JPH02191045A - マイクロプログラム制御装置 - Google Patents

マイクロプログラム制御装置

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JPH02191045A
JPH02191045A JP1012657A JP1265789A JPH02191045A JP H02191045 A JPH02191045 A JP H02191045A JP 1012657 A JP1012657 A JP 1012657A JP 1265789 A JP1265789 A JP 1265789A JP H02191045 A JPH02191045 A JP H02191045A
Authority
JP
Japan
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register
data
counter
block
control
Prior art date
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Pending
Application number
JP1012657A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiromi Shinkai
新飼 博美
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Engineering Ltd
Original Assignee
NEC Engineering Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Engineering Ltd filed Critical NEC Engineering Ltd
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Publication of JPH02191045A publication Critical patent/JPH02191045A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 皮亀欠1 本発明はマイクロプログラム制御装置に関し、特にマイ
クロプログラム制御のもとて診断が行われるマイクロプ
ログラム制御装置に関する。
従来技術 従来、マイクロプログラム制御装置においては、マイク
ロプログラム制御のもとて診断が行われており、この診
断時にマイクロプログラムによってアクセスできるレジ
スタが、ハードウェア量の関係で通常動作時にマイクロ
プログラムがアクセスするレジスタや、マイクロプログ
ラムによる診断においてアクセスできたほうがより効果
的な診断が可能となるレジスタなど一部のレジスタのみ
であった。
このような従来のマイクロプログラム制御装置では、マ
イクロプログラムによる診断時にアクセスできるレジス
タに制限があるため、全てのフリップフロップにデータ
をセットすることが不可能であるという欠点がある。
また、通常動作を行わせてその正常性をチエツクする方
法により、マイクロプログラム制御によってアクセスで
きないレジスタの診断を行う場合には、装置が通常動作
を行える環境(たとえば他の装置との接続)を整えなけ
ればならす、多くの場合、装置単体による診断が困雛で
あるという欠点がある。
i肌座且追 本発明はF記のような従来のものの欠点を除去すべくな
されたもので、マイクロプログラム制御により全てのフ
リップフロップにデータをセットすることができるマイ
クロプログラム制御装置の提供を目的とする。
発明の構成 本発明によるマイクロプログラム制御装置は、マイクロ
プログラム制御により診断が行われるマイクロプログラ
ム制御装置であって、診断時に、制御記憶装置に格納さ
れた診断プログラムの制御情報を保持する制御情報部と
、前記診断プログラムのデータを保持するスキャンパス
構成のデータ部とからなる保持手段と、装置内の各レジ
スタによって構成されるスキャンパスに、前記保持手段
の制御情報部に保持された前記診断プログラムの制御情
報に応じて前記保持手段のデータ部を接続する手段とを
有することを特徴とする。
実施例 次に、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。図において、制御記憶装置1にはマイクロプログラ
ムおよび診断プログラムか格納されており、各記憶ビッ
トは制御記憶読出しレジスタ(以下読出しレジスタとす
る)2に保持される。
読出しレジスタ2は診断時に制御記憶装置1から読出さ
れる診断プログラムの制御情報を保持する制御部21と
、診断プログラムの診断データを保持するデータ部22
とから構成されており、読出しレジスタ2の制御部21
から診断部3に送出される診断プログラムの制御情報は
診断部3の制御情報とされ、データ部22から診断部3
に送出される診断プログラムの診断データは診断部3の
パラメータとされる。
尚、データ部22はスキャンパス構成となっており、診
断時に診断部3の内部レジスタ5および装置内のレジス
タ7.8によって構成されるスキャンパスと接続可能と
なっている。
診断時Gご、診断部3のコントロール部4は読出しレジ
スタ2の制御部21からの制御情報によりシフトモード
をコントロールし、セレクタ6の切替え動作により読出
しレジスタ2のデータ部22のスキャンパスへの接続、
切離しを制御する。ずなわち、データ部22をスキャン
パスに接続することにより、該スキャンパスのシフトイ
ン動作でデータ部22の診断データをレジスタ7.8に
送ることができる。
レジスタ7.8は各々、装置内のフリップフロップを縦
続接続して構成されるスキャンパスフリップフロップ群
(以下スキャンパスFF群とする)が分割されたブロッ
クを示している。
第2図は第1図の制御記憶装置1の構成を示す図である
