JPS62250625A - フエライト薄膜の製造方法 - Google Patents
フエライト薄膜の製造方法Info
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- JPS62250625A JPS62250625A JP9378586A JP9378586A JPS62250625A JP S62250625 A JPS62250625 A JP S62250625A JP 9378586 A JP9378586 A JP 9378586A JP 9378586 A JP9378586 A JP 9378586A JP S62250625 A JPS62250625 A JP S62250625A
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Landscapes
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- Magnetic Record Carriers (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、高密度の記録再生を可能とするフェライト薄
膜の製造方法に関するものである。
膜の製造方法に関するものである。
従来の技術
近年、磁気記録および光磁熱気記録は、高密度化の方向
へ進みつつある。これらのうち磁気記録については、従
来は、面内に磁化の容易軸を持っているいわゆる面内磁
化による磁気記録方式が主流であった。しかしながらこ
の方式では、記録密度を上げれば上げるほど磁気記録媒
体内の磁化方向が互いに反発し合うように並ぶため高密
度化を計るのが困難になってきている。そこで近年磁気
記録の新しい方式として、磁気記録媒体の面内に対して
垂直方向に磁化容易軸を持っているいわゆる垂直磁化に
よる磁気記録方式が開発され〔例えば、岩崎“垂直磁化
を用いた高密度磁気記録”日経エレクトロニクス(8,
7)隘192. P、100,1978)記録密度が
飛躍的に増大することが可能となった。
へ進みつつある。これらのうち磁気記録については、従
来は、面内に磁化の容易軸を持っているいわゆる面内磁
化による磁気記録方式が主流であった。しかしながらこ
の方式では、記録密度を上げれば上げるほど磁気記録媒
体内の磁化方向が互いに反発し合うように並ぶため高密
度化を計るのが困難になってきている。そこで近年磁気
記録の新しい方式として、磁気記録媒体の面内に対して
垂直方向に磁化容易軸を持っているいわゆる垂直磁化に
よる磁気記録方式が開発され〔例えば、岩崎“垂直磁化
を用いた高密度磁気記録”日経エレクトロニクス(8,
7)隘192. P、100,1978)記録密度が
飛躍的に増大することが可能となった。
光磁熱気記録においても垂直磁気と同様に高密度記録を
達成するのには、垂直磁化であることが必要である。
達成するのには、垂直磁化であることが必要である。
しかじ光磁熱気記録の場合垂直磁化膜である以外に、記
録時には、熱による磁性の変化を、再生には、磁気に付
随する光学効果を利用する点で磁気記録方式とは異って
いる。すなわち記録においては、レーザ光の熱を利用し
、再生には、光磁気記録媒体のカー効果あるいは、ファ
ラデー効果を利用している。〔例えば、今村修武 テレ
ビジョン学会誌第39巻4号 1985年 ページ36
5〜368〕又この媒体を例えば光磁気ディスクにした
場合このディスクのCN比(信号とノイズの比)を向上
させるためには、大きなカー効果(大きなカー回転角)
が必要である。〔例えば、阿倍正紀 日本応用磁気学会
誌第8巻5号 1984年 ページ366〜372〕 そこで近年、マンガンビスマス(MnBi) 、ガドリ
ニウムコバルト(GdCo) 、ガドリニウムテルビニ
ウム鉄(GdTbFe)等のカー回転角の大きい光磁気
