JPH02176572A

JPH02176572A - Ｅｍｉ測定装置

Info

Publication number: JPH02176572A
Application number: JP33351488A
Authority: JP
Inventors: Takehiko Kawachi; 河内　毅彦; Aiichi Katayama; 片山　愛一
Original assignee: Anritsu Corp
Current assignee: Anritsu Corp
Priority date: 1988-12-28
Filing date: 1988-12-28
Publication date: 1990-07-09
Anticipated expiration: 2010-11-13
Also published as: JPH07104381B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は、種々の電子機器等に影響を与える妨害雑音を
ｉＵ＋定するスペクトラムアナライザその他これに類す
る装置等に利用されるＥＭＩ（ｃｌｃｃＬｏｒｏｍａｇ
ｎｅｔｌｃ　Ｉｎｔｅｒｆｃｒｃｎｅｅ：電波雑音干渉
）測定装置に係わり、特に所望とする測定結果のブタを
適宜に表示して評価可能であり、また測定結果のデータ
の編集機能を持ったＥＭＩ測定装置に関する。

〔従来の技術〕

従来のこの種のＥＭＩ測定は、スペクトラムアナライザ
等を用いて如何なる周波数の雑音が分布するかを調査す
るために、第７図に示す如く測定開始に基づいて広い周
波数範囲にわたって第８図（ａ）に示す雑音スペクトラ
ム分布を測定しだ後、各雑音スペクトラムと所望とする
信号成分、妨害雑音レベル等から決定される規格レベル
（イ）とを比較し、この規格レベル（イ）を越えている
雑音スペクトラムの極大点（ピーク点）■、Ｏ○の周波
数ｆａ、ｆｂ、ｆｃを順次メモリに登録する。いわゆる
予ｆｉａＩ１１定を実施する（ステップＡｌ）。

しかる後、メモリに登録された評価対象点となる周波数
ｆａ、ｆｂ、ｆｅのうち任意の１ポイントを選択しくス
テップＡ２）、その選択された周波数近傍の雑音スペク
トラム分布を７１１１１定して拡大し繰り返し表示し、
必要があれば被測定物の環境状態を変えるなどして雑音
レベルが最大となるように設定する（ステップＡ３）。

さらに、前記選択された周波数の雑音レベルについてＣ
ｌ５ＰＲ（国際無線障害特別委員会）で規定されたＱＰ
検波方式に基づいて種々の時定数を変えながら再び検波
測定し、第８図（ｂ）に示す検波出力■′■′、０′が
規格レベル（イ）を越えているか否かの最終的な評価測
定を行う（ステップＡ４）。

以上のようにして１つの周波数の雑音レベルについて最
終評価を終えたならば、引き続き、ステップＳ２に戻っ
て再び前記メモリに登録された他の周波数を選択し、そ
の周波数の雑音レベルについて評価ｉ１１＋定を行う（
ステップＡ２〜Ａ４）。なお、従来ではステップＳ３に
示す拡大表示の操作を省略することがある。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかし、以上のようなＥＭＩ測定は、登録された周波数
のみの雑音レベルの評価測定を行うので、登録されない
周波数の雑音レベルの評価測定が行えず、その結果適切
な評価が期待できないばかりか、予め測定したい周波数
が既知であっても時間的にその雑音レベルが変動するよ
うな場合には予備測定段階で前記所望とする周波数を登
録することができない。また、予（Ｂ測定によって得ら
れた雑音スペクトラム分布のうち規格レベル（イ）を越
えた雑音スペクトラムの全部について評（ｉｌｆＭｊ定
の対象とするので、例えば外来波、放送波などの如き２
本来評価測定の対象外とされる周波数についても評価測
定を行うので、最終評価を終えるまでに多くの時間を要
する問題があった。

本発明は上記実情に鑑みてなされたもので、所望とする
測定結果のデータを適宜に選択して迅速に評価でき、最
終的な評価の時間を大幅に短縮しうるＥＭＩ測定装置を
提供することを目的とする。

また、本発明の他の目的は、外来波の如き不必要な雑音
スペクトラムを容易に評価測定対象外とすることができ
、また必要な周波数を簡単に評価対象点として評価しう
るＥＭＩ測定装置を提供することにある。

