JPH0217669A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPH0217669A JPH0217669A JP16847488A JP16847488A JPH0217669A JP H0217669 A JPH0217669 A JP H0217669A JP 16847488 A JP16847488 A JP 16847488A JP 16847488 A JP16847488 A JP 16847488A JP H0217669 A JPH0217669 A JP H0217669A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- input
- resistor
- surge
- pad
- input protection
- Prior art date
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- Pending
Links
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- 229910021332 silicide Inorganic materials 0.000 claims abstract description 9
- FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N silicide(4-) Chemical compound [Si-4] FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 9
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 10
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- 230000005611 electricity Effects 0.000 abstract description 5
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Landscapes
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体装置に関し、特に集積回路(以下、IC
と称する)において静電気等による入力サージを保護す
るための入力保護装置に関するものである。
と称する)において静電気等による入力サージを保護す
るための入力保護装置に関するものである。
従来よj5 ICE用いられている入力保護装置の基本
的な回路構成を第2図に示して説明する。同図において
、1はAt等で作られた入力ボンディングパッド(以下
、入力パッド)、7は多結晶シリコンで作られた入力保
護抵抗である。また、3はA4等で作られた配線、4は
この配線3と入力保護抵抗7を結合させるためのコンタ
クト、5は入力保護回路、6は入力バッファ回路である
。
的な回路構成を第2図に示して説明する。同図において
、1はAt等で作られた入力ボンディングパッド(以下
、入力パッド)、7は多結晶シリコンで作られた入力保
護抵抗である。また、3はA4等で作られた配線、4は
この配線3と入力保護抵抗7を結合させるためのコンタ
クト、5は入力保護回路、6は入力バッファ回路である
。
このように構成された入力保護装置は、入力パッド1が
外部入力ピンと結合されておシ、その人力パッド1より
入った入力サージを、入力保護抵抗7を通して入力保護
回路5で吸収することにより、入力サージが入力バッフ
ァ回路6へ入るのを防ぐものとなっている。
外部入力ピンと結合されておシ、その人力パッド1より
入った入力サージを、入力保護抵抗7を通して入力保護
回路5で吸収することにより、入力サージが入力バッフ
ァ回路6へ入るのを防ぐものとなっている。
しかし、上記した従来の入力保護装置では、入力保護抵
抗7に多結晶シリコンを用いているため、静電気等の入
力サージによシその多結晶シリコンが溶断される等の問
題点があった。
抗7に多結晶シリコンを用いているため、静電気等の入
力サージによシその多結晶シリコンが溶断される等の問
題点があった。
本発明は上記のような問題点を解消するためになされた
もので、入力サージが入っても、破壊を起さないICの
入力保護装置を得ることを目的とする。
もので、入力サージが入っても、破壊を起さないICの
入力保護装置を得ることを目的とする。
本発明に係る入力保護装置は、入力パッドと入カパツフ
ァ回路との間に配置される入力保護抵抗に1高融点シリ
サイドを用いたものである。
ァ回路との間に配置される入力保護抵抗に1高融点シリ
サイドを用いたものである。
本発明においては、入力保護抵抗に多結晶シリコンよ)
融点の高い高融点シリサイドを用いるので、入力サージ
による溶断を起しにくくすることが可能になる。
融点の高い高融点シリサイドを用いるので、入力サージ
による溶断を起しにくくすることが可能になる。
以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて詳細に説明
する。
する。
第1図は本発明の一実施例による入力保護装置の基本的
な回路構成図である。この実施例の入力保護装置が従来
例の第2図のものと異なる点は、入力パッド1と入力バ
ッファ回路6との間に配設される入力保護抵抗2を、M
eSl 、WSl等の高融点シリサイドと多結晶シリコ
ンとのポリサイドから構成する。そして、入力パッド1
.配線3.コンタクト4及び入力保護抵抗2の各パター
ンの角部を角落しして鈍角とすることKよシ、その各角
部への電界集中を少なくするものとなっている。
な回路構成図である。この実施例の入力保護装置が従来
例の第2図のものと異なる点は、入力パッド1と入力バ
ッファ回路6との間に配設される入力保護抵抗2を、M
