JPH04332914A - 固定磁気ディスクの製造方法 - Google Patents

固定磁気ディスクの製造方法

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JPH04332914A
JPH04332914A JP10242691A JP10242691A JPH04332914A JP H04332914 A JPH04332914 A JP H04332914A JP 10242691 A JP10242691 A JP 10242691A JP 10242691 A JP10242691 A JP 10242691A JP H04332914 A JPH04332914 A JP H04332914A
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JP
Japan
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organometallic compounds
organometallic
vapor
iron
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JP10242691A
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English (en)
Inventor
Akiyuki Fujii
映志 藤井
Hideo Torii
秀雄 鳥井
Masaki Aoki
正樹 青木
Masuzo Hattori
服部 益三
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、信頼性に優れ、高密度
磁気記録対応を可能にする固定磁気ディスクの製造方法
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年の高度情報化社会において、記憶す
べき情報の量は年々増加の一途をたどり、記憶装置の大
容量化、高密度化に対する要望も高まっている。
【0003】このような状況のもと、コンピュ−タ周辺
機器として用いられる固定磁気ディスクに用いられる記
録媒体は、従来のアルミディスク基板上にガンマ酸化鉄
系の針状磁性粉などをを塗布した塗布型から、めっき法
やスパッタ法などによるCo−Ni/Cr合金の薄膜型
へと変化し、高密度化が図られてきた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、Co−Ni/
Cr薄膜は合金であるがゆえ耐久性などに問題があるた
め、磁気ディスクの構造としては、(潤滑層/保護層/
Co−Ni磁性層/Cr層/Ni−Pめっき層/アルミ
ニウム基板)の5層構造になっており、製造工程が複雑
であるといった欠点がある。
【0005】(図6)は従来の固定磁気ディスクである
Co−Ni/Cr合金の薄膜型の固定磁気ディスクの断
面を示すものである。図において、1はアルミニウム基
板、2はNi−Pめっき層、3はCr層、4はCo−N
i磁性層、5は保護層、6は潤滑層である。
【0006】また、上記固定磁気ディスクはCo−Ni
磁性層4が面内記録媒体であるため、さらに記録密度を
上げるために記録波長を短くしていくと減磁界の影響で
記録が困難になってくる。
【0007】そこで、磁気記録方式の上で、上記欠点を
改善した記録方式である垂直記録を可能とする磁気記録
媒体として、磁気ヘッドと媒体が接触状態ではあるがC
o−Cr薄膜媒体の研究が盛んになされてきた。しかし
、(図6)に示すCo−Ni/Cr合金の薄膜型の記録
媒体の場合と同様Co−Cr媒体にも合金であるがゆえ
、信頼性に問題があるためCo−Cr薄膜表面にアモル
ファスカ−ボン膜やCo酸化物の保護層5を設けなくて
はならないという課題がある。
【0008】一方、固定磁気ディスク装置において、磁
気ヘッドの磁気ディスクに対する走行高さ(フライング
ハイト)をできるだけ低くすることは、磁気ヘッドと磁
気ディスクスペ−シングによる出力の損失(スペ−シン
グ損失)を軽減するため、記録密度向上につながるもの
であり、最近では高記録密度を可能にするために、0.
05〜0.1μm程度のフライングハイト量での走行が
必要とされている。
【0009】しかしながら、上記従来のCo−Ni/C
r合金の薄膜記録媒体、Co−Cr薄膜型記録媒体いず