さらに５１本発明の他の目的は、既に得られた評価対象
点を有効に利用して評価の時間の短縮化を図るＥＭＩ測
定装置を提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明によるＥＭＩ測定装置は上記課題を解決するため
に、広い周波数範囲の雑音スベクトラム分布を測定し、
その雑音スペクトラムの評価を行うＥＭＩ測定装置にお
いて、前記測定された雑音スペクトラムと所定の規格レ
ベルとを比較し、雑音スペクトラムが規格レベル以上の
ときにその雑音スペクトラムの周波数を順次第１のメモ
リに登録し、また前記広い周波数範囲の雑音スペクトラ
ム分布を対数変換して得られる雑音スペクトラム分布波
形データを第２のメモリに記憶すると共に表示装置に表
示する予備測定制御手段と、この子Ｑ　ＵＪ定副制御手
段よって前記第１のメモリに登録された各周波数を順次
評価対象点として評価測定を行い、得られた評価測定波
形データを第３のメモリに記憶すると共に前記表示装置
に表示する評価１１定制御手段と、表示内容選択キーに
応じて前記第２のメモリに記憶された予備測定波形デー
タ、前記第３のメモリに記憶された評価測定波形データ
および前記第１のメモリに登録された評価対象点となる
周波数近傍の雑音スペクトラムを測定して得られる拡大
波形データの何れかを選択表示する表示内容選択制御手
段と、前記予備測定制御手段によって表示された予（ｉ
ｉｉ　１ｆＰＩ定波形、前記評価測定制御手段によって
表示された評価測定波形および前記表示内容選択制御手
段によって選択表示された予備測定波形、評価測定波形
の何れかの表示時に所望とする評価対象点にマーカを付
すと共にそのマーカを移動させるマーカ移動制御手段と
を備えた構成である。

また、本発明装置は、上記手段に加えて、更に周波数を
設定して評価対象点を追加する評価対象点追加手段およ
び既に登録されている評価対象点について周波数を設定
して削除する評価対象点削除手段とを備えたものである
。

さらに、本発明装置は、上記両手段の何れかに、不揮発
性記憶装置と、この不揮発性記憶装置に第１のメモリ内
の評価対象点を記憶させ、かつ、この記憶した評価対象
点を第１のメモリ内に再生するためのストア・リコール
制御手段とを付加してなる構成である。

〔作用〕

従って、本発明は以上のような手段をＪａじたことによ
り、予備Ｍ］定副制御手段は雑音スペクトラムと規格レ
ベルとから評価対象点となる周波数を順次第１のメモリ
に登録すると共に雑音スペクトラム分布を対数変換して
予備Ｍｊ定定形形得、これを第２のメモリに格納し、か
つ、表示装置に表示する。次に、評価測定制御手段では
第１のメモリに登録された評価対象点についてＱ　Ｐ　
１１１１１定によって評価を行い、その評価測定波形デ
ータを第３のメモリに記憶すると共に表示装置に表示す
る。さらに、表示内容選択制御手段では予備測定終了後
または評価測定終了後に適宜に前記予備測定波形データ
または評１価測定波形データ、さらには既に登録ずみの
評価対象点となる周波数を指定してその周波数近傍の雑
音スペクトラム分布を測定して拡大して得られる拡大波
形の何れかを選択することにより、所望とする波形を観
察して迅速に適切な評価を行いうるちのである。しかも
、マーカ移動制御手段にて必要な評価対象点にマーカを
移動させながら付すことにより、相互の評価対象点のレ
ベルを比較しながら評価できる。

また、評価対象点の追加および削除手段を設けたことに
より、登録から漏れたものでも容易に評価対象点として
追加して評価可能であり、あるいは不必要な評価対象点
を削除して評価の時間を短縮することができる。

さらに、本発明は、ストア・リコール制御手段にて評価
対象点を不揮発性記憶装置にストアし、必要な時その評
価対象点をリコールして評価測定を行うことができ、予
ｔｉ　ＭＪ定等を省略することができる。

〔実施例〕

以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。第１図は本発明装置の機能を示すブロック図であっ
て、予ｆ！測定キー１．マーカ移動キー２．評価ｔ１１
１定キー３１表示内容を選択する選択キー４．評価対象
点を追加指示する追加キー５゜既に登録されている評価
対象点を削除する削除キー６等が設けられ、これらキー
１〜６からのキー信号はシステム制御手段７へ送出され
る。このシステム制御手段７は前記前れかのキー１〜６
からのキー信号を受けて所定の制御およびプログラムを
実行させるための信号を出力する機能を持っている。

