JPH02134832A - 集積回路チップのモールド方法 - Google Patents
集積回路チップのモールド方法Info
- Publication number
- JPH02134832A JPH02134832A JP28909188A JP28909188A JPH02134832A JP H02134832 A JPH02134832 A JP H02134832A JP 28909188 A JP28909188 A JP 28909188A JP 28909188 A JP28909188 A JP 28909188A JP H02134832 A JPH02134832 A JP H02134832A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- hole
- circuit board
- integrated circuit
- circuit chip
- molding material
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 8
- 238000000465 moulding Methods 0.000 title claims description 18
- 239000012778 molding material Substances 0.000 abstract 5
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 10
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は回路基板にワイヤーボンディングで実装された
集積回路チップのモールド方法に関する。
集積回路チップのモールド方法に関する。
[従来の技術]
従来の技術は、第3図に示す様に回路基板7の裏面に絶
縁性テープ2を貼り付け、前記回路基板7が有するスル
ーホール孔1は前記絶縁性テープによって塞がれ、集積
回路チップを保護する為のモールド剤の流出が防止され
ていた。
縁性テープ2を貼り付け、前記回路基板7が有するスル
ーホール孔1は前記絶縁性テープによって塞がれ、集積
回路チップを保護する為のモールド剤の流出が防止され
ていた。
[発明が解決しようとする課題]
しかし、前記の従来技術では、第4図に示す様にモール
ド剤4を硬化させる為に加熱した雲囲気中に長時間放置
した際、回路基板7の裏面に絶縁テープ2を貼り付けで
ある為に、スルーホール孔1に留まっている空気は膨張
して前記モールド剤4の中に気泡5となって存在し始め 、集積回路チップ6にボンディングされたワイヤー3に
押し付けたり、押し上げたりする押圧を加え、ボンディ
ング部を破壊するという問題点を有していた。又、この
気泡が更に熱で膨張すると、モールド剤4の表面に穴を
開け、気密封止が完全でなくなり、ボンディング部の接
続の信頼性を低下させるという問題点を有している。そ
こで本発明はこの様な問題点を解決し、前記気泡が発生
しない集積回路チップのモールド方法を提供する事を目
的とする。
ド剤4を硬化させる為に加熱した雲囲気中に長時間放置
した際、回路基板7の裏面に絶縁テープ2を貼り付けで
ある為に、スルーホール孔1に留まっている空気は膨張
して前記モールド剤4の中に気泡5となって存在し始め 、集積回路チップ6にボンディングされたワイヤー3に
押し付けたり、押し上げたりする押圧を加え、ボンディ
ング部を破壊するという問題点を有していた。又、この
気泡が更に熱で膨張すると、モールド剤4の表面に穴を
開け、気密封止が完全でなくなり、ボンディング部の接
続の信頼性を低下させるという問題点を有している。そ
こで本発明はこの様な問題点を解決し、前記気泡が発生
しない集積回路チップのモールド方法を提供する事を目
的とする。
[課題を解決するための手段]
本発明は、第1図に示す様にワイヤーボンディングされ
た集積回路チップ6と当該集積回路チップ6を保護する
モールド剤4が存在する回路基板7において、前記回路
基板7のスルーホール孔1にガス抜き穴を設けることに
より、前記モールド剤4の中に気泡を発生させない事を
特徴とする。
た集積回路チップ6と当該集積回路チップ6を保護する
モールド剤4が存在する回路基板7において、前記回路
基板7のスルーホール孔1にガス抜き穴を設けることに
より、前記モールド剤4の中に気泡を発生させない事を
特徴とする。
[実施例]
第1図は、本発明の実施例の1つである。回路基板7の
裏面に貼る絶縁テープ2には前記回路基板7が有するス
ルーホール孔1と完全に重なる位置に穴が開いており、
スルーホール孔1の中のガスは、8に示す経路で回路基
板7の裏側に放出される。1はスルーホール孔であり、
2は絶縁テープ、3は集積回路チップと回路基板7を接
続するためのモールド剤である。6は前記回路基板に接
着された集積回路チップであり、7は回路基板である。
裏面に貼る絶縁テープ2には前記回路基板7が有するス
ルーホール孔1と完全に重なる位置に穴が開いており、
スルーホール孔1の中のガスは、8に示す経路で回路基
板7の裏側に放出される。1はスルーホール孔であり、
2は絶縁テープ、3は集積回路チップと回路基板7を接
続するためのモールド剤である。6は前記回路基板に接
着された集積回路チップであり、7は回路基板である。
第2図に、本発明の他の実施例を示す。回路基板7の裏
面に張られた絶縁性テープ2に、前記回路基板7が有す
るスルーホール1と同じ位置に半円状のガス抜き穴を設
けて、本発明の効果を持たせたものである。この場合、
ガス抜き穴1は、半円上で完全にスルーホール穴を覆わ
ない事によりガス抜きの機能果たすと同時に、完全な通
り抜けになっていない事により回路基板の表面のモール
ド剤7の流出が防止出来るの、両方の効果を持てる事に
なる。
面に張られた絶縁性テープ2に、前記回路基板7が有す
るスルーホール1と同じ位置に半円状のガス抜き穴を設
けて、本発明の効果を持たせたものである。この場合、
ガス抜き穴1は、半円上で完全にスルーホール穴を覆わ
ない事によりガス抜きの機能果たすと同時に、完全な通
り抜けになっていない事により回路基板の表面のモール
ド剤7の流出が防止出来るの、両方の効果を持てる事に
なる。
[発明の効果]
以上述べた様に本発明によれば、第1図にある様に回路
