JPH02103640A - Cpuを有する装置の試験システム - Google Patents
Cpuを有する装置の試験システムInfo
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- JPH02103640A JPH02103640A JP63256200A JP25620088A JPH02103640A JP H02103640 A JPH02103640 A JP H02103640A JP 63256200 A JP63256200 A JP 63256200A JP 25620088 A JP25620088 A JP 25620088A JP H02103640 A JPH02103640 A JP H02103640A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 135
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 101100325756 Arabidopsis thaliana BAM5 gene Proteins 0.000 description 1
- 101150046378 RAM1 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100476489 Rattus norvegicus Slc20a2 gene Proteins 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、CPUを有する装置を試験する試験システム
に関する。
に関する。
cpuによって制御される装置(以後被試験装置と称す
る)の内部の各要素は内部のCPUにより制御されるた
め、内部の各要素の状態を内部のCPUにより変化させ
ながら試験する必要がある。
る)の内部の各要素は内部のCPUにより制御されるた
め、内部の各要素の状態を内部のCPUにより変化させ
ながら試験する必要がある。
このため、上記被試験装置の試験を行なうときは、従来
、被試験装置が持っている機能を利用して試験装置から
適当な信号を人力し、それに対応した動作から正常かど
うかを調べる方法か、被試験装置内に試験用のプログラ
ムを予め入れておく方法が用いられていた。
、被試験装置が持っている機能を利用して試験装置から
適当な信号を人力し、それに対応した動作から正常かど
うかを調べる方法か、被試験装置内に試験用のプログラ
ムを予め入れておく方法が用いられていた。
第2図は被試験装置が持っている機能を利用する方法の
7例を示すブロック図、第3図は被試験装置内に試験プ
ログラムを入れる方法の一例を示すブロック図である。
7例を示すブロック図、第3図は被試験装置内に試験プ
ログラムを入れる方法の一例を示すブロック図である。
試験装置3は、CP U 11、ROM12、RAM1
3、l1014、CP U Ilニよッテ制御される要
素15からなる被試験装置1を試験部23により試験す
るものである。第2図の例では、被試験装置1は通常の
動作を行ない、試験装置3は信号線18より被試験装置
1の制御信号や被試験装置1の入力信号を送り、被試験
装置1から信号線18を通して出力される結果が正しい
かどうかを見る。第3図の例では信号線16より試験装
置3がつながっているか見、つながっていれば被試験装
置1の試験プログラムに制御を移し、試験装置3は信号
線18を通して被試験装置1の試験を行う。
3、l1014、CP U Ilニよッテ制御される要
素15からなる被試験装置1を試験部23により試験す
るものである。第2図の例では、被試験装置1は通常の
動作を行ない、試験装置3は信号線18より被試験装置
1の制御信号や被試験装置1の入力信号を送り、被試験
装置1から信号線18を通して出力される結果が正しい
かどうかを見る。第3図の例では信号線16より試験装
置3がつながっているか見、つながっていれば被試験装
置1の試験プログラムに制御を移し、試験装置3は信号
線18を通して被試験装置1の試験を行う。
上述した従来の方法のうち、被試験装置が持っている機
能を利用する方法では、被試験装置の動作が試験用に最
適化されていないため、試験装置から被試験装置に加え
る信号と、それに対する被試験装置の動作が複雑となり
、試験装置の規模が大きくなり、試験時間が長くなると
いう欠点がある。また、被試験装置内に試験用のプログ
ラムを入れる方法では、被試験装置内に余分なプログラ
ムがのるため、他のプログラムの量が制限されるか、コ
ストがかかるかし、また試験項目の変更に対して柔軟に
対応できないどう欠点がある。
能を利用する方法では、被試験装置の動作が試験用に最
適化されていないため、試験装置から被試験装置に加え
る信号と、それに対する被試験装置の動作が複雑となり
、試験装置の規模が大きくなり、試験時間が長くなると
いう欠点がある。また、被試験装置内に試験用のプログ
ラムを入れる方法では、被試験装置内に余分なプログラ
ムがのるため、他のプログラムの量が制限されるか、コ
ストがかかるかし、また試験項目の変更に対して柔軟に
対応できないどう欠点がある。
(BEを解決するための手段)
本発明の、CPUを有する装置の試験システムは、
CPU%ROM%RAM喝よびCPUで制御される回路
部を構成要素とし、CPUで制御される回路部にはデー
タ受信機能を有し、ROMには受信したデータをRAM
に転送する制御プログラムが格納されている被試験装置
と、萌記被試験装置上で動作する試験用制御プログラム
を記憶しているROM、そのROMの内容を前記被試験
装置へ送信する試験プログラム転送用バッファおよび試
験部を構成要素とする試験装置とで構成され、訪記被試
験装置と前記試験装置が接続されている時、前記試験装
置は前記被試験装置に対し前記試験用制御プログラムの
データを送出し、前記被試験装置は前記試験装置から受
信した試験用制御プログラムのデータをRAMに転送し
、データ転送が完了した時点でRAMに格納された試験
用制御プログラムに制御を移し、前記試験装置は前記試
験部により被試験装置の試験を行なう。
部を構成要素とし、CPUで制御される回路部にはデー
