンブリッジ)を構成してお
り、このブリッジ回路においては、ゲージ抵抗4゜の温
度変化が4つの各ゲージ抵抗4゜について全く同一であ
れば、原理的には、オフセット電圧の温度変化量、すな
わち、オフセットドリフトは零になる。
値変化を示す前記ゲージ抵抗4Illの対を2組用いて
ブリッジ回路(ホイートストンブリッジ)を構成してお
り、このブリッジ回路においては、ゲージ抵抗4゜の温
度変化が4つの各ゲージ抵抗4゜について全く同一であ
れば、原理的には、オフセット電圧の温度変化量、すな
わち、オフセットドリフトは零になる。
[発明が解決しようとする課題]
ところが、第2図に示される従来例の半導体圧力センサ
においては、4つのゲージ抵抗4゜に対して、N″″形
のアイランド10゜が共通に1つだけであり、このアイ
ランド10.の電位を系の最高電位に吊るためのAl配
線引き出し用のN十形の拡散層11.も1つのゲージ抵
抗4゜の近傍に1つ形成されているだけであり、非対称
な構造となっている。したがって、ゲージ抵抗4゜とN
−形のアイランド10oとの間に逆バイアス電圧が印加
されたときに、4つのゲージ抵抗4゜の、いわゆる、空
乏層の延びが不均一となって、温度特性が、N1形の拡
散層の近傍のゲージ抵抗4゜と他のゲージ抵抗4゜とで
異なることになり、オフセットドリフトが大きくなると
いう難点がある。
においては、4つのゲージ抵抗4゜に対して、N″″形
のアイランド10゜が共通に1つだけであり、このアイ
ランド10.の電位を系の最高電位に吊るためのAl配
線引き出し用のN十形の拡散層11.も1つのゲージ抵
抗4゜の近傍に1つ形成されているだけであり、非対称
な構造となっている。したがって、ゲージ抵抗4゜とN
−形のアイランド10oとの間に逆バイアス電圧が印加
されたときに、4つのゲージ抵抗4゜の、いわゆる、空
乏層の延びが不均一となって、温度特性が、N1形の拡
散層の近傍のゲージ抵抗4゜と他のゲージ抵抗4゜とで
異なることになり、オフセットドリフトが大きくなると
いう難点がある。
本発明は、上述の点に鑑みて為されたものであって、圧
力センサ部および信号増幅回路を一体に集積化してなる
半導体圧力センサにおけるオフセットドリフトを低減す
ることを目的とする。
力センサ部および信号増幅回路を一体に集積化してなる
半導体圧力センサにおけるオフセットドリフトを低減す
ることを目的とする。
[課題を解決するための手段]
本発明では、上述の目的を達成するために、圧力を感知
するゲージ抵抗の対を2組用いてブリッジ回路が構成さ
れた圧力センサ部および前記圧力センサ部からの信号を
増幅する増幅回路を半導体基板上に集積化してなる半導
体圧力センサにおいて、エピタキシャル層が形成された
前記半導体基板上に、分離拡散によって前記各ゲージ抵
抗に個別的に対応するアイランドがそれぞれ分離形成さ
れ、この各アイランドには、前記各ゲージ抵抗がそれぞ
れ形成されるととしに、各ゲージ抵抗との間で逆バイア
ス電圧を印加するための配線引き出し用の拡散層がそれ
ぞれ形成されている。
するゲージ抵抗の対を2組用いてブリッジ回路が構成さ
れた圧力センサ部および前記圧力センサ部からの信号を
増幅する増幅回路を半導体基板上に集積化してなる半導
体圧力センサにおいて、エピタキシャル層が形成された
前記半導体基板上に、分離拡散によって前記各ゲージ抵
抗に個別的に対応するアイランドがそれぞれ分離形成さ
れ、この各アイランドには、前記各ゲージ抵抗がそれぞ
れ形成されるととしに、各ゲージ抵抗との間で逆バイア
ス電圧を印加するための配線引き出し用の拡散層がそれ
ぞれ形成されている。
[作用]
上記構成によれば、アイランドは、各ゲージ抵抗に個別
的に対応するように分離形成されるとともに、各アイラ
ンドには、逆バイアスを印加するための配線引き出し用
の拡散層がそれぞれ形成されているので、ゲージ抵抗と
アイランドとの間に逆バイアス電圧が印加されたときの
各ゲージ抵抗の空乏層の延びが均一となってゲージ抵抗
の位置による温度特性の差異がなくなり、これによって
、オフセットドリフトが減少することになる。
的に対応するように分離形成されるとともに、各アイラ
ンドには、逆バイアスを印加するための配線引き出し用
の拡散層がそれぞれ形成されているので、ゲージ抵抗と
アイランドとの間に逆バイアス電圧が印加されたときの
各ゲージ抵抗の空乏層の延びが均一となってゲージ抵抗
の位置による温度特性の差異がなくなり、これによって
、オフセットドリフトが減少することになる。
[実施例コ
以下、図面によって本発明の実施例について、詳細に説
明する。
明する。
第1図は、本発明の一実施例の圧力センサ部1の断面図
であり、第2図の従来例に対応する部分には、同一の参
照符を付す。
であり、第2図の従来例に対応する部分には、同一の参
照符を付す。
この半導体圧力センサも、第2図の従来例と同様に、圧
力を感知するゲージ抵抗の対を2組用いてブリッジ回路
(ホイートストンブリッジ)が構成された圧力センサ部
1および前記圧力センサ部1からの信号を増幅する増幅
回路を半導体基板上に集積化して構成されている。
力を感知するゲージ抵抗の対を2組用いてブリッジ回路
