JPH0194271A - アシンメトリ測定装置 - Google Patents
アシンメトリ測定装置Info
- Publication number
- JPH0194271A JPH0194271A JP62251969A JP25196987A JPH0194271A JP H0194271 A JPH0194271 A JP H0194271A JP 62251969 A JP62251969 A JP 62251969A JP 25196987 A JP25196987 A JP 25196987A JP H0194271 A JPH0194271 A JP H0194271A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 9
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
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- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
フロッピーディスクドライブの試験装置に関し、短時間
内に能率良く測定でき信顛性の高いアシンメトリ測定装
置を提供することを目的とし、磁気ヘッドによる再生出
力のピーク値を示す点を境界として、前半の時間値と後
半の時間値をそれぞれ検出することによって、波形非対
称性即ちアシンメトリを測定する試験装置であって、時
間値をそれぞれ検出する2系統の計時回路4と、基準と
なるクロックパルスを計時回路4に入力する基準パルス
発生回路5と、減算回路61と最大時間差算出回路62
からなる時間差算出回路6を具え、且つピーク値検出回
路41とFF回路42とAND回路43とカウンタ回路
44とで計時回路4を構成する。
内に能率良く測定でき信顛性の高いアシンメトリ測定装
置を提供することを目的とし、磁気ヘッドによる再生出
力のピーク値を示す点を境界として、前半の時間値と後
半の時間値をそれぞれ検出することによって、波形非対
称性即ちアシンメトリを測定する試験装置であって、時
間値をそれぞれ検出する2系統の計時回路4と、基準と
なるクロックパルスを計時回路4に入力する基準パルス
発生回路5と、減算回路61と最大時間差算出回路62
からなる時間差算出回路6を具え、且つピーク値検出回
路41とFF回路42とAND回路43とカウンタ回路
44とで計時回路4を構成する。
本発明はフロッピーディスクドライブ(FDDと称する
)の試験装置に係り、特に再生出力の波形非対称性即ち
アシンメトリを測定する装置に関する。
)の試験装置に係り、特に再生出力の波形非対称性即ち
アシンメトリを測定する装置に関する。
可撓性のある記憶媒体を用いたフロッピーディスク装置
の主要部であるFDDにおいて、磁気ヘッドは信号“1
゛を読み取るコイルと信号゛0゛を読み取るコイルとを
具えており、信号“1゛を表す出力波形(SLと称する
)と信号“0゛を表す出力波形(Soと称する)とが、
それぞれのコイル特性の差異により形状に若干の相違点
がある。
の主要部であるFDDにおいて、磁気ヘッドは信号“1
゛を読み取るコイルと信号゛0゛を読み取るコイルとを
具えており、信号“1゛を表す出力波形(SLと称する
)と信号“0゛を表す出力波形(Soと称する)とが、
それぞれのコイル特性の差異により形状に若干の相違点
がある。
第3図はアシンメトリの説明図である。
第3図において例えば°1°と“O゛とが交互に配列さ
れた情報を読み取ると、磁気ヘッドからの出力信号は第
3図■に示す如<31とSOが交互に現れる。しかしS
lとSOとは共に左右対称になっていないことがありS
lとSOとで形状が異なると、磁気ヘッドの出力信号か
ら得られる第3図■に示すリードパルスデータにおいて
、Slのピークを示すパルスとSOのピークを示すパル
スとの時間的間隔T1と、SOのピークを示すパルスと
81のピークを示すパルスとの時間的間隔T2との間に
差が生じる。この時間差をアシンメトリと称し予め設定
されている基準値を超えると、情報の転送等を行ってい
る過程でパルス信号の配列が乱れ全く異なる情報に変化
するという障害が発生する。
れた情報を読み取ると、磁気ヘッドからの出力信号は第
3図■に示す如<31とSOが交互に現れる。しかしS
lとSOとは共に左右対称になっていないことがありS
lとSOとで形状が異なると、磁気ヘッドの出力信号か
ら得られる第3図■に示すリードパルスデータにおいて
、Slのピークを示すパルスとSOのピークを示すパル
スとの時間的間隔T1と、SOのピークを示すパルスと
81のピークを示すパルスとの時間的間隔T2との間に
差が生じる。この時間差をアシンメトリと称し予め設定
されている基準値を超えると、情報の転送等を行ってい
る過程でパルス信号の配列が乱れ全く異なる情報に変化
するという障害が発生する。
かかる障害を無くすためにそれぞれのFDDについて、
磁気ヘッドの出力信号から得られる時間的間隔TIとT
2とを測定し、アシンメトリが基準値内に収まるように
調整しているが、オシロスコープを用いてリードパルス
データの間隔を検出し、その差を人手によって算出する
方法は測定に多くの時間を要し信頼性に欠ける。そこで
