JPH02134014A - 導電変調型mosfetの過電流保護回路 - Google Patents

導電変調型mosfetの過電流保護回路

Info

Publication number
JPH02134014A
JPH02134014A JP28669488A JP28669488A JPH02134014A JP H02134014 A JPH02134014 A JP H02134014A JP 28669488 A JP28669488 A JP 28669488A JP 28669488 A JP28669488 A JP 28669488A JP H02134014 A JPH02134014 A JP H02134014A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
fet
gate
voltage
auxiliary gate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP28669488A
Other languages
English (en)
Inventor
Eiichi Kobayashi
栄一 小林
Yoshihiro Yamaguchi
好広 山口
Akio Nakagawa
明夫 中川
Kiminori Watanabe
渡辺 君則
Tomokazu Domon
土門 知一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP28669488A priority Critical patent/JPH02134014A/ja
Publication of JPH02134014A publication Critical patent/JPH02134014A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は導電変調型MOSFETの過電流保護回路に関
する。
(従来の技術) 導電変調型MO9FETはMOSゲート人力を備えたバ
イポーラ・モードで動作するFETてあり、スイッチン
グ速度が速く、しかもオン電圧が低いという長所を持っ
ている。そして、このMOSFETを使用することによ
り、従来のバイポーラトランジスタやMOSFETでは
不可能であった大電力の高周波コントロールが可能にな
った。
以下本明細書では、この導電変調型MOSFETをB 
I F E T (Bipolar mode  F 
E T)と略称する。
第6図はこのようなりlFETを用いた基本回路の一例
を示す回路図である。
この図に示す回路は、正側の電源150と、負側の電源
151とを備えており、入力端子152に入力される信
号によってトランジスタ153.154が相捕的に動作
するとともに、これらトうンンスタ153.154の出
力に基づいてトランジスタ155.156が相補的に動
作する。そして、これらトランジスタ155.156の
接続点に得られる信号によってBIFET157のゲー
トにオン、オフの信号が供給されて電g158がオン、
オフされ負荷159に供給される電力が制御される。
しかしながらこのような基本回路においては、負荷15
9が短絡事故を起こした場合、BIFET157に過電
圧が印加されて過電流が流れ、この状、態が長時間続く
と、BIFET157が破壊される。
そこでこのような負荷短絡時におけるBIFET 15
7の破壊を防止する目的で第7図に示す如く保護回路1
60を備えた基本回路が提案されている。
この図に示す保護回路160は、抵抗161.162か
らなる過電圧検出回路によってBIFET157のドレ
イン・ソース間電圧をモニタし、これがある一定値以上
となったとき、ツェナーダイオード163を導通させて
トランジスタ164をオンさせ、これによって抵抗16
5.166によって構成される分圧回路を動作させてB
IFET157のゲートに入力される信号の値を低下さ
せこれを強制的にオフさせ、BIFET157を保護す
るようにしている。
(発明が解決しようとする課題) この様に負荷が短絡して素子が破壊する原因は素子の2
次降伏破壊現象による。この2次降伏破壊現象はバイポ
ーラ動作する素子特有のもので、使用する7I!源が高
くなる程その時流せる電流は低下する。しかしながら、
このようなりlFETl57はその名称によって示され
るように、バイポーラ動作する素子である。
このため、電源電圧を高くして使用した場合、このよう
な(’4 ’J回路では素子の破壊を防止することがで
きない。
このような理由から、通常のBIFETでは、素子耐圧
の1/2以下の71j71i圧で使用するのか一般的で
ある。したがって、このようなりlFETを電源電圧の
高い装置に用いる場合には、素子の高耐圧化を図る必要
がある。しかし、素子を高耐圧化すると、オン電圧が高
くなるという問題を生する。
そこでこのようなりlFETの欠点を除くために、近年
、ソース側に主ゲートG1を設け、ドレイン側に補助の
ゲートG2を設けたBIFET。
つまり第8図に示す如く2つのゲートを持ったダブルゲ
ート導電変調型MOSFETが提案されている(例えば
、特願昭62−304634号)。
