JPH02165447A - 光磁気記録媒体およびその製造方法 - Google Patents
光磁気記録媒体およびその製造方法Info
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- JPH02165447A JPH02165447A JP31908388A JP31908388A JPH02165447A JP H02165447 A JPH02165447 A JP H02165447A JP 31908388 A JP31908388 A JP 31908388A JP 31908388 A JP31908388 A JP 31908388A JP H02165447 A JPH02165447 A JP H02165447A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、高密度の記録再生を可能とするコバルトフェ
ライト系の光磁気記録媒体およびその製造方法に関する
ものである。
ライト系の光磁気記録媒体およびその製造方法に関する
ものである。
従来の技術
近年、磁気記録および光熱磁気記録は、高密度化の方向
へ進みつつある。これらのうち磁気記録については、従
来は、面内に磁化の容易軸を持っているいわゆる面内磁
化による磁気記録方式が主流であった。しかしながらこ
の方式では、記録密度を上げれば上げるほど磁気記録媒
体内の磁化方向が互いに反発し合うように並ぶため高密
度化を計るのが困難になってきている。そこで近年磁気
記録の新しい方式として、磁気記録媒体の面内に対して
垂直方向に磁化容易軸を持っているいわゆる垂直磁化に
よる磁気記録方式が開発され〔例えば、岩崎、°“垂直
磁化を用いた高密度磁気記録”日経エレクトロニクス(
8,7)阻192.P、100゜1978)記録密度が
飛躍的に増大することが可能となった。
へ進みつつある。これらのうち磁気記録については、従
来は、面内に磁化の容易軸を持っているいわゆる面内磁
化による磁気記録方式が主流であった。しかしながらこ
の方式では、記録密度を上げれば上げるほど磁気記録媒
体内の磁化方向が互いに反発し合うように並ぶため高密
度化を計るのが困難になってきている。そこで近年磁気
記録の新しい方式として、磁気記録媒体の面内に対して
垂直方向に磁化容易軸を持っているいわゆる垂直磁化に
よる磁気記録方式が開発され〔例えば、岩崎、°“垂直
磁化を用いた高密度磁気記録”日経エレクトロニクス(
8,7)阻192.P、100゜1978)記録密度が
飛躍的に増大することが可能となった。
光熱磁気記録においても垂直磁気と同様に高密度記録を
達成するのには、垂直磁化であることが必要である。
達成するのには、垂直磁化であることが必要である。
しかし光熱磁気記録の場合垂直磁化膜である以外に、記
録時には、熱による磁性の変化を、再生には、磁気に付
随する光学効果を利用する点で磁気記録方式とは異って
いる。すなわち記録においては、レーザ光の熱を利用し
、再生には、光磁気記録媒体のカー効果あるいは、ファ
ラデー効果を利用している。〔例えば、今村修武、テレ
ビジョン学会誌第39巻、4号、1985年ページ36
5〜368〕又この媒体を例えば光磁気ディスクにした
場合このディスクのCN比(信号とノイズの比)を向上
させるためには、大きなカー効果(大きなカー回転角)
あるいはファラデー効果(大きなファラデー回転角)が
必要である。〔例えば、阿倍正紀、日本応用磁気学会誌
、第8巻、5号。
録時には、熱による磁性の変化を、再生には、磁気に付
随する光学効果を利用する点で磁気記録方式とは異って
いる。すなわち記録においては、レーザ光の熱を利用し
、再生には、光磁気記録媒体のカー効果あるいは、ファ
ラデー効果を利用している。〔例えば、今村修武、テレ
ビジョン学会誌第39巻、4号、1985年ページ36
5〜368〕又この媒体を例えば光磁気ディスクにした
場合このディスクのCN比(信号とノイズの比)を向上
させるためには、大きなカー効果(大きなカー回転角)
あるいはファラデー効果(大きなファラデー回転角)が
必要である。〔例えば、阿倍正紀、日本応用磁気学会誌
、第8巻、5号。
1984年、ページ366〜372〕
そこで近年、マンガンビスマス(MnB、)ガドリニウ
ムコバルト(GdCo)、ガドリニウム、テルビニウム
、鉄(GdTbFe)等のカー回転角の大きい光磁気記
録媒体が、真空蒸着法やスパッタリング法によって開発
されてきている。
ムコバルト(GdCo)、ガドリニウム、テルビニウム
、鉄(GdTbFe)等のカー回転角の大きい光磁気記
録媒体が、真空蒸着法やスパッタリング法によって開発
されてきている。
