JP2006107071A - ロジックアナライザ内蔵型電子部品 - Google Patents
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Abstract
【課題】テストポイントが用意できないような小型の電子部品や基板でも電子回路の入出力信号を取り込むことができるようにすること。
【解決手段】本発明は、CPUやダンピング抵抗、バスバッファ等、パッケージ内に組み込まれた所定機能を有するアプリケーション回路29と、このパッケージ内に組み込まれ、アプリケーション回路29に対する入出力信号を所定のタイミングで取り込んで蓄積するロジックアナライザ20とを備えるロジックアナライザ内蔵型電子部品である。
【選択図】図2
【解決手段】本発明は、CPUやダンピング抵抗、バスバッファ等、パッケージ内に組み込まれた所定機能を有するアプリケーション回路29と、このパッケージ内に組み込まれ、アプリケーション回路29に対する入出力信号を所定のタイミングで取り込んで蓄積するロジックアナライザ20とを備えるロジックアナライザ内蔵型電子部品である。
【選択図】図2
Description
本発明は、所定機能を有する電子回路を収納するパッケージ内に、その電子回路に対する入出力信号を取り込む機能を組み込んだロジックアナライザ内蔵型電子部品に関する。
従来、デジタル回路のデバッグ方法は、プリント基板上にテストポイントを設け、そのテストポイントに波形解析を行うためのロジックアナライザを接続し、その波形を解析することで回路が正しく動作しない原因を見つけている。この方法はプリント基板上にテストポイント、即ち、ロジックアナライザのプローブを接続するための端子(パッド)を予め用意しておく必要がある。現在の回路は非常に高密度であり、これらのテストポイントを用意することが困難になりつつある。すなわち、これらのテストポイントはある程度の面積を要するため、限られた基板内に充分な数のテストポイントを設置することが難しいからである。また、ICに内蔵させるロジックアナライザとしては、特許文献1に記載の「向上した埋め込みロジックアナライザ」という技術がある。
しかしながら、上記特許文献1に記載の技術では、PLD(プログラマブル論理デバイス)の内部回路の解析を目的としており、すなわち、PLDへ書き込むアプリケーション回路の解析を目的としたものであり、外部の周辺回路の解析を目的としたものではない。また、この従来技術ではPLDのコアの動作が設定通りになっているか否かを検証するものであり、コアの周辺に設けられる回路の解析には適用できない。
本発明はこのような課題を解決するために成されたものである。すなわち、本発明は、パッケージ内に組み込まれた所定機能を有する電子回路と、このパッケージ内に組み込まれ、電子回路に対する入出力信号を所定のタイミングで取り込んで蓄積するロジックアナライザとを備えるロジックアナライザ内蔵型電子部品である。
このような本発明では、パッケージ内にロジックアナライザが組み込まれているため、電子回路に対する入出力信号をこのロジックアナライザで取り込んで記憶でき、外部のコンピュータ等へ送ることができる。
したがって、本発明によれば、以下のような効果がある。すなわち、テストポイントが用意できないような小型の電子部品や基板であっても、内蔵のロジックアナライザで電子回路の入出力信号を取り込むことができ、部品不良や実装不良などの解析時間を大幅に短縮することが可能となる。また、回路設計時の開発・デバッグ解析時間を短縮することが可能となる。さらに、テストポイントが不要となるため、基板の小型化を図ることが可能となる。
以下、本発明の実施の形態を図に基づき説明する。図1は、本実施形態に係るロジックアナライザ内蔵型電子部品を説明する模式図である。このロジックアナライザ内蔵型電子部品は、CPUなどのICや抵抗アレイ、バスバッファICとして実現され、このデバイスのパッケージ内において、電子回路の入出力ピンに対する信号取り込み回路(ロジックアナライザ)をハードウェアとして組み込み、それらのデバイスから取り込んだ信号を外部のPC(パーソナルコンピュータ)等に転送し、その波形を解析することを可能にしている。これにより、外部ロジックアナライザおよびその測定用プローブを接続するためのテストポイントを必要とせずに、デジタル信号解析を行うことが可能となる。
