JPH021680A - 通信テスト装置 - Google Patents

通信テスト装置

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Publication number
JPH021680A
JPH021680A JP63142444A JP14244488A JPH021680A JP H021680 A JPH021680 A JP H021680A JP 63142444 A JP63142444 A JP 63142444A JP 14244488 A JP14244488 A JP 14244488A JP H021680 A JPH021680 A JP H021680A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
communication
connection information
circuit
simulation
logical circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP63142444A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazumasa Kaneko
和正 金子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Tateisi Electronics Co
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Filing date
Publication date
Application filed by Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Tateisi Electronics Co
Priority to JP63142444A priority Critical patent/JPH021680A/ja
Publication of JPH021680A publication Critical patent/JPH021680A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
  • Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は通信テスト装置に関し、特に、テスト機器の
信号形パに応じた論理回路を形成することのできるよう
な通信テスト装置に関する。
[従来の技術および発明が解決しようとする課題]従来
より、開発された端末装置等の通信テストを行なうため
の通信テスト装置が知られている。
このような通信テスト装置とテストされる端末装置との
間のデータ通信は、規格化された所定の信号形式で行な
われる。−船釣に利用される信号形式には、同期方式、
非同期方式、NRZ/NRZ■のエンコーダ方式などが
あり、送受信データのビット形式、同期制御方式、エン
コーダ方式などがそれぞれ異なっている。通信テスト装
置は、汎用性が重要なポイントであり、いずれの信号形
式をもとれることが望ましい。しかしながら、従来の通
信テスト装置は、セットされている論理回路で用いられ
る信号形式と異なる信号形式の端末装置をテストする場
合には、信号形式に応じて論理回路を変更して使用しな
ければならず、不便であった。また、信号形式に応じた
論理回路を予め準備しておかなければならないという問
題点があつ、た。
それゆえに、この発明の主たる目的は、ハードウェアを
置換することなく、種々の信号形式の機器の通信テスト
を行なうことのできる通信テスト装置を提供することで
ある。
[課題を解決するための手段] この発明の通信テスト装置は、外部から与えられる接続
情報に応じて、論理回路を任意に構成可能な論理回路手
段と、予め定める接続情報を論理回路手段に与えて、当
該論理回路手段にテスト機器との信号形式に応じた通信
制御回路を形成させるための通信制御回路形成手段とを
備えて構成される。
[作用] この発明に係る通信テスト装置は、論理回路を任意に構
成可能な論理回路手段に、予め定める接続情報を与えて
、テスト機器との信号形式に応じた通信制御回路を形成
させるようにしている。
[発明の実施例] 第1図は、この発明の一実施例の通信テスト装置の電気
的構成を示す概略ブロック図である。第1図において、
通信テスト装置1には、CPU2が設けられていて、C
PU2には、キーボード3゜CRTデイスプレィ42通
信制御回路5.外部記憶装置6およびメモリ7が接続さ
れる。CPU2はテスト機器が通常使用される際に接続
されるホストコンピュータ等の動作内容をシミュレーシ
ョンするためのものである。キーボード3は、通信テス
トを行なうのに必要なデータなどを人力するためのもの
である。CRTデイスプレィ4は入力データや通信処理
結果を示すデータなどを表示するものである。通信制御
回路5は、テスト機器と当該テスト機器に接続されるホ
ストコンピュータ等との間で予め取決められている所定
の規格の信号形式で通信を行なうためのものである。通
信制御回路5には、内部論理の内容を外部からプログラ
ムすることのできる論理回路素子(たとえば、MMI製
のLCA)が用いられる。この論理回路素子は、内部に
AND回路、OR回路、フリップフロップその他の回路
を標準的に備え、その基本回路を任意に接続することが
できるように、接続のための接続情報を外部から論理回
路素子に与えることができる構成とされている。
外部記憶装置6は、ビット形式、同期方式、エンコード
方式などに応じた論理回路素子の接続情報や通信テスト
装置で実行するシミュレーションプログラムなどを記憶
するものである。メモリ7はCPU2の動作プログラム
を記憶するプログラム記憶領域と、キーボード3から入