記録媒体が、真空蒸着法やスパッタリング法によって開
発されてきている。〔例えば、今村修武テレビジョン学
会誌第39巻4号 1985年 ページ365〜368
〕 しかしながらこれらの記録媒体は、いずれも金属の薄膜
を利用しており、特にGd、 Tb、 Fe等の金属は
酸化されやすく、信顛性の必要なコンピュータ用の外部
記憶装置等には、適応しにくいと考えられる。
録時には、熱による磁性の変化を、再生には、磁気に付
随する光学効果を利用する点で磁気記録方式とは異って
いる。すなわち記録においては、レーザ光の熱を利用し
、再生には、光磁気記録媒体のカー効果あるいは、ファ
ラデー効果を利用している。〔例えば、今村修武 テレ
ビジョン学会誌第39巻4号 1985年 ページ36
5〜368〕又この媒体を例えば光磁気ディスクにした
場合このディスクのCN比(信号とノイズの比)を向上
させるためには、大きなカー効果(大きなカー回転角)
が必要である。〔例えば、阿倍正紀 日本応用磁気学会
誌第8巻5号 1984年 ページ366〜372〕 そこで近年、マンガンビスマス(MnBi) 、ガドリ
ニウムコバルト(GdCo) 、ガドリニウムテルビニ
ウム鉄(GdTbFe)等のカー回転角の大きい光磁気
記録媒体が、真空蒸着法やスパッタリング法によって開
発されてきている。〔例えば、今村修武テレビジョン学
会誌第39巻4号 1985年 ページ365〜368
〕 しかしながらこれらの記録媒体は、いずれも金属の薄膜
を利用しており、特にGd、 Tb、 Fe等の金属は
酸化されやすく、信顛性の必要なコンピュータ用の外部
記憶装置等には、適応しにくいと考えられる。
また一方、化学的に極めて安定な酸化物強磁性体を光磁
気記録に使用しようとする試みがあり、〔例えば、阿倍
日本応用磁気学会誌第7巻2号1983年、ページ12
3〜126〕スパツタ法や気相熱分解法にて主にコバル
トフェライト膜が700℃〜800℃の熱処理によって
作成されている。
気記録に使用しようとする試みがあり、〔例えば、阿倍
日本応用磁気学会誌第7巻2号1983年、ページ12
3〜126〕スパツタ法や気相熱分解法にて主にコバル
トフェライト膜が700℃〜800℃の熱処理によって
作成されている。
発明が解決しようとする問題点
これらの光熱磁気記録媒体において、MnB1. Gd
Co、 Gd、 TbFe合金は、垂直磁化膜でしかも
低温で合成できるが、膜の酸化による信頼性の低下の問
題があり、特に安価なポリカーボネートやポリイミド等
の基板を使用する場合これらの基板が水分を吸着しやす
いため、この吸着した水分によって上記の合金が酸化さ
れるという問題がある。
Co、 Gd、 TbFe合金は、垂直磁化膜でしかも
低温で合成できるが、膜の酸化による信頼性の低下の問
題があり、特に安価なポリカーボネートやポリイミド等
の基板を使用する場合これらの基板が水分を吸着しやす
いため、この吸着した水分によって上記の合金が酸化さ
れるという問題がある。
また一方、コバルトフェライトは、酸化物であるため膜
の酸化の問題がなく安定で、しかも安価であるが、この
膜をスパッタ法や気相熱分解法で作成し、カー効果の大
きい膜を得るためには、7QO℃〜800℃の熱処理(
結晶化)が必要であり、低融点ガラス、アルミニウムポ
リカーボネート、ポリイミド等の基板を使用することは
、困難である。
の酸化の問題がなく安定で、しかも安価であるが、この
膜をスパッタ法や気相熱分解法で作成し、カー効果の大
きい膜を得るためには、7QO℃〜800℃の熱処理(
結晶化)が必要であり、低融点ガラス、アルミニウムポ
リカーボネート、ポリイミド等の基板を使用することは
、困難である。
しかもコバルトフェライトは、スピネル系の等友釣結晶
構造を持っているため、バリウムフェライトやCo −
Crのように結晶磁気異方性による垂直磁化膜とはなら