以下この素子をD G B I F E T (Dou
ble GateBipolar mode  F E
 T )と略称し、その動作を簡単に述べる。
この素子をオンさせるには、まず第1ゲートG1をソー
スSに対して正バイアスにし、第2ゲートG2をドレイ
ンDに対して零または負バイアスに保つ。
これにより、第1ゲートG1直下の第1チヤネル領域C
HIが反転して第1のn十型ソース層170からn型ベ
ース層171に電子が注入される一方、トレインD側の
第2チヤネル領域CIl 2はオフ状態に保たれる。
そして、n型ベース層171からnバッファ層172を
経てトレインD側に電子電流が流れると、ドレイン層1
73からn型バッファ層172を介してn型ベース層1
71に正孔が注入される。この動作は、従来構造のBI
FETの場合と変わらず、これによりn型ベース層17
1内で導電変調か起こる。
またこの素子をターンオフする際には、第1ゲートG1
をソースSに対して零または負バイアスして第1チヤネ
ル領域CHIをオフ状態にする。
同時に、第2ゲー1− G 2をドレインDに対しif
Eにバイアスして第2チヤネル領域CH2をオン状態に
する。このようにバイアスすると、第1のn+型ソース
層170からn型ベース層171への電子注入はなくな
る。そしてこのとき、ドレインD側では、第2チヤネル
領域CH2を介して第2のn十型ソース層174がn型
バッファ層172と導通し、これによってドレイン電極
175によりn型バッファ層172がP型ドレイン層1
73と短絡する。
換言すれば、ターンオフ時、PNPトランジスタは電流
利得が零となる。この状態では、素子内に蓄積された電
子はn型バッファ層172→第2チヤネル領域CH2→
第2のn型ソース層174を通ってドレイン電極175
へ抜け、正孔はP型ベース層176を通ってソース電極
177へ抜ける。したがってこの状態では、P型ベース
層176とn型ベース層171が逆バイアスされている
のと実質的に等価である。
以上のように、DGB I FETでは、ターンオフ時
のみn型バッファ層172とドレイン電極175を短絡
させることにより、テール電流を小さくすることができ
、これによってターンオフ速度を速くすることができる
。そして、素子内のキャリア寿命自身を小さくする必要
がないので、オン状態でのPNP トランジスタの電流
利得を大きくでき、n型ベース層171が厚くても順方
向電圧降下を十分に小さく保つことができる。
ところでこのようなりGBIFETを実際の装置に使用
して過電流保護を行なう場合、第7図に示した保護回路
160をそのまま適用することも可能であるが、この場
合、過電流を遮断するとき、素子はバイポーラ状態であ
るから従来のBIFETと同様な問題はそのまま残る。
このため、従来の過電流保護回路では、DGBIFET
を十分に保護することができない。
したがって、電源電圧の高い装置にDGB I FET
を使用する場合には、BIFETと同様に電源電圧の2
倍以上の電圧に耐える素子を用いる必要があり、素子の
オン電圧の上昇を招くという問題があった。
本発明は上記の事情に鑑み、DGBIFETなどを過電
流から保護することができ、これによってDGBIFE
Tなどを電ti、電圧の高い装置に使用する場合にもこ
のDGB I FETなとの耐圧を下げることができる
導電変調型MOSFETの過電流保護回路を提供するこ
とを目的としている。
〔発明の構成〕
(課題を解決するための手段) 上記の目的を達成するために本発明による導電変調型M
OSFETの過電流保護回路は、主ゲートと補助ゲート
とを有するダブルゲート導電変調型MOSFETの負荷
短絡によるドレイン電圧の上昇を検出する短絡検出手段
と、この短絡検出手段によってドレイン電圧の上昇が検
出されたとき前記補助ゲートをオンする補助ゲートオン
手段と、前記短絡検出手段によってドレイン電圧の上昇
が検出されたときこの検出結果を遅延させる遅延手段と
、この遅延手段によって遅延された前記検出結果に基づ
いて前記主ゲートをオフする主ゲトオフ手段とを備えた
ことを特徴としている。
(作用) 上記の構成において、短絡検出手段によりダブルゲート
導電変調型MOSFETのドレイン電圧の上昇が検出さ
れれば、これに対応して補助ゲートオン手段が前記ダブ
ルゲート導電変調型MO8FETの補助ゲートをオンさ
せてこれをユニポーラモードにするとともに、この時点
から遅延手段の遅延時間後に主ゲートオフ手段が前記ダ
ブルゲート導電変調型MOSFETの主ゲートをオフさ
せ、このダブルゲート導電変調型MOSFETをオフさ
せる。
(実施例) 第1図は本発明による導電変調型MOSFETの過7I
i流保護回路の一実施例を用いたチョッパ回路の一例を
示す回路図である。
この図に示すチョッパ回路は、直流電源1と、DGBI
FET2と、信号源4と、信号生成回路5と、主ゲート
制御回路6と、主ゲート駆動回路7と、主ゲート電源回
路8と、短絡検出回路9と、補助ゲート制御回路10と
、補助ゲート駆動回路11と、補助ゲート電源回路12
とを備えており、信号源4から制御信号SGが出力され
る毎に信号生成回路5は制御信号SG2、SGIを所定
間隔で出力して補助ゲート制御回路10、主ゲート制御
回路6から正バイアス電圧指示信号、負バイアス電圧指
示信号を交互に出力させる。これによって、補助ゲート
駆動回路11、主ゲート駆動回路7はDGBIFET2
をオン/オフして負荷回路3に供給される電力をコント
ロールする。またこの負荷回路3が短絡したときには短
絡検出回路9の出力に基づいて補助ゲート制御回路10
がこれを検知して補助ゲート駆動回路11から正バイア
ス電圧を出力させ前記DGBIFET2の補助ゲトG2
を正バイアスにする。またこのとき、この補助ゲート制
御回路10から出力される停止指令伝号に基づいて信号
生成回路5は制御信号SG2、SGIの発生を停止して
主ゲート制御回路6から負バイアス電圧指示指令を出力
させて前記DGBIFET2の主ゲートG1を負バイア
スにし、このDGBIFET2をオフさせる。
前記DGB I FET2は、その上ゲートG1、補助
ケートG2に印加されるバイアス電圧の極性に応してオ
ン/オフして前記直流電源1から出力される電力の値を
制御し前記負荷回路3に供給する電力値を制御する。
また信号tA4は、チョッパ用の制御信号SGを発生し
、これを信号発生回路5に供給する。
信号発生回路5は、補助ゲート制御回路10から停止指
令信号が出力されていないとき前記信号源4から供給さ
れる制御信号SGを取り込んで制御信号SG2を生成す
るアンドゲート48と、このアントゲ−1・48から出
力される制御信号SG2を遅延させて制御信号SGIを
生成する遅延回路13とを備えており、補助ゲート制御
回路10から停止指令信号が出力されていないときには
、前記信号源4から制御信号SGが出力される毎に、制
御信号SG2、S01を順次生成してこれらを補助ゲー
ト制御回路10と、主ゲート制御回路6とに各々供給す
る。また、前記補助ゲート制御回路10から停止指令信
号が出力されたときには、制御信号SG2の生成を停止
するとともに、所定時間後に制御信号S61の生成を停
止する。なお、前記補助ゲーi・制御回路10から停止
指令信号が出力されれば、停止指令信号保持回路(図示
は省略する)によってこれが保持され、信号生成回路5
はこのときから手動操作によってリセットされるまで制
御信号SGI、SG2の発生を停止する。
主ゲート制御回路6は、前記信号生成回路5から出力さ
れる制御信号SGIの直流分を除去するフォトカブラ1
4と、このフォトカプラ14に駆動電圧を供給する抵抗
15と、前記フォトカブラ]4の出力を反転増幅するF
ET16と、このFET16に駆動電圧を供給する抵抗
17とを備えており、前記信号生成回路5から制御信号
SGIが(1(給されたときには正バイアス電圧指示指
令(ハイレベル信号)を発生してこれを主ゲート駆動回
路7に供給する。また、前記信号生成回路5から制御信
号SGIが供給されていないときには負バイアス電圧指
示指令(ローレベル信号)を発生して前記主ゲート駆動
回路7に供給する。
主ゲート駆動回路7は前記主ゲート制御回路6の出力を
反転増幅するFET18と、このFET18に駆動電圧
を供給する抵抗19と、前記FET i 8の出力に基
づいて相補的にオン/オフするFET20.21とを備
えており、前記主ゲート制御回路6から正バイアス電圧
指示指令が出力されたときには、正バイアス電圧を生成
してこれを前記DGB I FET2の主ケートG1に
供給する。
また、前記主ゲート制御回路6から負バイアス電圧指示
指令が出力されたときには、負バイアス電圧を生成して
これを前記DGBIFET2の主ゲートG1に(jt−
給する。
また、主ゲート電源回路8は前記DGBIFET2のソ
ース電位を基僧とした正電圧を発生ずる電源23と、負
電圧を発生する電源24とを備えており、これら電IF
i、23.24によって得られた正電圧、負電圧を前記
主ゲート制御回路6及び前記主ゲート駆動回路7に供給
し、これらを駆動する。
また、短絡検出回路9は、前記負荷回路3の両端間電圧
を分圧する抵抗25.26を備えており、負荷回路3か
短絡していない場合において、前記負荷回路3に電力が
供給されているとき、電圧降下検知信号(ハイレベル信
号)を発生してこれを前記補助ゲート制御回路10に供
給する。
補助ゲート制御回路10は、補助ゲート制御回路本体2
7と、停止指令発生部28とを備えている。
補助ゲート制御回路本体27は、前記信号生成回路5か
ら出力される制御信号SG2の直流分を除去するフォト
カブラ29と、このフォトカブラ2つに駆動電圧を供給
する抵抗30と、前記フォトカブラ29の出力を反転増
幅するFET31と、このFET31に駆動電圧を供給
する抵抗32とを備えており、前記信号生成回路5から
制御信号SG2が供給されているときには負バイアス電
圧指示指令(ハイレベル信号)を発生してこれを補助ゲ
ート駆動回路11に供給する。また、前記信号生成回路
5から制御信号SG2が供給されていないときには正バ
イアス電圧指示指令(ローレベル信号)を発生して前記
補助ゲート駆動回路11に供給する。
また停止指令発生部28は、コンデンサ33と、このコ
ンデンサ33の充電路となる抵抗34と、前記補助ゲー
ト制御回路本体27から負バイアス電圧指令が出力され
ているとき導通して前記コンデンサ33を充電するダイ
オード35と、前記コンデンサ33の放電路となる抵抗
