JP2663573B2 - しゃ断器の合成試験装置 - Google Patents
しゃ断器の合成試験装置Info
- Publication number
- JP2663573B2 JP2663573B2 JP27842688A JP27842688A JP2663573B2 JP 2663573 B2 JP2663573 B2 JP 2663573B2 JP 27842688 A JP27842688 A JP 27842688A JP 27842688 A JP27842688 A JP 27842688A JP 2663573 B2 JP2663573 B2 JP 2663573B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit breaker
- voltage
- circuit
- test
- capacitor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Tests Of Circuit Breakers, Generators, And Electric Motors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 A.産業上の利用分野 本発明は、しゃ断器の合成試験装置に係り、特にしゃ
断器に再起電圧を与えるための電圧源回路に関する。
断器に再起電圧を与えるための電圧源回路に関する。
B.発明の概要 本発明は、電圧源と電流源によって供試しゃ断器の合
成試験を行う装置において、 電圧源には２パート法の一つの電圧源回路に一つの振
動電圧発生回路を並列に設ける構成とすることにより、 回路を複雑にすることなく４パラメータ波形の電圧を
発生できるようにしたものである。
成試験を行う装置において、 電圧源には２パート法の一つの電圧源回路に一つの振
動電圧発生回路を並列に設ける構成とすることにより、 回路を複雑にすることなく４パラメータ波形の電圧を
発生できるようにしたものである。
C.従来の技術 しゃ断器の定格しゃ断容量等の性能検証法として、供
試しゃ断器の投入時の大電流を供給する電流源と、開極
時の高電圧を印加する電圧源とを使った合成試験法が良
く知られている。
試しゃ断器の投入時の大電流を供給する電流源と、開極
時の高電圧を印加する電圧源とを使った合成試験法が良
く知られている。
この合成試験装置の電圧源は、しゃ断器が動作すると
きに実系統で現われる再起電圧を模擬した波形出力にな
ることが要求され、発変電所線路を負荷に持つ場合など
には４パラメータ波形出力が要求される。この４パラメ
ータ波形は、第３図中に波形Ｃで示すように指数関数的
（exp）に上昇しながら振動（cos）する再起電圧をその
包絡線折点A,Bの時刻t1,t2と電圧V1,V2で規定される。
きに実系統で現われる再起電圧を模擬した波形出力にな
ることが要求され、発変電所線路を負荷に持つ場合など
には４パラメータ波形出力が要求される。この４パラメ
ータ波形は、第３図中に波形Ｃで示すように指数関数的
（exp）に上昇しながら振動（cos）する再起電圧をその
包絡線折点A,Bの時刻t1,t2と電圧V1,V2で規定される。
このような４パラメータ波形を得るための電圧源回路
にはLCによる模擬線路を設ける等で実現しようとされる
が、複雑な回路構成になって実現も難しくしている。
にはLCによる模擬線路を設ける等で実現しようとされる
が、複雑な回路構成になって実現も難しくしている。
そこで、波形Ｃに代えて波形C1と波形C2の２種類の再
起電圧波形出力（２パラメータ）を得る２組の電圧源回
路を用意し、夫々の電圧源回路を切り換えて２回の試験
を行う２パート法が行われている。
起電圧波形出力（２パラメータ）を得る２組の電圧源回
路を用意し、夫々の電圧源回路を切り換えて２回の試験
を行う２パート法が行われている。
D.発明が解決しようとする課題 従来の２パート法による合成試験では、実際の再起電
圧波形Ｃに対して二つの再起電圧波形C1,C2による２回
の試験になり、供試しゃ断器の回復電圧と電圧C1又はC2
との大小比較によってしゃ断の成功，失敗になるため、
供試しゃ断器から見て電圧条件が過酷になったり、試験
精度を悪くすることがあった。また、２回の試験になっ
て必要な試験回数が増すことになる。
圧波形Ｃに対して二つの再起電圧波形C1,C2による２回
の試験になり、供試しゃ断器の回復電圧と電圧C1又はC2
との大小比較によってしゃ断の成功，失敗になるため、
供試しゃ断器から見て電圧条件が過酷になったり、試験
精度を悪くすることがあった。また、２回の試験になっ