ないため高密度記録を達成するのが困難という問題点が
ある。
構造を持っているため、バリウムフェライトやCo −
Crのように結晶磁気異方性による垂直磁化膜とはなら
ないため高密度記録を達成するのが困難という問題点が
ある。
さらにスパッタ法や気相熱分解法に変るフェライト製膜
法として、プラズマCVD法が考えられる。この方法は
通常10Torr〜Q、1Torrの減圧下で製膜され
るため比較的低温(350℃〜200℃)でフェライト
膜を合成できるが、アクリルやポリエチレンテレフタレ
ート等の耐熱温度が70℃以下の基板上には、フェライ
ト膜を作成できないという問題点がある。
法として、プラズマCVD法が考えられる。この方法は
通常10Torr〜Q、1Torrの減圧下で製膜され
るため比較的低温(350℃〜200℃)でフェライト
膜を合成できるが、アクリルやポリエチレンテレフタレ
ート等の耐熱温度が70℃以下の基板上には、フェライ
ト膜を作成できないという問題点がある。
問題点を解決するための手段
本発明は、前記問題点を解決するため、従来のスパッタ
法や気相熱分解法あるいは、通常のプラズマCV[)法
ではなく、低圧力下(10−’〜10−4Torr)で
のマグネトロン放電により得られたプラズマあるいは、
電子サイクロトロン共鳴(E CR)により得られたプ
ラズマ中に反応ガスを流し、これらの低圧での高密度プ
ラズマの活性さを利用したプラズマCVD法によって基
板加熱なしで、光熱磁気記録に適したコバルトフェライ
ト垂直磁化膜を製造する方法を提供する。
法や気相熱分解法あるいは、通常のプラズマCV[)法
ではなく、低圧力下(10−’〜10−4Torr)で
のマグネトロン放電により得られたプラズマあるいは、
電子サイクロトロン共鳴(E CR)により得られたプ
ラズマ中に反応ガスを流し、これらの低圧での高密度プ
ラズマの活性さを利用したプラズマCVD法によって基
板加熱なしで、光熱磁気記録に適したコバルトフェライ
ト垂直磁化膜を製造する方法を提供する。
作用
発明者らは、マグネトロン放電あるいは、電子サイクロ
トロン共鳴(E CR)により得られたプラズマCVD
法を用いることによって室温でコバルトフェライトが得
られることを見いだした。すなわち、Co、 Feおよ
びM(ただしMは、AI、 Cr。
トロン共鳴(E CR)により得られたプラズマCVD
法を用いることによって室温でコバルトフェライトが得
られることを見いだした。すなわち、Co、 Feおよ
びM(ただしMは、AI、 Cr。
Fe、 Gd+ Mr+、 Inのうちのいずれか一種
)を含有する金属キレート、例えば、Co(C,H,o
)、 (コバルトアセチルアセトン)およびFe(CJ
?O) 3 (鉄アセチルアセトン)の蒸気と反応ガス
としての酸素をIQ−4Torr〜10−4Torrに
減圧された反応容器(チャンバー)に導入して、高周波
あるいは、マイクロ波プラズマを発生させ、基板上にコ
バルトフェライト結晶を析出させるものである。
)を含有する金属キレート、例えば、Co(C,H,o
)、 (コバルトアセチルアセトン)およびFe(CJ
?O) 3 (鉄アセチルアセトン)の蒸気と反応ガス
としての酸素をIQ−4Torr〜10−4Torrに
減圧された反応容器(チャンバー)に導入して、高周波
あるいは、マイクロ波プラズマを発生させ、基板上にコ
バルトフェライト結晶を析出させるものである。
このように室温でコバルトフェライトの析出が可能とな
るのは、低圧下10” ’ 〜10− 4Torr)に
おけるマグネトロン放電や、ECR放電を用いた高密度
プラズマ中においては、化学反応を低温で引きおこす活
性なラジカルやイオン等の化学種が多く存在し、通常の
CVD (熱による分解析出をおこすCVD)や通常の
プラズマCVD(O,1〜数Torrでマグネトロン放
電やECR放電を用いないプラズマCVD)では、エネ
