JPH02176519A - アナログ信号測定器 - Google Patents
アナログ信号測定器Info
- Publication number
- JPH02176519A JPH02176519A JP33225188A JP33225188A JPH02176519A JP H02176519 A JPH02176519 A JP H02176519A JP 33225188 A JP33225188 A JP 33225188A JP 33225188 A JP33225188 A JP 33225188A JP H02176519 A JPH02176519 A JP H02176519A
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- JP
- Japan
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- digital data
- data
- analog signal
- bits
- signal measuring
- Prior art date
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- Pending
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- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims abstract description 14
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、アナログ信号をデジタルデータに変換して測
定するアナログ信号測定器に関するものである。
定するアナログ信号測定器に関するものである。
アナログ信号をデジタルデータに変換して測定を行なう
場合、「同一データを複数回測定して平均をとる」とい
う手法（以下「加算平均処理」という）を用いると、一
般に測定精度が向上することが知られている。
場合、「同一データを複数回測定して平均をとる」とい
う手法（以下「加算平均処理」という）を用いると、一
般に測定精度が向上することが知られている。
従来のアナログ信号測定器を第４図に示す。同図におい
て、１はアナログ信号をｎデジタルデータに変換するＡ
／Ｄ変換器、２はＡ／Ｄ変換器１によって得られたデジ
タルデータを記憶する記憶素子である。第５図（ａ）〜
（Ｃ）は加算平均処理中の記憶素子２内でのデジタルデ
ータのロケーションを示すデータ配置図である。
て、１はアナログ信号をｎデジタルデータに変換するＡ
／Ｄ変換器、２はＡ／Ｄ変換器１によって得られたデジ
タルデータを記憶する記憶素子である。第５図（ａ）〜
（Ｃ）は加算平均処理中の記憶素子２内でのデジタルデ
ータのロケーションを示すデータ配置図である。
次に動作について説明する。被測定アナログ信号はＡ／
Ｄ変換器１によりｎビットのデジタルデータに変換され
、記憶素子２に格納される。この時のデジタルデータの
ロケーションは第５図（ａ）に示す通りである。この測
定を２″回実施し、各々のデジタルデータを加算すると
、デジタルデータ長はｍ＋ｎビットとなり、そのロケー
ションは第５図（ｂｌに示すようになる。その後、平均
化するために、デジタルデータのｍビット右シフトを行
なう。この時のデジタルデータのロケーションは第５図
（Ｃ）に示す通りで、データの右側ｍビット分は消滅し
、このため測定精度が悪化する。必要な観測対象が１つ
の場合は、デジタルデータを加算した状態である第５図
ｔｂ＞の段階で、桁移動等のソフトウエア的な処理によ
って対応可能である。しかし、観測対象が複数である場
合（例えば画像処理装置の場合）はスループットが著し
く低下する。
Ｄ変換器１によりｎビットのデジタルデータに変換され
、記憶素子２に格納される。この時のデジタルデータの
ロケーションは第５図（ａ）に示す通りである。この測
定を２″回実施し、各々のデジタルデータを加算すると
、デジタルデータ長はｍ＋ｎビットとなり、そのロケー
ションは第５図（ｂｌに示すようになる。その後、平均
化するために、デジタルデータのｍビット右シフトを行
なう。この時のデジタルデータのロケーションは第５図
（Ｃ）に示す通りで、データの右側ｍビット分は消滅し
、このため測定精度が悪化する。必要な観測対象が１つ
の場合は、デジタルデータを加算した状態である第５図
ｔｂ＞の段階で、桁移動等のソフトウエア的な処理によ
って対応可能である。しかし、観測対象が複数である場
合（例えば画像処理装置の場合）はスループットが著し
く低下する。
例えば１００万画素の場合を試算する。１回当たりのソ
フトウェア処理が１０μ秒とすると、１００万画素の処
理時間は１０μ秒ｘｌＯＯ万＝１０秒となる。
フトウェア処理が１０μ秒とすると、１００万画素の処
理時間は１０μ秒ｘｌＯＯ万＝１０秒となる。
従来のアナログ信号測定器は以上のように構成されてい
るので、加算平均処理時にデジタルデータの少数部が消
滅し、測定精度が悪化する。また、ソフトウェアで桁移
動等の対処を施しても、測定対象が複数の場合はスルー
プットが著しく減少するという問題があった。