6図において、制御記憶装W1に格納されなマイクロプ
ログラムのビット0〜2.4〜71は装置全体の制御を
行うための制御情報であり、セットデータ指示ビット3
には通常の命令を示す論理” o ”か書込まれている
また、診断プログラムにおいてはセラ1〜データ指示ビ
ット3に論理” 1 ”か書込まれ、ピッl−0〜2,
4〜35に制御情報が格納され、ピッ1へ36〜71に
試験に必要な診断データが格納されている。
診断プログラムの制御情報のうちビット1oには診断デ
ータをゼットすべきレジスタ7.8を指定するためのス
キャンブロックアドレス(!5BA)が格納されている
。また、ビット13〜21にはレジスタ7.8内の書換
え位置を示ずためのブロック内開始ビット位置(SP>
(以下開始ビット位置とする)と書換えビット数(BC
)とからなるクロック歩進数が格納されている。
第3図は第1図のコントロール部4の詳細な構成を示す
ブロック図である。図にお−いて、スキャンブロックア
ドレス保持レジスタ(以下SBA保持レジスタとする)
41、ブロック内開始ビット位置レジスタ(以下SPレ
ジスタとする)44、書換えビット数カウンタ(以下B
eカウンタとする)46には5読出しレジスタ2に保持
されたマイクロ命令のセットデータ指示ビット3に論理
“1′°が書込まれているときに、該マイクロ命令内の
スキャンブロックアドレス、開始ビット位置、書換えビ
ット数が夫々取込まれる。尚、Beカウンタ46にはセ
レクタ45を介して書換えビット数が取込まれる。
その後に、コントロール部4はレジスタ7.8をシフト
モードとし、レジスタ7.8にシフトクロックを供給す
ることによりレジスタ7.8の内容をセレクタ6を介し
て内部レジスタ5にスキャンアウトする。
このとき、コントロール部4のブロック内ビットカウン
タ43もこのシフトクロックに同期してカウントアツプ
される。また、ブロック内ビットカウンタ43がカウン
トアツプされることにより、その値かブロック越えする
ときにキャリー信号がブロックカウンタ42に出力され
、これによりプ′ロックカウンタ42がカウントアツプ
される。
−上述の動作により、ブロックカウンタ42およびブロ
ック内ビットカウンタ43がカウントアツプされている
とき、ブロックカウンタ42の値とSBA保持レジスタ
41の値との一致が比較器47で検出され、ブロック内
ビットカウンタ43の値とSPレジスタ44の値との一
致が比較器48で検出され、Beカウンタ46の値か′
0°でないことが比較器49で検出されると、すなわち
比較器47.48からの出力信号が論理゛1″となり、
比較器49からの出力信号がインバータ50で反転され
た値か論理゛1′°になると、アンドゲート51からの
出力信号か論理“1″となってビット入替え中フリップ
フロップ(以下ピッ1〜入替え中FFとする)52に論
理“′1′”がセットされる。
このとき同時に、オアゲート53からセレクタ6への選
択信号として論理“1″か出力され、この選択信号によ
りBeカウンタ46がカウントタウンされる。
この選択信号によりセレクタ6でレジスタ7から読出し
レジスタ2への切替えが行われるとともに、読出しレジ
スタ2のデータ部22がシフトモードとなる。
読出しレジスタ2のデータ部22にシフトクロックが供
給されることにより、データ部22の診断データか内部
レジスタ5にスキャンインされる。
これ以降、ビット入替え中FF52かセットされている
間はシフトクロックか供給される毎に、Beカウンタ4
6かカウントタウンされ、Beカウンタ46の値か“0
′となったことが比較器49で検出されると、ビット入
替え中FF52かりセットされ、オアゲート53からセ
レクタ6への選択信号として論理°“0′°が出力され
、セレクタ6では再びレジスタ7に切替えられる。
上述の処理動作か行われている間、他の回路へのシステ
ムクロックの供給は停止される。
第4図は本発明の一実施例におけるマイクロ命令の一例
を示す図である。図においては、レジスタ8のビット3
〜7の内容(第4図斜線部)を書換える場合のマイクロ
命令の構成を示している。
これら第1図〜第4図を用いて本発明の一実施例の動作
について説明する。
装置の診断時に、読出しレジスタ2に第4図に示すマイ
クロ命令か保持されると、該マイクロ命令のセットデー
タ指示ビット3には論理“1″か書込まれているので、
診断部3のコントロール部4においては、SBA保持レ
ジスタ41にスキャンブロックアドレス゛1′かセット
され、SPレジスタ44に開始ビット位置゛3°かセッ
トされ、Beカウンタ46に書換えビット数゛5°がセ
ットされる。
その後に、コントロール部4はレジスタ78をシフトモ
ードとし、レジスタ7.8にシフトタロツクを供給する
ことによりレジスタ7,8の内容をセレクタ6を介して
内部レジスタ5にスキャンアウトする。
このとき、コントロール部4のブロック内ビットカウン
タ43もこのシフトクロックに同期してカウントアツプ
され、ブロック内ビットカウンタ43の値が′3′にな
ると、比較器48でブロック内ビットカウンタ43の値
とSPレジスタ44の値との一致が検出され、比較器4
9でBeカウンタ46の値が0°でないことが検出され
るが、比較器47でブロックカウンタ42の値とSBA
保持レジスタ41の値との一致が検出されないため、ビ
ット入替え中FF52がセットされることはない。
レジスタ7の内容が内部レジスタ5にスキャンアウトさ
れると、ブロック内ビットカウンタ43ではブロック越
えが生ずるので、ブロック内ビットカウンタ43からブ
ロックカウンタ42にキャリー信号が出力され、これに
よりブロックカウンタ42かカウントアツプされる。こ
のとき、レジスタ7にはレジスタ8の内容がシフ1〜イ
ンされている。
ブロックカウンタ42がカウントアツプされることによ
り、比較器47でブロックカウンタ42の値とSBA保
持レジスタ41の値との一致が検出される。これ以後、