ルギー的におこり得ない反応が室温でおこることが可能
であるためである。
るのは、低圧下10” ’ 〜10− 4Torr)に
おけるマグネトロン放電や、ECR放電を用いた高密度
プラズマ中においては、化学反応を低温で引きおこす活
性なラジカルやイオン等の化学種が多く存在し、通常の
CVD (熱による分解析出をおこすCVD)や通常の
プラズマCVD(O,1〜数Torrでマグネトロン放
電やECR放電を用いないプラズマCVD)では、エネ
ルギー的におこり得ない反応が室温でおこることが可能
であるためである。
C例えば、日経マイクロデバイス 1985年春号特別
編集版 P、93〜100〕 また一般にマグネトロン放電やECR放電を用いたプラ
ズマCVD法は、通常の熱CVD法にくらべて低温(室
温付近)で酸化物、炭化物、窒化物等の高融点物質が合
成できるばかりでなく、熱分解反応を伴うために低温に
おいても高純度でしかも結晶性の良い柱状構造の膜が得
られる。そのためコバルトフェライトのような等方性結
晶の磁化膜(面内磁化膜)を低温で垂直磁化膜(コバル
トフェライトは、等方性結晶であるため膜の柱状構造に
よる形状異方性に起因する垂直異方性を利用して、垂直
磁化膜とする)にするのには、最適の方法である。
編集版 P、93〜100〕 また一般にマグネトロン放電やECR放電を用いたプラ
ズマCVD法は、通常の熱CVD法にくらべて低温(室
温付近)で酸化物、炭化物、窒化物等の高融点物質が合
成できるばかりでなく、熱分解反応を伴うために低温に
おいても高純度でしかも結晶性の良い柱状構造の膜が得
られる。そのためコバルトフェライトのような等方性結
晶の磁化膜(面内磁化膜)を低温で垂直磁化膜(コバル
トフェライトは、等方性結晶であるため膜の柱状構造に
よる形状異方性に起因する垂直異方性を利用して、垂直
磁化膜とする)にするのには、最適の方法である。
実施例
以下、本発明の一実施例について、図面にもとづいて説
明する。図は、本発明の一実施例におけるマグネトロン
放電プラズマCVD装置の概略図を示すものである。図
において、11は反応チャンバー、12はマグネトロン
放電を行なうための7グネツトを内蔵した高周波電極、
13は高周波電源、14は基板ホルダー、15は基板、
16はコバルトを含有するキレートのバブラー、17は
鉄を含有するキレートのバブラー、18はM(ただし、
MはAI、 Cr。
明する。図は、本発明の一実施例におけるマグネトロン
放電プラズマCVD装置の概略図を示すものである。図
において、11は反応チャンバー、12はマグネトロン
放電を行なうための7グネツトを内蔵した高周波電極、
13は高周波電源、14は基板ホルダー、15は基板、
16はコバルトを含有するキレートのバブラー、17は
鉄を含有するキレートのバブラー、18はM(ただし、
MはAI、 Cr。
Gd、Mn、 Inのうちのいずれか一種)を含有する
キレートのバブラー、19は窒素(Nt)キャリアガス
のボンベ、20は0□反応ガスのボンベ、21はロータ
リーポンプである・ まずコバルトアセチルアセトン(Co(CsHrO)3
) 。
キレートのバブラー、19は窒素(Nt)キャリアガス
のボンベ、20は0□反応ガスのボンベ、21はロータ
リーポンプである・ まずコバルトアセチルアセトン(Co(CsHrO)3
) 。
鉄アセチルアセトン(Fe(CsHJ) 3]およびア
ルミニウムアセチルアセトン(Al (C5II70)
3)を150℃に加熱されたバブラー、16.17.
18にそれぞれ入れ、バブル用のNtガス19をそれぞ
れ80cc/分、120cc/分および4cc/分流し
、これらの蒸気をロータリーポンプ21によって減圧状
態になった反応チャンバー11内のアルミニウム基板1
5に導入する。
ルミニウムアセチルアセトン(Al (C5II70)
3)を150℃に加熱されたバブラー、16.17.