れにおいても、耐久性などに問題があるため、信頼性確
保のため薄膜表面に保護膜5(数10nm)を形成しな
ければならず、したがってどうしてもスペ−シング損失
が増えてしまうという課題が残る。
【0010】また、固定磁気ディスクの場合、高速で磁
気ディスクを回転(3600回転/分)させるため、磁
性層の硬度が高いことも信頼性確保と言った点では非常
に重要である。しかしCo−Cr薄膜のような合金の場
合どうしても硬度的に問題がある。
【0011】本発明は上記問題点を解決するものであり
、信頼性に優れ、かつ高密度磁気記録対応が可能である
垂直磁気記録の成分を持った固定磁気ディスクの製造方
法を提供するものである。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、ディスク基板上にX線的にアモルファスな
酸化物薄膜を形成し、その上にスピネル型結晶構造の酸
化鉄軟磁性薄膜とさらにその上に柱状構造を有するコバ
ルトを含むスピネル型結晶構造の酸化鉄膜を形成した構
造の固定磁気ディスクを、プラズマの活性さとCVD反
応を利用した製造方法により作製するといった構成を備
えたものである。
【0013】
【作用】したがって本発明によれば、反応ガスに用いる
オゾンやN20や水蒸気がプラズマ中で活性なラジカル
を生成するため、耐久性や硬度などの信頼性に優れ、か
つ高密度磁気記録ができる固定磁気ディスクを、比較的
容易にかつ低温で製造できる。
【0014】
【実施例】以下、本発明の一実施例のプラズマCVD法
による固定磁気ディスクの製造方法について図面を参照
しながら説明する。
【0015】(実施例1)(図1)は本発明の製造方法
により作製した固定磁気ディスクの構成を示すものであ
り、図において7はディスク基板、8はCoZnFe酸
化物層、9はMn−Znフェライト膜、10はCoフェ
ライト膜、11は潤滑層である。
【0016】(図2)は本発明の一実施例におけるプラ
ズマCVD装置の概略図を示すものである。
【0017】(図2)において12は反応チャンバ−、
13は電極、14は反応チャンバ−内を低圧に保つため
の排気系で、15は下地基板(ガラスディスク基板)、
16は高周波電源(13.56MHz)、17、18、
19、20は原料の入った気化器で、21、22、23
、24はキャリアガスの気化器内への導入の有無を制御
するためのバルブ、25、26、27、28は原料ガス
とキャリアガスの反応チャンバ−内への導入の有無を制
御するためのバルブ、29はキャリアガスボンベ(窒素
)、30は酸素ボンベ、31はオゾナイザー、32はN
2Oボンベ、33は水の入った気化器、34は基板回転
機構のついた基板加熱ヒ−タ−である。
【0018】出発原料には、鉄アセチルアセトナ−ト〔
Fe(C5H7O2)3〕,亜鉛アセチルアセトナ−ト
〔Zn(C5H7O2)2・H2O〕,マンガンアセチ
ルアセトナート〔Mn(C5H7O2)2・2H2O〕
,コバルトアセチルアセトナ−ト〔Co(C5H7O2
)3〕をもちいた。
【0019】気化器17に脱水処理(空気中100℃で
2時間)を行ったマンガンアセチルアセトナート、18
に脱水処理を行った亜鉛アセチルアセトナ−ト、19に
コバルトアセチルアセトナ−ト、20に鉄アセチルアセ
トナ−トを入れ、それぞれ190℃、80℃、135℃
、125℃に加熱し保持しておく。バルブ18、19、
20、26、27、28を開き窒素キャリア(気化器に
それぞれ流量10SCCM)とともに上記亜鉛、コバル
ト、鉄のそれぞれのアセチルアセトナ−トの蒸気と、反
応ガスとしてオゾナイザー31より発生させたオゾン(
流量3SCCM)を排気系13により減圧された反応チ
ャンバ−11内に導入し、プラズマを発生(電力1.5
W/cm2)させ、2分間減圧下(0.16Torr)
で反応を行い、350℃に加熱したガラスディスク基板
(120回転/分)上にCoZnFe酸化物膜を成膜し
、バルブ19およ27を閉じた。
【0020】引き続き、真空を破らずにバルブ17、2
5を開き、窒素キャリア(気化器17側に流量8SCC
M、気化器18側に流量4SCCM、気化器20側に流
量15SCCM)とともにマンガンアセチルアセトナ−
トの蒸気と亜鉛アセチルアセトナ−トの蒸気と鉄アセチ
ルアセトナ−トの蒸気を、反応ガスとしてオゾナイザー
31より発生させたオゾン(流量6SCCM)とともに
、排気系14により減圧された反応チャンバ−12内に
導入し、プラズマを発生(電力1.5W/cm2)させ