〔例えば、今村修武、テレビジョン学会誌第39巻、4
号、1985年、ページ365〜368〕しかしながら
これらの記録媒体は、いずれも金属の薄膜を利用してお
り、特にGd、Tb、Fe等の金属は酸化されやすく、
信頼性の必要なコンピュータ用の外部記憶装置等には、
適応しにくいと考えられる。
号、1985年、ページ365〜368〕しかしながら
これらの記録媒体は、いずれも金属の薄膜を利用してお
り、特にGd、Tb、Fe等の金属は酸化されやすく、
信頼性の必要なコンピュータ用の外部記憶装置等には、
適応しにくいと考えられる。
また−力比学的に極めて安定な酸化物強磁性体を光磁気
記録に使用しようとする試みがあり、〔例えば、阿部正
紀、日本応用磁気学会誌、第7巻、2号、1983年、
ページ123〜126〕スパツタ法や気相熱分解法にて
主にコバルトフェライト膜が700°C〜800°Cの
熱処理によって作成されている。
記録に使用しようとする試みがあり、〔例えば、阿部正
紀、日本応用磁気学会誌、第7巻、2号、1983年、
ページ123〜126〕スパツタ法や気相熱分解法にて
主にコバルトフェライト膜が700°C〜800°Cの
熱処理によって作成されている。
また、プラズマCVD法等を用いより低温でコバルトフ
ェライト系薄膜を作成しようという試みもなされている
。〔例えば特廓昭60−165123号−公報〕 発明が解決しようとする課題 これらの光熱磁気記録媒体において、MnB1゜GdC
o、GdTbFeの合金は、垂直磁化膜でしかも低温で
合成できるが、膜の酸化による信頼性の低下の問題があ
り、特に安価なアクリルやポリカーボヱート、ポリイミ
ド等の基板を使用する場合これらの基板が水分を吸着し
やすいためこの吸着した水分によって上記の合金が酸化
されるという問題がある。
ェライト系薄膜を作成しようという試みもなされている
。〔例えば特廓昭60−165123号−公報〕 発明が解決しようとする課題 これらの光熱磁気記録媒体において、MnB1゜GdC
o、GdTbFeの合金は、垂直磁化膜でしかも低温で
合成できるが、膜の酸化による信頼性の低下の問題があ
り、特に安価なアクリルやポリカーボヱート、ポリイミ
ド等の基板を使用する場合これらの基板が水分を吸着し
やすいためこの吸着した水分によって上記の合金が酸化
されるという問題がある。
また一方、コバルトフェライトは、酸化物であるため膜
の酸化の問題がなく安定で、しかも安価であるが、この
膜をスパッタ法や気相熱分解法で作成し、ファラデー効
果あるいはカー効果の大きい膜を得るためには、700
’C〜800″Cの熱処理(結晶化)が必要であり、
低融点ガラス、アルミニウム、アクリル、ポリカーボネ
ート、ポリイミド等の基板を使用することは、困難であ
る。しかもコバルトフェライトは、スピネル系の等方的
結晶構造を持っているため、バリウムフェライトやCo
−Crのように結晶磁気異方性による垂直磁化膜とはな
らないという問題点がある。
の酸化の問題がなく安定で、しかも安価であるが、この
膜をスパッタ法や気相熱分解法で作成し、ファラデー効
果あるいはカー効果の大きい膜を得るためには、700
’C〜800″Cの熱処理(結晶化)が必要であり、
低融点ガラス、アルミニウム、アクリル、ポリカーボネ
ート、ポリイミド等の基板を使用することは、困難であ
る。しかもコバルトフェライトは、スピネル系の等方的
結晶構造を持っているため、バリウムフェライトやCo
−Crのように結晶磁気異方性による垂直磁化膜とはな
らないという問題点がある。
しかも通常のプラズマCVD法を用いれば、成膜温度を
250°C程度に下げることは可能であるがこの程度の
温度では耐熱性の低いアクリル樹脂やポリカーボネート
樹脂基体上に磁気光学効果の大きいコバルトフェライト
系の光磁気媒体を成膜することは、不可能である。
250°C程度に下げることは可能であるがこの程度の
温度では耐熱性の低いアクリル樹脂やポリカーボネート
樹脂基体上に磁気光学効果の大きいコバルトフェライト
系の光磁気媒体を成膜することは、不可能である。
課題を解決するための手段
本発明は、前記問題点を解決するため、従来のスパッタ
法、気相熱分解法、プラズマCVD法ではなく、電子サ
イクロトロン放T1.(ECR放電)により生成したプ
ラズマの活性さを利用した。ECRプラズマCVD法に
よって、樹脂基板等の耐熱性の少ない基板上に光磁気記
録に適した磁気光学効果が大きくしかも(100)面に
配向した、コバルトフェライト系の光磁気記録媒体およ
びその製造方法を提供する。
法、気相熱分解法、プラズマCVD法ではなく、電子サ
イクロトロン放T1.(ECR放電)により生成したプ
ラズマの活性さを利用した。ECRプラズマCVD法に