<1>システムおよび要部の説明
図1は、ロジックアナライザ内蔵型電子部品を用いたハードウェア構成を示す模式図である。この回路例では、CPUおよびバスバッファ、ダンピング抵抗に本実施形態であるロジックアナライザ内蔵型電子部品を適用している。
図1は、ロジックアナライザ内蔵型電子部品を用いたハードウェア構成を示す模式図である。この回路例では、CPUおよびバスバッファ、ダンピング抵抗に本実施形態であるロジックアナライザ内蔵型電子部品を適用している。
基板1は、本実施形態のロジックアナライザ内蔵型電子部品であるデバイスや、その他のデバイスが搭載されるプリント基板である。
CPU2は、本実施形態に係るロジックアナライザ内蔵型電子部品を適用したもので、パッケージ内にロジックアナライザが組み込まれている。ここでCPUのアーキテクチャーなどは特に問わない。
ダンピング抵抗3は、アドレス線、データ線などに直列に入れられる例えば22〜33Ω程度の抵抗である。一般的にSDRAMは高速動作するため、その信号のオーバーシュートやアンダーシュートを減衰させるためにダンピング抵抗3を入れる。ダンピング抵抗3も、本実施形態に係るロジックアナライザ内蔵型電子部品を適用している。
SDRAM4は、クロックに同期して動作する高速DRAM(Dynamic Random Access Memory)である。SDRAM4の種類は問わない。SDRAM4は本実施形態に係るロジックアナライザ内蔵型電子部品を適用していないが、これはロジックアナライザを内蔵しなくても最低限の解析が可能だからである。なお、ロジックアナライザを内蔵していれば更に詳細な解析が可能となる。
高速バスバッファ5は、SDRAM4などの高速バスと分離させるためのバスバッファである。一般的に低速バスには後述するFlash ROMや周辺I/Oなどの遅い速度のデバイスとのデータバス衝突を防ぐため、高速バスバッファ5を入れることが多い。高速バスバッファ5には、本実施形態に係るロジックアナライザ内蔵型電子部品を適用している。
Flash ROM6は、CPU2のプログラムが格納されるメモリである。Flash ROM6は本実施形態に係るロジックアナライザ内蔵型電子部品を適用していないが、これはロジックアナライザを内蔵しなくても最低限の解析が可能だからである。なお、ロジックアナライザを内蔵していれば更に詳細な解析が可能になる。
周辺I/O7は、LCD(Liquid Crystal Display)コントローラやLAN(Local Area Network)などの周辺入出力回路である。周辺I/O7は本実施形態に係るロジックアナライザ内蔵型電子部品を適用していないが、これはロジックアナライザを内蔵しなくても最低限の解析が可能だからである。なお、ロジックアナライザを内蔵していれば更に詳細な解析が可能になる。
通信線8は、電子部品に内蔵されるロジックアナライザと本外部PC(パーソナルコンピュータ)9との間で通信するための通信線である。これらの通信線の規格(プロトコル)は、I2CやUARTなど特に問わない。例えばI2Cを採用した場合は、SCLK,SDATAという2本の線をそれぞれ分岐接続すればよい。
外部PC9は、一般的なパーソナルコンピュータであり、OS(Operating System)などは特に問わない。
コネクタ10は、通信線8と外部PC9とを接続するための連結部品もしくは電気的な端子(ランド)である。これは基板1上に用意しておく必要がある。コネクタ10の形状などは特に問わない。
図2は、本実施形態に係るロジックアナライザ内蔵型電子部品のブロック図である。ロジックアナライザ20は、本実施形態の電子部品の中心を構成する回路である。すなわち、ロジックアナライザ20は、逓倍器21、分周器24、コントローラ25、サンプラ27、RAM28およびマルチプレクサ31を備えている。
逓倍器21は外部からのクロックを逓倍するための回路である。一般的にこの逓倍器21はクロックを数倍から数十倍にする。なお、高速なサンプリング周波数を作るために逓倍器21を備えているが、サンプリング周波数が低速でも充分な場合は逓倍器21の有無は任意である。入力クロックはデバイス外部から外部クロック22のように入力しても、内部のアプリケーションから外部クロック23のように入力しても、どちらか一方が入力されれば良い。