、6分間減圧下(0.13Torr)で反応を行い、M
n−Znフェライト膜を成膜し、バルブ17、18、2
5、26を閉じた。
【0021】さらに引き続き、真空を破らずにバルブ1
9、27を開き、キャリアガス(流量7SCCM)とと
もに、コバルトアセチルアセトナ−トの蒸気を鉄アセチ
ルアセトナ−トの蒸気とともに反応チャンバ−12内に
導入し、プラズマ中(電力1.5W/cm2)で9分間
減圧下(0.11Torr)で反応を行い、Mn−Zn
フェライト膜上にCoフェライト膜を成膜し、Coフェ
ライト/Mn−Znフェライト/CoZnFe酸化物の
3層膜を作製した。
【0022】次に、このディスクを300℃の空気中で
3時間熱処理を行った後、フッソ系有機物の潤滑剤の入
った液槽に沈めて塗布することによって、固定磁気ディ
スク(Aタイプ)を作製した。
【0023】作製した本発明の固定磁気ディスク(Aタ
イプ)は、ギャプ長(GL)が0.25μm,トラック
幅(Tw)が10μmのMIGヘッドを用いて、50m
Aのヘッド電流値を選んで電磁変換特性の評価を行った
。 固定磁気ディスク(Aタイプ)を3600回転/分 の
速度で回転させ、ディスクの中心から20.0mmの円
周トラックで評価を行った。なお、固定磁気ディスク(
Aタイプ)と磁気ヘッドの相対速度は、7.5m/se
cであり、磁気ヘッドのフライングハイトは0.15μ
mであった。
【0024】次に、比較のために、Hc=1000Oe
で、Ms=800emu/ccの磁性層膜厚が80nm
で、その上に保護層としてカ−ボン膜を60nm形成し
、本発明と同様の潤滑剤被膜層を設けた従来のCo−N
i/Cr合金薄膜の固定磁気ディスク(Bタイプ)(ア
ルミ基板で面内方向に磁化配向)と、本発明と同様の条
件(基板温度350℃)で、反応ガスとして酸素を用い
て、Coフェライト/NiOディスク(固定磁気ディス
ク(Cタイプ))を作製し、本発明の固定磁気ディスク
(Aタイプ)と同じ条件で電磁変換特性の評価を行った
【0025】得られた本発明の製造方法による固定磁気
ディスク(Aタイプ)、Co−Ni/Cr合金薄膜固定
磁気ディスク(Bタイプ)および反応ガスに酸素のみを
用いて作製した固定磁気ディスク(Cタイプ)の記録密
度と再生出力の関係を(図3)に示す。
【0026】(図3)において、横軸が記録密度(記録
波長)で、縦軸が再生出力である。また(a)が本発明
の製造方法による固定磁気ディスク(Aタイプ)、(b
)が比較のためのCo−Ni/Cr合金薄膜固定磁気デ
ィスク(Bタイプ)、(c)が比較のための固定磁気デ
ィスク(Cタイプ)の特性を示している。
【0027】(図3)から、本発明の製造方法による固
定磁気ディスク(Aタイプ)は、Co−Ni/Cr合金
薄膜固定磁気ディスク(Bタイプ)および固定磁気ディ
スク(Cタイプ)より高い再生出力を示した。
【0028】なお、本発明の固定磁気ディスクの記録信
号の再生波形をオシロスコ−プで観察すると、垂直磁気
記録成分を含むことの特徴であるダイパルス波形を示し
ていた。
【0029】電磁変換特性の測定終了後、有機溶剤を用
いて、潤滑膜層を取り除き固定磁気ディスク(Aタイプ
)および固定磁気ディスク(Cタイプ)についてX線回
折による解析を行った。その結果、結晶性や(100)
配向性のいずれも固定磁気ディスク(Aタイプ)の方が
優れていた。
【0030】比較のために、ガラスディスク基板上に本
成膜方法における上記成膜条件でCoZnFe酸化物膜
のみを成膜した試料を作製し、300℃の空気中で3時
間熱処理した後、X線回折により結晶構造の解析を行っ
た結果、X線的にアモルファスであった。
【0031】固定磁気ディスク(Aタイプ)を破壊して
高分解能の走査型電子顕微鏡を用いて、ディスクの表面
および破断面を観察した。その結果、本ディスクの3層
膜は柱状構造を有し、膜厚約410nmでコラム径は4
5〜65nmであることがわかった。
【0032】本発明の固定磁気ディスク(Aタイプ)が
Co−Ni/Cr合金薄膜固定磁気ディスク(Bタイプ
)より再生出力が高い値を示す原因は、垂直磁気記録成
分を有していること、および下地層のCoZnFe酸化
物膜の影響でMn−Znフェライト膜やCoフェライト
膜の結晶性や(100)配向性が優れていること、さら
に下地層として軟磁性材料を用いていることから、Co
フェライト磁性層と馬蹄形の磁路を形成することにより
、反磁界の影響が低減されているからである。また、固