ブロックカウンタ42にブロック内ビットカウンタ43
からのキャリー信号が入力されるまで、比較器47で一
致か検出され1す る。
次に、ブロック内ビットカウンタ43の値が3°になる
と、比較器48でブロック内ビットカウンタ43の値と
SPレジスタ44の値との一致が検出される。このとき
、比較器47で一致が検出されているとともに、比較器
49でBeカウンタ46の値か0′でないことが検出さ
れているので、アンドゲート51からの出力信号が論理
“1″となり、ビット入替え中FF52がセットされる
よって、オアゲート53からセレクタ6への選択信号と
して論理゛1′”が出力され、この選択信号によりBe
カウンタ46の値がカウントダウンされて4°となる。
この選択信号によりセレクタ6でレジスタ7から読出し
レジスタ2への切替えが行われるとともに、読出しレジ
スタ2のデータ部22がシフトモードとなる。
読出しレジスタ2のデータ部22にシフトクロックが供
給されることにより、データ部22の診断データが内部
レジスタ5にスキャンインされる。
これ以降、ビット入替え中FF52がセットされている
間はシフトクロックが供給される毎に、Beカウンタ4
6の値がカウントダウンされ、Beカウンタ46の値が
0°となったことが比較器49で検出されると、ビット
入替え中FF52がリセットされ、オアゲート53から
セレクタ6への選択信号として論理“O″が出力され、
セレクタ6では再びレジスタ7に切替えられる。
したかって、レジスタ8のビット3〜7の内容が読出し
レジスタ2のデータ部22に格納された診断データに置
き換えられて内部レジスタ5に保持される。この後、シ
フトクロックを内部レジスタ5およびレジスタ7.8に
供給することにより、内部レジスタ5に保持された内容
がレジスタ7゜8にスキャンインされる。
よって、スキャンパス上の任意のフリップフロップにデ
ータをセットすることができるので、装置単体による診
断を容易に行うことができる。
このように、読出しレジスタ2の制御部21に保持され
たクロック歩進数に応じて読出しレジスタ2のデータ部
22を診断部3の内部レジスタ5およびレジスタ7.8
により構成されるスキャンパスに接続するようにするこ
とによって、外部の診断装置(図示せず)から診断デー
タをシフトインすることなく、全てのフリップフロップ
に診断データをセットすることができる。
九10A月 以上説明したように本発明によれば、診断プログラムの
制御情報に応じて、診断プログラムのデータを保持する
スキャンパス構成のデータ部を装置内の各レジスタによ
って構成されるスキャンパスに接続するようにすること
によって、マイクロプログラム制御により全てのフリッ
プフロップにデータをセットすることができるという効
果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック区、第
2図は第1図の制御記憶装置の構成を示す図、第3図は
第1図のコントロール部の詳細な構成を示すブロック図
、第4図は本発明の一実施例におけるマイクロ命令の一
例を示す図である。 主要部分の符号の説明 1・・・・・・制御記憶装置 2・・・・・・制御記憶読出しレジスタ3・・・・・・
診断部 4・・・・・・コントロール部 6・・・・・・セレクタ 78・・・・・・レジスタ 41・・・・・・スキャンブロックアドレス保持レジス
タ 42・・・・・・ブロックカウンタ 43・・・・・・ブロック内ビットカウンタ44・・・
・・・ブロック内書換え 開始ヒツト位置レジスタ 46・・・・・・書換えビット数カウンタ47〜49・
・・・・・比較器 51・・・・・・アンドゲート 52・・・・・・ピット入替え中 フリップフロップ 53・・・・・・オアゲート

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)マイクロプログラム制御により診断が行われるマ
    イクロプログラム制御装置であつて、診断時に制御記憶
    装置に格納された診断プログラムの制御情報を保持する
    制御情報部と、前記診断プログラムのデータを保持する
    スキャンパス構成のデータ部とからなる保持手段と、装
    置内の各レジスタによって構成されるスキャンパスに、
    前記保持手段の制御情報部に保持された前記診断プログ
    ラムの制御情報に応じて前記保持手段のデータ部を接続
    する手段とを有することを特徴とするマイクロプログラ
    ム制御装置。
JP1012657A 1989-01-20 1989-01-20 マイクロプログラム制御装置 Pending JPH02191045A (ja)

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JP1012657A JPH02191045A (ja) 1989-01-20 1989-01-20 マイクロプログラム制御装置

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Application Number Priority Date Filing Date Title
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JPH02191045A true JPH02191045A (ja) 1990-07-26

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ID=11811431

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JP1012657A Pending JPH02191045A (ja) 1989-01-20 1989-01-20 マイクロプログラム制御装置

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