るので、加算平均処理時にデジタルデータの少数部が消
滅し、測定精度が悪化する。また、ソフトウェアで桁移
動等の対処を施しても、測定対象が複数の場合はスルー
プットが著しく減少するという問題があった。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的とするところは、高スルーブツト化、測定精度向
上が図れるアナログ信号測定器を得ることにある。
の目的とするところは、高スルーブツト化、測定精度向
上が図れるアナログ信号測定器を得ることにある。
このような目的を達成するために本発明は、アナログ信
号をデジタルデータに変換して測定を行なうアナログ信
号測定器において、データ加算平均処理時に発生する少
数部を保持する記憶手段を設けるようにしたものである
。
号をデジタルデータに変換して測定を行なうアナログ信
号測定器において、データ加算平均処理時に発生する少
数部を保持する記憶手段を設けるようにしたものである
。
本発明によるアナログ信号測定器においては、デジタル
データの加算平均処理によって発生する少数部が保持さ
れる。
データの加算平均処理によって発生する少数部が保持さ
れる。
第１図は本発明によるアナログ信号測定器の一実施例を
示す系統図である。同図において、１はアナログ信号を
デジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換器、２はＡ／Ｄ変
換器１によって得られたデジタルデータを記憶する記憶
素子、３は加算平均処理時に発生する少数部を保持する
記憶素子である。第２図［ａ）〜（Ｃ）は加算平均処理
中の記憶素子２および３内でのデジタルデータのロケー
ションを示すデータ配置図である。
示す系統図である。同図において、１はアナログ信号を
デジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換器、２はＡ／Ｄ変
換器１によって得られたデジタルデータを記憶する記憶
素子、３は加算平均処理時に発生する少数部を保持する
記憶素子である。第２図［ａ）〜（Ｃ）は加算平均処理
中の記憶素子２および３内でのデジタルデータのロケー
ションを示すデータ配置図である。
次に動作について説明する。被測定アナログ信号はＡ／
Ｄ変換器１によりｎビットのデジタルデータに変換され
、記憶素子２に格納される。この時のデジタルデータの
ロケーションは第２図ｔａ）に示す通りである。この測
定を２″回実施し、各々のデジタルデータを加算すると
、デジタルデータ長はｍ ＋ ｎビットとなり、そのロ
ケーションは第２図（ｂｌに示すようになる。その後、
平均化するためにデジタルデータのｍビット右シフトを
行なう。
Ｄ変換器１によりｎビットのデジタルデータに変換され
、記憶素子２に格納される。この時のデジタルデータの
ロケーションは第２図ｔａ）に示す通りである。この測
定を２″回実施し、各々のデジタルデータを加算すると
、デジタルデータ長はｍ ＋ ｎビットとなり、そのロ
ケーションは第２図（ｂｌに示すようになる。その後、
平均化するためにデジタルデータのｍビット右シフトを
行なう。
この時のデジタルデータのロケーションは第２図ｆｃ）
に示す通りで、従来技術において消滅したデータの右側
ｍビット分は少数部保持用記憶素子３によって保持され
る。このため、より正確なデータを得ることが可能とな
る。また、ハードウェアで平均化を行なうためスループ
ットの向上が図れる。
に示す通りで、従来技術において消滅したデータの右側
ｍビット分は少数部保持用記憶素子３によって保持され
る。このため、より正確なデータを得ることが可能とな
る。また、ハードウェアで平均化を行なうためスループ
ットの向上が図れる。
なお、上記実施例では少数点保持用に新たに記憶素子３
を設けたが、記憶素子２が十分大きなビット長を持って
いる場合は、第３図（ａｌ〜（Ｃ１に示すように、デジ
タルデータのロケーションをずらすように格納し、加算
平均処理を実施しても良い。
を設けたが、記憶素子２が十分大きなビット長を持って
いる場合は、第３図（ａｌ〜（Ｃ１に示すように、デジ
タルデータのロケーションをずらすように格納し、加算
平均処理を実施しても良い。
第３図ｔａ＞〜（Ｃ）のデータロケージジンは第２図（
ａｌ〜（Ｃ）のデータロケーションに対応する。
ａｌ〜（Ｃ）のデータロケーションに対応する。
以上説明したように本発明によるアナログ信号測定器は
、データ加算平均処理時に発生ずる少数部を保持する記
憶手段を設けたことにより、少数部を保持しない従来装
置に比べ、より正確なデータを得ることができる効果が
ある。また、ハードウェアで平均化を行なうため、ソフ
トウェアでの処理に比べ、よりスループットの向上が図
れる効果がある。
、データ加算平均処理時に発生ずる少数部を保持する記
憶手段を設けたことにより、少数部を保持しない従来装
置に比べ、より正確なデータを得ることができる効果が
ある。また、ハードウェアで平均化を行なうため、ソフ
トウェアでの処理に比べ、よりスループットの向上が図
れる効果がある。
第１図は本発明によるアナログ信号測定器の一実施例を
示す系統図、第２図は本発明の一実施例の動作を説明す
るためのデータ配置図、第３図は本発明の他の実施例の