８は前記子（Ｒ１ｉｌｌｌ定キー１のキー信号に基づい
てシステム制御手段７から発せられる信号によって予備
７１１１１定プログラムを実行する予備測定制御手段で
あって、これは広い周波数範囲の雑音スペクトラム分布
を測定するスペクトラム測定手段９、この雑音スペクト
ラム分布が順次記憶され、かつ、予め定められた規格デ
ータが記憶されているメモリ１０、前記雑音スペクトラ
ムと規格データとを比較しこの規格データを越えている
雑音スペクトラムの周波数が評価対象点として登録され
る登録メモリ１１、前記雑音スペクトラム分布を対数変
換して得られる予（ｉｉｉ測定波形となる雑音スペクト
ラム分布波形データが記憶される予備測定用メモリ１２
等を有し、特に評価対象点の周波数登録および対数変換
された雑音スペクトラム分布波形データを取得し、さら
に雑音スペクトラム分布波形データを表示装置１３に表
示する機能を持っている。なお、表示装置１３に表示さ
れている雑音スペクトラム分布のうち最大レベル点に初
期の評価対象点としてマーカが表示されるようになって
いる。

１４は前記評価測定キー３のキー信号に基づいてシステ
ム制御手段７から発せられる信号で評価測定プログラム
を実行する評価測定制御手段であって、ここでは前記登
録メモリ１１に登録された評価対象点の周波数を１つず
つ選択し、評価測定。

すなわち準尖頭値または平均値検波を行って評価測定波
形データを得、この評価測定波形データを評価測定用メ
モリ１５に格納すると共に表示装置１３に表示する機能
を持っている。このとき１表示装置１３に表示されてい
る現在の評価対象点にマーカが表示される。

１６は前記選択キー４のキー信号に基づいてシステム制
御手段７から発せられる信号によって表示内容選択プロ
グラムを実行する表示内容選択制御手段であって、ここ
では前記予備測定用メモリ１２に記憶される雑音スペク
トラム分布波形データの表示装置１３への表示、評価測
定用メモリ１５に記憶される評価波形データの表示装置
１３への表示あるいは評価対象点の周波数近傍の雑音ス
ペクトラム分布を前記スペクトラム測定手段９を介して
測定し拡大表示するリアルタイムモニタ測定による表示
の何れかを選択表示する機能をもっている。

１７は予備測定制御手段８および評価測定制御手段１４
および表示内容選択制御手段１６の何れかにおいて表示
装置１３に表示された雑音スペクトラム分布波形および
評価１１定波形の評価対象点に付されたマークを移動す
るマーカ移動制御手段である。

さらに、本装置においては評価対象点追加手段２１およ
び評価対象点削除手段２２が設けられている。この評価
対象点追加手段２１はある周波数を特定して前記登録メ
モリ１１に評価対象点を追加するものであり、また評価
対象点削除手段２２は登録メモリ１１に登録されている
各周波数の評価対象点のうち外来波等の不要なものを削
除する機能を持っている。さらに、登録メモリ１１また
は評価測定用メモリ１５のすべての評価対象点として登
録された周波数その他のデータをストア・リコール制御
手段２３をメモリカード、フロッピーディスク等の不揮
発性記憶装置２４にストアし、またこの記憶装置２４に
ストアされた評価対象点を再度メモリ１１．１５にリコ
ールする機能を持っている。２５はストア・リコールキ
ーである。

次に、以上のような装置の動作について第２図を参照し
て説明する。先ず、システム制御手段７ではスタート指
令を受けるとメインプログラムに基づいて各種の操作メ
ニューを表示した後（ステップＳ１）、次のステップＳ
２に移行しキー人力をりかを判断する。ここで、キー人
力がをれば、そのキー人力に応じて分岐して所定のプロ
グラム処理を実行する（ステップＳ３）。

以下、各操作項目に分けてプログラム処理の流れを説明
する。今、オペレータが広い周波数範囲にわたって妨害
雑音スペクトラム分布を測定するために予備測定キー１
を操作すると、システム制両手段７ではステップＳ３に
おいて予（ＲＩＩ定キー１からのキー信号を受けて予１
ａ　Ｕｌ定制御手段８による予備測定プログラムを実行
する指令を与える。