36と、前記短絡検知回路9から電圧降下検知信号が出
力されたとき導通状態となるダイオード37と、前記コ
ンデンサ33が十分に充電されているとき導通するダイ
オード39とを備えている。
更に、この停止指令発生部28は、前記短絡検知回路9
から電圧降下検知信号が出力されたオンするFET41
と、このFET41に駆動電圧を供給する抵抗38と、
前記FET41がオフしたときオンするFET42と、
前記抵抗ダイオード37あるいはダイオード36の少な
くともいずれか一方が導通しているときオンするFET
43と、これらFET42.43が共にオンしていると
き停止指令信号を発生して前記信号生成回路5に供給す
るフォトカブラ40とを備えている。
そして、この停止指令発生部28は、前記補助ゲート制
御回路10から負バイアス電圧指令が出力されている状
態で、前記短絡検知回路9から電圧降下検知信号が出力
されなくなったとき、つまりDGBIFET2がオンし
ているときにおいて負荷回路3が短絡したとき、FET
42.43か共にオンして前記補助ゲート制御回路10
から負バイアス電圧指令が出力されるのを禁止するとと
もに、フォトカブラ40から停止指令信号を出力させて
これを前記信号生成回路5に供給する。
また補助ゲート駆動回路11は前記補助ゲート制御回路
IOの出力を反転増幅するFET44と、このFET4
4に駆動電圧を供給する抵抗45と、前記FET44の
出力に基づいて相補的にオン/オフするFET46.4
7とを備えており、前記補助ゲート制御回路6から負バ
イアス電圧指示指令が出力されたときには、負バイアス
電圧を生成してこれを前記DGB lFET2の補助ゲ
ートG2に供給する。また、補助ゲート制御回路10か
ら正バイアス電圧指示指令が出力されたときには、正バ
イアス電圧を生成してこれを前記DGB I FET2
の補助ゲートG2に供給する。
また、補助ゲート電源回路12は前記DGBIFET2
のドレイン電位を基準とした正電圧を発生する電源50
と、負電圧を発生する電源51とを備えており、これら
電源50.51によって得られた正電圧、負電圧を補助
ゲート駆動回路11及び前記補助ゲート制御回路10に
供給してこれらを駆動する。
次に、第2図を参照しながらこの実施例の動作を説明す
る。
〈初期状態時の動作〉 まず初期状態(時刻(0)においては、信号源4が制御
信号SGを出力していないので、信号生成回路5は制御
信号SGI、SG2の発生を停止している。
したがってこの状態では、主ゲート制御回路6は負バイ
アス電圧指示指令を発生して主ゲート駆動回路7から負
のバイアス電圧を出力させてDGBIFET2の主ゲー
トG1を負にバイアスさせ、また補助ゲート制御回路1
0は正バイアス電圧指示指令を発生して補助ゲート駆動
回路11から正のバイアス電圧を出力させて前記DGB
IFET2の補助ゲートG2を正にバイアスさせ、DG
BIFET2をオフさせている。
くターンオン時の動作〉 この状態で、信号源4が制御信号SGを出力すれば(時
刻t1)、信号生成回路5は最初、制御信号SG2を発
生する。これによって、補助ゲート制御回路10は負バ
イアス電圧指示指令を発生して補助ゲート駆動回路11
から負のバイアス電圧を出力させて前記DGBIFET
2の補助ゲートG2を負にバイアスさせる。
またこのとき、補助ゲート制御回路10内の補助ゲート
制御回路本体27から出力される負バイアス電圧指示指
令によってコンデンサ33が充電を開始する。
この後、遅延回路13の遅延時間が経過したとき(時刻
t2)、信号生成回路5は制御信号SG1を発生する。
これにより、主ゲート制御回路6は正バイアス電圧指示
指令を発生して主ゲート駆動回路7からiEのバイアス
電圧を出力させてDGBIFET2の主ゲートG1を正
にバイアスさせこのDGBIFET2をオンさせる。
この結果、DGBIFET2を介して直流電源1の電力
が負荷回路3に供給される。なおこの時点では、コンデ
ンサ33が十分に充電されていないので、FET43は
オフしている。
そして、負荷回路3の両端間に生した電圧降下によって
短絡検知回路9が電圧降下検知信号を発生すれば、FE
T41がオンしてFET42をオフさせるとともに、ダ
イオード37が導通してFET43をオンさせる。
つまりこの場合には、FET42.43が同時にオンし
ないので、フォトカプラ40は停止指令信号を出力しな
い。
くターンオフ時の動作〉 また、信号源4から制御信号SGが出力されなくなれば
(時刻t3)、信号生成回路5は制御信号SG2を発生
を停止する。これによって、補助ゲート制御回路10は
正バイアス電圧指示指令を発生して補助ゲート駆動回路
11がら正のバイアス電圧を出力させ前記DGB I 
FET2の補助ゲトG2を正にバイアスさせる。
またこのとき、補助ゲート制御回路10から負バイアス
電圧指示指令が出力されなくなるから、コンデンサ33
は放電を開始する。
この後、遅延回路13の遅延時間が経過したとき(時刻
t4)、信号生成回路5は制御信号SG1の発生を停止
する。これにより、主ゲート制御回路6は負バイアス電
圧指示指令を発生して主ゲート駆動回路7から負のバイ
アス電圧を出力させDGBIFET2の主ゲートG1を