よって、樹脂基板等の耐熱性の少ない基板上に光磁気記
録に適した磁気光学効果が大きくしかも(100)面に
配向した、コバルトフェライト系の光磁気記録媒体およ
びその製造方法を提供する。
作用
発明者らは、ECRプラズマCVD法を用いることによ
って耐熱性の少ない樹脂基板上に磁気光学特性が優れし
かも(100)面に結果面が配向した、コバルトフェラ
イトが得られることを見いた、した、すなわちC0,F
6およびM〔ただしMは、Ni,Cu、Zn1Rh、R
u、Pd、O,、BT、、Vのうちのいずれか一種の元
素でXは0.1〜1.0の数〕を含有する金属キレート
、例えばコバルトアセチルアセトン(Co(C5H,O
)3 )および鉄アセチルアセトン(Fe(C5H70
)3)、ニッケルアセチルアセトンCN、(C,H,O
)、)の蒸気と反応ガスとしての酸素あるいはオゾンを
減圧された反応容器(チャンバー)に導入して、ECR
プラズマ(周波数2.45 GHz、電力0.5 W/
cd以上)を発生させ樹脂基板上に加熱なしに(100
)面配向したコバルトフェライト系結晶を析出させるも
のである。
って耐熱性の少ない樹脂基板上に磁気光学特性が優れし
かも(100)面に結果面が配向した、コバルトフェラ
イトが得られることを見いた、した、すなわちC0,F
6およびM〔ただしMは、Ni,Cu、Zn1Rh、R
u、Pd、O,、BT、、Vのうちのいずれか一種の元
素でXは0.1〜1.0の数〕を含有する金属キレート
、例えばコバルトアセチルアセトン(Co(C5H,O
)3 )および鉄アセチルアセトン(Fe(C5H70
)3)、ニッケルアセチルアセトンCN、(C,H,O
)、)の蒸気と反応ガスとしての酸素あるいはオゾンを
減圧された反応容器(チャンバー)に導入して、ECR
プラズマ(周波数2.45 GHz、電力0.5 W/
cd以上)を発生させ樹脂基板上に加熱なしに(100
)面配向したコバルトフェライト系結晶を析出させるも
のである。
このように低温で(100)面配向したコバルトフェラ
イトの析出が可能となるのは、電子サイクロトロン共鳴
吸収によるプラズマは、通常の熱CVDや、プラズマC
VDと比較して、化学反応を低温で引きおこす活性なラ
ジカルやイオン等の化学種が非常に多く、しかも金属キ
レートの分子構造によるものと考えられる。又はに反応
ガスとして、オゾンを使用した場合は、より低温でコバ
トフェライトが成膜できる。又ECRプラズマCVD法
は、通常のプラズマCVD法や、熱CVD法にくらべて
、低温で酸化物、炭化物、窒化物等の高融点物質が合成
できるばかりでなく、熱分解析出反応を伴うために低連
においても高純度でしかも結晶性の良い柱状構造の膜が
得られる。
イトの析出が可能となるのは、電子サイクロトロン共鳴
吸収によるプラズマは、通常の熱CVDや、プラズマC
VDと比較して、化学反応を低温で引きおこす活性なラ
ジカルやイオン等の化学種が非常に多く、しかも金属キ
レートの分子構造によるものと考えられる。又はに反応
ガスとして、オゾンを使用した場合は、より低温でコバ
トフェライトが成膜できる。又ECRプラズマCVD法
は、通常のプラズマCVD法や、熱CVD法にくらべて
、低温で酸化物、炭化物、窒化物等の高融点物質が合成
できるばかりでなく、熱分解析出反応を伴うために低連
においても高純度でしかも結晶性の良い柱状構造の膜が
得られる。
そのためコバルトフェライトのような等方性結晶の磁化
膜(水平磁化膜)を低温で垂直磁化膜(コバルトフェラ
イトは等方性結晶であるため膜の柱状構造による形状異
方性に起因する垂直異方性を利用して垂直磁化膜とする
)にするのには、最適の方法であり又、コバルトフェラ
イトのFeイオンの位置にNi,Cu、Zn、Rh、R
u、Pd。
膜(水平磁化膜)を低温で垂直磁化膜(コバルトフェラ
イトは等方性結晶であるため膜の柱状構造による形状異
方性に起因する垂直異方性を利用して垂直磁化膜とする
)にするのには、最適の方法であり又、コバルトフェラ
イトのFeイオンの位置にNi,Cu、Zn、Rh、R
u、Pd。
03、B、、T、、Vのうちのいずれか一種の元素で置
き換えることにより磁気光学定数C/N。
き換えることにより磁気光学定数C/N。
耐久性が従来のコバルトフェライトにくらべて大幅に向
上する。
上する。
実施例
以下本発明の一実施例のECRプラズマCVD法による
、コバルトフェライト系膜の製造方法について図面を参
照しながら説明する。
、コバルトフェライト系膜の製造方法について図面を参
照しながら説明する。
図は、ECRプラズマCVD装置の概略図を示している
0図において21はECRの高密度プラズマを発生させ
