JPH02121820A

JPH02121820A - 射出成形機の成形品判別方式

Info

Publication number: JPH02121820A
Application number: JP27549288A
Authority: JP
Inventors: Hitoshi Hirozumi; 均広住
Original assignee: Sumitomo Heavy Industries Ltd
Current assignee: Sumitomo Heavy Industries Ltd
Priority date: 1988-10-31
Filing date: 1988-10-31
Publication date: 1990-05-09

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野］本発明は、射出成形機により製造された製品の良否を判
別するために、製品の成形を判別する成形品判別方式に
関する。

［従来の技術］従来、この種の成形品判別方式では、射出成形機のショ
ツト数と、その製品の良否判別に利用する第１表に示す
項目毎の測定データ値（以下、判別データと呼ぶ。）と
の相関関係から、予め定めた上下限値（第６図（ａ））
　、或は、そのデータ値の平均値からの偏差（第６図（
ｂ））を、良品と不良品とを判別する境界として設定し
、その範囲内を良品とし、その範囲外を不良品としてい
た。

第１表［発明が解決しようとする課題］しかしながら、従来の成形品判別方式では、上述したよ
うに、良品／不良品の判別する境界を、その各再判別デ
ータにより決定してはいるが、その境界の設定自体に、
多くの時間を費やしてしまうばかりか、どの再判別デー
タが良品／不良品の判別に有効であるか否かの選択も困
難であるという問題があり、その結果、良品／不良品の
迅速で正確な成形の判別ができないという欠点があった
。

そこで、本発明の技術的課題は、上記欠点に鑑み、射出
成形機により製造された製品の良品／不良品の迅速で正
確な判別を行うために成形品判別方式を提供することで
ある。

［課題を解決するための手段］本発明によれば、射出成形機により製造された成形品の
良否判別に用いられる判別項目について予め測定して得
られた測定データ値に対応する不良品率の分布を表す不
良品比率分布関数Ｆ　（ｘ）に基づいて、成形品の良不
良を判別することを特徴とする射出成形機の成形品判別
方式が得られる。

また、本発明によれば、前記判別項目についてｆめ測定
して得られた測定データ値に対応した良品と不良品との
重複する割合を表す不良関連係数にと、前記不良品率Ｆ
　（ｘ）とを乗算した当該判別項目における不良品判別
の有効度を表す不良率Ｆ　（ｘ）ＸＫに基づいて、成形
品の良不良を判別することを特徴とする射出成形機の成
形品判別装置が得られる。

さらに、本発明によれば、複数の判別項目（ｉ項）毎に
前記不良率Ｆ　（ｘ）ＸＫの前記判別項目について実測した実測データ値とに基づい
て、成形品の良不良を判別することを特徴とする射出成
形機の成形品判別方式が得られる。

［実施例］次に、本発明に係わる一実施例を図面を参照して説明す
る。

一サンプリングシステムー第１図に示すように、１はインタフェース装置であり、
インタフェース装置１は、まず、サンプリングステップ
として、射出成形機より製造された成形品に対し、第１
表に示した判別項目毎に、測定装置（図示せず）測定し
て得られた測定データ値Ｘ、を受け、その受けた測定デ
ータ値Ｘと、測定データ値Ｘに対応する成形品に対して
判別した良品及び不良品の個数（データ個数）を記憶装
置２に出力する。

記憶装置２は、判別項目毎にｎＪ定データ値Ｘとデータ
個数とを受けて記憶すると共に、更に、第２図（ａ）、
（ｂ）及び第３図（ａ）、（ｂ）に示すように、両者の
相関関係を表す良品分布曲線ｆ＋　　（ｘ）及び不良品
分布曲線ｆ２　　（Ｘ）を作成し、判別項目毎に記憶す
る。

演算装置３は不良品比率分布関数演算部（図示せず）を
有し、不良品比率分布関数演算部は、記憶装置２から良
品分布曲線ｆ＋　　（Ｘ）及び不良品分布曲線ｆ２　　
（Ｘ）を呼び出して、下記の第０式に示される不良品比
率分布関数Ｆ　（ｘ）を演算する（第４図（ｂ）及び第
５図（ｂ）参照）。得られた不良品比率分布関数Ｆ　（
ｘ）は判別項目毎に記憶装置２に格納される。