アシンメトリを短時間内に能率良く測定でき、しかも信
頼性の高いアシンメトリ測定装置の実現が望まれている
。
磁気ヘッドの出力信号から得られる時間的間隔TIとT
2とを測定し、アシンメトリが基準値内に収まるように
調整しているが、オシロスコープを用いてリードパルス
データの間隔を検出し、その差を人手によって算出する
方法は測定に多くの時間を要し信頼性に欠ける。そこで
アシンメトリを短時間内に能率良く測定でき、しかも信
頼性の高いアシンメトリ測定装置の実現が望まれている
。
第4図は従来のアシンメトリ測定方法を示すブロック図
である。
である。
第4図においてFDDテスク1から記憶媒体21を装着
したFDD2に信号を送出し、記憶媒体21に書き込ま
れているコードAAを磁気へ・7ド22によって読み出
して、その出力信号を波形変換回路23でリードパルス
データに変換しオシロスコープ3に入力する。
したFDD2に信号を送出し、記憶媒体21に書き込ま
れているコードAAを磁気へ・7ド22によって読み出
して、その出力信号を波形変換回路23でリードパルス
データに変換しオシロスコープ3に入力する。
コードAAとは“1゛ と“0゛ とが交互に配列され
た信号で、磁気ヘッド22から第3図■に示す波形の信
号が出力され、波形変換回路23で第3図■に示すリー
ドパルスデータに変換される。オシロスコープ3の上で
このリードパルスデータにおける時間的間隔TIとT2
を読み取り、その差を求めることによってアシンメトリ
を算出することができる。
た信号で、磁気ヘッド22から第3図■に示す波形の信
号が出力され、波形変換回路23で第3図■に示すリー
ドパルスデータに変換される。オシロスコープ3の上で
このリードパルスデータにおける時間的間隔TIとT2
を読み取り、その差を求めることによってアシンメトリ
を算出することができる。
しかしSlのピークを示すパルスとSOのピークを示す
パルスとの間隔T+、およびSOのピークを示すパルス
と81のピークを示すパルスとの間隔T2を、オシロス
コープ3の上で読み取りアシンメトリを算出する方法は
、オシロスコープ上に表示される画像が絶えず揺れてい
るため、測定ポイントが定まらず測定に多くの時間と習
熟を必要とし、しかも測定誤差や個人差が多く含まれ信
頼性に欠けるという問題があった。
パルスとの間隔T+、およびSOのピークを示すパルス
と81のピークを示すパルスとの間隔T2を、オシロス
コープ3の上で読み取りアシンメトリを算出する方法は
、オシロスコープ上に表示される画像が絶えず揺れてい
るため、測定ポイントが定まらず測定に多くの時間と習
熟を必要とし、しかも測定誤差や個人差が多く含まれ信
頼性に欠けるという問題があった。
第1図は本発明になるアシンメトリ測定装置を示すブロ
ック図である。なお全図を通し同じ対象物は同一記号で
表している。
ック図である。なお全図を通し同じ対象物は同一記号で
表している。
上記問題点は磁気ヘッドによる再生出力のピーク値を示
す点を境界として、前半の時間値と後半の時間値をそれ
ぞれ検出することによって、波形非対称性即ちアシンメ
トリを測定する試験装置であって、時間値をそれぞれ検
出する2系統の計時回路4と、基準となるクロックパル
スを計時回路4に入力する基準パルス発生回路5と、減
算回路61と最大時間差算出回路62からなる時間差算
出回路6を具え、且つピーク値検出回路41とFF回路
42とAND回路43とカウンタ回路44とで、計時回
路4を構成してなる本発明のアシンメトリ測定装置によ
って解決される。
す点を境界として、前半の時間値と後半の時間値をそれ
ぞれ検出することによって、波形非対称性即ちアシンメ
トリを測定する試験装置であって、時間値をそれぞれ検
出する2系統の計時回路4と、基準となるクロックパル
スを計時回路4に入力する基準パルス発生回路5と、減
算回路61と最大時間差算出回路62からなる時間差算
出回路6を具え、且つピーク値検出回路41とFF回路
42とAND回路43とカウンタ回路44とで、計時回
路4を構成してなる本発明のアシンメトリ測定装置によ
って解決される。
第1図において81のピークを示す点からs。
のピークを示す点までの間に、2系統の計時回路4の一
方4Aを構成するカウンタ44Aに入力される、クロッ
クパルスを計数することによって間隔TIが検出され、
SOのピークを示す点から81のピークを示す点までの
間に、2系統の計時回路4の他方4Bを構成するカウン
タ44Bに入力される、クロックパルスを計数すること
によって間隔T2が検出され、時間差算出回路6におい
て間隔TIと間隔T2の差の最大値、即ちアシンメトリ
の最大値が自動的に算出される。
方4Aを構成するカウンタ44Aに入力される、クロッ
クパルスを計数することによって間隔TIが検出され、
SOのピークを示す点から81のピークを示す点までの
間に、2系統の計時回路4の他方4Bを構成するカウン
タ44Bに入力される、クロックパルスを計数すること
によって間隔T2が検出され、時間差算出回路6におい
て間隔TIと間隔T2の差の最大値、即ちアシンメトリ
の最大値が自動的に算出される。
即ちデータの収集から演算、表示までの作業を自動化し
、測定時間の短縮と信頼性の向上を実現することができ
る。
