JPH0196740A - 電子計算機調整不良解析支援システム - Google Patents

電子計算機調整不良解析支援システム

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JPH0196740A
JPH0196740A JP62253653A JP25365387A JPH0196740A JP H0196740 A JPH0196740 A JP H0196740A JP 62253653 A JP62253653 A JP 62253653A JP 25365387 A JP25365387 A JP 25365387A JP H0196740 A JPH0196740 A JP H0196740A
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Yoshiaki Kinoshita
木下 佳明
Yoshiharu Kazama
風間 芳春
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ia電子計算機実機調整に係り、特に、。
不良発生時、不良の内容に応じて原因究明に必要な動作
の再実行を行い、その情報を確認済み電子計算機に転送
し不良解析を支援するのに好適な電子計算機調整不良解
析支援システムに関する。
〔従来の技術〕
従来1wL子計算機の調整不良の解析では、不良発生時
刻の情報のみからでは不良発生の原因究明が不可能な場
合が多く、原因と思われる現象が起こると推定される時
刻を毎回算出し、その時刻に停止条件を設定する。そし
て始めから再実行を行い、停止した時点で情報を叡得し
不良解析を行う。
しかし、原因究明が不十分な場合は、再度さかのぼって
停止条件を設定し、再実行を行い、原因究明を繰り返し
ていた。
なお、この種の不良解析支援技術としては0例えば特開
昭54−37548号公報に開示される。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記従来技術は1人手が介在するため原因究明の手順を
複雑にしており、また担当者の経験と知識の差で原因究
明の期間が大きく左右される等の問題があった。
本発明の目的は、被検査電子計算機上にて発生した不良
の原因を究明するために、自動的に停止条件を設定して
再実行を行い、原因究明のための1報を動作確認済み電
子計算機上に転送し、不良解析を支援する電子計算機調
整不良解析システムを提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記目的は、動作確認を行う被検査電子計算機・におい
て1発生した不良をコード化する演算回路とそのコード
に応じて再実行すべき範囲を算出する演算回路と、その
停止位置にストップ条件を設定し、再実行指示を被検査
電子計算機に送る制御回路と、停止後内部情報を動作確
認済み電子計算機に転送する転送回路とを有するサービ
スプロセッサによって達成される。
〔作用〕
サービスプロセッサに、マシンチエツクや割込み回階か
らの情報をコード化するた吟の不良コード化の演算回路
と、演算回路で作成されたコードを入力として、再実行
のとき停止するべき位置を算出する停止位置算出回路と
、停止位置算出回路からの停止位置情報を入力とじて、
被検査電子計算機上にコンベアストップを設定し再実行
の指示−を被検査電子計算機に送るためのストップ条件
設定回路と、再実行で停止した後、内部情報を確認済み
電子計算機に転送する内部情報転送回路を設けることに
よし、被検査電子計算機上にて発生した不良の原因を究
明するために、自動的に再実行を行い、原因究明のため
の情報を動作確認済み電子計算機上に転送して不良解析
を支援することができる。
〔実施例〕
以下−本発明の一実施例を図面を用いて詳細に説明する
第1図は、本発明の全体の流れを示した図である。10
1は動作確認を行う被検査電子計算機である。被検査電
子計算機101にて動作確認を行っている時、不良が発
生すると、不良データ102が。
サービスプロセッサ103へ送出される。サービスプロ
セッサ105においてはまず不良のコード化(150)
が行われ、その結果から再実行時刻の算出(152)を
行う。算出された再実行時刻を入力として、停止条件制
御信号104を通じて被検査電子計算機101に停止条
件を設定する( 154 )。
次に、再実行の起動(15,6)として再実行制御信号
105を通して101に再実行を指示する。これ。
を受けて被検査電子計算機101は再実行を行い。
停止条件に従って停止する。停止後はサービスプロセッ
サ105において被電子計算機101の内部情報106
を動作確認済みの電子計算機107に転送する( 15
B )。その内部情報を入力として、論理シ。
ミ為レータやシグナルトレーサなどの不良解析ツールを
用いて不良の原因究明を行う。
次に、第2図を用いて、サービスプロセッサ103の内
部動作例を説明する。被検査電子計算機101から送出
された不良データ102は不良コード化回路(CODE
と呼ぶ)201の入力となる。C0DE 201ではデ
コーダ202を用いて不良データを不良コードに変換す
る。この時、不良データ(例えば、マシンチエツク、異
常処理1割込み0例外処理等)に応じて不良コードを生
成するようにデコーダ202を作成しておく。生成され
た不良コードは線203を通して1時刻算出回路(ST
OPと呼逮)2040入力となる。S T OP 20
4は、再実行のとき遡るべき時刻を格納したメモリ20
5と、不良コードに応じてメモリ205から時刻を選び
出すセレクタ206から構成される。COD E 20
1から送出された不良コードに応じてセレクタ206が
メモリ205から、再実行の時、遡るべき時刻を選び出