Ｆ　（ｘ）−不良品個数／（良品個数＋不良品個数）−
ｆ２　（ｘ）／ｆ＋　　（ｘ）＋ｆ２　　（ｘ）・・・
■ 但し、不良品比率分布関数Ｆ　（ｘ）は、Ｘ　ｓ　＋　
ｍ　＞　Ｘ　＞　Ｘ　ｍ　ａ工では、ｆｒ　　（Ｘ）−
０，ｆ２　　（Ｘ）−０となることから、Ｆ　（ｘ）　＝１と定義する。

よって、第０式より、良品だけが得られた範囲ではＦ　
（ｘ）−０、不良品だけが得れた範囲ではＦ　（ｘ）−
１となる。良品と不良品とが混在した範囲では０＜Ｆ　
（ｘ）＜１となる。即ち、不良品比率分布関数Ｆ　（ｘ
）は、１に近いほど不良品が成形されやすいことを表す
ことになる。

また、演算装置３は不良関連係数演算部（図示せず）を
有し、不良関連係数演算部は、第４図（ａ）及び第５図
（ａ）に示すように、測定データ値Ｘにおける良品の個
数（ｋｏ）と、良品と不良品との重複個数（ｋ、）とを
記憶装置２から呼び出し、下記の第■式に示される不良
関連係数Ｋを演算する。得られ不良関連係数には判別項
目毎に記憶装置２に格納される。

Ｋ−良品個数−（良品と不良品との重複個数）／良品個
数＝　（ｋｏ　−ｋ　＋　）　／　ｋｏ　　　　　　　　
”’■よって、第■式により、不良関連係数にの値が小
さいほど、その判別項目のデータが有効でないことを示
すことになる。

さらに、演算装置３は不良率演算部（図示せず）を有し
、不良率演算部は、まず、記憶装置２から判別項目毎に
、不良品率演算部で演算された不良品率Ｆ　（ｘ）と、
不良関連係数演算部で演算された不良関連係数にとを読
みだし、下記の第０式に示される不良品率Ｆ　（ｘ）と
不良関連係数にとを乗算して、不良品判別の有効度を表
す不良率Ｆ　（ｘ）ＸＫを演算する。

不良率−Ｆ　（ｘ）　ＸＫ　　　　　　　　・・・■さ
らに、演算装置３は総不良率演算部（図示せず）を有し
、総不良率演算部は、得られた全判別項目（ｉ個の項目
数）の不良率に基づいて、下記の第０式に示される総不
良率を演算する。得られた総不良率は、記憶装置２に格
納される。

総不良率−ΣＦ＋　　（ｘ）ＸＫ、　　　　・・・■こ
れにより、第０式により演算された総不良率をもって、
良品と不良品との判別が行われる。

−判別ステップ− 上述のように、予めサンプリングステップにおいて、第
０〜０式に示される不良品比率分布関数Ｆ　（ｘ）　、
不良関連係数Ｋ、不良率、及び総不良率を、記憶装置２
に格納した後、実際の成形品の良否を判別するための判
別ステップに移行する。

入力装置４は、オペレータの外部操作により、判別ステ
ップに移行するための判別スタート信号を受け、測定装
置による判別項目ごとの実測データ値を読み込む。なお
、記憶装置２には、判別ステップ移行前に、総不良率の
判別基準となる値（本実施例においては１”とする。）
が、入力装置４を介して、オペレータにより、予め入力
されている。

入力装置４は、記憶装置２をアクセスして、実測データ
値ｘ１に対応する測定値Ｘにおける不良品比率分布関数
Ｆ（ＸＩ）、不良関連係数に１不良率、総不良率、及び
総不良率の判別基準値を出力させる。

記憶装置２より読み出された総不良率は、総不良率の判
別基準値と共に、演算装置３の比較器（図示せず）に入
力される。比較器は、総不良率と判別基準値との大小を
比較して、比較結果信号を出力装置５に出力する。出力
装置５は、総不良率が判別基準値よりも小さいことを示
す比較結果信号を受けた場合には、良品と判別し、大き
い場合は不良品と判別する判別信号を出力する。一方、
不良品比率分布関数Ｆ　（ＸＩ　）　、不良関連係数に
１及び不良率は、判別情報資料として、出力装置６を介
して、外部に出力される。