力されたデータなどを記憶するデータ記憶領域とを含む
。通信制御回路5はモデム装置等と接続するために、通
信制御回路5との信号レベルを合わせるための外部接続
回路8に接続される。なお、汎用性を持たせるために、
外部接続回路8の代わりに、信号バッファ回路を用い、
実際の通信線との接続のために、別にレベル調整回路を
準備してもよい。
第2図は、この発明の一実施例の動作を説明するための
フロー図である。最初に、通信テスト装置1で実行する
シミュレーションプログラムを外部記憶装置6からロー
ドする。次に、シミュレーションに必要な論理回路素子
の内部接続情報を外部記憶装置6から読出し、論理回路
素子に書込む。
内部接続情報はシミュレーション内容に応じて作成され
、前もって外部記憶装置6に記憶されている。通信テス
ト装置1はシミュレーションによりテスト機器のテスト
を行なう。
第3図は第1図に示す通信制御回路5の一例の回路構成
を示す図である。第3図に示す回路は、非同期方式の場
合の概略構成である。非同期方式の場合には、送受信ク
ロックを内部的に作成する必要がある。送信クロック作
成回路11は、送信データが並列直列変換回路12に書
込まれた時点から、データを直列回路から送出できるよ
うに動作する。受信クロック発生回路13は、受信デー
タのスタートビットを検出すると、直列回路にデータを
読込めるようにする。内部状態記憶回路15は、CPU
2で通信状態を読取りかつプログラム処理を行なえるよ
うにする回路であり、送受信データのエラー内容等がわ
かるように作られている。割込制御回路16は、CPU
2の割込みにより送信または受信の動作が完了したこと
や、エラーが発生したことを知らせる。バス接続回路1
7は、CPU2に接続するために必要な論理回路である
。例示はしないが、たとえば、同期方式の場合には、送
信クロック作成回路11および受信りロック作成回路1
3がなくなり、同期制御の信号検出回路が必要となる。
このように、通信方式に合わせて、必要な接続情報を外
部記憶装置に記憶しておき、各通信方式を識別すること
ができるようにしておけば、通信方式を指定するだけで
、論理回路素子へ接続情報が与えられ、それにより、必
要な通信制御回路が得られる。したがって、従来のよう
にチップの変更や物理的な配線の変更を行なうことなく
、種々の信号形式に適用できる通信テスト装置が得られ
る。
[発明の効果] 以上のように、この発明によれば、論理回路を任意に構
成可能な論理回路手段に、予め定める接続情報を与えて
、テスト機器との信号形式に応じた通信制御回路を形成
するようにしたので、通信テスト装置は、1つの通信制
御回路を用意しておくだけで、種々の信号形式に対応可
能となり、通信制御回路の汎用化が図れ、コストを低減
することができる。また、通信テスト装置として使いや
すいものとなる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例の通信テスト装置の電気的
構成を示す概略ブロック図である。第2図はこの発明の
一実施例の動作を説明するためのフロー図である。第3
図は第1図に示す通信制御回路の一例の回路構成を示す
図である。 図において、1は通信テスト装置、2はCPU。 3はキーボード、4はCRTデイスプレィ、5は通信制
御回路、6は外部記憶装置、7はメモリ、8は外部接続
回路を示す。 ◇\ 第2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 テスト機器の通信テストを行なうための通信テスト装置
    であって、 外部から与えられる接続情報に応じて、論理回路を任意
    に構成可能な論理回路手段と、 予め定める接続情報を前記論理回路手段に与えて、前記
    論理回路手段に前記テスト機器との信号形式に応じた通
    信制御回路を形成させるための通信制御回路形成手段と
    を備えた通信テスト装置。
JP63142444A 1988-06-09 1988-06-09 通信テスト装置 Pending JPH021680A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63142444A JPH021680A (ja) 1988-06-09 1988-06-09 通信テスト装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63142444A JPH021680A (ja) 1988-06-09 1988-06-09 通信テスト装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH021680A true JPH021680A (ja) 1990-01-05

Family

ID=15315454

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63142444A Pending JPH021680A (ja) 1988-06-09 1988-06-09 通信テスト装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7054694B2 (en) 2001-05-30 2006-05-30 Yokogawa Electric Corporation Process control system

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01251256A (ja) * 1988-03-31 1989-10-06 Nec Corp 端末シュミレータ

Patent Citations (1)

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