(ホイートストンブリッジ)が構成された圧力センサ部
1および前記圧力センサ部1からの信号を増幅する増幅
回路を半導体基板上に集積化して構成されている。
そして、この実施例では、オフセットドリフトを低減す
るために、圧力センサ部!を次のように構成している。
るために、圧力センサ部!を次のように構成している。
すなわち、比抵抗が数Ω〜数十ΩのP形で結晶面が(1
00)のシリコン単結晶の半導体基板2上に、寄生トラ
ンジスタの発生を防止するために、フローティングコレ
クタとしてのN十形の埋め込み拡散層3を形成する。こ
の埋め込み拡散層3は、後述のゲージ抵抗4が形成され
る領域に対応する領域に形成される。次に、比抵抗が数
ΩCIIIのN形のエピタキシャル層5が5〜15μm
の厚さで形成される。
00)のシリコン単結晶の半導体基板2上に、寄生トラ
ンジスタの発生を防止するために、フローティングコレ
クタとしてのN十形の埋め込み拡散層3を形成する。こ
の埋め込み拡散層3は、後述のゲージ抵抗4が形成され
る領域に対応する領域に形成される。次に、比抵抗が数
ΩCIIIのN形のエピタキシャル層5が5〜15μm
の厚さで形成される。
続いて、分離拡散によって埋め込み拡散層3を取り囲む
ようにP形の分離拡散層6〜9を形成し、これによって
、各ゲージ抵抗4に個別的に対応するように、N−形の
アイランドIOを、例えば、200μ1口程度の大きさ
に分離形成する。
ようにP形の分離拡散層6〜9を形成し、これによって
、各ゲージ抵抗4に個別的に対応するように、N−形の
アイランドIOを、例えば、200μ1口程度の大きさ
に分離形成する。
次に、ゲージ抵抗4に個別的に対応する4つのアイラン
ド10(図では2つのアイランドのみか示されている)
に、P形のボロンを拡散してゲージ抵抗4をそれぞれ形
成する。すなわち、従来では、各ゲージ抵抗4゜は、1
〜2a++a口の大きさの共通のN−形のアイランドt
O,に形成されたけれども、この実施例では、200μ
m口程度の大きさのN−形の個別のアイランド10にそ
れぞれ形成される。さらに、ゲージ抵抗4が形成された
各アイランドIOには、ゲージ抵抗4とアイランドlO
との間に逆バイアス電圧を印加してゲージ抵抗4を電気
的に絶縁するためのAt配線引き出し用のN+形の拡散
層11がそれぞれ形成される。
ド10(図では2つのアイランドのみか示されている)
に、P形のボロンを拡散してゲージ抵抗4をそれぞれ形
成する。すなわち、従来では、各ゲージ抵抗4゜は、1
〜2a++a口の大きさの共通のN−形のアイランドt
O,に形成されたけれども、この実施例では、200μ
m口程度の大きさのN−形の個別のアイランド10にそ
れぞれ形成される。さらに、ゲージ抵抗4が形成された
各アイランドIOには、ゲージ抵抗4とアイランドlO
との間に逆バイアス電圧を印加してゲージ抵抗4を電気
的に絶縁するためのAt配線引き出し用のN+形の拡散
層11がそれぞれ形成される。
このように、各ゲージ抵抗4に個別的に対応するように
N−形のアイランド10を分離形成するとともに、この
各アイランドIOには、At配線引き出し用のN+形の
拡散層11がそれぞれ形成されており、従来例に比べて
対称性が高く、各ゲージ抵抗4と各アイランド10との
間に逆バイアス電圧が印加されたときの各ゲージ抵抗4
の空乏層の延びが均一なものとなり、ゲージ抵抗4の位
置による温度特性の差異がなくなり、これによって、オ
フセットドリフトが減少することになる。
N−形のアイランド10を分離形成するとともに、この
各アイランドIOには、At配線引き出し用のN+形の
拡散層11がそれぞれ形成されており、従来例に比べて
対称性が高く、各ゲージ抵抗4と各アイランド10との
間に逆バイアス電圧が印加されたときの各ゲージ抵抗4
の空乏層の延びが均一なものとなり、ゲージ抵抗4の位
置による温度特性の差異がなくなり、これによって、オ
フセットドリフトが減少することになる。
さらに、この実施例では、フローティングコレクタとし
ての埋め込み拡散層3は、第2図の従来例に比べてその
面積を小さくしているので、従来例に比べて、エピタキ
シャル成長前の酸化膜除去工程などにおける、いわゆる
、スティン膜の発生が抑制されることになる。
ての埋め込み拡散層3は、第2図の従来例に比べてその
面積を小さくしているので、従来例に比べて、エピタキ
シャル成長前の酸化膜除去工程などにおける、いわゆる
、スティン膜の発生が抑制されることになる。
なお、この実施例の圧力センサ部1の周辺には、該圧力
センサ部lからの信号を増幅する増幅回路などが、通常
のバイポーラtCの製造技術によって形成されている。
センサ部lからの信号を増幅する増幅回路などが、通常
のバイポーラtCの製造技術によって形成されている。
また、圧力センサ部1は、裏面側がエツチングによって
薄肉化されてダイヤフラムとされ、ゲージ抵抗4の形成
面と反対側の面で受圧するようになっている。
薄肉化されてダイヤフラムとされ、ゲージ抵抗4の形成
面と反対側の面で受圧するようになっている。
[発明の効果]
以上のように本発明によれば、ゲージ抵抗に個別的に対
応するようにアイランドを形成するとともに、各アイラ