るためのプラズマ室、22はECRに必要な磁場を供給
する電磁石であり、23は反応室、24はマイクロ波(
2,45GHz)導入口、25はプラズマ源となるガス
(酸素の場合はプラズマ室21を、オゾンの場合は直接
反応室23にそれぞれのガスを導入する)の導入口、2
6は下地基板、27は基板ホルダーで冷却水により常に
基板を一定に保てるようになっている。
0図において21はECRの高密度プラズマを発生させ
るためのプラズマ室、22はECRに必要な磁場を供給
する電磁石であり、23は反応室、24はマイクロ波(
2,45GHz)導入口、25はプラズマ源となるガス
(酸素の場合はプラズマ室21を、オゾンの場合は直接
反応室23にそれぞれのガスを導入する)の導入口、2
6は下地基板、27は基板ホルダーで冷却水により常に
基板を一定に保てるようになっている。
2B、29.30は原料の入った気化器で、31はキャ
リアガス(N2)導入口である。32は反応室を強制排
気するためのポンプ(油回転ポンプおよび、ターボ分子
ポンプ)につながっている排気口である。
リアガス(N2)導入口である。32は反応室を強制排
気するためのポンプ(油回転ポンプおよび、ターボ分子
ポンプ)につながっている排気口である。
まずプラズマ室21および反応室23内を1×I Q
’ Torrまで減圧して吸着ガス等を除去する。
’ Torrまで減圧して吸着ガス等を除去する。
次にプラズマ室21に導入口25からプラズマ源となる
酸素(’a’J 20 cc 7分)を導入し、導入口
24より、2.45GHzのマイクロ波を500W印加
して、電磁石により磁界強度を875ガウスとすること
によりECRプラズマを発生させる。その際、電磁石2
2による発散磁界により発生したプラズマは、プラズマ
室21より反応室23に引き出される。また、気化器2
8,29.30にそれぞれコバルトアセチルアセトン、
鉄アセチルアセトン、ニッケルアセチルアセトンをおき
、それぞれ120°c、130°C,120°Cに加熱
し、その蒸気を窒素キャリア(mffiそれぞれ0.5
cc/分)とともに反応室23内に導入する。導入され
た蒸気をプラズマ室21内より引き出された活性なプラ
ズマに触れさせることにより30分間反応を行ない光学
的案内溝のついた(トラックピッチ1.6μm、案内溝
幅0.8μm)アクリル基板26上に成膜した。
酸素(’a’J 20 cc 7分)を導入し、導入口
24より、2.45GHzのマイクロ波を500W印加
して、電磁石により磁界強度を875ガウスとすること
によりECRプラズマを発生させる。その際、電磁石2
2による発散磁界により発生したプラズマは、プラズマ
室21より反応室23に引き出される。また、気化器2
8,29.30にそれぞれコバルトアセチルアセトン、
鉄アセチルアセトン、ニッケルアセチルアセトンをおき
、それぞれ120°c、130°C,120°Cに加熱
し、その蒸気を窒素キャリア(mffiそれぞれ0.5
cc/分)とともに反応室23内に導入する。導入され
た蒸気をプラズマ室21内より引き出された活性なプラ
ズマに触れさせることにより30分間反応を行ない光学
的案内溝のついた(トラックピッチ1.6μm、案内溝
幅0.8μm)アクリル基板26上に成膜した。
なお成膜時の基板温度は、室温(約22°C)で−定で
あった。また成膜時の真空度は2.0X104Torr
であった。得られた膜を解析した結果、組成はCoFe
+、q Nl。、0□でコバルトフェライト系のスピネ
ル型結晶構造であり、(100)面に配向していた。(
膜1!0.35μm)さらに波長780nmでのファラ
デー回転角は4.0deg/μmであった0次にコバル
トフェライト系膜上にアルミニウムの反射膜を作成し、
アクリル基板側からの記録再生を行なった。記録光源に
レーザダイオードを用い、記録パワー10mW。
あった。また成膜時の真空度は2.0X104Torr
であった。得られた膜を解析した結果、組成はCoFe
+、q Nl。、0□でコバルトフェライト系のスピネ
ル型結晶構造であり、(100)面に配向していた。(
膜1!0.35μm)さらに波長780nmでのファラ
デー回転角は4.0deg/μmであった0次にコバル
トフェライト系膜上にアルミニウムの反射膜を作成し、
アクリル基板側からの記録再生を行なった。記録光源に
レーザダイオードを用い、記録パワー10mW。
再生パワー2mW、記録周波数1.5 MHz、線速度
2.5m/secにおいてC/N値は54dBであった
0次にこの記録媒体を60°C相対温度90%の環境下
で、1000時間放置後のC/Nの変化を測定した所−
1,3dBであった。
2.5m/secにおいてC/N値は54dBであった
