JPH02129573A - しゃ断器の合成試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 Ａ、産業上の利用分野 本発明は、しゃ断器の合成試験方法に係り、特にアーク
延長回路を備えた合成試験方法に関する。

Ｂ３発明の概要 本発明は、供試しゃ断器にアーク延長回路を接続して“
ＣＯ”合成試験を行う試験方法において、供試しゃ断器
の投入後にアーク延長回路を接続することにより、 アーク延長回路の放電ギャップの自爆を無くして確実な
合成試験ができるようにしたものである。

Ｃ１従来の技術 しゃ断器の定格しゃ断容量の検証法として、供試しゃ断
器を投入して定格電流を流しくクローズ）、次いでしゃ
断器を開放させ（オープン）、この間放に電流しゃ断が
できるか否かをチエツクする、“ＣＯ°試験に電流源と
電圧源を使った合成試験装置は第２図に示す構成にされ
るものであった。

電流源回路１は、短絡発電機２と保護しゃ断器３と電流
調整用リアクトル４と電流用投入器５と補助しゃ断器６
の直列回路を通して供試しゃ断器７に試験電流（短絡電
流）Ｉｇを供給する回路構成にされる。電圧源回路８は
、小電流容量であるが高電圧を発生する電源を備え、供
試しゃ断器７の開放時に高電圧を印加する構成にされる
。アーク延長回路９は、放電ギャップ１０とインパルス
電流源になるコンデンサ１１と補助しゃ断５１２の直列
回路を通して供試しゃ断器７にアーク延長のためのイン
パルス電流を供給する構成にされる。

この構成による“ＣＯ°試験は、以下の手順で行われる
。

（１）短絡発電機２の発電電圧ＶＡＧを確立し、またコ
ンデンサ１１を充電しておき、保護しゃ断器２と補助し
ゃ断器６．１２を投入しておく。

（２）電流用投入器５を投入させて供試しゃ断器７に電
圧ＶＡＧを印加させる（第３図の時刻１＋）。

（３）供試しゃ断器７を投入させ（第３図１１）、低電
圧条件下においての試験電流Ｉを流す。

（４）供試しゃ断器７を開放させ（第３図ｔ３）、電流
■が零点を切るときに放電ギャップｌＯを放電させ（第
３図ｔ４）、コンデンサ１１から供試しゃ断器７にイン
パルス電流を注入し、アーク延長を行う。

（５）補助しゃ断器６．１２を開放させると（第３図ｉ
ｓ）、次の零点で電流源電流１ｇはしゃ断されるが、そ
の零点の直前（第３図ｔｓ）で電圧源回路８から高圧Ｖ
ｖを注入する。これにより、電圧源電流１ｖが供試しゃ
断器７でしゃ断されたときに高圧Ｖｖが該供試しゃ断器
７に印加され、しゃ断可否をチエツクする。

Ｄ０発明が解決しようとする課題 従来の合成試験方法において、電流源回路１から供試し
ゃ断器７に電圧ＶＡａを印加し、しゃ断器７を投入する
までの期間（第３図のｔ、〜１１）、補助しゃ断器１２
が閉じられているため電圧ＶＡＧが放電ギャップ１０に
も印加される。このため、放電ギャップ１０が自爆する
ことがあり、この自爆によってコンデンサ１１が放電さ
れてアーク延長動作が不能になることがあっに０ この問題には放電ギャップ１０の耐圧を上げることが考
えられるが、放電ギャップの安定した放電を難しくする
と共にコンデンサ電圧も高いものを必要としてくる。

なお、電圧源回路８からの高電圧印加時には補助しゃ断
器１２が開放されており、放電ギャップ１０への高圧Ｖ
ｖ印加は避けられる。また、このとき補助しゃ断３６も
開放されており、高圧Ｖｖが電流源回路ｌに印加される
こともない。