この予備測定制御手段８は、表示装置１３に所望とする
波形以外の波形が表示されている場合にはその波形を消
去した後（ステップ５１１）、スペクトラム測定手段９
で測定される広い周波数範囲の雑音スペクトラムデータ
（例えば第３図）を順次取り込んでメモリ１０に記憶し
ていく　（ステップ５１２）。しかる後、メモリ１０内
の雑音スペクトラム分布データの中から最大レベル点■
を求め（ステップ３１３）、この最大レベル点のと予め
メモリ１０に記憶されているユーザ自身が入力した規格
レベルまたは所定の国際規格による規格レベルとを比較
しくステップ５１４）、その最大レベル点■が規格レベ
ルを越えている場合にはそのレベル点の周波数ｆａを評
価対象点として登録メモリ１１に登録する（ステップ５
１５）。引き続き１次に高いレベル点■を求めた後（ス
テップ５１６）、ステップＳ１４に移行し当該レベル点
■が規格レベルを越えているか否かを判断する。

その結果、第３図においてレベル点■〜■の周波数ｆａ
−ｆｃが登録メモリ１１に登録され、例えば図示するレ
ベル点■、■が規格レベル以下であると判断され未登録
となる。このようにしてステップＳ１４において雑音ス
ペクトラムが規格レベルを越えたものがなくなると、前
記メモリコ、０から雑音スペクトラム分布データの周波
数について対数変換を行い、第４図（ａ）のような雑音
スペクトラム分布波形Ａを取得しくステップ５１７）、
これを予備測定用メモリ１２に記憶した後、その雑音ス
ペクトラム分布波形Ａを読出して表示装置１３に表示す
る（ステップＳ１８，５１９）。さらに、ステップＳ２
０に移行し、ここで波形の最大レベル点に初期の評価対
象点として指定し、そのレベル点にマーカ３０を表示す
る（ステップ５２０）。引き続き、ステップＳ２１で評
価対象点の変更があるか否かを判断する。このとき、オ
ペレータの操作によりマーカ移動キー２から右側移動キ
ー信号が人力されていると、システム制御手段７では右
側移動キー信号を受けて予６ｉ　／ＴＰＩ定制御子制御
手段８マーカ移動制御手段１７に送り、このマーカ移動
制御手段１７にて次の評価対象点の変更を行い（ステッ
プ５２１）、その変更後の計画対象点ヘマーカ３０を移
動させながら観察する（ステップ５２２）。そして、評
価対象点の変更が無い場合には終了し前記ステップＳ１
によるメニュー表示に戻り、キー人力の有無を判断する
（ステップＳ２）。

次に、オペレータが評価測定キー３を操作すると、シス
テム制御手段７ではステップＳ３において評価測定キー
３からのキー信号を受けて評価測定制御手段１４による
評価測定プログラムを実行する指令を与える。ここで、
評価測定制御手段１４は、表示装置１３に評価対象点が
表示されている場合にはその評価対象点の周波数に同調
し、その周波数の雑音スペクトラムについて準尖頭値ま
たは平均値検波、つまり評価ＪＰＪ定を行う（ステップ
Ｓ３１．５３２）。そして、その評価測定結果について
周波数を対数変換しくステップ５３３）、その評価１ｌ
ｌｊ定用メモリ１５に記憶する（ステップ５３４）。引
き続き、登録メモリ１１に登録されている各周波数を評
価対象点として評価測定を行い、第５図（ａ）のような
評価測定波形Ｂを取得し、この波形Ｂを表示装置１３に
表示する（ステップ５３５）。さらに、ステップＳ３７
に移行し、ここで現在の評価対象点にマーカ３０を表示
する（ステップ５３６）。引き続き、ステップＳ３７に
移行し評価対象点の変更があるか否かを判断する。この
とき、オペレータの操作によりマーカ移動キー２から右
側移動キー信号が入力されると、システム制御手段７で
は右側移動キー信号を受けて評価測定制御手段８および
マーカ移動制御手段１７に送り、このマーカ移動制御手
段１７にて次の評価対象点の変更を行い（ステップ５３
８）、その変更後の評価対象点ヘマーカ（イ）を移動さ
せながら観察する（ステップ５３９）。そして、評価対
象点の変更が無い場合には終了し前記ステップＳ１によ
るメニュー表示に戻り、キー人力の有無を判断する（ス
テップＳ２）　　。