タ受信機能を有し、ROMには受信したデータをRAM
に転送する制御プログラムが格納されている被試験装置
と、萌記被試験装置上で動作する試験用制御プログラム
を記憶しているROM、そのROMの内容を前記被試験
装置へ送信する試験プログラム転送用バッファおよび試
験部を構成要素とする試験装置とで構成され、訪記被試
験装置と前記試験装置が接続されている時、前記試験装
置は前記被試験装置に対し前記試験用制御プログラムの
データを送出し、前記被試験装置は前記試験装置から受
信した試験用制御プログラムのデータをRAMに転送し
、データ転送が完了した時点でRAMに格納された試験
用制御プログラムに制御を移し、前記試験装置は前記試
験部により被試験装置の試験を行なう。
試験装置から試験プログラムを被試験装置に転送して被
試験装置の試験を行なうので、試験装置が簡単となり、
試験時間も短かくなり、試験項目の変更に柔軟に対応で
きる。
試験装置の試験を行なうので、試験装置が簡単となり、
試験時間も短かくなり、試験項目の変更に柔軟に対応で
きる。
(実施例)
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図は本発明の、cpuを有する装置の試験システム
の一実施例のブロック図である。
の一実施例のブロック図である。
被試験装置1は、CPUII、ROM +2、RAM1
3、l1014、CPUIIによって制御される要素1
5とからなり、試験装置2は試験部23、被試験装置1
の試験プログラムが格納されているROM21、試験プ
ログラム転送用バッファと22とからなりている。そし
て、被試験装置1と試験装置2は、試験装置2が被試験
装置1につながっているかどうかを見る信号線16.試
験プログラム転送用信号線17、入出力信号線18で接
続されている。
3、l1014、CPUIIによって制御される要素1
5とからなり、試験装置2は試験部23、被試験装置1
の試験プログラムが格納されているROM21、試験プ
ログラム転送用バッファと22とからなりている。そし
て、被試験装置1と試験装置2は、試験装置2が被試験
装置1につながっているかどうかを見る信号線16.試
験プログラム転送用信号線17、入出力信号線18で接
続されている。
次に、本実施例の動作を説明する。
被試験装置1は電源入力時にROM12内のプログラム
を実行する。まず、信号1a18により試験装置2が被
試験装置1につながっているか見る。つながっていなけ
れば通常の動作に入る。つながっていると、試験装置2
は信号線17を通してROM21内の試験プログラムを
被試験装置1内のRAM13に転送してRAM13内の
試験プログラムに制御を移す。この後、試験装置2は試
験部23から信号線18を通して被試験装置1の要素1
5に試験デ7りを送り、その結果を信号線18を通して
試験部23に人力することにより被試験装置1の試験を
行なう。
を実行する。まず、信号1a18により試験装置2が被
試験装置1につながっているか見る。つながっていなけ
れば通常の動作に入る。つながっていると、試験装置2
は信号線17を通してROM21内の試験プログラムを
被試験装置1内のRAM13に転送してRAM13内の
試験プログラムに制御を移す。この後、試験装置2は試
験部23から信号線18を通して被試験装置1の要素1
5に試験デ7りを送り、その結果を信号線18を通して
試験部23に人力することにより被試験装置1の試験を
行なう。
以上説明したように本発明は、試験前に試験装置から試
験プログラムを被試験装置に転送し、被試験装置は転送
されたプログラムをRAM上にうつし、RAM上の試験
プログラムに制御を移し、被試験装置の試験を行うこと
により、ROM上に試験プログラムを持つときと同様に
短時間で試験を行なうことができ、また試験装置が簡単
となり、また被試験装置の機能を利用する方法よりもわ
ずかに試験装置内の試験プログラムを増加させるだけで
すみ、また試験項目の変更に対しては、試験装置にある
ROMの内容を変更すれば良く、被試験装置のROMの
変更をしなくて良いので柔軟に対応できるという効果が
ある。
験プログラムを被試験装置に転送し、被試験装置は転送
されたプログラムをRAM上にうつし、RAM上の試験
プログラムに制御を移し、被試験装置の試験を行うこと
により、ROM上に試験プログラムを持つときと同様に
短時間で試験を行なうことができ、また試験装置が簡単
となり、また被試験装置の機能を利用する方法よりもわ
ずかに試験装置内の試験プログラムを増加させるだけで
すみ、また試験項目の変更に対しては、試験装置にある
ROMの内容を変更すれば良く、被試験装置のROMの
変更をしなくて良いので柔軟に対応できるという効果が
ある。
第1図は本発明の、CPUを有する装置の試験システム
の一実施例のブロック図、第2図は被試験装置が持って
いる機能を利用する方法の一例を示すブロック図、第3
図は被試験装置内に試験プログラムを入れる方法の一例
を示すブロック図である。 1・・・被試験装置、 2・・・試験装置、 11−CP U 。 12−ROM 。 13−RAM。 t4−I / Ol +5−CP U 11によって制御される要素、16−
・試験装置2がつながっているかどうか被試験装置1が
見るための信号線、 17−・試験用プログラム転送用信号線、18・・・被
試験装置1の人出力信号線、21−一試験用プログラム
が格納されているROM、22−・・試験用プログラム
転送用バッファ、23−・・試験部。
の一実施例のブロック図、第2図は被試験装置が持って
いる機能を利用する方法の一例を示すブロック図、第3
図は被試験装置内に試験プログラムを入れる方法の一例
を示すブロック図である。 1・・・被試験装置、 2・・・試験装置、 11−CP U 。 12−ROM 。 13−RAM。 t4−I / Ol +5−CP U 11によって制御される要素、16−
・試験装置2がつながっているかどうか被試験装置1が
見るための信号線、 17−・試験用プログラム転送用信号線、18・・・被
試験装置1の人出力信号線、21−一試験用プログラム
が格納されているROM、22−・・試験用プログラム