し、線207を通して停止・再実行制御回路(SETと
呼ぶ)208の入力となる。S B T 208は。
被検査電子計算機101に遡るべき時刻を送出し。
停止条件を設定する停止条件設定回路209と、設定終
了を受けて被検査電子計算機101に再実行を指示する
再実行指示回路212で構成される。SjOP 204
から送出された時刻を停止条件設定回路209は、線1
04を通して被検査電子計算機101に送出する。被検
査電子計算機101では不良発生時刻から、受取った時
刻を引いた時刻に対してコンベアストップの停止条件を
設定し、線210を通して停止条件の設定が終了したこ
とを伝える。それを受けて停止条件設定回路209は、
線211t−通して設定が終了したことを再実行指示回
路212に伝する。再実行指示回路212は直ちに被検
査電子計算機101に線105を通して再実行を指示す
る。被検査電子計算機IQI Kて再実行が行われ停止
条件に従って停止した後、線214を通して転送制御回
路(SENDと呼))213Vc起動カカカル。SEN
 D 213は、転送を制御する制御回路215と、被
検査電子計算機101の内部情報106を動作確認済み
電子計算機107に転送する転送回路217で構成され
る。制御回路215は、線214を通して再実行の終了
を受けた後、M216を通して転送回路2171に内部
情報106の転送を指示する。これを受けて。
転送回路217では、予じめ登録されていた被検査電子
計算機101の内部情報106を動作確認済み電子計算
機107に転送する。この内部情報を入力として動作確
認済み電子計算機107で不良の原因究明を行なう。
第3図に動作N認済み電子計算機の動作例を示す。動作
確認済み電子計算機107において転送された被検査電
子計算機101の内部情報は、第4図で示すようなスキ
ャンアドレス450と信号値451の形で入力される(
 350 )。そのデータと、*検”青電子計算機10
1の設計時に用いた設計ファイル・557i、スキャン
アドレスにてマツチングを行う(351)。一致するス
キャンアドレスが存在する・場合は、その信号値451
を設計ファイル557の初期値とする( 354 )。
一致しない場合は、再実行を別のポイントで行い、別の
内部情報を採取する。
(555)。この場合の再実行は操作者の設定となる。
初期値をもった設計ファイルを用いて論理シミュレーシ
ョンを実行しく 355 ) 、不良の解析を行5 (
556)。これによって被検査電子計算機内101では
LSIの内部信号のために直接確認のできない波形につ
いても論理シミュレーション上では表示可能となり、不
良の原因追跡を容易に行うことができる。
次に、第5図において、被検査電子計算機101内での
再実行の時刻設定を説明する。SE T 20B。
より送出されたデータを線104から入力しレジスタ3
01にセットする。予じめレジスタ502にセットされ
た不良発生時刻を線304を通して減算器3o5−に入
力する。減算器305ではその値から線503を通して
入力したレジスタ501のさかのぼるべき時刻を減算し
、結果をレジスタ307にセットする。線308を通し
てレジスタ307の再実行時刻を入力とし、コンベアス
トップ設定回路309で設定を行う。設定が終了した後
、線210を通して終了が報告される。
本実施例では、不良の種類で必ず再実行すべき時刻が定
まることを前提としている。これは、従来機種の経験よ
り、不良の種類ごとにメモリ205内に遡る時刻を予じ
めレジスタ501に設定しておく。
さらに、第7図を用いて被検査電子計算機101内の再
実行の時刻設定の具体例を説明する。被検査電子計算機
101で「フェー・テ系にて命令例外発。
生」が検出された場合を例にとる。ただちに命令例外を
不良コード化回路(CODE)201に伝播する( 6
01 )。ここでは、命令例外を不良コードに変換する
( 602 )。これKよって[フェッチ系にて命令例
外発生」は、不良コード「100 oJになる。不良コ
ード「1000Jを時刻算出回路(STOP)204に
伝播し、ここで、遡る時刻を一算出する( 605 )
。これによって不良コード「1000」は「5サイクル
遡る。」になる。これをうけて停止再実行制御回路(S
ET)2o8では。
まず被検査電子計算機上にて現在実行中の命令列。
を入力し、「5サイクル遡る」場合に実行されている命
令を確認して、この命令のアドレスに、アドレスコンベ
アストップを設定する。これによっ。
て「5サイクル遡る」条件は、命令のアドレスコンベア
ストップになる。次に、命令の最初の命令をPSWにセ
ットする( +504 )。その状態から命令列を再実
行するとアドレスコンベアストップの条件が成立する命
令のアドレスで被検査電子計算機101はストップする
( 605 )。この状態では、まだ「命令例外」は発
生していない。この状態の内部情報を転送制御回路(S
 END ) 213で動作確認済み電子計算機107
に送出する( 606 )。転送された内部情報を利用
して動作確認済み電子計算機107上では論理シミュレ
ーションを用いて。
ストップした命令から5サイクルをシミツレ−ジョン上
にて実行させ゛ると、5サイクル後に[フェッチ系にて
命令例外」が発生する。この状態になるための不良を究
明する。
一方、不良の種類によっては1時刻ではなく。
不良原因に起因した条件のみがわかる場合もある・。
これを第6図を用いて説明する。線207を通して停止
条件設定回路209に入力され九条件は条件解析回路4
01において、まず具体的な信号にして線104を通し
て被検査電子計算機101に送出される。
被検査電子計算機101においてはセパレータ405を
介してセレクタ404に入力され、被検査論理405か
ら逐次送出されるログデータを線409を介して。
選択し、線210を通して逐次停止条件設定回路20?