分周器24は、逓倍器21で逓倍されたクロックを分周するための回路である。分周器24はサンプリング周波数を決定するものである。例えばサンプリング周波数を固定にするのであれば、分周器24は不要となる。
コントローラ25はロジックアナライザ20の中心的な動作を行う制御回路である。詳細は後述するので概要を示す。外部から通信線26(図1に示す通信線8に対応)によって外部PC9から制御される。通信線26はI2Cプロトコルを使用したと仮定している。
コントローラ25は、通信線26からの制御により、逓倍器21の倍率を設定したり、分周器24の分周比を設定したり、サンプラ27の設定を行う。また、一般的なCPU回路などが含まれるアプリケーション回路29より、バスインターフェース30を経由し、通信線26を使用せず、直接コントローラ25に対する制御を行うことも可能である。
サンプラ27は、対象となる電子回路の信号を取得するための回路である。詳細は後述するので概要を示す。サンプラ27は分周器24で生成されたサンプリング周波数に基づき、入力データをラッチする。また、ラッチしたデータをRAM28に格納する機能を持つ。
RAM28は、取得した信号を格納するメモリである。メモリの種類はSRAMでもDRAMでも問わないし、同期式か非同期式かも問わない。この例では、同期式と仮定する。データバスの掛け数も任意であるが、1bitあたり1チャンネルのデータを格納する。例えば8bit幅の場合は、同時に8チャンネル分のデータを格納することができる。
マルチプレクサ31は、各ピンからの入力信号を切り替える回路である。例えば8bitの入力を1bitにマルチプレクスできるマルチプレクサ31を8個搭載したと仮定する。すなわち、マルチプレクサ31からの出力は8bitとなり、RAM28のデータバスが8bitと一致させる。この場合、8bit×8チャンネル=64チャンネルの入力から任意の8bit(8チャンネル)のデータを同時取得できる。
アプリケーション回路入出力部32は、ロジックアナライザ20と同一デバイス(同一パッケージ内)に存在すると仮定する。回路としてはアプリケーション回路入出力部32とロジックアナライザ20とは完全に独立している。
アプリケーション回路29は、一般的なCPUやタイマ、DMAコントローラなどの回路であり、特に回路の動作に指定はない。これらの回路からの入出力データが、測定対象の信号となる。
端子35はアプリケーション回路29で使われる端子(ピン)である。これらの端子35は、バッファ36を経由してアプリケーション回路に接続される。これらの信号がロジックアナライザ20に接続される。
バッファ回路33およびダンピング抵抗回路34は、図1に示す高速バスバッファ5およびダンピング抵抗3と対応している。図2では、アプリケーション回路29、バッファ回路33およびダンピング抵抗回路34に対して1つのロジックアナライザ20が示されているが、これは紙面の関係であり、実際にはアプリケーション回路29、バッファ回路33およびダンピング抵抗回路34の各々に対応してロジックアナライザ20が設けられている。したがって、図1に示す高速バスバッファ5には、図2に示すロジックアナライザ20と、バッファ回路33とが内蔵されている。また、図1に示すダンピング抵抗3には、ロジックアナライザ20とダンピング抵抗回路34とが内蔵されている。
バッファ回路33には、バッファ37が内蔵されている。ロジックアナライザ20は、バッファの入力部および出力部から測定する信号を取得している。
ダンピング抵抗回路34は、ダンピング抵抗38が内蔵されている。抵抗は22〜33Ω程度の一般的な抵抗である。ロジックアナライザ20はダンピング抵抗38の両端から測定する信号を取得している。
本実施形態では、このようなロジックアナライザ20をハードウェアとして電子回路と同一パッケージ内に組み込んで構成しているため、各種の回路の動作における入出力信号を取り込んで記憶でき、外部の測定機器としてロジックアナライザを接続したり、この接続のためのテストポイントを設ける必要がなく、内蔵のロジックアナライザ20に記憶されたデータを外部PC9で取り込むことで電子回路の動作を容易に解析できるようになる。