18にそれぞれ入れ、バブル用のNtガス19をそれぞ
れ80cc/分、120cc/分および4cc/分流し
、これらの蒸気をロータリーポンプ21によって減圧状
態になった反応チャンバー11内のアルミニウム基板1
5に導入する。
次に同じく反応ガスである、酸素(O□)20を200
cc/分の流量で同じくアルミニウム基板上に流し、約
25分間反応させた。この時のガス圧は1.I X 1
0−”Torrで基板の温度は40℃、高周波電力(1
3,56Mflz)は、500W (5W/cd)であ
った。またマグネットの磁力は、基板近傍で約400ガ
ウスであった。
cc/分の流量で同じくアルミニウム基板上に流し、約
25分間反応させた。この時のガス圧は1.I X 1
0−”Torrで基板の温度は40℃、高周波電力(1
3,56Mflz)は、500W (5W/cd)であ
った。またマグネットの磁力は、基板近傍で約400ガ
ウスであった。
この時基板上に析出したコバルトフェライトの膜厚は、
2250人であった。次にこの膜について、X線による
結晶構造の解析、およびカー回転角の測定(波長780
nmのレーザ光をフェライト膜上に入射させアルミ面で
反射し再びフェライト膜を通過してきたレーザ光を検出
して測定)を行なった。
2250人であった。次にこの膜について、X線による
結晶構造の解析、およびカー回転角の測定(波長780
nmのレーザ光をフェライト膜上に入射させアルミ面で
反射し再びフェライト膜を通過してきたレーザ光を検出
して測定)を行なった。
その時の結果を表の試料番号1に示す。以下同様にして
、基板温度、キレートの種類、バブラーの量CNtの流
量)、反応チャンバーの圧力(ロータリーポンプのバル
ブ操作により変化させる)マグネットの強さ、プラズマ
発生の方法等を変化させたときの、X線解析、カー効果
(カー回転角の大きさ)を表の試料番号2〜24に示す
。また試料番号25〜26は、本発明外の比較例である
。
、基板温度、キレートの種類、バブラーの量CNtの流
量)、反応チャンバーの圧力(ロータリーポンプのバル
ブ操作により変化させる)マグネットの強さ、プラズマ
発生の方法等を変化させたときの、X線解析、カー効果
(カー回転角の大きさ)を表の試料番号2〜24に示す
。また試料番号25〜26は、本発明外の比較例である
。
*ただし、階5、Sζ計陳凄す
*ただし、騙久Iは比較例
*ただし、k仮には比較例
ここでX線解析は、コバルトフェライトの結晶構造と膜
の配向性、および添加物M(ただしMはAI+ Cr、
Fe、 cd、 Mnl Inのうちのいずれか一種
)の固溶状態を調べた。またカー効果(カー回転角の大
きさ)は、偏光面変調法〔例えば、合材テレビジョン学
会誌39巻4号 1985年 366ページ〕により調
べた。またコバルトフェライト膜が垂直磁化膜かどうか
は、VSM (振動試料型磁力計)による膜の磁気特性
(B−Hカーブ)から調べた。
の配向性、および添加物M(ただしMはAI+ Cr、
Fe、 cd、 Mnl Inのうちのいずれか一種
)の固溶状態を調べた。またカー効果(カー回転角の大
きさ)は、偏光面変調法〔例えば、合材テレビジョン学
会誌39巻4号 1985年 366ページ〕により調
べた。またコバルトフェライト膜が垂直磁化膜かどうか
は、VSM (振動試料型磁力計)による膜の磁気特性
(B−Hカーブ)から調べた。
なお、チャンバー内の減圧を10−4Torr〜10−
4Torrとしたのは、10−4Torrより気圧が高
いとチャンバー内の各種粒子(中性、ラジカル、イオン
等)の平均自由行程が短かくなり各種粒子がある程度の
運動エネルギーを持って反応に寄与することが困難にな
る。そのため低温でコバルトフェライトを合成するのが
むずかしくなるためである。また10−4Torr以下
になるとマグネトロン放電を維持することが困難であり
、またフェライト膜の成長速度が低(なってしまうから
である。
4Torrとしたのは、10−4Torrより気圧が高
いとチャンバー内の各種粒子(中性、ラジカル、イオン
等)の平均自由行程が短かくなり各種粒子がある程度の
運動エネルギーを持って反応に寄与することが困難にな
る。そのため低温でコバルトフェライトを合成するのが
むずかしくなるためである。また10−4Torr以下
になるとマグネトロン放電を維持することが困難であり
、またフェライト膜の成長速度が低(なってしまうから
である。
発明の効果
以上述べてきたように、本発明によれば、低圧プラズマ
の活性さを巧みに利用して、50℃以下の低温で光磁気
効果の大きいコバルトフェライトの垂直膜が作成できる
方法であって、高密度の光熱磁気記録を達成するのにき
わめて有益な発明である。
の活性さを巧みに利用して、50℃以下の低温で光磁気
効果の大きいコバルトフェライトの垂直膜が作成できる
方法であって、高密度の光熱磁気記録を達成するのにき
わめて有益な発明である。
図は、本発明の一実施例におけるプラズマCVD装置の
概略図である。 11・・・・・・反応チャンバー、12・・・・・・マ
グネトロン放電を行なうためのマグネットを内蔵した高
周波電極、13・・・・・・高周波電源、14・・・・
・・基板ホルダー、15・・・・・・基板、16・・・
・・・コバルトを含有するキレートのバブラー、17・
・・・・・鉄を含有するキレートのバブラー、18・・
・・・・M(ただし、MはAI、 Cr、 Gd、 M
n、 Inのうちのいずれか一種)を含有するキレート
のバブラー、19・・・・・・窒素(l キャリアガス
のボンベ、20・・・・・・02反応ガスのボンベ、2
1・・・・・・ロータリーポンプ。