一動作例一次に、実際の数値を用いて、本実施例を説明する。

まず、サンプリングステップにおいて、第２図及び第４
図に示す判別データを第１データ、第３図及び第５図に
示す判別データを第２データとして、サンプリング数：
　１０００シヨツト、良品個数：９２０シヨツト、不良
品個数＝８０ショット、判別項目数：２項目とする。

（１）第１データ良品数ｋ。−９２０良品と不良品との重複した数ｋｌ　−３０とすると、第
０式から、不良関連係数に１を求めると、不良関連係数に＋　−（９２０３０）／９２０−０．９
６７４が得られる。

（２）第２データ良品数ｋ。−９２０良品と不良品との重複した数ｋｌ　−８０とすると、第
０式から、不良関連係数に２を求めると、不良関連係数に２−　（９２０８０）／９２０−０．　
９１３０が得られる。

（３）次に、実測データ値Ｘ１及びＸ２における不良品
比率を、第４図（ｂ）及び第５図（ｂ）から、Ｆ＋　　（ｘＩ　）−０Ｆ２　　（Ｘ２）−０，３となったとすると、総不良率は、第０式から、総不良率
−ＫＩＸＦＩ（ＸＩ）＋に２ＸＦ２　　（Ｘ２　） −０，２７３９（＜１）となる。

このとき、判別ステップにおいては、総不良率基準が１
，０と設定されていることから、今回の成形動作におけ
る本ショットの成形品は、総不良率基準より・小さい値
を示すことから、出力装置５は、良品と判別した信号を
出力する。

また、不良品比率分布関数Ｆ（ｘＩ）、不良関連係数に
１及び不良率は、判別情報資料として、出力装置６を介
して外部に出力され、判別データの有効性の判断、良品
と不良品とのバラツキ等をオペレータに与えて、成形条
件等の個別具体的な見直し資料を提供することができる
。

〔発明の効果］以上の説明のとおり、本発明によれば、成形品の不良と
なる確立や、判断項目の有効性の有無を数値化して表す
ことができるから、射出成形機により製造された製品の
良品／不良品の迅速で正確な判別を行うために成形品判
別方式を提供することができる。

もって良品と不良品とを判別する境界を設定した図、第
６図（ｂ）は第６図（ａ）のデータ値の平均値からの偏
差をもって、良品と不良品とを判別する境界として設定
した図である。

１・・・インタフェース装置、２・・・記憶装置、３・
・・演算装置、４・・・人力装置、５，６・・・出力装
置。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係わる一実施例のブロック図、第２図
（ａ）、（ｂ）及び第３図（ａ）、（ｂ）は各判別項目
毎の良品及び不良品の分布曲線図、第４図（ａ）及び第
５図（ａ）は各判別項目毎の良品と不良品との重複状態
を示す図、第４図（ｂ）及び第５図（ｂ）は各判別項目
毎の不良比率分布図、第６図（ａ）は従来の予め定めた
上下限値を第６図（α）（ｂ）５ヨ・ント（３〔

Claims

【特許請求の範囲】１、射出成形機により製造された成形品の良否判別に用
いられる判別項目について予め測定して得られた測定デ
ータ値に対応する不良品率の分布を表す不良品比率分布
関数Ｆ（ｘ）に基づいて、成形品の良不良を判別するこ
とを特徴とする射出成形機の成形品判別方式。２、第１請求項記載の射出成形機の成形品判別方式にお
いて、前記判別項目について予め測定して得られた測定データ
値に対応した良品と不良品との重複する割合を表す不良
関連係数にと、前記不良品率Ｆ（ｘ）とを乗算した当該
判別項目における不良品判別の有効度を表す不良率Ｆ（
ｘ）×Ｋに基づいて、成形品の良不良を判別することを
特徴とする射出成形機の成形品判別方式。３、第２請求項記載の射出成形機の成形品判別方式にお
いて、複数の判別項目（ｉ項）毎に前記不良率Ｆ（ｘ）
×Ｋの総和を表す総不良率▲数式、化学式、表等があります▼
と、前記判別項目について実測した実測データ値とに基づい
て、成形品の良不良を判別することを特徴とする射出成
形機の成形品判別方式。