また、オペレータが選択キー４を操作して表示内容を選
択するためのキー信号を入力すると、システム制御手段
７では選択キー４からのキー信号を受けて表示内容選択
手段１６による表示内容選択プログラムを実行する指令
を与える。ここで、表示内容選択手段１６は、ステップ
Ｓ４１において波形Ａ、Ｂまたは後述する拡大抽出波形
Ｃの何れを選択表示するかを判断する。このとき、図示
しないキー人力から波形Ａを選択すべきと判断したとき
には前記予備測定用メモリ１２から雑音スペクトラム分
布波形データを読出して表示装置１３に表示するか、既
に波形Ａが表示されていればその表示状態を保持する。

さらに、ステップＳ４３に移行し、ここで波形の最大レ
ベル点に初期の評価対象点として指定し、第４図（ａ）
に示すようにそのレベル点にマーカ３０を表示する。な
お、既に表示装置１３に波形Ａが表示されてマーカ３０
が付されている場合にはその状態を保持する。以後、ス
テップＳ２１に移行し前述と同様な処理を行う。

次に、ステップＳ４１において図示しないキ入力から波
形Ｂを選択すべきと判断したときには前記評価測定用メ
モリ１５から評価測定波形データＢを読出して表示装置
１３に表示する（ステップ５４４）。さらに、ステップ
Ｓ４５に移行し、第５図（ａ）に示すように現在指定さ
れている評価対象点にマーカ３０を表示する。以後、ス
テップＳ３７に移行し前述と同様な処理を行う。

次に、ステップＳ４１において拡大抽出波形Ｃを選択表
示すべきと判断したとき、前記登録メモリ１１から例え
ば最初に登録された周波数ｆａを読出しあるいはオペレ
ータによる指示によって既に登録された中から任意の周
波数を読出しくステップ５４６）、この周波数ｆａ近傍
の周波数についてスペクトラム測定手段９から出力され
る雑音スペクトラム分布を／ＩＪ１１定して第６図に示
すように前記拡大抽出波形Ｃを表示装置１３に表示する
（ステップ５４７）。いわゆる評価対象点の周波数近傍
についてリアルタイムモニタ処理を行う。

引き続き、ステップＳ４８に移行し、ここで評価対象点
の変更があるか否かを判断し、変更有りと判断したとき
には次の評価対象点の周波数ｆｂを設定しあるいは任意
の周波数を設定し、ステップＳ４７と同様に周波数ｆｂ
近傍あるいは任意の周波数近傍の雑音スペクトラム分布
をリアルタイムに拡大抽出表示する（ステップ５５０）
。

次に、メニュー表示後、オペレータが評価対象点の追加
および削除を必要する場合には追加キー５または削除キ
ー６を操作するが、先ず、その評価対象点の追加および
削除を必要とする理由について説明する。例えばＶＴＲ
装置の内部に通常のテレビジョン用の局部発振器やマイ
クロコンピュータ、ロジックＩＣなどの部品を備えてい
るので、これら部品から種々の周波数と強度を異にする
妨害波が放射されている。そこで、本装置の予（ｉｉｉ
ｉ測定制御手段８において第３図のような妨害波、つま
り雑音スペクトラム分布を得た場合、例えばオペレータ
はレベル０２■の周波数がＶ　Ｔ　Ｒ装置ｆ　（７）マ
イクロコンピュータの動作クロック周波数である場合、
当然■、■の雑音スペクトラムも評価対象点とする必要
がある。むしろ、当該周波数ｆｄ。

ｆｅのレベル■、■が小さいのはアンテナの向きや高さ
がこれら妨害波が放射されてくる方向に対して不適当だ
とか、それらの妨害波が時間的に変化していることも考
えられる。従来のＥ　Ｍ　Ｉ　ｏ＋定装置では周波数ｆ
ｄ、ｆｅのレベルＯ１■は規格内であるので、評価対象
点としては登録されず、再度何回かアンテナの向きを変
えるなどして予備測定を行う必要がある。そこで、この
ような操作を行うことなく評価対象点を追加することが
必要となる。

一方、オペレータは周波数ｆｃがＶＴＲ装置に関係ない
放送局のスペクトラムであると判明した場合、評価対象
点として評価する必要がないので、評価対象点から除外
する必要があるが、従来装置ではそれも評価対象点とし
て評価してしまい、それだけ評価時間が長くなる。そこ
で、予備測定後、その不要な外来波を簡単に除去する必
要がある。