負にバイアスさせる。
これによって、DGBIFET2がオフして負6:エ回
路3に電力を供給しなくなり、これに対応して短絡検知
回路9が電圧降下検知信号の発生を停止する。
この結果、ダイオード37がオフするとともに、FET
41がオフし、FET42がオンする。
そしてこの場合、コンデンサ33は既に放電を完了して
いるので、ダイオード37がオフしたとき、これに対応
してFET43がオフする。
つまりこの場合にも、FET42.43が同時にオンし
ないので、フォトカプラ40は停止指令信号を出力しな
い。
く負荷回路3か短絡したときの動作〉 また、負荷回路3に電力が供給されている状態で、この
負荷回路3が短絡して電圧降下がなくなれば(時刻t5
)、これに対応して短絡検知回路9が電圧降下検知信号
を出力しなくなる。
これによって、FET41がオフし、FET42がオン
する。
そしてこのときには、コンデンサ33の充電電圧によっ
てダイオード3つが導通してFET43がオンしている
ので、このFET43及び前記FET42は補助ゲート
制御回路本体27の出力をプルダウンして負バイアス電
圧指示指令の出力を禁止する。
この結果、補助ゲート駆動回路1]はDGBIFET2
の補助ゲートG2をτFにバイアスさせてこのDGBI
FET2をユニポーラモードにする。
またこの動作と並行して、前記FET42.43が共に
オンすることによってフォトカプラ40が停止信号を発
生し信号生成回路5のアンドゲト48をオフさせる。こ
れによって、信号生成回路5は制御信号SG2の発生を
停止するとともに、遅延回路13の遅延時間が経過した
とき(時刻t6)、制御信号S61の発生を停止する。
この結果、主ゲート制御回路6は負バイアス電圧指示指
令を発生して主ゲート駆動回路7から負のバイアス電圧
を出力させてDGB I FET2の主ゲートGlを負
にバイアスさせ、これをオフさせ過電流による破壊を防
ぐ。
このようにこの実施例においては、負荷回路3が短絡し
たとき、最初補助ゲート制御回路10から正バイアス電
圧指示指令を出力させてDGB lFET2をユニポー
ラモードにし、この後所定時間後に信号生成回路5から
制御信号S61が出力されるのを禁止して主ゲート制御
回路6から負バイアス電圧指示指令を出力させ、前記D
GBIFET2をオフさせるようにしたので、DGBI
FET2の2次降伏破壊を防止しながらこれをオフさせ
ることができる。
第3図は本発明による導電変調型MOSFETの過電流
保護回路の他の実施例を用いたチョッパ回路の一例を示
す回路図である。
この図に示すチョッパ回路は、直流電源1と、DGB 
I FET2と、インバータ電源72と、インバータ回
路65と、過電流検出回路66と、遅延回路67と、主
ゲート短絡回路68と、補助ゲート電源69と、補助ゲ
ート回路70と、補助ゲート放電回路71とを備えてお
り、制御信号入力端子73に供給される主ゲート用正バ
イアス電圧(値は Vpl)と、制御信号入力端子74
に供給される補助ゲート用負バイアス電圧 (値は V
p2 )とに基づいてDGBIFET2をオン/オフさ
せて負荷回路3に供給される電力を制御する。またこの
とき、負荷回路3が短絡すれば、過電流検出回路66に
よってこれを検知して補助ゲート回路70から正のバイ
アス電圧を出力させてDGBIF E T2の補助ゲー
トG2を正にバイアスさせるとともに、この時点から遅
延回路67の遅延時間が経過したとき主ゲーI・短絡回
路68を動作させてDGB I FET2の主ゲー1−
 G 1をソース電圧にしこれをオフさせる。
インバータ回路65はインバータ電源72からの電力に
よって駆動される2つのFET75.76と、前記制御
信号入力端子73に主ゲート用正バイアス電圧が供給さ
れたときこれを前記FET75.76に導いてこれらF
ET75.76を相補的に動作させる抵抗77とを備え
ており、前記制御信号入力端子73に主ゲート用正バイ
アス電圧が供給されていないときには、短絡検知禁止信
号(ハイレベル信号)を発生してこれを過電流検出回路
66に供給する。また、前記制御信号入力端子73に主
ゲート用正バイアス電圧が供給されているときには、短
絡検知許可信号(ローレベル信号)を発生してこれを過
電流検出回路66に供給する。
過電流検出回路66は、前記直流電源1から出力される
電圧(値はEM)より少し低い電圧でツェナー動作を開
始するツェナーダイオード64と、前記インバータ回路
65から短絡検知禁止信号が供給されているときオンし
て過電流検知信号(ハイレベル信号)の発生を停止する
FET78とを備えており、前記インバータ回路65か
ら短絡検知許可信号か供給されている状態で、前記負荷
回路3が短絡してツェナーダイオード64が導通したと
き過電流検知信号を生成し、これを遅延回路67と、補
助ゲート回路70とに供給する。
遅延回路67は、充電回路を構成する抵抗79と、コン
デンサ80とを備えており、前記過”us検出回路66
から過電流検知信号が供給されているとき充電動作を行
なう。
また主ゲート短絡回路68は、前記コンデンサ80の充
電電圧が所定値以上になったときに導通ずるツェナーダ
イオード81と、このツェナーダイオード81が導通し
ているときオンするトランジスタ82とを備えており、