ンドに、各ゲージ抵抗との間で逆バイアス電圧を印加す
るための配線引き出し用の拡散層を形成しているので、
従来例に比へて各ゲージ抵抗の温度特性が均一となり、
これによって、オフセットドリフトが低減されることに
なり、半導体圧力センサの零点補償を容易に行なうこと
が可能となる。
応するようにアイランドを形成するとともに、各アイラ
ンドに、各ゲージ抵抗との間で逆バイアス電圧を印加す
るための配線引き出し用の拡散層を形成しているので、
従来例に比へて各ゲージ抵抗の温度特性が均一となり、
これによって、オフセットドリフトが低減されることに
なり、半導体圧力センサの零点補償を容易に行なうこと
が可能となる。
第1図は本発明の一実施例の圧力センサ部の断面図、第
2図は従来例の圧力センサ部の断面図である。 1、to・・・圧力センサ部、2・・・半導体基板、I
O+0.・・・アイランド、4,4o・・・ゲージ抵抗
、11゜1io・・・A1配線引き出し用拡散層。
2図は従来例の圧力センサ部の断面図である。 1、to・・・圧力センサ部、2・・・半導体基板、I
O+0.・・・アイランド、4,4o・・・ゲージ抵抗
、11゜1io・・・A1配線引き出し用拡散層。
Claims (1)
- (1)圧力を感知するゲージ抵抗の対を2組用いてブリ
ッジ回路が構成された圧力センサ部および前記圧力セン
サ部からの信号を増幅する増幅回路を半導体基板上に集
積化してなる半導体圧力センサにおいて、 エピタキシャル層が形成された前記半導体基板上に、分
離拡散によって前記各ゲージ抵抗に個別的に対応するア
イランドがそれぞれ分離形成され、この各アイランドに
は、前記各ゲージ抵抗がそれぞれ形成されるとともに、
各ゲージ抵抗との間で逆バイアス電圧を印加するための
配線引き出し用の拡散層がそれぞれ形成されてなる半導
体圧力センサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2169089A JPH02202066A (ja) | 1989-01-31 | 1989-01-31 | 半導体圧力センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2169089A JPH02202066A (ja) | 1989-01-31 | 1989-01-31 | 半導体圧力センサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02202066A true JPH02202066A (ja) | 1990-08-10 |
Family
ID=12062063
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2169089A Pending JPH02202066A (ja) | 1989-01-31 | 1989-01-31 | 半導体圧力センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02202066A (ja) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5827949B2 (ja) * | 1980-07-12 | 1983-06-13 | 寿雄 谷角 | パチンコ玉自動販売機用玉通路構成 |
JPS59150480A (ja) * | 1983-02-04 | 1984-08-28 | Toshiba Corp | 半導体圧力変換装置 |
JPS61185959A (ja) * | 1985-02-13 | 1986-08-19 | Pioneer Electronic Corp | 半導体抵抗装置 |
JPS6398156A (ja) * | 1986-10-15 | 1988-04-28 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体圧力センサの製造方法 |
-
1989
- 1989-01-31 JP JP2169089A patent/JPH02202066A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5827949B2 (ja) * | 1980-07-12 | 1983-06-13 | 寿雄 谷角 | パチンコ玉自動販売機用玉通路構成 |
JPS59150480A (ja) * | 1983-02-04 | 1984-08-28 | Toshiba Corp | 半導体圧力変換装置 |
JPS61185959A (ja) * | 1985-02-13 | 1986-08-19 | Pioneer Electronic Corp | 半導体抵抗装置 |
JPS6398156A (ja) * | 1986-10-15 | 1988-04-28 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体圧力センサの製造方法 |
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