しかして、本装置ではオペレータにより追加キ−５が操
作されたとき、システム制御手段７では当該追加キー５
のキー人力を受けて評価対象点の追加制御手段２１に追
加プログラムを実行すべき指令を与える。ここで、追加
制御手段２１ではオペレータが表示装置１３に表示され
た第３図の雑音スペクトラム分布等から追加すべき周波
数を入力すると（ステップ５５１）、それを追加すべき
評価対象点の周波数と判断し、登録メモリ１１に新たに
当該周波数を評価対象点として登録する（ステップ５５
２）。

一方、オペレータが削除キー６を操作したとき、削除制
御手段２２は評価対象点削除プログラムを実行する。す
なわち、オペレータが表示装置１３に表示された第３図
の雑音スペクトラム分布波形Ａまたは評価４ＦＩ定波形
Ｂから既に登録メモリ１１に登録されている周波数のう
ち不要とする雑音スペクトラムの周波数を特定して入力
すると（ステップ５６１）、登録メモリ１１から当該周
波数を削除することができる（ステップ５６２）。

さらに、メニュー表示には評価対象点ストアおよび評価
対象点リコールの操作項目が表示され、それに基づいて
評価対象点ストアまたは評価対象点リコールを行うこと
ができる。この評価対象点ストアは、ストア・リコール
キー２５によるストアキー信号を受けてシステム制御手
段７がストア・リコール制御手段２３にリコール制御信
号を送出し、これによりストア・リコール制御手段２３
が所定のデータ読出し動作を実行し例えば登録メモリ１
１や評価ρｊ定用メモリ１５の内容を読出して不揮発性
記憶装置２４にストアする機能であり（ステップ３６３
）、一方、評価対象点リコールは同様にストア・リコー
ルキー２５によるリコールキー信号により不揮発性記憶
装置２４に記憶されたデータをメモリ１１．１５にリコ
ールして表示装置１３に表示することにより（ステップ
５６４）、予備測定や評価測定を新ためて実行登録する
操作を省略でき、かつ、以前に評価ｉＵ＋定を行った周
波数と全く同じ周波数で再度評価ＵＪ定が行えるもので
ある。

従って、以上のような実施例の構成によれば、予備測定
終了後または評価１（ｌｌ＋定終了後に登録された３・
２価対象点の周波数近傍の雑音スペクトラム分布を拡大
して表示装置１３にリアルタイムに表示できるので、不
要な外来波であるか否かを容品に知ることができ、かつ
、より正確に雑音スペクトラムの状態を把握できる。ま
た、リアルタイムｆｌｌ定終了後に広い周波数範囲の雑
音スペクトラム分布の表示状態に戻れるので、予備測定
終了表示のどの雑音スペクトラムに相当するかを判断で
きる。

また、雑音スペクトラム分布波形、評価測定波形および
ある評価対象点の周波数近傍の拡大波形を適宜に選択表
示可能であるので、オペレータが所望とする波形を適宜
に観察して迅速に評価できる。

さらに、各／１１１定ごとに評価対象点にマーカを付す
ると共にマーカ移動制御手段１７により必要な他の評価
対象点にマーカを移動することにより、評価すべき雑音
スペクトラムを容易に特定でき、他の雑音スペクトラム
との比較も容易に行うことができる。

さらに、登録メモリ１１に既に登録された評価対象点に
更に必要とする評価対象点を追加でき、かつ、不必要な
評価対象点を削除することにより、必要な周波数だけを
漏れなく確実に評価でき、しかもオペレータが評価測定
すべき周波数が分っている場合には予Ｑ　ｔ測定をスキ
ップして拡大抽出によるリアルタイムモニタ処理や評価
ｕｌ定を実施することが可能であり、予備測定を不要に
して登録された周波数について迅速に評価できる。さら
に、各メモリ１１．１５に格納されたデータを不揮発性
記憶装置にストアし、あるいはリコール可能とすること
により、最終評価対象点の大切なデータを装置の電源オ
フ後も確実に保存でき、かつ、以前と同じ評価対象点を
再現して評価できる。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明によれば次のような種々の効
果を奏する。