0次にこの記録媒体を60°C相対温度90%の環境下
で、1000時間放置後のC/Nの変化を測定した所−
1,3dBであった。
この結果を表の試料番号1に示す、以下同様にして、気
化器の温度(原料の流量コントロールを行なう)、基板
の種類、気化器に入れる原料の種類等を変えた時の結果
を表の試料番号2〜37に示す。(なお試料番号38〜
40は、本願発明外の比較例である。) (以 下 余 白) なお特許請求の範囲において、添加物M(MはNi,C
u、Zn、Rh、Ru、Pd、Os。
化器の温度(原料の流量コントロールを行なう)、基板
の種類、気化器に入れる原料の種類等を変えた時の結果
を表の試料番号2〜37に示す。(なお試料番号38〜
40は、本願発明外の比較例である。) (以 下 余 白) なお特許請求の範囲において、添加物M(MはNi,C
u、Zn、Rh、Ru、Pd、Os。
B、、T・、■のうちのいずれか一種の元素)の添加1
xを0.1〜1.0に限定したのは、0.1よりXが少
ないと、ファラデー回転角を向上できないためであり、
Xが1.0より多くても同様にファラデー回転角を向上
できないためC/Nが向上しないためである。
xを0.1〜1.0に限定したのは、0.1よりXが少
ないと、ファラデー回転角を向上できないためであり、
Xが1.0より多くても同様にファラデー回転角を向上
できないためC/Nが向上しないためである。
表より、ECRプラズマCVD法で樹脂基板上に作成し
た、コバルトフェライト系光磁気記録媒体は、きわめて
安定でしかも磁気光学特性およびC/Hのすぐれたもの
であることがわかる。
た、コバルトフェライト系光磁気記録媒体は、きわめて
安定でしかも磁気光学特性およびC/Hのすぐれたもの
であることがわかる。
発明の効果
以上述べてきたように、本発明によれば、ECRプラズ
マの活性さを巧みに利用して、ポリカーボネートやアク
リル等の耐熱性の少ない樹脂基板上に、磁気光学特性お
よび信組性のすぐれた光磁気記録媒体が作成できる有益
な発明である。
マの活性さを巧みに利用して、ポリカーボネートやアク
リル等の耐熱性の少ない樹脂基板上に、磁気光学特性お
よび信組性のすぐれた光磁気記録媒体が作成できる有益
な発明である。
図は、本発明の一実施例におけるECRプラズマCVD
装置の概略図である。 21・・・・・・プラズマ室、22・・・・・・電磁石
、23・・・・・・反応室、24・・・・・・マイクロ
波導入口、25・・・・・・プラズマ源となるガスの導
入口、26・・・・・・下地基板、27・・・・・・基
板ホルダー、2B、29.30・・・・・・気化器、3
1・・・・・・キャリアガス導入口、32・・・・・・
排気口。
装置の概略図である。 21・・・・・・プラズマ室、22・・・・・・電磁石
、23・・・・・・反応室、24・・・・・・マイクロ
波導入口、25・・・・・・プラズマ源となるガスの導
入口、26・・・・・・下地基板、27・・・・・・基
板ホルダー、2B、29.30・・・・・・気化器、3
1・・・・・・キャリアガス導入口、32・・・・・・
排気口。
Claims (2)
- (1)樹脂基板上に形成した、一般式CoFe_zxM
xO_4〔ただし、Mは、ニッケル(Ni)、銅(Cu
)、亜鉛(Zn)、ロジウム(Rh)、ルテニウム(R
u)、パラジウム(Pd)、オスミニウム(Os)、ビ
スマス(Bi)、チタン(Ti)、バナジウム(V)の
うちのいずれか一種の元素でXは0.1〜1.0の数〕
であらわされることを特徴とする光磁気記録媒体。 - (2)コバルト(Co)、鉄(Fe)およびM〔ただし
Mは、Ni,Cu,Zn,Rh,Ru,Pd,Os,B
i,Ti,Vのうちのいずれか一種の元素でXは0.1
〜1.0の数〕を含有する金属キレートの蒸気と反応ガ
スとしての酸素ガス(O_2)あるいは、オゾン(O_
3)ガスを10^−^3〜10^−^5Torrに減圧
されたチャンバー内に導入し、電子サイクロトロン共鳴
(ECR)により生じたプラズマ中でこれらの蒸気を分
解させ、基板上に一般式CoFe_2−xMxO_4〔
ただし、Mは、Ni,Cu,Zn,Rh,Ru,Pd,
Os,Bi,Ti,Vのうちのいずれか 一種の元素でXは、0.1〜1.0の数〕で示されるフ
ェライトを析出させることを特徴とする光磁気記録媒体
の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31908388A JPH02165447A (ja) | 1988-12-16 | 1988-12-16 | 光磁気記録媒体およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31908388A JPH02165447A (ja) | 1988-12-16 | 1988-12-16 | 光磁気記録媒体およびその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02165447A true JPH02165447A (ja) | 1990-06-26 |