前記コンデンサ80の充電電圧が所定値以上になったと
きにこれを検知して前記DGBIFET2の主ゲートG
1をソース電圧にしてこれをオフさせる。
また補助ゲート回路70は、前記制御入力端子74に補
助ゲート用負バイアス電圧 Vp2が供給されていない
ときに導通するダイオード83と、このダイオード83
が導通したときオンするトランジスタ84と、このトラ
ンジスタ84のコレクタに接続される抵抗85と、前記
トランジスタ84がオンしたとき抵抗85を介してこれ
を検知してオンするトランジスタ86と、前記過電流検
出回路66から過電流検知信号が出力されたとき導通ず
るダイオード87と、このダイオード87が導通したと
き前記トランジスタ84をバイアスしてこれをオンさせ
る抵抗88とを備えている。
そして、前記制御入力端子74に補助ゲート用負バイア
ス電圧 Vp2が供給されていないときや、前記過電流
検出回路66から過電流検知信号が出力されたときトラ
ンジスタ84がオンしてトランジスタ86をオンさせ、
補助ゲートtTs#R69によって得られる電圧で前記
DGBIFET2の補助ゲートG2を正にバイアスする
また補助ゲーI・放電回路71は、前記制御信号入力端
子73に接続される抵抗8つと、前記制御信号入力端子
73に主ゲート用正バイアス電圧が供給されたとき抵抗
8つを介してこれを検知してオンするトランジスタ90
と、このトランジスタ90がオンしたとき前記DGBI
FET2の第2ゲートG2をソース電圧まで落とす抵抗
91とを備えており、前記制御信号入力端子73に主ゲ
ート用正バイアス電圧が供給されたときトランジスタ9
0がオンして前記DGBIFET2の第2ゲートG2を
ソース電圧まで落とす。
次に、第4図を参照しながらこの実施例の動作を説明す
る。
く初期状態時の動作〉 初期状態(時刻10)においては、制御信号入力端子7
4に補助ゲート用負バイアス電圧か供給されていないの
で、補助ゲート回路70は補助ゲート電源69によって
得られる電圧(値はEG2)で前記DGB lFET2
の補助ゲートG2を正にバイアスしている。
またこのとき、制御信号入力端子73に主ゲート用正バ
イアス電圧が(供給されていないので、DGBIFET
2の主ゲートG1はソース電圧に保たれ、このGB I
 FET2がオフ状態となっている。
〈ターンオン時の動作〉 この状1で、制御信号入力端子74に補助ゲート用負バ
イアス電圧が供給されるとともに、制御信号入力端子7
3に主ゲート用正バイアス電圧が供給されれば(時刻t
1)、補助ゲート回路70はDGB I FET2の補
助ゲートG2に対する正バイアス動作を停止するととも
に、補助ゲート放電回路71が動作してDGB I F
ET2の補助ゲートG2とドレインD間に充電された電
荷を放電する。
またこのとき、制御信号入力端子73に供給された主ゲ
ート用正バイアス電圧によってDGB lFET2の主
ゲートG1が正にバイアスされてこれがオンし、負荷回
路3に対する電力の(」(給が開始される。
なおこの場合、制御信号入力端子73に主ゲート用正バ
イアス電圧が供給されたことによりインバータ回路65
から短絡検知許可信号が出力されるが、DGB I F
ET2のソース・ドレイン間電圧がほぼ零であるためツ
ェナーダイオード64は導通しない。
くターンオフ時の動作〉 また、ターンオフ時においては、まず制御信号入力端子
74に補助ゲート用負バイアス電圧が供給されなくなる
ので(時刻t2)、これに対応して補助ゲート回路71
のトランジスタ84.86がオンしてDGBIFET2
の補助ゲートG2を正にバイアスしてこれをユニポーラ
モードにする。
この後、制御信号入力端子73に主ゲート用正バイアス
電圧が供給されなくなれば(時刻t3)、これによって
DGBIFET2の主ゲートG1がソース電位になって
これがオフされる。この場合、既に補助ゲートG2が正
にバイアスされているので、このDGBIFET2は高
速でターンオフする。
く負荷回路3が短絡したときの動作〉 DGB I FET2がオンしているときにおいて負荷
回路3が短絡し、DGBIFET2のソース・ドレイン
間電圧が上昇してこれが直流電源1の電源電圧EM近く
になれば(時刻t5)、これに対応して過電流検出回路
66のツェナーダイオード64が導通する。
そしてこのとき、制御信号入力端子73には主ゲート用
正バイアス電圧が供給されてインバータ回路65から短
絡検知許可信号が出力され、これに対応して過電流検出
回路66のFET78がオフしているから前記ツェナー
ダイオード64が導通したとき過電流検知信号が生成さ
れる。
これによって、補助ゲート回路70のトランジスタ84
.86がオンしてDGB I FET2の補助ゲートG
2を正にバイアスしこれをユニポーラモードにするとと
もに、遅延回路67のコンデンサ80が充電動作を開始
する。
そして、このコンデンサ80の充電電圧が所定値以上に
なれば(時刻t6)、主ゲート短絡回路68がこれを検
知してDGBIFET2の主ゲートG2をソース電圧に
し、これをオフさせる。
このようにこの実施例においては、負荷回路3が短絡し
たとき、最初DGB I FET2の補助ゲートG2を
正バイアスにしてこれをユニポーラモードにし、この時