て必要な試験回数が増すことになる。
本発明の目的は、回路を複雑にすることなく４パラメ
ータ波形の電圧を発生することができる合成試験装置を
提供することにある。
ータ波形の電圧を発生することができる合成試験装置を
提供することにある。
E.課題を解決するための手段と作用 本発明は上記目的を達成するため、供試しゃ断器に試
験電流を供給する電流源回路と、供試しゃ断器の開極時
に４パラメータ波形の再起電圧を印加する電圧源回路と
を備え、前記電圧源回路は、高電圧に充電された主コン
デンサ（７）と第１のリアクトル（９）及び第１の投入
器（８）の直列接続構成で供試しゃ断器に並列接続さ
れ、投入器（８）が供試しゃ断器のしゃ断アーク電流の
零点直前で投入され、主コンデンサ（７）とリアクトル
（９）で発生する高周波振動電流を供試しゃ断器に供給
する回路と、 第１の減衰抵抗（10）と第１のコンデンサ（11）の直
列接続構成で供試しゃ断器に並列接続され、供試しゃ断
器がしゃ断動作した後の前記振動電流によるコンデンサ
（11）の振動電圧を供試しゃ断器に印加する回路と、 第２のリアクトル（13）と第２の減衰抵抗（14）と予
備充電された第２のコンデンサ（15）及び第２の投入器
（12）の直列接続構成で供試しゃ断器に並列接続され、
投入器（12）が前記振動電圧の最初の立ち下がりタイミ
ングで投入され、リアクトル（13）とコンデンサ（15）
で発生する長い周期の振動電圧を供試しゃ断器に印加す
る回路とを備え、２パート法による振動電圧に重畳させ
る異なる周期の振動電圧を発生する回路の増設によって
４パラメータ波形の再起電圧を得る。
験電流を供給する電流源回路と、供試しゃ断器の開極時
に４パラメータ波形の再起電圧を印加する電圧源回路と
を備え、前記電圧源回路は、高電圧に充電された主コン
デンサ（７）と第１のリアクトル（９）及び第１の投入
器（８）の直列接続構成で供試しゃ断器に並列接続さ
れ、投入器（８）が供試しゃ断器のしゃ断アーク電流の
零点直前で投入され、主コンデンサ（７）とリアクトル
（９）で発生する高周波振動電流を供試しゃ断器に供給
する回路と、 第１の減衰抵抗（10）と第１のコンデンサ（11）の直
列接続構成で供試しゃ断器に並列接続され、供試しゃ断
器がしゃ断動作した後の前記振動電流によるコンデンサ
（11）の振動電圧を供試しゃ断器に印加する回路と、 第２のリアクトル（13）と第２の減衰抵抗（14）と予
備充電された第２のコンデンサ（15）及び第２の投入器
（12）の直列接続構成で供試しゃ断器に並列接続され、
投入器（12）が前記振動電圧の最初の立ち下がりタイミ
ングで投入され、リアクトル（13）とコンデンサ（15）
で発生する長い周期の振動電圧を供試しゃ断器に印加す
る回路とを備え、２パート法による振動電圧に重畳させ
る異なる周期の振動電圧を発生する回路の増設によって
４パラメータ波形の再起電圧を得る。
F.実施例 第１図は本発明の一実施例を示す合成試験回路図であ
る。同図において、電流源回路１は短絡発電機等の大電
流を供給できる電源２から電流調整用リアクトル３と補
助しゃ断器４を通して供試しゃ断器５に試験電流（短絡
電流）IAGを供給する。
る。同図において、電流源回路１は短絡発電機等の大電
流を供給できる電源２から電流調整用リアクトル３と補
助しゃ断器４を通して供試しゃ断器５に試験電流（短絡
電流）IAGを供給する。
電圧源回路６は、高電圧に充電された主コンデンサ７
から投入器としてのトリガギャップ８とリアクトル９を
通して供試しゃ断器５に高周波電流ISを供給し、供試し
ゃ断器５に並列の減衰抵抗10とコンデンサ11の直列回路
によってリアクトル９との振動電圧を供試しゃ断器５に
印加する。ここで、供試しゃ断器５に並列にトリガギャ
ップ12とリアクトル13と減衰抵抗14と予備充電された電
源コンデンサ15の直列回路を設け、供試しゃ断器５のし
ゃ断に遅れて投入器としてのトリガギャップ12をトリガ
させることで振動電圧を供試しゃ断器５に印加する。
から投入器としてのトリガギャップ８とリアクトル９を
通して供試しゃ断器５に高周波電流ISを供給し、供試し
ゃ断器５に並列の減衰抵抗10とコンデンサ11の直列回路
によってリアクトル９との振動電圧を供試しゃ断器５に
印加する。ここで、供試しゃ断器５に並列にトリガギャ
ップ12とリアクトル13と減衰抵抗14と予備充電された電
源コンデンサ15の直列回路を設け、供試しゃ断器５のし
ゃ断に遅れて投入器としてのトリガギャップ12をトリガ
させることで振動電圧を供試しゃ断器５に印加する。
上述の構成による試験動作を以下に詳細に説明する。
まず、供試しゃ断器５の投入によって電流源回路１か
ら大電流IAGを供給し、供試しゃ断器５と補助しゃ断器
４を同時に開放制御してしゃ断アークを発生させ、電流
IAGの零点直前（第２の時刻t1）にトリガギャップ８を
放電させる。これにより、主コンデンサ７とリアクトル
９とにより決まる高周波電流ISを供試しゃ断器５に流
す。従って、供試しゃ断器５には電流IAGとISが重畳し
た電流が流れ、補助しゃ断器４には電流IAGのみになっ
て該補助しゃ断器４が供試しゃ断器５よりも先に電流零
値がきてしゃ断完了する。
ら大電流IAGを供給し、供試しゃ断器５と補助しゃ断器
４を同時に開放制御してしゃ断アークを発生させ、電流
IAGの零点直前（第２の時刻t1）にトリガギャップ８を
放電させる。これにより、主コンデンサ７とリアクトル
９とにより決まる高周波電流ISを供試しゃ断器５に流
す。従って、供試しゃ断器５には電流IAGとISが重畳し
た電流が流れ、補助しゃ断器４には電流IAGのみになっ
て該補助しゃ断器４が供試しゃ断器５よりも先に電流零
値がきてしゃ断完了する。
次いで、電流ISの零点（第２図の時刻t2）で供試しゃ
断器５のしゃ断が行われる。このしゃ断によって、リア
クトル９の電流ISが抵抗10を介してコンデンサ11側に流
れ始め、このときの抵抗10とコンデンサ11の直列回路の
電圧変化が供試しゃ断器５に再起電圧として印加され始
める。この再起電圧の立ち上がりはリアクトル９とコン
デンサ11及びコンデンサ７の共振周波数で規定され、所
定時間（第２の時刻t3まで）に所定電圧（第２の電圧
V1）まで上昇するに必要な共振周波数に設定される。
断器５のしゃ断が行われる。このしゃ断によって、リア
クトル９の電流ISが抵抗10を介してコンデンサ11側に流
れ始め、このときの抵抗10とコンデンサ11の直列回路の
電圧変化が供試しゃ断器５に再起電圧として印加され始
める。この再起電圧の立ち上がりはリアクトル９とコン
デンサ11及びコンデンサ７の共振周波数で規定され、所
定時間（第２の時刻t3まで）に所定電圧（第２の電圧
V1）まで上昇するに必要な共振周波数に設定される。
上述までの動作は従来の２パート法における一つの再
起電圧印加と同様になり、コンデンサ11とリアクトル９
による振動電圧が減衰しながら継続した再起電圧（第３
図のC1）になる。
起電圧印加と同様になり、コンデンサ11とリアクトル９
による振動電圧が減衰しながら継続した再起電圧（第３
図のC1）になる。
ここで、本実施例では、振動電圧が最初に下り始めた
タイミング（第２図の時刻t4）にトリガギャップ12をト
リガする。これにより、充電済みのコンデンサ15からリ
アクトル13を通してコンデンサ11側に振動電流が流れ始
め、この電流はリアクトル９側からの振動電流に重畳し
てかつリアクトル13とコンデンサ11の共振周波数になる
振動電流になる。この振動電流の周期を第３図のC2と同
様に長い周期とすることでリアクトル９とコンデンサ11
の振動電圧を指数関数的に増して行く作用をし、また抵
抗14がその減衰を行わせ、結果的に第３図の４パラメー
タ波形Ｃと同様の再起電圧波形を供試しゃ断器５に印加
することができる。
タイミング（第２図の時刻t4）にトリガギャップ12をト
リガする。これにより、充電済みのコンデンサ15からリ
アクトル13を通してコンデンサ11側に振動電流が流れ始
め、この電流はリアクトル９側からの振動電流に重畳し
てかつリアクトル13とコンデンサ11の共振周波数になる
振動電流になる。この振動電流の周期を第３図のC2と同
様に長い周期とすることでリアクトル９とコンデンサ11
の振動電圧を指数関数的に増して行く作用をし、また抵
抗14がその減衰を行わせ、結果的に第３図の４パラメー
タ波形Ｃと同様の再起電圧波形を供試しゃ断器５に印加
することができる。
G.発明の効果 以上のとおり、本発明によれば、２パート法による一
つの電圧回路に長周期の振動電圧を発生する回路を増設
して４パラメータ波形を得る構成としたため、回路構成
上には電源用コンデンサとリアクトルと投入器12等の少
ない回路要素を増設によって４パラメータの再起電圧を
発生でき、従来の４パラメータ波形を得る模擬線路等を
不要にして簡単化を図ることができると共に、従来の２
パート法によるものに較べて電圧条件を過酷にすること
がないし試験回数の半減になる効果がある。
つの電圧回路に長周期の振動電圧を発生する回路を増設
して４パラメータ波形を得る構成としたため、回路構成
上には電源用コンデンサとリアクトルと投入器12等の少
ない回路要素を増設によって４パラメータの再起電圧を
発生でき、従来の４パラメータ波形を得る模擬線路等を
不要にして簡単化を図ることができると共に、従来の２