図3は、コントローラの詳細を説明する図である。コントローラで行う処理は、基本的にレジスタに対するリードとライト処理である。
プロトコルデコーダ250は、通信線251から与えられたコマンドを解釈するためのプロトコルデコーダである。通信線251の規格(プロトコル)は、I2CやUARTなど特に問わない。例えばI2Cを採用した場合は、SCLK,SDATAという2本の信号になる。通信線251を経由してレジスタに対するリードとライトコマンドがプロトコルデコーダ250に与えられると、プロトコルデコーダ250は書き込みか読込みかの方向、アドレス、書き込み時はそのデータに分離する。図4は、これらのコマンドフォーマット例である。それぞれ番地の値、データの値に意味は無い。この例では、プロトコルデコーダ250は、0x10000000番地のアドレスをリードする、0x2000FFFE番地にデータ0x1234を書き込むなどの意味にデコードする。
アドレスジェネレータ252は、プロトコルデコーダ250でデコードされたアドレスを出力する。データ入出力バッファ253は、双方向のバッファである。データのリード、ライト処理に従い、データの入出力を司る。
タイミングジェネレータ254は、外部からのクロックによる同期回路であり、書き込み信号や読込み信号を生成する。また、書き込み時、読込み時のバッファの制御も行う。これらの詳細なタイミングは、それぞれ接続するメモリなどに依存する。
アドレスデコーダ255は、プロトコルデコーダ250でデコードされたアドレスを元に、一般的なチップセレクト信号を生成する。デコードアドレスの詳細は、そのシステムに依存する。
図5は、サンプラおよびRAMを詳細に説明するブロック図である。データ取り込みタイミングジェネレータ270は、トリガセレクタ271からのトリガを元に、RAM28へのデータ取り込み信号を生成するタイミングジェネレータである。図3のプロトコルデコーダ250によってトリガ待ちにセットされると、トリガセレクタ271からのトリガ待ち状態になる。トリガセレクタ271からトリガ信号を受信した場合、データ取り込みタイミングジェネレータ270はデータの取り込みを開始する。取り込み時はRAM28に対してアドレスおよび書き込み信号を出力する。取り込んだデータを読込む場合は、読込み信号を出力する。
トリガセレクタ271は、計測対象となる入力信号のどれを取り込みのトリガにするかを選択する。また、計測対象となる信号の立ち上がり信号もしくは立下り信号を検出する。トリガセレクタ271に入力する信号数(データ幅)に特に指定はない。
ラッチ2720は、計測対象とする信号を一時ラッチする部分である。ラッチする信号数(データ幅)に特に指定はない。バッファ273は、一般的なデータバスバッファである。バッファ273はRAM28へのデータ書き込み時はラッチ272からのデータをRAM28に通し、RAM28からの読み込み時はトライステートになる。
<2>動作概要
以下に動作概要を説明する。
図6は、8bitの抵抗アレイに内蔵したロジックアナライザ20を用い、抵抗アレイ上の信号解析を行うと仮定した場合の回路例である。基本的に図2と同じであるが、回路ブロックとしては、図2のロジックアナライザ20が1個、ダンピング抵抗回路34が8個として構成されている。
以下に動作概要を説明する。
図6は、8bitの抵抗アレイに内蔵したロジックアナライザ20を用い、抵抗アレイ上の信号解析を行うと仮定した場合の回路例である。基本的に図2と同じであるが、回路ブロックとしては、図2のロジックアナライザ20が1個、ダンピング抵抗回路34が8個として構成されている。
それぞれ測定対象となる信号はダンピング抵抗の両端となるので、16個所が測定対象となる。また、RAM28のアドレス空間は32bit、バス幅は8bitとし、8チャンネル分、すなわち、8bitの抵抗アレイのデータ両端から8bitを選択して取り込む。したがって、16チャンネルから任意の2チャンネルを取り込むとする。取り込み対象チャンネルはチャンネル0とチャンネル1の合計2チャンネル分、トリガ信号はチャンネル1の立ち上がりとする。