定磁気ディスク(Cタイプ)より再生出力が高い値を示
す原因は、反応ガスにオゾンを用いたことにより、酸素
を用いた場合と比べ、より結晶性や(100)配向性が
良好となることが最も大きな原因であると考えられる。
【0033】また、X線的にアモルファスな酸化物薄膜
として、マグネシウム、カルシウム、チタン、バナジウ
ム、マンガン、ニッケル、銅、ストロンチウム、ニオブ
、カドミウムなどを含む酸化物薄膜を用いた場合や、M
n−Znフェライト下地膜の替わりにNi−Znフェラ
イト膜やMnフェライト膜やNiフェライト膜やZnフ
ェライト膜を用いた場合においても、電磁変換特性の評
価を行った結果、Coフェライト/Mn−Znフェライ
ト/CoZnFe酸化物の3層よりなる固定磁気ディス
クの場合と同様に、従来のCo−Ni/Cr合金薄膜固
定磁気ディスクや反応ガスに酸素のみを用いて作製した
場合と比べ、再生出力が高くなった。
【0034】(実施例2)以下、本発明の一実施例のプ
ラズマCVD法による固定磁気ディスクの製造方法につ
いて(図2)を参照しながら説明する。
【0035】出発原料には、鉄アセチルアセトナ−ト〔
Fe(C5H7O2)3〕,亜鉛アセチルアセトナ−ト
〔Zn(C5H7O2)2・H2O〕,マンガンアセチ
ルアセトナート〔Mn(C5H7O2)2・2H2O〕
,コバルトアセチルアセトナ−ト〔Co(C5H7O2
)3〕をもちいた。
【0036】気化器17に脱水処理(空気中100℃で
2時間)を行ったマンガンアセチルアセトナート、18
に脱水処理を行った亜鉛アセチルアセトナ−ト、19に
コバルトアセチルアセトナ−ト、20に鉄アセチルアセ
トナ−トを入れ、それぞれ190℃、80℃、135℃
、125℃に加熱し保持しておく。バルブ18、19、
20、26、27、28を開き窒素キャリア(気化器に
それぞれ流量10SCCM)とともに上記亜鉛、コバル
ト、鉄のそれぞれのアセチルアセトナ−トの蒸気と、反
応ガスとしてのN2O(流量2SCCM)を排気系13
により減圧された反応チャンバ−11内に導入し、プラ
ズマを発生(電力1.5W/cm2)させ、2分間減圧
下(0.15Torr)で反応を行い、350℃に加熱
したガラスディスク基板(120回転/分)上にCoZ
nFe酸化物膜を成膜し、バルブ19およ27を閉じた
【0037】引き続き、真空を破らずにバルブ17、2
5を開き、窒素キャリア(気化器17側に流量8SCC
M、気化器18側に流量3SCCM、気化器20側に流
量15SCCM)とともにマンガンアセチルアセトナ−
トの蒸気と亜鉛アセチルアセトナ−トの蒸気と鉄アセチ
ルアセトナ−トの蒸気を、反応ガスとしてのN2O(流
量5SCCM)とともに、排気系14により減圧された
反応チャンバ−12内に導入し、プラズマを発生(電力
1.5W/cm2)させ、6分間減圧下(0.13To
rr)で反応を行い、Mn−Znフェライト膜を成膜し
、バルブ17、18、25、26を閉じた。さらに引き
続き、真空を破らずにバルブ19、27を開き、キャリ
アガス(流量7SCCM)とともに、コバルトアセチル
アセトナ−トの蒸気を鉄アセチルアセトナ−トの蒸気と
ともに反応チャンバ−12内に導入し、プラズマ中(電
力1.5W/cm2)で9分間減圧下(0.11Tor
r)で反応を行い、Mn−Znフェライト膜上にCoフ
ェライト膜を成膜し、Coフェライト/Mn−Znフェ
ライト/CoZnFe酸化物の3層膜を作製した。
【0038】次に、このディスクを300℃の空気中で
3時間熱処理を行った後、フッソ系有機物の潤滑剤の入
った液槽に沈めて塗布することによって、固定磁気ディ
スク(Dタイプ)を作製した。
【0039】作製した本発明の固定磁気ディスク(Dタ
イプ)は、ギャプ長(GL)が0.25μm,トラック
幅(Tw)が10μmのMIGヘッドを用いて、50m
Aのヘッド電流値を選んで電磁変換特性の評価を行った
。 固定磁気ディスク(Dタイプ)を3600回転/分 の
速度で回転させ、ディスクの中心から20.0mmの円
周トラックで評価を行った。なお、固定磁気ディスク(
Dタイプ)と磁気ヘッドの相対速度は、7.5m/se
cであり、磁気ヘッドのフライングハイトは0.15μ
mであった。
【0040】得られた本発明の製造方法による固定磁気
ディスク(Dタイプ)、Co−Ni/Cr合金薄膜固定
磁気ディスク(Bタイプ)および反応ガスに酸素のみを
用いて作製した固定磁気ディスク(Cタイプ)の記録密
度と再生出力の関係を(図4)に示す。