点から所定時間後に主ゲートG1をソース電位にしてこ
のDGB I FET2をオフさせるようにしたので、
DGBIFET2の2次降伏破壊を防止しながらこれを
オフさせることができる。
またこの実施例においては、補助ゲー!・電源69を用
いてDGBIFET2の補助ゲートG2に正のバイアス
を印加するようにしているが、第5図に示すように制御
信号入力端子73に主ゲート用正バイアス電圧が供給さ
れているときに導通するダイオード98と、このダイオ
ード98が導通したときに充電されるコンデンサ99と
を用いてDGBIFET2の補助ゲートG2に正のバイ
アスを印加するようにしても良い。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、DGBIFETや
、BIFETを過電流から保護することができ、これに
よってこれらDGB I FETや、BIFETを電源
電圧の高い装置に使用する場合にもこれらBIFETや
、DGBIFETの耐圧を下げることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による導電変調型M OS F E T
の過電流保護回路の一実施例を用いたチョッパ回路の一
例を示す回路図、第2図は第1図に示す実施例の動作を
説明するためのタイミングチャート、第3図は本発明に
よる導電変調型MOSFETの過電流保護回路の他の実
施例を用いたチョッパ回路の一例を示す回路図、第4図
は第3図に示す実施例の動作を説明するためのタイミン
グチャート、第5図は本発明による導電変調型MO8F
ETの過電流保護回路の他の実施例を用いたチョッパ回
路の一例を示す回路図、第6図はB I FETを用い
た基本回路例を示す回路図、第7図は従来の過電流保護
回路を備えた基本回路例を示す回路図、第8図はDC;
BIFETの要部構造を示す断面図である。 6・・・・・・主ゲートオフ手段(主ゲート制御回路)
9・・・・・・短絡検出手段(短絡検知回路)13・・
・遅延手段(遅延回路) 28・・補助ゲートオン手段(停止信号発生部)代理人
す1゛理士三 り−f1呆 男 第7図 第8図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)主ゲートと補助ゲートとを有するダブルゲート導
    電変調型MOSFETの負荷短絡によるドレイン電圧の
    上昇を検出する短絡検出手段と、この短絡検出手段によ
    つてドレイン電圧の上昇が検出されたとき前記補助ゲー
    トをオンする補助ゲートオン手段と、 前記短絡検出手段によってドレイン電圧の上昇が検出さ
    れたときこの検出結果を遅延させる遅延手段と、 この遅延手段によって遅延された前記検出結果に基づい
    て前記主ゲートをオフする主ゲートオフ手段と、 を備えたことを特徴とする導電変調型MOSFETの過
    電流保護回路。
JP28669488A 1988-11-15 1988-11-15 導電変調型mosfetの過電流保護回路 Pending JPH02134014A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28669488A JPH02134014A (ja) 1988-11-15 1988-11-15 導電変調型mosfetの過電流保護回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28669488A JPH02134014A (ja) 1988-11-15 1988-11-15 導電変調型mosfetの過電流保護回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02134014A true JPH02134014A (ja) 1990-05-23

Family

ID=17707770

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28669488A Pending JPH02134014A (ja) 1988-11-15 1988-11-15 導電変調型mosfetの過電流保護回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02134014A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006025575A1 (ja) * 2004-09-01 2006-03-09 Seiko Epson Corporation 印刷装置
US8674727B2 (en) 2010-08-31 2014-03-18 Infineon Technologies Austria Ag Circuit and method for driving a transistor component based on a load condition
JPWO2015114802A1 (ja) * 2014-01-31 2017-03-23 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体集積回路装置および電源システム