動作を説明するためのデータ配置図、第４図は従来のア
ナログ信号測定器を示す系統図、第５図は第４図の装置
の動作を説明するだめのデータ配置図である。 １・・・Ａ／Ｄ変換器、２．３・・・記憶素子。
示す系統図、第２図は本発明の一実施例の動作を説明す
るためのデータ配置図、第３図は本発明の他の実施例の
動作を説明するためのデータ配置図、第４図は従来のア
ナログ信号測定器を示す系統図、第５図は第４図の装置
の動作を説明するだめのデータ配置図である。 １・・・Ａ／Ｄ変換器、２．３・・・記憶素子。
Claims (1)
- アナログ信号をデジタルデータに変換して測定を行なう
アナログ信号測定器において、データ加算平均処理時に
発生する少数部を保持する記憶手段を備えたことを特徴
とするアナログ信号測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33225188A JPH02176519A (ja) | 1988-12-28 | 1988-12-28 | アナログ信号測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33225188A JPH02176519A (ja) | 1988-12-28 | 1988-12-28 | アナログ信号測定器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02176519A true JPH02176519A (ja) | 1990-07-09 |
Family
ID=18252863
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33225188A Pending JPH02176519A (ja) | 1988-12-28 | 1988-12-28 | アナログ信号測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02176519A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002118463A (ja) * | 2000-08-22 | 2002-04-19 | Lucent Technol Inc | デジタル・サンプル値を結合することによるアナログ・デジタル変換のための方法およびシステム |
| JP2008016999A (ja) * | 2006-07-04 | 2008-01-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体装置 |
| JP2010063055A (ja) * | 2008-09-08 | 2010-03-18 | Sony Corp | 逐次比較型ａ／ｄ変換器、逐次比較型ａ／ｄ変換器の制御方法、固体撮像装置および撮像装置 |
| JP2011055535A (ja) * | 2010-11-10 | 2011-03-17 | Sony Corp | 逐次比較型ａ／ｄ変換器および撮像装置 |
| EP2131323A3 (en) * | 2008-06-03 | 2012-04-04 | Olympus Medical Systems Corp. | Imaging apparatus and in-vivo image obtaining apparatus |
| JP2012124774A (ja) * | 2010-12-09 | 2012-06-28 | Advantest Corp | Ａｄ変換装置およびｄａ変換装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5466169A (en) * | 1977-11-04 | 1979-05-28 | Nec Corp | Echo sounder |
| JPS63157230A (ja) * | 1986-12-20 | 1988-06-30 | Fujitsu Ltd | 丸め回路 |
-
1988
- 1988-12-28 JP JP33225188A patent/JPH02176519A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5466169A (en) * | 1977-11-04 | 1979-05-28 | Nec Corp | Echo sounder |
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| US8022856B2 (en) | 2008-09-08 | 2011-09-20 | Sony Corporation | Successive approximation type A/D converter, method of controlling successive approximation type A/D converter, solid-state imaging device, and imaging apparatus |
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