<2.1>
ホストとなる外部PC9から、通信線8を経由し、コントローラ25を通して逓倍器21に倍率を設定する。逓倍器21は内部にレジスタを持ち、そのレジスタに値を設定することで逓倍率を決められるとする。コントローラ25には、このレジスタに任意の倍率を設定するレジスタ書き込みコマンドとして書き込まれる。
ホストとなる外部PC9から、通信線8を経由し、コントローラ25を通して逓倍器21に倍率を設定する。逓倍器21は内部にレジスタを持ち、そのレジスタに値を設定することで逓倍率を決められるとする。コントローラ25には、このレジスタに任意の倍率を設定するレジスタ書き込みコマンドとして書き込まれる。
<2.2>
外部PC9から、通信線8を経由し、コントローラ25を通して分周器24に分周比を設定する。分周器24はない部にレジスタを持ち、そのレジスタに値を設定することで分周比を決められるとする。コントローラ25には、このレジスタに任意の分周比を設定するレジスタ書き込みコマンドとして書き込まれる。
外部PC9から、通信線8を経由し、コントローラ25を通して分周器24に分周比を設定する。分周器24はない部にレジスタを持ち、そのレジスタに値を設定することで分周比を決められるとする。コントローラ25には、このレジスタに任意の分周比を設定するレジスタ書き込みコマンドとして書き込まれる。
<2.3>
外部PC9から、通信線8を経由し、コントローラ25を通してマルチプレクサ31に、どの信号を測定対象にするかを設定する。この回路例では、2本の信号から1本の信号を選択するマルチプレクサ31が、8個内蔵されているとする。それぞれ2本の信号からどちらの信号を取得するかを設定する。マルチプレクサ31が、8個内蔵されており、これらマルチプレクサが取り込み対象チャンネルの0〜7チャンネル分、合計8チャンネルとなる。本回路例では、この中から取り込み対象チャンネルはチャンネル0とチャンネル1の合計2チャンネル分、トリガ信号はチャンネル1とする。
外部PC9から、通信線8を経由し、コントローラ25を通してマルチプレクサ31に、どの信号を測定対象にするかを設定する。この回路例では、2本の信号から1本の信号を選択するマルチプレクサ31が、8個内蔵されているとする。それぞれ2本の信号からどちらの信号を取得するかを設定する。マルチプレクサ31が、8個内蔵されており、これらマルチプレクサが取り込み対象チャンネルの0〜7チャンネル分、合計8チャンネルとなる。本回路例では、この中から取り込み対象チャンネルはチャンネル0とチャンネル1の合計2チャンネル分、トリガ信号はチャンネル1とする。
<2.4>
外部PC9から、通信線8を経由し、コントローラ25を通してトリガセレクタ41にどのトリガで取り込みを開始するかを設定する。トリガセレクタ271は内部にレジスタを持ち、そのレジスタに値を設定することでどの入力チャンネルをトリガにするか、本回路例では8チャンネルのうちのチャンネル1をトリガとして選択する。また、信号の立ち上がりか立下りかで信号取り込みを開始するかも決められるとする。
外部PC9から、通信線8を経由し、コントローラ25を通してトリガセレクタ41にどのトリガで取り込みを開始するかを設定する。トリガセレクタ271は内部にレジスタを持ち、そのレジスタに値を設定することでどの入力チャンネルをトリガにするか、本回路例では8チャンネルのうちのチャンネル1をトリガとして選択する。また、信号の立ち上がりか立下りかで信号取り込みを開始するかも決められるとする。
<2.5>
外部PC9から、通信線8を経由し、コントローラ25を通してデータ取り込みタイミングジェネレータ270に、取り込みコマンドを書き込む。取り込みコマンドを受けたデータ取り込みタイミングジェネレータ270は、トリガセレクタ271からのトリガを待つ。
外部PC9から、通信線8を経由し、コントローラ25を通してデータ取り込みタイミングジェネレータ270に、取り込みコマンドを書き込む。取り込みコマンドを受けたデータ取り込みタイミングジェネレータ270は、トリガセレクタ271からのトリガを待つ。
<2.6>
トリガセレクタ271内で信号取り込み条件が確立、即ち選択したトリガ信号チャンネルに、指定した立ち上がり信号もしくは立下り信号を検出すると、データ取り込みタイミングジェネレータ270にトリガ信号を伝える。