に送出される準備を行う。次に線211を通して再実行
を指示すると線210を通して逐次停止条件設定回路2
09に必要な信号のログデータが送られる。。
そこで条件解析回路401ではそれらの信号が変化すべ
き条件を線407t−通して比較器402に入力し、。
比較器402において信号のログデータと条件の比較を
行い、成立した場合は、線104を通して被検量電子計
算機101に送出する。不成立の場合は次のログデータ
を受は取る。成立した情報は被検査電子計算機101に
おいてセパレータ4051に介シストツブ回路406に
入力され、線408を通して停止が被検査論理405に
指示されて停止する。停止した後、線210を通して停
止条件設定回路209に報告される。
本実施例によれば、被検量電子計算機の動作確認中に発
生した不良について、原因究明が可能と思われる時刻又
は条件まで遡って再実行を行い。
内部情報を動作確認済み電子計算機に転送し、論理シミ
ユレータやシグナルトレーサ等の不良解析ツール等を用
いて原因究明をすることができる。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかなように1本発明によれば、被検
査電子計算機の動作確認中に発生した不。
良について、原因究明が可能と思われる位置まで迅やか
に再実行を行い、内部情報を動作確認済み電子計算機上
に転送し、不良解析ツールを用いて原因究明を行うこと
ができるので、動作確認のための実機調整期間が短縮さ
れるという効果がある−0
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の全体の概念を示す図、第2図はサービ
スプロセッサの内部処理と構成例を示す図、第3図は動
作確認済み電子計算機の処理を示すフローチャート、第
4図被検査電子計算機の内部情報のフォーマットを示す
図、第5図は被検査電子計算機内の再実行の時刻設定を
説明するための図、第6図は被検査電子計算機内の再実
行の条件設定を説明するための図、第7図は第5図の具
体例を説明するための図である。 101・・・被検査電子計算機、102・・・不良デー
タ。 103・・・サービスプロセッサ、107・・・動作確
認済みの電子計算機、201・・・不良コード化回路、
202・・・デコーダ、204・・・時刻算出回路、2
05・・・時刻格納メモリ、206・・・セレクタ、2
08・・・停止・再実行制御回路、209・・・停止条
件設定回路、212・・・再実行指示回路、215・・
・転送制御回路、215・・・制御回路。 217・・・転送回路、501. 502. 307・
・・レジスタ。 305・・・減算器、309・・・コンベアストップ設
定回路。 401・・・条件解析回路、402・・・比較器、40
5・・・セパレータ、404・・・セレクタ、405・
・・被検査論理。 406・・・ストップ回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、動作確認を行う被検査電子計算機において、動作確
    認中に不良を検出した時、該検出した不良内容に応じて
    不良を解析するために必要な動作の再実行を行い、前記
    被検査電子計算機の内部情報を動作確認済み電子計算機
    に転送する手段を具備し、前記動作確認済み電子計算機
    において、前記被検査電子計算機の不良解析を支援する
    ことを特徴とする電子計算機調整不良解析支援システム
JP62253653A 1987-10-09 1987-10-09 電子計算機調整不良解析支援システム Expired - Lifetime JP2523692B2 (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03245071A (ja) * 1990-02-23 1991-10-31 Fujitsu Ltd 試験装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS49121450A (ja) * 1973-03-19 1974-11-20
JPS556672A (en) * 1978-06-30 1980-01-18 Fujitsu Ltd Data processing system with service processor

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