、測定時間の短縮と信頼性の向上を実現することができ
る。
以下添付図により本発明の実施例について説明する。な
お第2図は動作を説明するためのタイムチセードである
。
お第2図は動作を説明するためのタイムチセードである
。
第1図においてFDDテスタ1から記憶媒体21を装着
したFDD2に信号を送出して、磁気ヘッド22により
記憶媒体21に書き込まれているコードAAを読み出し
、磁気ヘッド22からの出力信号を本発明になるアシン
メトリ測定装置に入力する。
したFDD2に信号を送出して、磁気ヘッド22により
記憶媒体21に書き込まれているコードAAを読み出し
、磁気ヘッド22からの出力信号を本発明になるアシン
メトリ測定装置に入力する。
磁気ヘッド22からアシンメトリ測定装置に入力される
信号は、第2図■に示す如くSlとSOが交互に現れる
信号であり、本発明になるアシンメトリ測定装置は2系
統の計時回路4A、4Bを具えていて、計時回路4Aを
構成するピーク値検出回路41Aでは信号S1のピーク
値が、また計時回路4Bを構成するピーク値検出回路4
1Bでは信号SOのピーク値が検出される。
信号は、第2図■に示す如くSlとSOが交互に現れる
信号であり、本発明になるアシンメトリ測定装置は2系
統の計時回路4A、4Bを具えていて、計時回路4Aを
構成するピーク値検出回路41Aでは信号S1のピーク
値が、また計時回路4Bを構成するピーク値検出回路4
1Bでは信号SOのピーク値が検出される。
ピーク値検出回路41Aにおいて信号S1のピーク値が
検出されると、ピーク値検出回路41Aから第2図■に
示す如くパルス信号が出力され、そのパルス信号によっ
てフリップフロップ(FFと称する)回路42Aの出力
が、第2図■に示す如く低レベルLから高レベルHに反
転し、同時に第2図■に示す如<FF回路42Bの出力
がHからLに反転する。
検出されると、ピーク値検出回路41Aから第2図■に
示す如くパルス信号が出力され、そのパルス信号によっ
てフリップフロップ(FFと称する)回路42Aの出力
が、第2図■に示す如く低レベルLから高レベルHに反
転し、同時に第2図■に示す如<FF回路42Bの出力
がHからLに反転する。
一方ピーク値検出回路41Bにおいて信号SOのピーク
値が検出されると、ピーク値検出回路41Bから第2図
■に示す如くパルス信号が出力され、そのパルス信号に
よってFF回路42Bの出力が第2図■に示す如(Lか
らHに反転し、同時に第2図■に示す如<FF回路42
Aの出力がHからLに反転する。
値が検出されると、ピーク値検出回路41Bから第2図
■に示す如くパルス信号が出力され、そのパルス信号に
よってFF回路42Bの出力が第2図■に示す如(Lか
らHに反転し、同時に第2図■に示す如<FF回路42
Aの出力がHからLに反転する。
時間値を検出する基準となるクロックパルスは基準パル
ス発生回路5から、それぞれAND回路43Aと43B
を介してカウンタ44Aと44Bに入力されており、F
F回路42Aの出力がHレベルにある間は第2図■に示
す如くカウンタ44Aが、FF回路42Bの出力がHレ
ベルにある間は第2図■に示す如くカウンタ44Bが、
それぞれ基準パルス発生回路5から出力されるクロック
パルスを計数する。
ス発生回路5から、それぞれAND回路43Aと43B
を介してカウンタ44Aと44Bに入力されており、F
F回路42Aの出力がHレベルにある間は第2図■に示
す如くカウンタ44Aが、FF回路42Bの出力がHレ
ベルにある間は第2図■に示す如くカウンタ44Bが、
それぞれ基準パルス発生回路5から出力されるクロック
パルスを計数する。
信号S1のピーク値が検出されてから信号SOのピーク
値が検出されるまでの、換言すれば再生出力のピーク値
を示す点を境界として前半の時間値T1が、カウンタ4
4Aが計数したクロックパルス数によって表され、信号
SOのピーク値が検出されてから信号S1のピーク値が
検出されるまでの、換言すれば再生出力のピーク値を示
す点を境界として後半の時間値T2が、カウンタ44B
が計数したクロックパルス数によって表される。
値が検出されるまでの、換言すれば再生出力のピーク値
を示す点を境界として前半の時間値T1が、カウンタ4
4Aが計数したクロックパルス数によって表され、信号
SOのピーク値が検出されてから信号S1のピーク値が
検出されるまでの、換言すれば再生出力のピーク値を示
す点を境界として後半の時間値T2が、カウンタ44B
が計数したクロックパルス数によって表される。
カウンタ44A、44Bにおける計数値をそれぞれ時間
差算出回路6に入力し、減算回路61において二つの時
間値の差を算出すると共に、最大時間差算出回路62に
おいて時間値の差の最大値を算出する。この時間値の差
の最大値がこのFDDにおけるアシンメトリを表す。
差算出回路6に入力し、減算回路61において二つの時
間値の差を算出すると共に、最大時間差算出回路62に
おいて時間値の差の最大値を算出する。この時間値の差
の最大値がこのFDDにおけるアシンメトリを表す。
このように磁気ヘッドによる再生出力のピーク値を示す
点を境界として、前半の時間値と後半の時間値をそれぞ
れ検出し演算することによって、データの収集から演算
までの作業を自動化すると共に、測定時間の短縮と信頼