基板7の有するスルーホール孔1に留まった空気は8の
経路で外部に放出される。しかしながら、第4図に示す
様に、回路基板7が有するスルーホール孔1にガス抜き
穴が設けられていない方法では、気泡5は、熱によって
膨張しワイヤーボンディング部を押し付けたり、押し上
げたりして最終的には破壊してしまう。従って本発明の
モールド方法では、気泡によるワイヤーへの負荷を一切
除去するという効果を有し又気泡の除去によりモールド
剤の透明性が一層向上するという効果も有する。
基板7の有するスルーホール孔1に留まった空気は8の
経路で外部に放出される。しかしながら、第4図に示す
様に、回路基板7が有するスルーホール孔1にガス抜き
穴が設けられていない方法では、気泡5は、熱によって
膨張しワイヤーボンディング部を押し付けたり、押し上
げたりして最終的には破壊してしまう。従って本発明の
モールド方法では、気泡によるワイヤーへの負荷を一切
除去するという効果を有し又気泡の除去によりモールド
剤の透明性が一層向上するという効果も有する。
第1図は、本発明の一実施例を示す断面図、第2図は本
発明の他の実施例を示す裏面図。第3図は、回路基板に
貼付された絶縁性テープにガス抜き穴が設けられていな
い従来の回路基板の裏面図。第4図は従来のモールド方
法の断面図。 スルーホール 絶縁性テープ ワイヤー モールド剤 気泡 集積回路チップ 回路基板 ガスが放出される方向 第1図 以 上 ■
発明の他の実施例を示す裏面図。第3図は、回路基板に
貼付された絶縁性テープにガス抜き穴が設けられていな
い従来の回路基板の裏面図。第4図は従来のモールド方
法の断面図。 スルーホール 絶縁性テープ ワイヤー モールド剤 気泡 集積回路チップ 回路基板 ガスが放出される方向 第1図 以 上 ■
Claims (1)
- ワイヤーボンディングされた集積回路チップと、該集
積回路チップを保護するモールド剤が存在し、スルーホ
ール孔を有する回路基板において前記回路基板のスルー
ホール孔にガス抜き穴を設ける事により、前記モールド
剤中に気胞が発生しない事を特徴とする集積回路チップ
のモールド方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28909188A JPH02134832A (ja) | 1988-11-16 | 1988-11-16 | 集積回路チップのモールド方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28909188A JPH02134832A (ja) | 1988-11-16 | 1988-11-16 | 集積回路チップのモールド方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02134832A true JPH02134832A (ja) | 1990-05-23 |
Family
ID=17738690
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28909188A Pending JPH02134832A (ja) | 1988-11-16 | 1988-11-16 | 集積回路チップのモールド方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02134832A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998035382A1 (en) * | 1997-02-10 | 1998-08-13 | Matsushita Electronics Corporation | Resin sealed semiconductor device and method for manufacturing the same |
US6126885A (en) * | 1997-06-27 | 2000-10-03 | Matsushita Electronics Corporation | Method for manufacturing resin-molded semiconductor device |
JP2003110057A (ja) * | 2001-09-28 | 2003-04-11 | Sanyo Electric Co Ltd | 半導体装置の製造方法 |
-
1988
- 1988-11-16 JP JP28909188A patent/JPH02134832A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1998035382A1 (en) * | 1997-02-10 | 1998-08-13 | Matsushita Electronics Corporation | Resin sealed semiconductor device and method for manufacturing the same |
US6291274B1 (en) | 1997-02-10 | 2001-09-18 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Resin molded semiconductor device and method for manufacturing the same |
US6126885A (en) * | 1997-06-27 | 2000-10-03 | Matsushita Electronics Corporation | Method for manufacturing resin-molded semiconductor device |
US6258314B1 (en) | 1997-06-27 | 2001-07-10 | Matsushita Electronics Corporation | Method for manufacturing resin-molded semiconductor device |
JP2003110057A (ja) * | 2001-09-28 | 2003-04-11 | Sanyo Electric Co Ltd | 半導体装置の製造方法 |
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