先ず、請求項１においては、所望とする測定結果のデー
タを迅速、確実に取出して表示でき、これにより評価時
間の短縮化を図ることかできる。

また、リアルタイムモニタ測定を行うことにより、ある
評価対象点について詳細に評価できる。

次に、請求項２では、外来波の如く不要波を容易に除去
することができ、かつ、必要とする評価対象点を追加し
て適切な評価を行え、この点からも評価時間の短縮を図
ることができる。

さらに、請求項３では、得られた評価対象点を外部の不
揮発性記憶装置にストアし、必要な時にその評価対象点
を用いることにより予備測定等を省略できる。

【図面の簡単な説明】

第１図ないし第６図は本発明装置の実施例を説明するた
めに示したもので、第１図は本発明装置の機能を示すブ
ロック図、第２図は本発明装置の一連の動作フローを示
す図、第３図は広い周波数範囲の雑音スペクトラム分布
図、第４図は評価対象点の選択およびマーカの移動状態
を説明する図、第５図は評価測定結果およびマーカの移
動状態を示す図、第６図はある評価対象点の周波数近傍
の雑音スペクトラム分布を拡大表示する図、２Ｊ７図は
従来装置の動作フローを示す図、第８図（ａ）は従来装
置による雑音スペクトラム分布図、第８図（ｂ）は評価
測定結果の状態を示す図である。１・・・予（ｉｉ　ＩＩ定キー　２・・・マーカ移動キ
ー３・・・評価測定キー　４・・・選択キー　５・・・
選択キー６・・・削除キー　７・・・システム制御手段
、８・・・予備測定制御手段、９・・・スペクトラム測
定手段、１０・・・メモリ、１１・・・登録メモリ、１
２・・・予備Ｍｊ定用メモリ、１３・・・表示装置、１
４・・・評価ｉ’１ｌｌＪ定制御手段、１５・・・評価
測定用メモリ、１６・・・表示内容選択制御手段、１７
・・・マーカ移動制御手段、２１・・・追加制御手段、
２２・・・削除制御手段、２３・・・ストア・リコール
制御手段、２４・・・不揮発性記憶装置。出願人代理人　弁理士　鈴江武彦第図第図（ａ）第図（ｂ）第図（ａ）第図（ｂ）第８図（ａ）第８図（ｂ）

Claims

【特許請求の範囲】

（１）広い周波数範囲の雑音スペクトラム分布を測定し
、その雑音スペクトラムの評価を行うＥＭＩ測定装置に
おいて、前記測定された雑音スペクトラムと所定の規格レベルと
を比較し、雑音スペクトラムが規格レベル以上のときに
その雑音スペクトラムの周波数を順次第１のメモリ（１
１）に登録し、また前記広い周波数範囲の雑音スペクト
ラム分布を対数変換して得られる雑音スペクトラム分布
波形データを第２のメモリ（１２）に記憶すると共に表
示装置（１３）に表示する予備測定制御手段（８）と、
この予備測定制御手段によって前記第１のメモリに登録
された各周波数を順次評価対象点として評価測定を行い
、得られた評価測定波形データを第３のメモリ（１５）
に記憶すると共に前記表示装置に表示する評価測定制御
手段（１４）と、表示内容選択キーに応じて前記第２の
メモリに記憶された予備測定波形データ、前記第３のメ
モリに記憶された評価測定波形データおよび前記第１の
メモリに登録された評価対象点となる周波数近傍の雑音
スペクトラムを測定して得られる拡大波形データの何れ
かを選択して表示する表示内容選択制御手段（１６）と
、前記予備測定制御手段によって表示された予備測定波形
、前記評価測定制御手段によって表示された評価測定波
形および前記表示内容選択制御手段によって選択表示さ
れた予備測定波形、評価測定波形の何れかの表示時に所
望とする評価対象点にマーカを付すと共にそのマーカを
移動させるマーカ移動制御手段（１７）とを備えたことを特徴とするＥＭＩ測定装置。
（２）評価対象点となる周波数を第１のメモリに追加登
録する評価対象点追加手段（２１）と、前記第１のメモ
リに登録された評価対象点である周波数のうちから任意
の周波数を指定して削除する評価対象点削除手段（２２
）とを備えた請求項１記載のＥＭＩ測定装置。
（３）不揮発性記憶装置（２４）と、この不揮発性記憶
装置に第１のメモリ内の評価対象点を記憶させ、かつ、
この記憶した評価対象点を第１のメモリ内に再生するた
めのストア・リコール制御手段とを備えた請求項１また
は請求項２記載のＥＭＩ測定装置。