【0041】(図4)において、横軸が記録密度(記録
波長)で、縦軸が再生出力である。また(d)が本発明
の製造方法による固定磁気ディスク(Dタイプ)、(b
)が比較のためのCo−Ni/Cr合金薄膜固定磁気デ
ィスク(Bタイプ)、(c)が比較のための固定磁気デ
ィスク(Cタイプ)の特性を示している。
【0042】(図4)から、本発明の製造方法による固
定磁気ディスク(Dタイプ)は、Co−Ni/Cr合金
薄膜固定磁気ディスク(Bタイプ)および固定磁気ディ
スク(Cタイプ)より高い再生出力を示した。
【0043】なお、本発明の固定磁気ディスクの記録信
号の再生波形をオシロスコ−プで観察すると、垂直磁気
記録成分を含むことの特徴であるダイパルス波形を示し
ていた。
【0044】電磁変換特性の測定終了後、有機溶剤を用
いて、潤滑膜層を取り除き固定磁気ディスク(Dタイプ
)および固定磁気ディスク(Cタイプ)についてX線回
折による解析を行った。その結果、結晶性や(100)
配向性のいずれも固定磁気ディスク(Aタイプ)の方が
優れていた。
【0045】比較のために、ガラスディスク基板上に本
成膜方法における上記成膜条件でCoZnFe酸化物膜
のみを成膜した試料を作製し、300℃の空気中で3時
間熱処理した後、X線回折により結晶構造の解析を行っ
た結果、X線的にアモルファスであった。
【0046】固定磁気ディスク(Dタイプ)を破壊して
高分解能の走査型電子顕微鏡を用いて、ディスクの表面
および破断面を観察した。その結果、本ディスクの3層
膜は柱状構造を有し、膜厚約430nmでコラム径は4
5〜65nmであることがわかった。
【0047】本発明の固定磁気ディスク(Dタイプ)が
Co−Ni/Cr合金薄膜固定磁気ディスク(Bタイプ
)より再生出力が高い値を示す原因は、垂直磁気記録成
分を有していること、および下地層のCoZnFe酸化
物膜の影響でMn−Znフェライト膜やCoフェライト
膜の結晶性や(100)配向性が優れていること、さら
に下地層として軟磁性材料を用いていることから、Co
フェライト磁性層と馬蹄形の磁路を形成することにより
、反磁界の影響が低減されているからである。また、固
定磁気ディスク(Cタイプ)より再生出力が高い値を示
す原因は、反応ガスにN2Oを用いたことにより、酸素
を用いた場合と比べ、より結晶性や(100)配向性が
良好となることが最も大きな原因であると考えられる。
【0048】また、X線的にアモルファスな酸化物薄膜
として、マグネシウム、カルシウム、チタン、バナジウ
ム、マンガン、ニッケル、銅、ストロンチウム、ニオブ
、カドミウムなどを含む酸化物薄膜を用いた場合や、M
n−Znフェライト下地膜の替わりにNi−Znフェラ
イト膜やMnフェライト膜やNiフェライト膜やZnフ
ェライト膜を用いた場合においても、電磁変換特性の評
価を行った結果、Coフェライト/Mn−Znフェライ
ト/CoZnFe酸化物の3層よりなる固定磁気ディス
クの場合と同様に、従来のCo−Ni/Cr合金薄膜固
定磁気ディスクや反応ガスに酸素のみを用いて作製した
場合と比べ、再生出力が高くなった。
【0049】(実施例3)以下、本発明の一実施例のプ
ラズマCVD法による固定磁気ディスクの製造方法につ
いて(図2)を参照しながら説明する。
【0050】出発原料には、鉄アセチルアセトナ−ト〔
Fe(C5H7O2)3〕,亜鉛アセチルアセトナ−ト
〔Zn(C5H7O2)2・H2O〕,マンガンアセチ
ルアセトナート〔Mn(C5H7O2)2・2H2O〕
,コバルトアセチルアセトナ−ト〔Co(C5H7O2
)3〕をもちいた。
【0051】気化器17に脱水処理(空気中100℃で
2時間)を行ったマンガンアセチルアセトナート、18
に脱水処理を行った亜鉛アセチルアセトナ−ト、19に
コバルトアセチルアセトナ−ト、20に鉄アセチルアセ
トナ−トを入れ、それぞれ190℃、80℃、135℃
、125℃に加熱し保持しておく。バルブ18、19、
20、26、27、28を開き窒素キャリア(気化器に
それぞれ流量10SCCM)とともに上記亜鉛、コバル
ト、鉄のそれぞれのアセチルアセトナ−トの蒸気と、反
応ガスとしての酸素(流量2SCCM)と水蒸気(分圧
0.005Torr)を排気系13により減圧された反
応チャンバ−11内に導入し、プラズマを発生(電力1
.5W/cm2)させ、2分間減圧下(0.14Tor
r)で反応を行い、350℃に加熱したガラスディスク
基板(120回転/分)上にCoZnFe酸化物膜を成