パート法によるものに較べて電圧条件を過酷にすること
がないし試験回数の半減になる効果がある。
第１図は本発明の一実施例を示す回路図、第２図は実施
例における動作波形図、第３図は再起電圧波形図であ
る。 １……電流源回路、４……補助しゃ断器、５……供試し
ゃ断器、６……電圧源回路図、７……主コンデンサ、8,
12……トリガギャップ、9,13……リアクトル、11……コ
ンデンサ、15……電源コンデンサ。
例における動作波形図、第３図は再起電圧波形図であ
る。 １……電流源回路、４……補助しゃ断器、５……供試し
ゃ断器、６……電圧源回路図、７……主コンデンサ、8,
12……トリガギャップ、9,13……リアクトル、11……コ
ンデンサ、15……電源コンデンサ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松波 孝和 東京都品川区大崎２丁目１番17号 株式 会社明電舎内 (72)発明者 小野本 周司 東京都品川区大崎２丁目１番17号 株式 会社明電舎内 (72)発明者 福田 成彦 東京都品川区大崎２丁目１番17号 株式 会社明電舎内 (72)発明者 塩崎 光康 東京都品川区大崎２丁目１番17号 株式 会社明電舎内 (56)参考文献 特開 昭56−81455（ＪＰ，Ａ) 特開 昭55−67665（ＪＰ，Ａ) 特開 昭55−140172（ＪＰ，Ａ) 特開 昭54−31575（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】供試しゃ断器に試験電流を供給する電流源
回路と、供試しゃ断器の開極時に４パラメータ波形の再
起電圧を印加する電圧源回路とを備え、 前記電圧源回路は、 高電圧に充電された主コンデンサ（７）と第１のリアク
トル（９）及び第１の投入器（８）の直列接続構成で供
試しゃ断器に並列接続され、投入器（８）が供試しゃ断
器のしゃ断アーク電流の零点直前で投入され、主コンデ
ンサ（７）とリアクトル（９）で発生する高周波振動電
流を供試しゃ断器に供給する回路と、 第１の減衰抵抗（10）と第１のコンデンサ（11）の直列
接続構成で供試しゃ断器に並列接続され、供試しゃ断器
がしゃ断動作した後の前記振動電流によるコンデンサ
（11）の振動電圧を供試しゃ断器に印加する回路と、 第２のリアクトル（13）と第２の減衰抵抗（14）と予備
充電された第２のコンデンサ（15）及び第２の投入器
（12）の直列接続構成で供試しゃ断器に並列接続され、
投入器（12）が前記振動電圧の最初の立ち下がりタイミ
ングで投入され、リアクトル（13）とコンデンサ（15）
で発生する長い周期の振動電圧を供試しゃ断器に印加す
る回路とを備えたことを特徴とするしゃ断器の合成試験
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27842688A JP2663573B2 (ja) | 1988-11-02 | 1988-11-02 | しゃ断器の合成試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27842688A JP2663573B2 (ja) | 1988-11-02 | 1988-11-02 | しゃ断器の合成試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02126172A JPH02126172A (ja) | 1990-05-15 |
| JP2663573B2 true JP2663573B2 (ja) | 1997-10-15 |
Family
ID=17597179
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27842688A Expired - Lifetime JP2663573B2 (ja) | 1988-11-02 | 1988-11-02 | しゃ断器の合成試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2663573B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111751622A (zh) * | 2020-05-14 | 2020-10-09 | 广西电网有限责任公司电力科学研究院 | 一种断路器回路电阻的测量方法及系统 |
