JPH02148483U - - Google Patents

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JPH02148483U
JPH02148483U JP1990051743U JP5174390U JPH02148483U JP H02148483 U JPH02148483 U JP H02148483U JP 1990051743 U JP1990051743 U JP 1990051743U JP 5174390 U JP5174390 U JP 5174390U JP H02148483 U JPH02148483 U JP H02148483U
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K7/00Constructional details common to different types of electric apparatus
    • H05K7/02Arrangements of circuit components or wiring on supporting structure
    • H05K7/10Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets
    • H05K7/1053Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having interior leads
    • H05K7/1061Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having interior leads co-operating by abutting
    • H05K7/1069Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having interior leads co-operating by abutting with spring contact pieces
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0433Sockets for IC's or transistors
    • G01R1/0475Sockets for IC's or transistors for TAB IC's

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】 第1図は本考案のソケツトの頂面図、第2図は
、キヤリアデバイスが挿入されそしてコム及び接
触子部材が外されたソケツトの前面図、第3図は
、ベースカバープレートを取外し、そして4個取
付けることができるコム及び接触子部材の内の3
個だけを取付けたソケツトのベースのフレームの
頂面図、第4図はベースフレームのカバープレー
トの頂面図、第5図は第1図の5−5線における
断面図、第6図はコム及び接触子部材の倍尺平面
図、第7図は第6図のコム及び接触子部材の横断
面図、第8図は第6図と第7図に示されるコムの
部分垂直断面斜視図である。 10……ソケツト、11……ベース、12……
蓋、20……キヤリア、25……フレーム、35
……ビーム、36……突起、40……コム及び接
触子部材、50……カバープレート、55……コ
ム、56,57,58……接触子、64……壁、
67,68……棚、69,70……仕切り、80
……接触端部、81……中間体部分、83,84
……可撓区域、90……フレーム、95……プレ
ート、98……ランプ、100……作動部材、1
09……ローラ、110……頂部プレート。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 集積回路デバイスのリードにパスによつて
    接続される複数個のパツドを有するテープ上に装
    架される集積回路デバイスのバーンイン及びテス
    ト用ソケツトであつて、これの中にコム及び接触
    子部材が設置され、該部材が複数個の接触子とこ
    れら接触子の支持とを備え、該支持が前記接触子
    を相互に離間した状態で保持する装備を有する如
    きソケツトにおいて、 前記各接触子が、前記テープ上のパツドに押圧
    接触するための接触端部、該接触端部が動けるよ
    うにする中間体部分、及び、電子装置に接続する
    ための接続端部を有し、前記接触端部が直線形部
    分を有し、この直線形部分は前記中間体部分の第
    1可撓区域に結合され、これによつて前記中間体
    部分に対する前記接触端部の直線運動ができるよ
    うにされ、前記第1可撓区域は湾曲した第2可撓
    区域に結合され、これによつて前記支持に対し前
    記接触端部が動けるようにされ、前記中間体部分
    は更に、前記接触子を前記支持に保持し又前記接
    触端部を前記接続端部に連結する接触子係留部分
    を有する如き構成を備えることを特徴とするソケ
    ツト。 (2) 前記コム及び接触子部材の前記支持が前記
    接触子の接触端部によつて係合される壁を有し、
    該壁は少なくとも1つの側部、端部、及びベース
    を有し、該1つの側部は前記接触子を相互に離間
    した状態で保持する装備を有し、この保持装備は
    前記1つの側部の相互に離間した個所から延出す
    る複数個の狭い仕切りを含み、これら仕切りの各
    対の間に1つの接触子が嵌込まれることを特徴と
    する請求項(1)記載のソケツト。 (3) 前記コム及び接触子部材の前記支持が前記
    1つの側部より前記壁のベースから外方へ延出す
    る棚を有し、該棚が前記接触子の前記係留部分を
    受けることを特徴とする請求項(2)記載のソケツ
    ト。 (4) 前記コム及び接触子部材の前記支持が両端
    部を有し、前記壁が該両端部の間で前記支持の全
    体的に長手方向に延在し、前記壁は頂部、両側部
    、及びベースを有し、前記壁は前記接触子を相互
    に離間させる前記装備を備え、この装備は前記両
    側部から延出する仕切り及び前記両側部から延出
    する棚を含み、これら棚は前記接触子の前記係留
    装備と嵌合し、前記支持は前記両棚に結合する相
    互に離間した側部を有し、これら側部の間且つ前
    記壁の下にリブ受入溝が形成されて前記支持をフ
    レーム上に装架させ、前記接触子の接触端部は前
    記壁の前記両側部に接触するように置かれ、そし
    て前記頂部を超えた所まで延出することを特徴と
    する請求項(1)記載のソケツト。 (5) 前記支持の前記離間した両側部が前記壁の
    前記ベースから拡がり、前記側部はそれぞれ対向
    して延出する突出部を有し、これら突出部の先端
    は相互に離間した平行な円筒面になつて前記フレ
    ームに摺合することを特徴とする請求項(4)記載
    のソケツト。 (6) 前記ソケツトが、開口を画成する複数個の
    ビームを有するフレーム、複数個の前記コム及び
    接触子を備え、前記コムが1個ずつ前記各ビーム
    上に設置され、前記ビームがそれぞれ、全体的に
    その中央部に設けられて前記支持コムを前記ビー
    ム上に整合させる装備を備えることを特徴とする
    前記請求項のいずれか1項に記載のソケツト。 (7) 前記フレームが、前記テープ、集積回路デ
    バイス、及びテープパツドを心出しし、前記接触
    端部に整合させる整合装備を備えることを特徴と
    する請求項(6)記載のソケツト。 (8) 前記ソケツトが更に、前記フレームに対し
    て接近したり遠ざかつたりするように動けるよう
    前記フレームに枢架されるカバー部材を備え、該
    カバー部材は、前記接触端部の直線運動を行わせ
    るに充分な力をもつて前記テープ及びパツドを前
    記接触端部に係合させるよう駆動する装備を含む
    ことを特徴とする請求項(6)又は(7)記載のソケツ
    ト。 (9) 前記テープ及びパツドを駆動する前記装備
    が、前記接触子を露出させる開口を有するベース
    、該ベース上に設置されるプレートであつて、こ
    のプレートは両側部を有し、そして、その一方の
    側部に設けられ前記ベースの開口を通つて延在し
    て前記接触子と整合するリブ及び他方の側部に設
    けられるカム面を有する前記プレート、及び、該
    プレートの前記カム面と係合して前記リブを前記
    接触子に対して接近及び遠ざけるように動かすた
    めの作動装備を備えることを特徴とする請求項(8
    )記載のソケツト。
JP1990051743U 1989-05-19 1990-05-17 Tab集積回路のバーンイン及びテスト用ソケット Expired - Lifetime JPH0717024Y2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US07/354,903 US4986760A (en) 1989-05-19 1989-05-19 Socket for tab burn-in and test
US354903 1989-05-19

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02148483U true JPH02148483U (ja) 1990-12-17
JPH0717024Y2 JPH0717024Y2 (ja) 1995-04-19

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ID=23395390

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JP1990051743U Expired - Lifetime JPH0717024Y2 (ja) 1989-05-19 1990-05-17 Tab集積回路のバーンイン及びテスト用ソケット

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JP (1) JPH0717024Y2 (ja)
KR (1) KR940002667Y1 (ja)
DE (1) DE9004918U1 (ja)

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