トリガセレクタ271内で信号取り込み条件が確立、即ち選択したトリガ信号チャンネルに、指定した立ち上がり信号もしくは立下り信号を検出すると、データ取り込みタイミングジェネレータ270にトリガ信号を伝える。
<2.7>
ラッチ271は、マルチプレクサ31経由で測定信号を毎回ラッチする。
ラッチ271は、マルチプレクサ31経由で測定信号を毎回ラッチする。
<2.8>
トリガセレクタ271からトリガ信号を受信したデータ取り込みタイミングジェネレータ270は、取り込んだ信号を格納するアドレスの先頭番地にアドレス信号をセットし、バッファ273をイネーブルにし、ラッチ272でラッチしたデータをRAM28に伝える。
トリガセレクタ271からトリガ信号を受信したデータ取り込みタイミングジェネレータ270は、取り込んだ信号を格納するアドレスの先頭番地にアドレス信号をセットし、バッファ273をイネーブルにし、ラッチ272でラッチしたデータをRAM28に伝える。
<2.9>
データ取り込みタイミングジェネレータ270は、RAM28に対し、書き込み信号を生成し、8bit分、すなわち8チャンネル分のデータを格納する。本回路例では取り込み対象チャンネルはチャンネル0とチャンネル1の合計2チャンネル分としているので、他の2〜7チャンネルのデータに関しては割愛して説明する。
データ取り込みタイミングジェネレータ270は、RAM28に対し、書き込み信号を生成し、8bit分、すなわち8チャンネル分のデータを格納する。本回路例では取り込み対象チャンネルはチャンネル0とチャンネル1の合計2チャンネル分としているので、他の2〜7チャンネルのデータに関しては割愛して説明する。
<2.10>
分周器24から生成されたサンプリング周波数を元に、RAM28に対して8bit分(8チャンネル分)のデータを格納した後、データ取り込みタイミングジェネレータ270は次のアドレスにアドレスを+1する。
分周器24から生成されたサンプリング周波数を元に、RAM28に対して8bit分(8チャンネル分)のデータを格納した後、データ取り込みタイミングジェネレータ270は次のアドレスにアドレスを+1する。
<2.11>
上記<2.9>との間を、RAM28の容量一杯まで繰り返す。
上記<2.9>との間を、RAM28の容量一杯まで繰り返す。
<2.12>
データ取り込みタイミングジェネレータ270内部のステータスレジスタに、完了したことを示す値を設定する。これらステータスレジスタの実装方法は、特に指定しない。何らかの形で、外部PC9から取り込みの完了が終了したことを検知できれば良い。
データ取り込みタイミングジェネレータ270内部のステータスレジスタに、完了したことを示す値を設定する。これらステータスレジスタの実装方法は、特に指定しない。何らかの形で、外部PC9から取り込みの完了が終了したことを検知できれば良い。
<2.13>
外部PC9から、通信線8を経由し、コントローラ25を通してデータ取り込みタイミングジェネレータ270内部のステータスレジスタを読込む。
外部PC9から、通信線8を経由し、コントローラ25を通してデータ取り込みタイミングジェネレータ270内部のステータスレジスタを読込む。
<2.14>
上記<2.13>で読んだステータスレジスタにより測定信号取り込みが完了していることを確認する。
上記<2.13>で読んだステータスレジスタにより測定信号取り込みが完了していることを確認する。
<2.15>
測定信号取り込みが完了していた場合、外部PC9から、通信線8を経由し、コントローラ25を通してデータ取り込みタイミングジェネレータ270に対し、測定データ読み込みコマンドを書き込む。
測定信号取り込みが完了していた場合、外部PC9から、通信線8を経由し、コントローラ25を通してデータ取り込みタイミングジェネレータ270に対し、測定データ読み込みコマンドを書き込む。
<2.16>
データ取り込みタイミングジェネレータ270は、取り込んだ信号の先頭番地にアドレス信号をセットし、バッファ273をディセーブルにし、RAM28に対して読込み信号を生成する。