性の向上を実現することができる。
点を境界として、前半の時間値と後半の時間値をそれぞ
れ検出し演算することによって、データの収集から演算
までの作業を自動化すると共に、測定時間の短縮と信頼
性の向上を実現することができる。
上述の如く本発明によれば短時間内に能率良く測定でき
、しかも信転性の高いアシンメトリ測定装置を提供する
ことができる。
、しかも信転性の高いアシンメトリ測定装置を提供する
ことができる。
第1図は本発明になるアシンメトリ測定装置を示すブロ
ック図、 第2図は動作を説明するためのタイムチャート、第3図
はアシンメトリの説明図、 第4図は従来のアシンメトリ測定方法を示すブロック図
、 である。図において 1はFDDテスタ、 2はFDD。 4.4A、4Bは計時回路、 5は基準パルス発生回路、 6は時間差算出回路、 21は記憶媒体、 22は磁気ヘッド、 41.41A、41Bはピーク値検出回路、42.42
A、42BはFF回路、 43.43A、43BはAND回路、 44.44A、44Bはカウンタ回路、61は減算回路
、 62は最大時間差算出回路、 をそれぞれ表す。
ック図、 第2図は動作を説明するためのタイムチャート、第3図
はアシンメトリの説明図、 第4図は従来のアシンメトリ測定方法を示すブロック図
、 である。図において 1はFDDテスタ、 2はFDD。 4.4A、4Bは計時回路、 5は基準パルス発生回路、 6は時間差算出回路、 21は記憶媒体、 22は磁気ヘッド、 41.41A、41Bはピーク値検出回路、42.42
A、42BはFF回路、 43.43A、43BはAND回路、 44.44A、44Bはカウンタ回路、61は減算回路
、 62は最大時間差算出回路、 をそれぞれ表す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 磁気ヘッドによる再生出力のピーク値を示す点を境界と
して、前半の時間値と後半の時間値をそれぞれ検出する
ことによって、波形非対称性即ちアシンメトリを測定す
る試験装置であって、該時間値をそれぞれ検出する2系
統の計時回路(4)と、基準となるクロックパルスを該
計時回路(4)に入力する基準パルス発生回路(5)と
、減算回路(61)と最大時間差算出回路(62)から
なる時間差算出回路(6)を具え、 且つピーク値検出回路(41)とFF回路(42)とA
ND回路(43)とカウンタ回路(44)とで、該計時
回路(4)を構成してなることを特徴とするアシンメト
リ測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62251969A JPH0194271A (ja) | 1987-10-06 | 1987-10-06 | アシンメトリ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62251969A JPH0194271A (ja) | 1987-10-06 | 1987-10-06 | アシンメトリ測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0194271A true JPH0194271A (ja) | 1989-04-12 |
Family
ID=17230688
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62251969A Pending JPH0194271A (ja) | 1987-10-06 | 1987-10-06 | アシンメトリ測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0194271A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6194895B1 (en) | 1998-04-17 | 2001-02-27 | Nec Corporation | Asymmetry measuring apparatus and method |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60137124A (ja) * | 1983-12-26 | 1985-07-20 | Mitsubishi Electric Corp | ピ−ク位置検出装置 |
-
1987
- 1987-10-06 JP JP62251969A patent/JPH0194271A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60137124A (ja) * | 1983-12-26 | 1985-07-20 | Mitsubishi Electric Corp | ピ−ク位置検出装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6194895B1 (en) | 1998-04-17 | 2001-02-27 | Nec Corporation | Asymmetry measuring apparatus and method |
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