膜し、バルブ19およ27を閉じた。
【0052】引き続き、真空を破らずにバルブ17、2
5を開き、窒素キャリア(気化器17側に流量8SCC
M、気化器18側に流量3SCCM、気化器20側に流
量15SCCM)とともにマンガンアセチルアセトナ−
トの蒸気と亜鉛アセチルアセトナ−トの蒸気と鉄アセチ
ルアセトナ−トの蒸気を、反応ガスとしての酸素(流量
4SCCM)と水蒸気(分圧0.006Torr)とと
もに、排気系14により減圧された反応チャンバ−12
内に導入し、プラズマを発生(電力1.5W/cm2)
させ、6分間減圧下(0.14Torr)で反応を行い
、Mn−Znフェライト膜を成膜し、バルブ17、18
、25、26を閉じた。
【0053】さらに引き続き、真空を破らずにバルブ1
9、27を開き、キャリアガス(流量7SCCM)とと
もに、コバルトアセチルアセトナ−トの蒸気を鉄アセチ
ルアセトナ−トの蒸気とともに反応チャンバ−12内に
導入し、プラズマ中(電力1.5W/cm2)で9分間
減圧下(0.12Torr)で反応を行い、Mn−Zn
フェライト膜上にCoフェライト膜を成膜し、Coフェ
ライト/Mn−Znフェライト/CoZnFe酸化物の
3層膜を作製した。
【0054】次に、このディスクを300℃の空気中で
3時間熱処理を行った後、フッソ系有機物の潤滑剤の入
った液槽に沈めて塗布することによって、固定磁気ディ
スク(Eタイプ)を作製した。
【0055】作製した本発明の固定磁気ディスク(Eタ
イプ)は、ギャプ長(GL)が0.25μm,トラック
幅(Tw)が10μmのMIGヘッドを用いて、50m
Aのヘッド電流値を選んで電磁変換特性の評価を行った
。 固定磁気ディスク(Eタイプ)を3600回転/分 の
速度で回転させ、ディスクの中心から20.0mmの円
周トラックで評価を行った。なお、固定磁気ディスク(
Eタイプ)と磁気ヘッドの相対速度は、7.5m/se
cであり、磁気ヘッドのフライングハイトは0.15μ
mであった。
【0056】得られた本発明の製造方法による固定磁気
ディスク(Eタイプ)、Co−Ni/Cr合金薄膜固定
磁気ディスク(Bタイプ)および反応ガスに酸素のみを
用いて作製した固定磁気ディスク(Cタイプ)の記録密
度と再生出力の関係を(図5)に示す。
【0057】(図5)において、横軸が記録密度(記録
波長)で、縦軸が再生出力である。また(e)が本発明
の製造方法による固定磁気ディスク(Eタイプ)、(b
)が比較のためのCo−Ni/Cr合金薄膜固定磁気デ
ィスク(Bタイプ)、(c)が比較のための固定磁気デ
ィスク(Cタイプ)の特性を示している。
【0058】(図5)から、本発明の製造方法による固
定磁気ディスク(Eタイプ)は、Co−Ni/Cr合金
薄膜固定磁気ディスク(Bタイプ)および固定磁気ディ
スク(Cタイプ)より高い再生出力を示した。
【0059】なお、本発明の固定磁気ディスクの記録信
号の再生波形をオシロスコ−プで観察すると、垂直磁気
記録成分を含むことの特徴であるダイパルス波形を示し
ていた。
【0060】電磁変換特性の測定終了後、有機溶剤を用
いて、潤滑膜層を取り除き固定磁気ディスク(Eタイプ
)および固定磁気ディスク(Cタイプ)についてX線回
折による解析を行った。その結果、結晶性や(100)
配向性のいずれも固定磁気ディスク(Aタイプ)の方が
優れていた。
【0061】比較のために、ガラスディスク基板上に本
成膜方法における上記成膜条件でCoZnFe酸化物膜
のみを成膜した試料を作製し、300℃の空気中で3時
間熱処理した後、X線回折により結晶構造の解析を行っ
た結果、X線的にアモルファスであった。
【0062】固定磁気ディスク(Eタイプ)を破壊して
高分解能の走査型電子顕微鏡を用いて、ディスクの表面
および破断面を観察した。その結果、本ディスクの3層
膜は柱状構造を有し、膜厚約400nmでコラム径は4
5〜65nmであることがわかった。
【0063】本発明の固定磁気ディスク(Eタイプ)が
Co−Ni/Cr合金薄膜固定磁気ディスク(Bタイプ
)より再生出力が高い値を示す原因は、垂直磁気記録成
分を有していること、および下地層のCoZnFe酸化
物膜の影響でMn−Znフェライト膜やCoフェライト
膜の結晶性や(100)配向性が優れていること、さら
に下地層として軟磁性材料を用いていることから、Co
フェライト磁性層と馬蹄形の磁路を形成することにより
、反磁界の影響が低減されているからである。また、固