データ取り込みタイミングジェネレータ270は、取り込んだ信号の先頭番地にアドレス信号をセットし、バッファ273をディセーブルにし、RAM28に対して読込み信号を生成する。
<2.17>
RAM28から読まれたデータはコントローラ25に送られ、通信線8を経由して外部PC9に送られる。
RAM28から読まれたデータはコントローラ25に送られ、通信線8を経由して外部PC9に送られる。
取り込んだデータ例を図7に示す。サンプリング周波数50は、分周器24で生成されたサンプリングクロックである。このクロックを元に、データの取り込みが行われる。取り込みデータ51は、上記例で示したチャンネル0から取り込んだデータである。それを数値化したのが取り込みデータ52である。トリガデータ53は、上記例で示したチャンネル0からデータ取り込むトリガとなるトリガデータである。それを数値化したのが取り込みデータ54である。
これらのデータは、RAM28に対して、図8のように格納される。アドレス60は、RAM28のアドレス空間を示す。この例では32bitのアドレス空間と仮定している。取り込みデータ61は、取り込んだデータである。これを2進数で表したものが、2進数表示データ64である。データは、トリガが発生した時から取り込んでいる。この例では、トリガ信号がチャンネル1となっているので、チャンネル1がH,すなわち「1」になった時からデータを取り込んでいる。最上位ビット62は、チャンネル7からの取り込みデータを意味する。この例ではbit7〜bit2までは使われていない。最下位ビット63は、チャンネル0からの取り込みデータを意味する。
これら取り込みデータは、数字のまま外部PC9で解析したり、波形として表示させることが可能になる。外部PC9でのデータ加工方法は特に指定しない。図1の場合、CPU2、ダンピング抵抗3、高速バスバッファ5の入出力データの信号が解析可能となる。すなわち、基板1上のバスデータのほぼ全ての信号が解析対象となる。
このようなロジックアナライザ20をデバイス内に内蔵させることで、検査のための大きな治具設備が不要となり、例えばサービス窓口であってもある程度の不良解析が可能となる。これにより、工場に戻す必要があるレベルの不良かどうかを早期に判別することが可能となる。
また、デバイスにテストポイントが不要となるため、基板作成時のアートワークがシンプルになり、期間と費用が削減できる。また、基本的に計測器(ロジックアナライザ)が不要となり、開発用の測定器などの開発費用を縮小できる。さらに、工場などで使うテストや不良解析に使うピン治具が不要となり、治具の低価格化を達成できる。
1…基板、2…CPU、3…ダンピング抵抗、4…SDRAM、5…高速バスバッファ、6…Flash ROM、7…周辺I/O、20…ロジックアナライザ、21…逓倍器、24…分周器、25…コントローラ、27…サンプラ、28…RAM、29…アプリケーション回路、31…マルチプレクサ
Claims (3)
- パッケージ内に組み込まれた所定機能を有する電子回路と、
前記パッケージ内に組み込まれ、前記電子回路に対する入出力信号を所定のタイミングで取り込んで蓄積するロジックアナライザと
を備えることを特徴とするロジックアナライザ内蔵型電子部品。 - 前記ロジックアナライザは、所定のタイミングで前記入出力信号を取り込むサンプラと、前記サンプラで取り込んだ前記入出力信号を蓄積するメモリとを有する
ことを特徴とする請求項1記載のロジックアナライザ内蔵型電子部品。 - 前記ロジックアナライザで取り込み蓄積した前記入出力信号を外部へ出力する端子を備えている
ことを特徴とする請求項1記載のロジックアナライザ内蔵型電子部品。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2020529064A (ja) * | 2017-07-24 | 2020-10-01 | ザイリンクス インコーポレイテッドXilinx Incorporated | 集積回路のためのロジックアナライザ |
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2004
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