JPH02126172A - しゃ断器の合成試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 Ａ、産業上の利用分野 本発明は、しゃ断器の合成試験装置に係り、特にしゃ断
器に再起電圧を与えるための電圧源回路に関する。

Ｂ０発明の概要 本発明は、電圧源と電流源によって供試しゃ断器の合成
試験を行う装置において、 電圧源には２パート法の一つの電圧源回路に一つの振動
電圧発生回路を並列に設ける構成とすることにより、 回路を複雑にすることなく４パラメータ波形の電圧を発
生できるようにしたものである。

Ｃ１従来の技術 しゃ断器の定格しゃ断容量等の性能検証法として、供試
しゃ断器の投入時の大電流を供給する電流源と、開極時
の高電圧を印加する電圧源とを使った合成試験法が良く
知られている。

この合成試験装置の電圧源は、しゃ断器が動作すると島
に実系統で現われる再起電圧を模擬した波形出力になる
ことが要求され、発変電所線路を負荷に持つ場合等には
４パラメータ波形出力が要求される。この４パラメータ
波形は、第３図中に波形Ｃで示すように指数関数的（ｅ
ｘｐ）に上昇しながら振動（ｃｏｓ）する再起電圧をそ
の包絡線折点Ａ、Ｂの時刻１＋、１１と電圧Ｖ３、Ｖｔ
で規定される。

この上うな４パラメータ波形を得るための電圧源回路に
はＬＣによる模擬線路を設ける等で実現しようとされる
が、複雑な回路構成になって実現も難しくしている。

そこで、波形Ｃに代えて波形ＣＩと波形Ｃ２の２種類の
再起電圧波形出力（２パラメータ）を得る２組の電圧源
回路を用意し、夫々の電圧源回路を切り換えて２回の試
験を行う２パート法が行われている。

Ｄ２発明が解決しようとする課題 従来の２パート法による合成試験では、実際の再起電圧
波形Ｃに対して二つの再起電圧波形ＣＩ。

Ｃ２による２回の試験になり、供試しゃ断器の回復電圧
と電圧Ｃ１又はＣ２との大小比較によってしゃ断の成功
、失敗になるため、供試しゃ断器から見て電圧条件が過
酷になったり、試験精度を悪くすることがあった。また
、２回の試験になって必要な試験回数が増すことになる
。

本発明の目的は、回路を複雑にすることなく４パラメー
タ波形の電圧を発生することができる合成試験装置を提
供することにある。

８９課題を解決するための手段と作用 本発明は上記目的を達成するため、供試しゃ断器に試験
電流を供給する電流源回路と、供試しゃ断器の開極時に
４パラメータ波形の再起電圧を印加する電圧源回路とを
備え、前記電圧源回路は、主コンデンサ７と投入器８に
直列のリアクトル９と供試しゃ断器５に並列のコンデン
サ１１とに該投入器の投入によって再起電圧の立ち上が
りを規定する周波数の振動電圧を発生させ、前記供試し
ゃ断器に並列に投入器１２とリアクトル１３と電源コン
デンサ１５の直列回路に該投入器の投入によって前記振
動電圧の最初の立ち下がりタイミングで該振動電圧に重
畳させる長い周期の振動電圧を前記コンデンサｔｉに発
生させる構成にし、２パート法による振動電圧に重畳さ
せる異なる周期の振動電圧を発生する回路の増設によっ
て４パラメータ波形の再起電圧を得る。

Ｆ、実施例 第１図は本発明の一実施例を示す合成試験回路図である
。同図において、電流源回路ｌは短絡発電機等の大電流
を供給できる電源２から電流調整用リアクトル３と補助
しゃ断器４を通して供試しゃ断器５に試験電流（短絡電
流）ＩＡＧを供給する。

電圧源回路６は、高電圧に充電された主コンデンサ７か
ら投入器と１２でのトリガギャップ８とリアクトル９を
通して供試しゃ断器５に高周波電流Ｉ９を供給し、供試
しゃ断器５に並列の減衰抵抗ｌＯとコンデンサ１１の直
列回路によってリアクトル９との振動電圧を供試しゃ断
器５に印加する。

ここで、供試しゃ断器５に並列にトリガギャップ１２と
リアクトル１３と減衰抵抗１４と予備充電された電源コ
ンデンサ１５の直列回路を設け、供試しゃ断器５のしゃ
断に遅れて投入器としてのトリガギャップ１２をトリガ
させることで振動電圧を供試しゃ断器５に印加する。