定磁気ディスク(Cタイプ)より再生出力が高い値を示
す原因は、反応ガスに酸素と水蒸気を用いたことにより
、酸素を用いた場合と比べ、より結晶性や(100)配
向性が良好となることが最も大きな原因であると考えら
れる。
【0064】また、X線的にアモルファスな酸化物薄膜
として、マグネシウム、カルシウム、チタン、バナジウ
ム、マンガン、ニッケル、銅、ストロンチウム、ニオブ
、カドミウムなどを含む酸化物薄膜を用いた場合や、M
n−Znフェライト下地膜の替わりにNi−Znフェラ
イト膜やMnフェライト膜やNiフェライト膜やZnフ
ェライト膜を用いた場合においても、電磁変換特性の評
価を行った結果、Coフェライト/Mn−Znフェライ
ト/CoZnFe酸化物の3層よりなる固定磁気ディス
クの場合と同様に、従来のCo−Ni/Cr合金薄膜固
定磁気ディスクや反応ガスに酸素のみを用いて作製した
場合と比べ、再生出力が高くなった。
【0065】
【発明の効果】以上のように本発明は、ディスク基板上
に、X線的にアモルファスな酸化物薄膜を形成し、その
上にスピネル型結晶構造の酸化鉄軟磁性薄膜とさらにそ
の上に柱状構造を有するCoを含むスピネル型酸化鉄磁
性薄膜を形成した、高信頼性でかつ高記録密度化が可能
となる構造の固定磁気ディスクの製造方法に、反応ガス
にオゾンやN2Oや水蒸気と酸素を用いたプラズマCV
D法を用いているため、簡単な原料供給の制御を行うだ
けで、3層膜を簡単に、比較的低温で、かつ連続的に製
造できるのである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の製造方法により作製した固定磁気ディ
スクの要部拡大図である。
【図2】本発明の製造方法を実施するために使用するプ
ラズマCVD装置の概略図である。
【図3】本発明の固定磁気ディスクの記録波長と再生出
力の関係を比較し示した特性図である。
【図4】本発明の固定磁気ディスクの記録波長と再生出
力の関係を比較し示した特性図である。
【図5】本発明の固定磁気ディスクの記録波長と再生出
力の関係を比較し示した特性図である。
【図6】従来例および実施例の固定磁気ディスクの要部
拡大図である。
【符号の説明】
1  アルミニウム基板 2  Ni−Pめっき層 3  Cr層 4  Co−Ni磁性層 5  保護層 6  潤滑層 7  ディスク基板 8  CoZnFeアモルファス酸化物膜9  Mn−
Znフェライト膜 10  Coフェライト膜 11  潤滑層 12  反応チャンバ− 13  電極 14  排気系 15  ガラスディスク基板 16  高周波電源 17  気化器 18  気化器 19  気化器 20  気化器 21  キャリアガス供給バルブ 22  キャリアガス供給バルブ 23  キャリアガス供給バルブ 24  キャリアガス供給バルブ 25  原料ガス供給バルブ 26  原料ガス供給バルブ 27  原料ガス供給バルブ 28  原料ガス供給バルブ 29  窒素ボンベ 30  酸素ボンベ 31  オゾナイザー 32  N2Oボンベ 33  気化器 34  基板加熱ヒ−タ−

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  マグネシウムを含む有機金属化合物、
    カルシウムを含む有機金属化合物、チタンを含む有機金
    属化合物、バナジウムを含む有機金属化合物、マンガン
    を含む有機金属化合物、鉄を含む有機金属化合物コバル
    トを含む有機金属化合物、ニッケルを含む有機金属化合
    物、銅を含む有機金属化合物、亜鉛を含む有機金属化合
    物、ストロンチウムを含む有機金属化合物、ニオブを含
    む有機金属化合物カドミウム含む有機金属化合物、バリ
    ウムを含む有機金属化合物のうち少なくとも一種以上の
    有機金属化合物の蒸気とオゾンの混合ガスを、プラズマ
    を用いて分解し反応させ、ディスク基板上にX線的にア
    モルファスな酸化物薄膜を化学蒸着し、その酸化物薄膜
    上に、亜鉛を含む有機金属化合物、マンガンを含む有機
    金属化合物、ニッケルを含む有機金属化合物のうち少な
    くとも一種以上の有機金属化合物の蒸気と、鉄を含む有
    機金属化合物の蒸気と、オゾンの混合ガスを、プラズマ
    を用いて分解し反応させることにより、スピネル型結晶
    構造の酸化鉄軟磁性薄膜を化学蒸着し、さらに前記酸化
    鉄軟磁性薄膜上に、鉄を含む有機金属化合物の蒸気とコ