本発明の目的は、アーク延長回路の放電ギャップの自爆
を無くして確実な合成試験ができるようにした試駆方法
を提供することにある。

Ｅ０課題を解決するための手段と作用 本発明は上記目的を達成するため、電流源回路から補助
しゃ断器を介して投入された供試しゃ断器に試験電流を
供給し、供試しゃ断器の開放時にアーク延長回路の放電
ギャップによる放電路形成によって該供試しゃ断器にイ
ンパルス電流を注入してアーク延長を行い、供試しゃ断
器の電流零点で電圧源回路から供試しゃ断器に高電圧を
印加するしゃ断器の合成試験方法において、前記アーク
延長回路は前記供試しゃ断器に試験電流が流れ始めた後
に該供試しゃ断器にインパルス電流を注入するための接
続を得るようにし、供試しゃ断器の投入によって試験電
流が流れ始めた後には供試しゃ断器の電圧は殆ど零にな
り、このときに供試しゃ断器７とアーク延長回路を接続
することで電流源の電圧で放電ギャップが自爆するのを
防止する。

また、放電ギャップは従来のものよりも一層低い耐圧に
してインパルス注入制御をし、コンデンサ１１の充電電
圧も低くする。

Ｆ、実施例 第１図は本発明方法の一実施例を示す回路図である。同
図が第２図と異なる部分は、補助しゃ断ＦＪ１２に直列
に第２の補助しゃ断器１３を設け、この補助しゃ断器１
３は供試しゃ断器７に試験電流が流れ始めた後に投入制
御される点にある。

例えば、補助しゃ断７５１３は第３図において時刻む、
以後でかつ供試しゃ断器７の開放時刻し。

前になる時刻ｔ７で投入されてインパルス電流注入のた
めの放電路を形成しておく。

このような補助しゃ断器１３を備えることにより、試験
開始時に電流源回路１から供試しゃ断器７に電圧ＶＡＧ
が印加されるし該電圧ＶＡＧがアーク延長回路９の放電
ギャップ１０に印加されることが無くなり、電圧ＶＡＧ
によって誤って放電ギャップｌＯが自爆するのを防止し
、アーク延長のためのインパルス電流注入を確実に得る
ことができる。

なお、補助しゃ断器！３としては、専用のものを設ける
ことなく、補助しゃ断器１２を試験開始前には開放して
おき、供試しゃ断器７の投入後に投入するという遅らせ
ｊこ投入によって同等の機能を持たせることができる。

また、補助しゃ断器６の他相を補助しゃ断器１３に代え
て利用し、補助しゃ断器Ｉ２を供試しゃ断器の投入後に
投入し、インパルス電流注入後の補助しゃ断器６の開放
によってアーク延長回路９と供試しゃ断器７の開路を得
る構成にして同等の機能を持たせることができる。

Ｇ１発明の効果 以上のとおり、本発明によれば、供試しゃ断器に試験電
流が流れ始めた後にアーク延長回路を供試しゃ断器に接
続する試験方法としたため、電流源回路の電圧ＶＡＧに
よってアーク延長回路の放電ギャップが自爆することが
無くなり、確実なアーク延長による合成試験ができる。

また、放電ギャップｌＯの耐電圧を小さくし、さらにコ
ンデンサ電圧を低くした装置構成にすることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す合成試験装置回路図、
第２図は従来の回路図、第３図は合成試験波形図である
。 ！・・・電流源回路、２・・・短絡発電機、３・・・保
護しゃ断器、５・・・電流用投入器、６，１２・・・補
助しゃ断器、７・・・供試しゃ断器、８・・・電圧源回
路、９・・・アーク延長回路、 ０・・・放電ギャップ、 ３・・・補 助しゃ断器。 外２名 補正の内容 平成　２年１　月９

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）電流源回路から補助しゃ断器を介して投入された
   供試しゃ断器に試験電流を供給し、供試しゃ断器の開放
   時にアーク延長回路の放電ギャップによる放電路形成に
   よって該供試しゃ断器にインパルス電流を注入してアー
   ク延長を行い、供試しゃ断器の電流零点で電圧源回路か
   ら供試しゃ断器に高電圧を印加するしゃ断器の合成試験
   方法において、前記アーク延長回路は前記供試しゃ断器
   に試験電流が流れ始めた後に該供試しゃ断器にインパル
   ス電流を注入するための接続を得るようにしたことを特
   徴とするしゃ断器の合成試験方法。