上述の構成による試験動作を以下に詳細に説明する。

まず、供試しゃ断器５の投入によって電流源回路１から
大電流ＩＡＧを供給し、供試しゃ断器５と補助しゃ断器
４を同時に開放制御してしゃ断アークを発生させ、電流
ＩＡＧの零点直前（第２図の時刻１．）にトリガギャッ
プ８を放電させる。これにより、主コンデンサ７とリア
クトル９とにより決まる高周波電流［ｇを供試しゃ断器
５に流す。

従って、供試しゃ断器５には電流ＩＡＧとＩ５が重畳し
た電流が流れ、補助しゃ断器４には電流Ｉ　ＡＧのみに
なって該補助しゃ断器４が供試しゃ断器５よりも先に電
流零値がきてしゃ断器γする。

次いで、電流■９の零点（第２図の時刻１１）で供試し
ゃ断器５のしゃ断が行われる。このしゃ断によって、リ
アクトル９の電流■９が抵抗１０を介してコンデンサ１
１側に流れ始め、このときのコンデンサ１１の電圧変化
が供試しゃ断器５に再起電圧として印加され始める。こ
の再起電圧の立ちＬがりはリアクトル９とコンデンサ１
１の共振周波数で規定され、所定時間（第２図の時刻ｔ
３まで）に所定電圧（第２図の電圧Ｖ、）まで上昇する
に必要な共振周波数に設定される。

上述までの動作は従来の２パート法における一つの再起
電圧印加と同様になり、コンデンサｌｌとリアクトル９
による振動電圧が減衰しながら継続した再起電圧（第３
図のＣＩ）になる。

ここで、本実施例では、振動電圧が最初に下り始めたタ
イミング（第２図の時刻１４）にトリガギャップ１２を
トリガする。これにより、充電済みのコンデンサ１５か
らリアクトル１３を通してコンデンサ１１側に振動電流
が流れ始め、この電流はリアクトル９側からの振動電流
に重畳してかつリアクトル！３とコンデンサ１１の共振
周波数になる振動電流になる。この振動電流の周期を第
３図の０２と同様に長い周期とすることでリアクトル９
とコンデンサ１１の振動電圧を指数関数的に増して行く
作用をし、また抵抗１４がその減衰を行わせ、結果的に
第３図の４パラメータ波形Ｃと同様の再起電圧波形を供
試（７や断器５に印加することができる。

Ｇ１発明の効果 以トのとおり、本発明によれば、２バート法による一つ
の電圧源回路に長周期の振動電圧を発生する回路を増設
して４パラメータ波形を得る構成としたため、回路構成
上には電源用コンデンサとリアクトルと投入器１２等の
少ない回路要素を増設によって４パラメータの再起電圧
を発生でき、従来の４パラメータ波形を得る模擬線路等
を不要にして簡単化を図ることができると共に、従来の
２パート法によるものに較べて電圧条件を過酷にするこ
とがないし試験回数の半減になる効果かある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す回路図、第２図は実施
例における動作波形図、第３図は再起電圧波形図である
。 ■・・・電流源回路、４・・・補助しゃ断器、５・・・
供試しゃ断器、６・・・電圧源回路図、７・・・主コン
デンサ、８、■２・・・トリガギャップ、９．１３・・
・リアクトル、１１・・・コンデンサ、１５・・・電源
コンデンサ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）供試しゃ断器に試験電流を供給する電流源回路と
   、供試しゃ断器の開極時に４パラメータ波形の再起電圧
   を印加する電圧源回路とを備え、前記電圧源回路は、主
   コンデンサ（７）と投入器（８）に直列のリアクトル（
   ９）と供試しゃ断器（５）に並列のコンデンサ（１１）
   とに該投入器の投入によって再起電圧の立ち上がりを規
   定する周波数の振動電圧を発生させ、前記供試しゃ断器
   に並列に投入器（１２）とリアクトル（１３）と電源コ
   ンデンサ（１５）の直列回路に該投入器の投入によって
   前記振動電圧の最初の立ち下がりタイミングで該振動電
   圧に重畳させる長い周期の振動電圧を前記コンデンサ（
   １１）に発生させる構成にしたことを特徴とするしゃ断
   器の合成試験装置。