    バルトを含む有機金属化合物の蒸気とオゾンの混合ガス
    を、プラズマを用いて分解し反応させることによりコバ
    ルトを含むスピネル型結晶構造の酸化鉄薄膜を化学蒸着
    することを特徴とする固定磁気ディスクの製造方法。
  2. 【請求項2】  マグネシウムを含む有機金属化合物、
    カルシウムを含む有機金属化合物、チタンを含む有機金
    属化合物、バナジウムを含む有機金属化合物、マンガン
    を含む有機金属化合物、鉄を含む有機金属化合物コバル
    トを含む有機金属化合物、ニッケルを含む有機金属化合
    物、銅を含む有機金属化合物、亜鉛を含む有機金属化合
    物、ストロンチウムを含む有機金属化合物、ニオブを含
    む有機金属化合物カドミウム含む有機金属化合物、バリ
    ウムを含む有機金属化合物のうち少なくとも一種以上の
    有機金属化合物の蒸気とN2Oの混合ガスを、プラズマ
    を用いて分解し反応させ、ディスク基板上にX線的にア
    モルファスな酸化物薄膜を化学蒸着し、その酸化物薄膜
    上に、亜鉛を含む有機金属化合物、マンガンを含む有機
    金属化合物、ニッケルを含む有機金属化合物のうち少な
    くとも一種以上の有機金属化合物の蒸気と、鉄を含む有
    機金属化合物の蒸気と、N2Oの混合ガスを、プラズマ
    を用いて分解し反応させることにより、スピネル型結晶
    構造の酸化鉄軟磁性薄膜を化学蒸着し、さらに前記酸化
    鉄軟磁性薄膜上に、鉄を含む有機金属化合物の蒸気とコ
    バルトを含む有機金属化合物の蒸気とN2Oの混合ガス
    を、プラズマを用いて分解し反応させることによりコバ
    ルトを含むスピネル型結晶構造の酸化鉄薄膜を化学蒸着
    することを特徴とする固定磁気ディスクの製造方法。
  3. 【請求項3】  マグネシウムを含む有機金属化合物、
    カルシウムを含む有機金属化合物、チタンを含む有機金
    属化合物、バナジウムを含む有機金属化合物、マンガン
    を含む有機金属化合物、鉄を含む有機金属化合物コバル
    トを含む有機金属化合物、ニッケルを含む有機金属化合
    物、銅を含む有機金属化合物、亜鉛を含む有機金属化合
    物、ストロンチウムを含む有機金属化合物、ニオブを含
    む有機金属化合物カドミウム含む有機金属化合物、バリ
    ウムを含む有機金属化合物のうち少なくとも一種以上の
    有機金属化合物の蒸気と水蒸気と酸素の混合ガスを、プ
    ラズマを用いて分解し反応させ、ディスク基板上にX線
    的にアモルファスな酸化物薄膜を化学蒸着し、その酸化
    物薄膜上に、亜鉛を含む有機金属化合物、マンガンを含
    む有機金属化合物、ニッケルを含む有機金属化合物のう
    ち少なくとも一種以上の有機金属化合物の蒸気と、鉄を
    含む有機金属化合物の蒸気と、水蒸気と酸素の混合ガス
    を、プラズマを用いて分解し反応させることにより、ス
    ピネル型結晶構造の酸化鉄軟磁性薄膜を化学蒸着し、さ
    らに前記酸化鉄軟磁性薄膜上に、鉄を含む有機金属化合
    物の蒸気とコバルトを含む有機金属化合物の蒸気と水蒸
    気と酸素の混合ガスを、プラズマを用いて分解し反応さ
    せることによりコバルトを含むスピネル型結晶構造の酸
    化鉄薄膜を化学蒸着することを特徴とする固定磁気ディ
    スクの製造方法。
  4. 【請求項4】  マグネシウムを含む有機金属化合物、
    およびカルシウムを含む有機金属化合物、およびチタン
    を含む有機金属化合物、およびバナジウムを含む有機金
    属化合物、およびマンガンを含む有機金属化合物、およ
    び鉄を含む有機金属化合物、およびコバルトを含む有機
    金属化合物、およびニッケルを含む有機金属化合物、お
    よび銅を含む有機金属化合物、および亜鉛を含む有機金
    属化合物、およびストロンチウムを含む有機金属化合物
    、およびニオブを含む有機金属化合物、およびカドミウ
    ムを含む有機金属化合物、およびバリウムを含む有機金
    属化合物がβ−ジケトン金属錯体であることを特徴とす
    る請求項1、2または3のいずれかに記載の固定磁気デ
    ィスクの製造方法。
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