eSl 、WSl等の高融点シリサイドと多結晶シリコ
ンとのポリサイドから構成する。そして、入力パッド1
.配線3.コンタクト4及び入力保護抵抗2の各パター
ンの角部を角落しして鈍角とすることKよシ、その各角
部への電界集中を少なくするものとなっている。
なお、図中同一符号は同一または相当部分を示している
。
。
上記実施例の入力保護装置によると、入力パッド1に入
った静電気等の入力サージは、入力保護抵抗2を通る時
にそこで電圧降下を生じる。その電圧降下のために、入
力保護抵抗2は高温になるが、高融点のポリサイドを用
いているので、これが溶断されずに、サージの電圧降下
を行なう。これによって、そのサージが入力保護回路5
で吸収され、入力バッファ回路6へ入るのを効果的に防
ぐことができる。
った静電気等の入力サージは、入力保護抵抗2を通る時
にそこで電圧降下を生じる。その電圧降下のために、入
力保護抵抗2は高温になるが、高融点のポリサイドを用
いているので、これが溶断されずに、サージの電圧降下
を行なう。これによって、そのサージが入力保護回路5
で吸収され、入力バッファ回路6へ入るのを効果的に防
ぐことができる。
なお、上記実施例では、入力保護抵抗2に高融点シリサ
イドと多結晶シリコンのポリサイドを用いたが、高融点
シリサイドのみを用いてもよい。
イドと多結晶シリコンのポリサイドを用いたが、高融点
シリサイドのみを用いてもよい。
以上のように本発明によれば、入力保護抵抗に高融点シ
リサイドを用いたので、静電気等による入力サージによ
る溶断を防ぎ、かつ入力サージの電圧降下を行なうこと
ができる効果がある。
リサイドを用いたので、静電気等による入力サージによ
る溶断を防ぎ、かつ入力サージの電圧降下を行なうこと
ができる効果がある。
第1図は本発明の一実施例の入力保護装置の基本的な回
路構成図、第2図は従来の入力保護装置の回路構成図で
ある。 1・・・・入力パッド、211・・−人力保護抵抗(ポ
リサイド)、3拳・・・配線、4・・・−コンタクト、
5・・・・入力保護回路、6・・−・入力バッファ回路
。 第1図
路構成図、第2図は従来の入力保護装置の回路構成図で
ある。 1・・・・入力パッド、211・・−人力保護抵抗(ポ
リサイド)、3拳・・・配線、4・・・−コンタクト、
5・・・・入力保護回路、6・・−・入力バッファ回路
。 第1図
Claims (1)
- 入力ボンディングパッドと入力バッファ回路との間に入
力保護抵抗を有する半導体装置において、前記入力保護
抵抗の少なくとも一部に高融点シリサイドを用いたこと
を特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16847488A JPH0217669A (ja) | 1988-07-05 | 1988-07-05 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16847488A JPH0217669A (ja) | 1988-07-05 | 1988-07-05 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0217669A true JPH0217669A (ja) | 1990-01-22 |
Family
ID=15868772
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16847488A Pending JPH0217669A (ja) | 1988-07-05 | 1988-07-05 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0217669A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05206441A (ja) * | 1991-11-20 | 1993-08-13 | Nec Corp | 半導体集積回路装置 |
WO2018135220A1 (ja) * | 2017-01-19 | 2018-07-26 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 電子装置 |
-
1988
- 1988-07-05 JP JP16847488A patent/JPH0217669A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05206441A (ja) * | 1991-11-20 | 1993-08-13 | Nec Corp | 半導体集積回路装置 |
WO2018135220A1 (ja) * | 2017-01-19 | 2018-07-26 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 電子装置 |
JP2018117053A (ja) * | 2017-01-19 | 2018-07-26 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | 電子装置 |
CN110168715A (zh) * | 2017-01-19 | 2019-08-23 | 日立汽车系统株式会社 | 电子装置 |
US11043485B2 (en) | 2017-01-19 | 2021-06-22 | Hitachi Automotive Systems, Ltd. | Electronic device having semiconductor device with protective resistor |
CN110168715B (zh) * | 2017-01-19 | 2023-07-18 | 日立安斯泰莫株式会社 | 电子装置 |
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