JP2018129350A (ja) * 2017-02-06 2018-08-16 サンケン電気株式会社 半導体装置の制御装置、及び半導体装置とその半導体装置を制御する制御装置を含むシステム

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006025575A1 (ja) * 2004-09-01 2006-03-09 Seiko Epson Corporation 印刷装置
US7364252B2 (en) 2004-09-01 2008-04-29 Seiko Epson Corporation Printing apparatus
JPWO2006025575A1 (ja) * 2004-09-01 2008-05-08 セイコーエプソン株式会社 印刷装置
JP2010105404A (ja) * 2004-09-01 2010-05-13 Seiko Epson Corp 印刷装置
JP4539654B2 (ja) * 2004-09-01 2010-09-08 セイコーエプソン株式会社 印刷装置
US8674727B2 (en) 2010-08-31 2014-03-18 Infineon Technologies Austria Ag Circuit and method for driving a transistor component based on a load condition
DE102011081832B4 (de) * 2010-08-31 2015-02-05 Infineon Technologies Austria Ag Schaltungsanordnung mit einem einstellbaren Transistorbauelement
JPWO2015114802A1 (ja) * 2014-01-31 2017-03-23 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体集積回路装置および電源システム
JP2018129350A (ja) * 2017-02-06 2018-08-16 サンケン電気株式会社 半導体装置の制御装置、及び半導体装置とその半導体装置を制御する制御装置を含むシステム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6402591B2 (ja) 半導体装置
US7576964B2 (en) Overvoltage protection circuit of output MOS transistor
US6717785B2 (en) Semiconductor switching element driving circuit
US5325258A (en) Power transistor driver circuit with current sensing and current overprotection and method for protecting power transistor from overcurrent
US8299841B2 (en) Semiconductor device
US20060103428A1 (en) Semiconductor integrated circuit
US9503073B2 (en) Power semiconductor device
JPH09205727A (ja) 短絡保護を有するパワートランジスタ
JPH0213115A (ja) 電力用電界効果トランジスタ駆動回路
JPS61107813A (ja) 半導体装置
JPH10233632A (ja) 高圧側mosfetゲート保護シャント回路
JP3067448B2 (ja) 半導体装置
US11545972B2 (en) Overcurrent protection circuit for switching element turned on and off based on control voltage
JP3505539B2 (ja) 立上り区間消去回路
US11056969B2 (en) Boost converter short circuit protection
US6917227B1 (en) Efficient gate driver for power device
US8363372B2 (en) Rapid discharging circuit upon detection of abnormality
JPH02134014A (ja) 導電変調型mosfetの過電流保護回路
JP2007088599A (ja) 絶縁ゲート型半導体素子のゲート回路
JPS61261920A (ja) 導電変調型mosfetの過電流保護回路
US6832356B1 (en) Gate driver for power device
JP3180961B2 (ja) ブリッジ形変換器の保護装置
JP4423765B2 (ja) 負荷駆動装置
JPH11195971A (ja) パワーデバイスの駆動回路
JP3039092B2 (ja) 短絡保護回路