JPH02107059A - ファクシミリ装置の線密度変換回路 - Google Patents

ファクシミリ装置の線密度変換回路

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JPH02107059A
JPH02107059A JP26085888A JP26085888A JPH02107059A JP H02107059 A JPH02107059 A JP H02107059A JP 26085888 A JP26085888 A JP 26085888A JP 26085888 A JP26085888 A JP 26085888A JP H02107059 A JPH02107059 A JP H02107059A
Authority
JP
Japan
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conversion
line
signal
converted
lines
Prior art date
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Pending
Application number
JP26085888A
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English (en)
Inventor
Nobuhiro Otani
大谷 暢宏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は1画像信号のディジタル処理に関し、特に、フ
ァクシミリ装置の線密度変換回路に関する。
従来の技術 従来、この種の線密度変換回路は、原稿1ページ分の画
像データを蓄積する画像メモリと、画像メモリの出力で
ある画データに対し変換比率に応じて9分割法等の手法
により主走査方向には画素データの間引き/補間を、又
副走査方向にはライン単位の間引き/補間を行う変換部
とからなり、画像メモリから画データが出力される分の
変換を行っていた。
発明が解決しようとする課題 上述した従来の線密度変換回路は、原稿1ページ分の画
像メモリ内の画像データに対し線密度変換を行いかつ変
換後にライン数の管理は行っていないので、正確な変換
後ライン数が必要な場合には対処できないという欠点が
ある。
例えば、変換比率415で、変換後のライン数として1
0ライン必要なときに、変換前の画像データとしては1
0ラインX5/4=12.5ラインで画像メモリからの
出力を停止させなければならないが、ラインの端数管理
は出来ないので、正確に10ラインの変換複画データは
得られない。
本発明は従来の上記実情に鑑みてなされたものであり、
従って本発明の目的は、従来の技術に内在する上記欠点
を解消し、線密度変換比率に関係なく正確な変換ライン
数分の処理を実行することを可能としたファクシミリ装
置の新規な線密度変換回路を提供することにある。
課題を解決するための手段 上記目的を達成する為に、本発明に係るファクシミリ装
置の1&密度変換回路は1画像データを蓄積する画像メ
モリと、前記画像データに対し9分割法等の変換を行う
変換回路と、該変換回路による変換後の主走査方向1ラ
イン長の情報を保持する1ライン長レジスタと、前記変
換回路の変換画素数と前記1ライン長レジスタの保持情
報とが一致したときにパルスを発生する1ライン長比較
回路と、該1ライン長比較回路のパルスを計数するライ
ン数カウンタと、変換後のライン数の情報を保持するラ
イン数レジスタと、前記ライン数カウンタの出力と前記
ライン数レジスタの保持情報とが一致したときに前記変
換回路の動作を停止させる変換停止信号を発生するライ
ン数比較回路とを備えて構成されている。
実施例 次に本発明をその好ましい一実施例について図面を参照
して具体的に説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック構成図である
第1図を参照するに、ライン数指定レジスタ1は、所望
のライン数情報を保持するレジスタであり、データバス
00の情報を書込み信号O1が“オン″するタイミング
で取り込む。
1ライン長レジスタ2は、変換後の主走査方向lライン
長の情報を保持するレジスタであり、データバスOOの
情報を書込み信号02が“オン″するタイミングで取り
込む。
ライン数比較回路3は、前記ライン数指定レジスタ1の
出力である指定ライン数信号03とライン数カウンタ4
の出力である処理ライン数信号04とを比較し、一致し
たならば変換停止信号05を変換回路5へ出力する。
ライン数カウンタ4は、1ライン長比較回路の出力する
1ライン長検出信号を計数し、処理ライン数信号04を
出力する。
変換回路5は、変換制御回路7が出力する変換要求信号
を受けて変換クロック06を変換制御回路7と画像メモ
リ6へ出力し、画像メモリ6が出力する画像データ信号
07の画像データを9分割法等の手法により線密度変換
し、変換画像データ12を出力する。
画像メモリ6は原稿の画像データを蓄積する。
変換制御回路7は、変換要求信号08を変換回路5に出
力することで変換を開始させ、変換回路5の出力する変
換クロック06を計数して処理画素数信号09を出力し
、1ライン長検出信号10により変換クロックOGの計
数を初期化する。
1ライン長比較回路8は、1ライン長レジスタ2の出力
する指定ライン長信号11と変換制御回路7の出力する
処理画素数信号09とを比較し、一致したならば1ライ
ン長検出信号10を出力する。
次に本発明の動作について説明する。主走査1ラインの
長さは1ライン長レジスタ2に保持され。
所望の変換ライン数はライン数指定レジスタ1に保持さ
れているものとする。変換制御回路7は、変換回路5へ
変換要求信号08を送出し、変換開始を要求する。変換
回路5は、変換クロック06を画像メモリ6へ出力し1
画像データを画像データ信号07から取り込み線密度変
換を行い、変換画像データ12を出力する。変換クロッ
ク06を入力した変換制御回路7は、変換クロック06
を計数し、変換画像データ12の情報量を示す処理画素
数信号09を出力する。
処理画素数信号09と指定ライン長信号11とが一致し
たことを示す1ライン長検出信号10により1ライン分
の変換画像データが変換回路5から出力されたことがわ
かる。
1ライン長検出信号10により変換制御回路7は次のラ
インの変換画像を計数するために初期化される。
1ライン長検出信号lOを計数するラインカウンタ4の
出力である処理ライン数信号04と指定ライン数信号0
3とが一致したならば、変換停止信号05がパオン”し
、それによって変換動作は終了する。
発明の詳細 な説明したように1本発明によれば、変換後の画像デー
タのライン数を計数する構成を取ることにより、llA
密度変換比率に関係なく正確な変換ライン数分の処理が
できる効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック構成図である
。 100.ライン数指定レジスタ、2.、.1ライン長レ
ジスタ、310.ライン数比較回路、40.、ライン数
カウンタ、511.変換回路、6.、、画像メモリ、7
10.変換制御回路、8.、.1ライン長比較回路00
、、、データバス、01.、、書込み信号、02.、、
書込み信号、 03.、、指定ライン数信号、 04.
、、処理ライン数信号、05.、、変換停止信号、06
.、、変換クロック、07.、、画像データ信号、08
.、、変換要求信号、09、、、処理画素数信号、10
.、、1ライン長検出信号。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 原稿1ページ分の画像データを蓄積する画像メモリと、
    前記画像データに対し9分割法等の変換を行う変換回路
    と、該変換回路による変換後の主走査方向1ライン長の
    情報を保持する1ライン長レジスタと、前記変換回路の
    変換画素数と前記1ライン長レジスタの保持情報とが一
    致したときにパルスを発生する1ライン長比較回路と、
    該1ライン長比較回路のパルスを計数するライン数カウ
    ンタと、変換後のライン数の情報を保持するライン数レ
    ジスタと、前記ライン数カウンタの出力と前記ライン数
    レジスタの保持情報とが一致したときに前記変換回路の
    動作を停止させる変換停止信号を発生するライン数比較
    回路とを有することを特徴としたファクシミリ装置の線
    密度変換回路。
JP26085888A 1988-10-17 1988-10-17 ファクシミリ装置の線密度変換回路 Pending JPH02107059A (ja)

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JP (1) JPH02107059A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008102039A (ja) * 2006-10-19 2008-05-01 Uni Charm Corp マスク捕集性能試験機およびそれを使用する試験方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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