転送用バッファ、23−・・試験部。
Claims (1)
- 1、CPU、ROM、RAMおよびCPUで制御される
回路部を構成要素とし、CPUで制御される回路部には
データ受信機能を有し、ROMには受信したデータをR
AMに転送する制御プログラムが格納されている被試験
装置と、前記被試験装置上で動作する試験プログラムを
記憶しているROM、そのROMの内容を前記被試験装
置へ送信する試験プログラム転送用バッファおよび試験
部を構成要素とする試験装置とで構成され、前記被試験
装置と前記試験装置が接続されている時、前記試験装置
は前記被試験装置に対し前記試験プログラムのデータを
送出し、前記被試験装置は前記試験装置から受信した試
験プログラムのデータをRAMに転送し、データ転送が
完了した時点でRAMに格納された試験プログラムに制
御を移し、前記試験装置は前記試験部により被試験装置
の試験を行なう、CPUを有する装置の試験システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63256200A JP2917275B2 (ja) | 1988-10-11 | 1988-10-11 | Cpuを有する装置の試験システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63256200A JP2917275B2 (ja) | 1988-10-11 | 1988-10-11 | Cpuを有する装置の試験システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02103640A true JPH02103640A (ja) | 1990-04-16 |
JP2917275B2 JP2917275B2 (ja) | 1999-07-12 |
Family
ID=17289304
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63256200A Expired - Fee Related JP2917275B2 (ja) | 1988-10-11 | 1988-10-11 | Cpuを有する装置の試験システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2917275B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0471053U (ja) * | 1990-11-01 | 1992-06-23 | ||
US6981179B1 (en) | 1999-04-23 | 2005-12-27 | Sharp Kabushiki Kaisha | Microcomputer having built-in nonvolatile memory and check system thereof and IC card packing microcomputer having built-in nonvolatile memory and check system thereof |
US7594539B2 (en) | 2004-02-19 | 2009-09-29 | Panasonic Corporation | Heat exchange type ventilator |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56121153A (en) * | 1980-02-27 | 1981-09-22 | Tamura Electric Works Ltd | Self-diagnostic system of electronic apparatus |
JPS59117645A (ja) * | 1982-12-25 | 1984-07-07 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 計算機システムの試験方法 |
-
1988
- 1988-10-11 JP JP63256200A patent/JP2917275B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56121153A (en) * | 1980-02-27 | 1981-09-22 | Tamura Electric Works Ltd | Self-diagnostic system of electronic apparatus |
JPS59117645A (ja) * | 1982-12-25 | 1984-07-07 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 計算機システムの試験方法 |
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JPH0471053U (ja) * | 1990-11-01 | 1992-06-23 | ||
US6981179B1 (en) | 1999-04-23 | 2005-12-27 | Sharp Kabushiki Kaisha | Microcomputer having built-in nonvolatile memory and check system thereof and IC card packing microcomputer having built-in nonvolatile memory and check system thereof |
US7594539B2 (en) | 2004-02-19 | 2009-09-29 | Panasonic Corporation | Heat exchange type ventilator |
Also Published As
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---|---|
JP2917275B2 (ja) | 1999-07-12 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |