JPH02127643A - 感光性耐熱樹脂 - Google Patents
感光性耐熱樹脂Info
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- JPH02127643A JPH02127643A JP63281588A JP28158888A JPH02127643A JP H02127643 A JPH02127643 A JP H02127643A JP 63281588 A JP63281588 A JP 63281588A JP 28158888 A JP28158888 A JP 28158888A JP H02127643 A JPH02127643 A JP H02127643A
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- 229920006015 heat resistant resin Polymers 0.000 title claims description 5
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 claims abstract description 16
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 11
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims abstract description 6
- 229920005575 poly(amic acid) Polymers 0.000 claims description 23
- CZPWVGJYEJSRLH-UHFFFAOYSA-N Pyrimidine Chemical compound C1=CN=CN=C1 CZPWVGJYEJSRLH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 108091093078 Pyrimidine dimer Proteins 0.000 claims description 5
- 239000013635 pyrimidine dimer Substances 0.000 claims description 5
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 claims 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 abstract description 10
- 239000002253 acid Substances 0.000 abstract description 10
- 239000010410 layer Substances 0.000 abstract description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 7
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 abstract description 6
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 abstract description 4
- 230000036211 photosensitivity Effects 0.000 abstract description 4
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 abstract description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 3
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 abstract 8
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 abstract 8
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract 1
- 239000000539 dimer Substances 0.000 abstract 1
- 150000003949 imides Chemical class 0.000 abstract 1
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 description 4
- FXHOOIRPVKKKFG-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylacetamide Chemical compound CN(C)C(C)=O FXHOOIRPVKKKFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- ANSXAPJVJOKRDJ-UHFFFAOYSA-N furo[3,4-f][2]benzofuran-1,3,5,7-tetrone Chemical compound C1=C2C(=O)OC(=O)C2=CC2=C1C(=O)OC2=O ANSXAPJVJOKRDJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 238000000655 nuclear magnetic resonance spectrum Methods 0.000 description 2
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 2
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 240000007594 Oryza sativa Species 0.000 description 1
- 235000007164 Oryza sativa Nutrition 0.000 description 1
- 244000007853 Sarothamnus scoparius Species 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001931 aliphatic group Chemical group 0.000 description 1
- 150000001408 amides Chemical class 0.000 description 1
- 125000003277 amino group Chemical group 0.000 description 1
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 125000004093 cyano group Chemical group *C#N 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 150000004985 diamines Chemical class 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 125000000449 nitro group Chemical group [O-][N+](*)=O 0.000 description 1
- QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N nitrogen group Chemical group [N] QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 238000006068 polycondensation reaction Methods 0.000 description 1
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 230000002250 progressing effect Effects 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 235000009566 rice Nutrition 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
耐熱性の優れたポリイミド樹脂に関し、感光性を付与す
ることを目的とし、 ポリアミド酸の主鎖にピリミジン二量体を導入して感光
性ポリアミド酸とし、この感光性ポリアミド酸を成分と
する溶液を被処理基板に塗布して成膜した後、波長が2
50nm以下の紫外線を選択露光し、露光部が溶剤によ
り溶解するのを利用してパターン形成を行い、次に被処
理基板を加熱して残余の感光性ポリアミド酸膜をポリイ
ミド膜に変質することにより感光性耐熱樹脂を構成する
。
ることを目的とし、 ポリアミド酸の主鎖にピリミジン二量体を導入して感光
性ポリアミド酸とし、この感光性ポリアミド酸を成分と
する溶液を被処理基板に塗布して成膜した後、波長が2
50nm以下の紫外線を選択露光し、露光部が溶剤によ
り溶解するのを利用してパターン形成を行い、次に被処
理基板を加熱して残余の感光性ポリアミド酸膜をポリイ
ミド膜に変質することにより感光性耐熱樹脂を構成する
。
本発明は感光性ポリイミド前駆体を用いた感光性耐熱樹
脂に関する。
脂に関する。
ポリイミドは含窒素耐熱樹脂の代表的なもので、Du
Pont社により開発された無水ピロメリット酸とジア
ミンとの重縮合により得ることができ、400°C以上
の耐熱性がある。
Pont社により開発された無水ピロメリット酸とジア
ミンとの重縮合により得ることができ、400°C以上
の耐熱性がある。
そして、代表的な耐熱性絶縁物として知られており、耐
熱性が必要な電気部品用材料として用いられている。
熱性が必要な電気部品用材料として用いられている。
半導体集積回路は集積度の向上と共に二次元構造から三
次元構造へと進んでいる。
次元構造へと進んでいる。
すなわち、シリコン(St)などの単結晶基板を用いて
二次元構造をとる集積回路を形成した後、この上に化学
気相成長法(略称CVD法)やスピンコード法などによ
って絶縁層を作り、写真蝕刻技術(フォトリソグラフィ
)を用いて上下の電子回路を形成するためのパイヤホー
ルを形成した後、この上に電子回路を形成し、これを繰
り返すことにより電子回路を多層化することが行われて
いる。
二次元構造をとる集積回路を形成した後、この上に化学
気相成長法(略称CVD法)やスピンコード法などによ
って絶縁層を作り、写真蝕刻技術(フォトリソグラフィ
)を用いて上下の電子回路を形成するためのパイヤホー
ルを形成した後、この上に電子回路を形成し、これを繰
り返すことにより電子回路を多層化することが行われて
いる。
こ\で、今まで絶縁層としては二酸化硅素(SiO□)
、窒化硅素(SiJn)などの無機材料或いはポリイミ
ド、シリコーンなどの有機材料が使用されており、フォ
トレジストと組み合わせてパターン形成が行われている
。
、窒化硅素(SiJn)などの無機材料或いはポリイミ
ド、シリコーンなどの有機材料が使用されており、フォ
トレジストと組み合わせてパターン形成が行われている
。
すなわち、絶縁層の上にスピンコード法によりレジスト
層を形成した後、選択露光し、ネガ型レジストを使用す
る場合は露光部が現像液に不溶となり、ポジ型レジスト
を使用する場合は可溶となるのを利用してマスクパター
ンを形成し、次にドライエツチング或いはウェットエツ
チングにより露出している絶縁層を除去することにより
絶縁層のパターン形成が行われている。
層を形成した後、選択露光し、ネガ型レジストを使用す
る場合は露光部が現像液に不溶となり、ポジ型レジスト
を使用する場合は可溶となるのを利用してマスクパター
ンを形成し、次にドライエツチング或いはウェットエツ
チングにより露出している絶縁層を除去することにより
絶縁層のパターン形成が行われている。
然し、絶縁層自体が感光性を備えており、選択露光と現
像処理により直接にパターン形成が可能であれば工程の
短縮ができ、集積回路のコスト低減が可能となる。
像処理により直接にパターン形成が可能であれば工程の
短縮ができ、集積回路のコスト低減が可能となる。
然し、ポリイミドは軟化温度が高く、また溶剤に対し不
溶であり、感光性のあるポリイミドは存在していない。
溶であり、感光性のあるポリイミドは存在していない。
ポリイミドは耐熱性、絶縁性、耐薬品性1機械的強度な
どが優れており、集積回路の層間絶縁膜に適しているが
、溶剤に溶けないためにパターン形成が複雑になってい
る。
どが優れており、集積回路の層間絶縁膜に適しているが
、溶剤に溶けないためにパターン形成が複雑になってい
る。
そこで、集積回路の製造工程を簡略化するために感光性
を備えたポリイミドを開発することが課題である。
を備えたポリイミドを開発することが課題である。
上記の課題はポリアミド酸の主鎖にピリミジン二量体を
導入して感光性ポリアミド酸とし、この感光性ポリアミ
ド酸を成分とする溶液を被処理基板に塗布して成膜した
後、波長が250r+n+以下の紫外線を選択露光し、
露光部が溶剤により溶解するのを利用してパターン形成
を行い、次に被処理基板を加熱して残余の感光性ポリア
ミド酸膜をポリイミド膜に変質することにより達成する
ことができる。
導入して感光性ポリアミド酸とし、この感光性ポリアミ
ド酸を成分とする溶液を被処理基板に塗布して成膜した
後、波長が250r+n+以下の紫外線を選択露光し、
露光部が溶剤により溶解するのを利用してパターン形成
を行い、次に被処理基板を加熱して残余の感光性ポリア
ミド酸膜をポリイミド膜に変質することにより達成する
ことができる。
本発明はポリイミドの前駆体であるポリアミド酸の主鎖
に感光性の基であるピリミジン二量体を導入することに
より感光性を持たせるもので、第1図はか\るポリアミ
ド酸誘導体の構造式を示している。
に感光性の基であるピリミジン二量体を導入することに
より感光性を持たせるもので、第1図はか\るポリアミ
ド酸誘導体の構造式を示している。
この構造式において、R,は2個以上の炭素原子を有す
る4価の基、Rz、 R3,R4,R5は水素または1
価の脂肪族、芳香族或いはその両方を有する基。
る4価の基、Rz、 R3,R4,R5は水素または1
価の脂肪族、芳香族或いはその両方を有する基。
またはそれらの水素がハロゲン原子、ニトロ基。
アミノ基、シアノ基などで置換された基である。
このような感光性ポリアミド酸誘導体は波長が250n
m以下の紫外線照射を受けると第2図に示すように開裂
させることができ、そのためポジ型として働き、現像処
理によりパターン形成が可能となる。
m以下の紫外線照射を受けると第2図に示すように開裂
させることができ、そのためポジ型として働き、現像処
理によりパターン形成が可能となる。
次に、パターン形成の終わったポリアミド酸誘導体は加
熱によりポリアミド酸を構成するC0OH基のOHとピ
リミジン二量体を構成するHとが結合して水()1.0
)となり除去されるため不溶不融のポリイミドにと変化
し、不溶、不融の状態となる。
熱によりポリアミド酸を構成するC0OH基のOHとピ
リミジン二量体を構成するHとが結合して水()1.0
)となり除去されるため不溶不融のポリイミドにと変化
し、不溶、不融の状態となる。
無水ピロメリット酸2.18 g(0,01モル)と4
.4ジアミノビスウラシル2.56 g(0,01モル
)をジメチルアセトアミド中で、N2気流のもとで温度
40″Cで3時間反応させ、反応溶液を次に500 c
cの純水に注いで生成物を沈澱させた。
.4ジアミノビスウラシル2.56 g(0,01モル
)をジメチルアセトアミド中で、N2気流のもとで温度
40″Cで3時間反応させ、反応溶液を次に500 c
cの純水に注いで生成物を沈澱させた。
そして生成物をアセトンを用いて3回洗浄した後に減圧
のもとで乾燥させた。
のもとで乾燥させた。
生成物の赤外吸収スペクトルと核磁気共鳴スペクトルか
ら予想された化学構造と極めて良く一致し、第3図に示
すようなポリアミド酸誘導体が得られたことを確認した
。
ら予想された化学構造と極めて良く一致し、第3図に示
すようなポリアミド酸誘導体が得られたことを確認した
。
次に、このポリアミド酸誘導体をジメチルアセトアミド
に溶解して3%溶液を作り、Stウェハ上にスピンコー
ド法により塗布して2μm厚の膜を作った。
に溶解して3%溶液を作り、Stウェハ上にスピンコー
ド法により塗布して2μm厚の膜を作った。
この膜にマスクを介して波長が240nmの紫外線を照
射し、ジメチルアセトアミドで現像すると紫外線露光部
のみが溶解し、ポジ型の感光樹脂として機能することが
確認された。
射し、ジメチルアセトアミドで現像すると紫外線露光部
のみが溶解し、ポジ型の感光樹脂として機能することが
確認された。
次に、これに300 ’Cの加熱処理を行い、先と同様
に赤外吸収スペクトルと核磁気共鳴スペクトルにより調
べた結果、イミド化していることが確認できた。
に赤外吸収スペクトルと核磁気共鳴スペクトルにより調
べた結果、イミド化していることが確認できた。
本発明に係る感光性ポリアミド酸誘導体はポジ型として
作用し、また300°C程度の熱処理によりイミド化す
ることができるので、半導体集積回路の層間絶縁層など
パターン形成が必要な絶縁膜形成に使用することができ
る。
作用し、また300°C程度の熱処理によりイミド化す
ることができるので、半導体集積回路の層間絶縁層など
パターン形成が必要な絶縁膜形成に使用することができ
る。
第1図は本発明に係る感光性ポリアミド酸誘導体の構造
式、 第2図は紫外線照射により開裂した感光性ポリアミド酸
誘導体の構造式、 第3図は実施例に使用した感光性ポリアミド酸誘導体の
構造式、 である。 本丸8月にイ衆る次S弛・ト生庄°υヱミY′酸誘樽2
体の構造民 第 図 ギリ了ミY酸誘導イ本の木へ破り民 業 図 喫]魁イ別氏イ更吊しただ兄・1・生ボ弓アミド己文話
導イネの卿い前動 箒 3 図
式、 第2図は紫外線照射により開裂した感光性ポリアミド酸
誘導体の構造式、 第3図は実施例に使用した感光性ポリアミド酸誘導体の
構造式、 である。 本丸8月にイ衆る次S弛・ト生庄°υヱミY′酸誘樽2
体の構造民 第 図 ギリ了ミY酸誘導イ本の木へ破り民 業 図 喫]魁イ別氏イ更吊しただ兄・1・生ボ弓アミド己文話
導イネの卿い前動 箒 3 図
Claims (1)
- ポリアミド酸の主鎖にピリミジン二量体を導入して感光
性ポリアミド酸とし、該感光性ポリアミド酸を成分とす
る溶液を被処理基板に塗布して成膜した後、波長が25
0nm以下の紫外線を選択露光し、該露光部が溶剤によ
り溶解するのを利用してパターン形成を行い、次に被処
理基板を加熱して残余の感光性ポリアミド酸膜をポリイ
ミド膜に変質して使用することを特徴とする感光性耐熱
樹脂。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63281588A JPH02127643A (ja) | 1988-11-08 | 1988-11-08 | 感光性耐熱樹脂 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63281588A JPH02127643A (ja) | 1988-11-08 | 1988-11-08 | 感光性耐熱樹脂 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02127643A true JPH02127643A (ja) | 1990-05-16 |
Family
ID=17641244
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63281588A Pending JPH02127643A (ja) | 1988-11-08 | 1988-11-08 | 感光性耐熱樹脂 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02127643A (ja) |
-
1988
- 1988-11-08 JP JP63281588A patent/JPH02127643A/ja active Pending
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