Family
ID=18106305
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31908388A Pending JPH02165447A (ja) | 1988-12-16 | 1988-12-16 | 光磁気記録媒体およびその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02165447A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6066271A (en) * | 1997-09-05 | 2000-05-23 | Ben Gurion University Of The Negev | Cobalt ruthenate thermistors |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5945644A (ja) * | 1982-09-07 | 1984-03-14 | Ricoh Co Ltd | 光磁気記録媒体 |
JPS60124901A (ja) * | 1983-12-12 | 1985-07-04 | Ricoh Co Ltd | 光磁気記録媒体 |
JPS60150248A (ja) * | 1984-01-13 | 1985-08-07 | Ricoh Co Ltd | 光磁気記録媒体 |
JPS61111511A (ja) * | 1984-11-06 | 1986-05-29 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 多結晶Coフエライト垂直磁化膜素子およびその製造方法 |
JPS62209749A (ja) * | 1986-03-11 | 1987-09-14 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 光磁気記録媒体 |
JPS62250625A (ja) * | 1986-04-23 | 1987-10-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | フエライト薄膜の製造方法 |
-
1988
- 1988-12-16 JP JP31908388A patent/JPH02165447A/ja active Pending
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5945644A (ja) * | 1982-09-07 | 1984-03-14 | Ricoh Co Ltd | 光磁気記録媒体 |
JPS60124901A (ja) * | 1983-12-12 | 1985-07-04 | Ricoh Co Ltd | 光磁気記録媒体 |
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JPS61111511A (ja) * | 1984-11-06 | 1986-05-29 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 多結晶Coフエライト垂直磁化膜素子およびその製造方法 |
JPS62209749A (ja) * | 1986-03-11 | 1987-09-14 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 光磁気記録媒体 |
JPS62250625A (ja) * | 1986-04-23 | 1987-10-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | フエライト薄膜の製造方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6066271A (en) * | 1997-09-05 | 2000-05-23 | Ben Gurion University Of The Negev | Cobalt ruthenate thermistors |
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