| CN111880007A (zh) * | 2020-05-14 | 2020-11-03 | 广西电网有限责任公司电力科学研究院 | 一种断路器回路电阻合格性的判断方法及系统 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5567665A (en) * | 1978-11-17 | 1980-05-21 | Hitachi Ltd | Synthesis equivalent test unit for circuit breaker |
| JPS5681455A (en) * | 1979-12-06 | 1981-07-03 | Mitsubishi Electric Corp | Generating device for testing voltage |
-
1988
- 1988-11-02 JP JP27842688A patent/JP2663573B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02126172A (ja) | 1990-05-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| MacGregor et al. | Factors affecting and methods of improving the pulse repetition frequency of pulse-charged and DC-charged high-pressure gas switches | |
| KR980006247A (ko) | 지연 소자 시험 장치 및 시험 기능을 갖는 집적 회로 | |
| KR900013523A (ko) | 반도체 기억장치 | |
| JP2004538466A (ja) | 遅延故障試験回路及び関連する方法 | |
| JP2663573B2 (ja) | しゃ断器の合成試験装置 | |
| Lavrinovich et al. | 2-kV thyristor triggered in impact-ionization wave mode by a solid-state spiral generator | |
| JP2000304835A (ja) | しゃ断器の試験装置 | |
| Hackl et al. | A novel modular combinable hardware-in-the-loop platform for stability investigations of converter-driven power grids | |
| JPH04227315A (ja) | 非同期遅延回路および入力信号遅延方法 | |
| KR100273209B1 (ko) | 전압레벨가변공급장치 | |
| US2205173A (en) | Testing of electrical circuits | |
| US3467857A (en) | Circuit arrangement for synthetic testing of electrical apparatus employing a steady a.c. recovery voltage supply applied after the transient recovery voltage | |
| US2449536A (en) | Electrical light impulse generator | |
| JP2675649B2 (ja) | 開閉装置の試験方法およびその装置 | |
| SU752541A1 (ru) | Способ испытани выключателей на коммутационную способность | |
| KR970019037A (ko) | 클럭발생기의 듀티 제어회로 | |
| GB1242400A (en) | Method of and apparatus for testing circuit breakers | |
| KR100530109B1 (ko) | 펄스 노이즈 인가장치 | |
| JPH0651036A (ja) | 近距離線路故障試験装置 | |
| JPH03202792A (ja) | しゃ断器の合成試験装置 | |
| JP3025971B2 (ja) | パルス電流発生装置と真空遮断器用真空バルブの真空圧力測定装置 | |
| KR920017441A (ko) | 수직 편향 회로 | |
| CN111880137A (zh) | 电流传感器测试系统 | |
| Stokes et al. | High power circuit breaker tests using the balanced synthetic circuit | |
| KR970007876B1 (ko) | Am검파장치 |