概略図である。 11・・・・・・反応チャンバー、12・・・・・・マ
グネトロン放電を行なうためのマグネットを内蔵した高
周波電極、13・・・・・・高周波電源、14・・・・
・・基板ホルダー、15・・・・・・基板、16・・・
・・・コバルトを含有するキレートのバブラー、17・
・・・・・鉄を含有するキレートのバブラー、18・・
・・・・M(ただし、MはAI、 Cr、 Gd、 M
n、 Inのうちのいずれか一種)を含有するキレート
のバブラー、19・・・・・・窒素(l キャリアガス
のボンベ、20・・・・・・02反応ガスのボンベ、2
1・・・・・・ロータリーポンプ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 コバルト(Co)、鉄(Fe)およびM〔ただし、M
はアルミニウム(Al)、クロム(Cr)、鉄(Fe)
、ガドリニウム(Gd)、マンガン(Mn)、インジウ
ム(In)のうちのいずれか一種〕を含有する金属キレ
ートの蒸気と、反応ガスとしての酸素ガス(O_2)を
10^−^1Torr〜10^−^4Torrに減圧さ
れたチャンバー内に導入し、マグネトロン放電を用いた
プラズマあるいは、電子サイクロトロン共鳴により生じ
たプラズマ中でこれらの蒸気を分解させ、基板上に、一
般式CoFe_−_xM_xO_4〔ただし、Mは、A
l、Cr、Fe、Gd、Mn、Inのうちのいずれか一
種の元素で、Xは、0〜1.0の数〕で示されるフェラ
イトを析出させることを特徴とするフェライト薄膜の製
造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9378586A JPH0697647B2 (ja) | 1986-04-23 | 1986-04-23 | フエライト薄膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9378586A JPH0697647B2 (ja) | 1986-04-23 | 1986-04-23 | フエライト薄膜の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62250625A true JPS62250625A (ja) | 1987-10-31 |
JPH0697647B2 JPH0697647B2 (ja) | 1994-11-30 |
Family
ID=14092065
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9378586A Expired - Lifetime JPH0697647B2 (ja) | 1986-04-23 | 1986-04-23 | フエライト薄膜の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0697647B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02165447A (ja) * | 1988-12-16 | 1990-06-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光磁気記録媒体およびその製造方法 |
JPH02166647A (ja) * | 1988-12-20 | 1990-06-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光磁気記録媒体およびその製造方法 |
JPH04182918A (ja) * | 1990-11-19 | 1992-06-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 固定磁気ディスクおよびその製造方法 |
CN113087532A (zh) * | 2021-03-04 | 2021-07-09 | 电子科技大学 | 一种高性能NiZn铁氧体薄膜的制备方法 |
-
1986
- 1986-04-23 JP JP9378586A patent/JPH0697647B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02165447A (ja) * | 1988-12-16 | 1990-06-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光磁気記録媒体およびその製造方法 |
JPH02166647A (ja) * | 1988-12-20 | 1990-06-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光磁気記録媒体およびその製造方法 |
JPH04182918A (ja) * | 1990-11-19 | 1992-06-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 固定磁気ディスクおよびその製造方法 |
CN113087532A (zh) * | 2021-03-04 | 2021-07-09 | 电子科技大学 | 一种高性能NiZn铁氧体薄膜的制备方法 |
CN113087532B (zh) * | 2021-03-04 | 2022-10-14 | 电子科技大学 | 一种高性能NiZn铁氧体薄膜的制备方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0697647B2 (ja) | 1994-11-30 |
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