JPS62298783A - オ−バライト特性測定装置 - Google Patents
オ−バライト特性測定装置Info
- Publication number
- JPS62298783A JPS62298783A JP14256986A JP14256986A JPS62298783A JP S62298783 A JPS62298783 A JP S62298783A JP 14256986 A JP14256986 A JP 14256986A JP 14256986 A JP14256986 A JP 14256986A JP S62298783 A JPS62298783 A JP S62298783A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 24
- 208000017227 ADan amyloidosis Diseases 0.000 description 17
- 201000000194 ITM2B-related cerebral amyloid angiopathy 2 Diseases 0.000 description 17
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 6
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 6
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 2
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- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
３、発明の詳細な説明
〔概 要〕
オーバライト特性の測定に用いているスペクトラムアナ
ライザは、操作が複雑で習熟を要し測定に長い時間を必
要とする。そこで専用の測定装置を開発することによっ
て操作の単純化と測定時間の短縮を図ったものである。
ライザは、操作が複雑で習熟を要し測定に長い時間を必
要とする。そこで専用の測定装置を開発することによっ
て操作の単純化と測定時間の短縮を図ったものである。
本発明はフロッピーディスクドライブ（ＦＤＤと称する
）の試験装置に係り、特にＦＤＤのオーバライト特性を
測定する装置に関する。
）の試験装置に係り、特にＦＤＤのオーバライト特性を
測定する装置に関する。
ＦＤＤはイニシャライズ（Ｉｎｉｔｉａｌｉｚａｔｉｏ
ｎ）により記録された信号の上に重ねてデータを記録し
たり、再使用や記録間違いの修正等のためにデータを重
ね書き（オーバライト）を行うので、前に記録したデー
タが十分に消去されないと読み出しエラーの原因になる
。
ｎ）により記録された信号の上に重ねてデータを記録し
たり、再使用や記録間違いの修正等のためにデータを重
ね書き（オーバライト）を行うので、前に記録したデー
タが十分に消去されないと読み出しエラーの原因になる
。
したがってＦＤＤの試験においてオーバライト特性の測
定は重要な試験の一つである。
定は重要な試験の一つである。
第２図はオーバライト特性の測定原理を示す図である。
第２図（ａｌは１ｆ信号で１″ と“０゛が交互に並ん
でおり、フロッピーディスクに書き込んだ信号がオーバ
ライトの影響を受けなければ、それを読み出したときに
第２図ｔｃ＋に示す再生出力が得られる。また第２図（
ｂｌは２ｒ信号で“１゛が連続して並んでおり、フロッ
ピーディスクに書き込んだ信号がオーバライトの影響を
受けなければ、それを読み出したときに第２図ｆｄｌに
示す再生出力が得られる。
でおり、フロッピーディスクに書き込んだ信号がオーバ
ライトの影響を受けなければ、それを読み出したときに
第２図ｔｃ＋に示す再生出力が得られる。また第２図（
ｂｌは２ｒ信号で“１゛が連続して並んでおり、フロッ
ピーディスクに書き込んだ信号がオーバライトの影響を
受けなければ、それを読み出したときに第２図ｆｄｌに
示す再生出力が得られる。
しかし１ｆ信号の上に２ｆ信号を重ね書きすると前の１
ｆ信号が完全に消去されず、第２図（ｅｌに示す如＜２
ｆ信号が前の１ｆ信号の影響を受ける。
ｆ信号が完全に消去されず、第２図（ｅｌに示す如＜２
ｆ信号が前の１ｆ信号の影響を受ける。
オーバライト特性はこの１ｆ信号の残存出力レベルと、
１ｆ信号の比率で規定されており次式により算出される
。
１ｆ信号の比率で規定されており次式により算出される
。
ｅ ＝２０ｊ！ｏｇ （Ｖ２ ／ Ｖｌ ） （ｄｂ
）式中■１は第２図（Ｃ１に示す如くフロッピーディス
クに１ｆ信号を書き込み、それを読み出したときの再生
出力電圧（蒸出力レベルと称する）である。またＶ２は
２ｆ信号を書き込みそれを読み出したときの第２図（ｄ
ｌに示す再生出力電圧■３と、１ｆ信号の上に２ｆ信号
を重ね書きし読み出したときの第２図（ｅ）に示す再生
出力電圧ｖ４との差、即ち再生出力電圧Ｖ４から２ｒ信
号成分を除去した残存出力レベルである。
）式中■１は第２図（Ｃ１に示す如くフロッピーディス
クに１ｆ信号を書き込み、それを読み出したときの再生
出力電圧（蒸出力レベルと称する）である。またＶ２は
２ｆ信号を書き込みそれを読み出したときの第２図（ｄ
ｌに示す再生出力電圧■３と、１ｆ信号の上に２ｆ信号
を重ね書きし読み出したときの第２図（ｅ）に示す再生
出力電圧ｖ４との差、即ち再生出力電圧Ｖ４から２ｒ信
号成分を除去した残存出力レベルである。
上式で求められる値ｅは一２６ｄｂを境界としてこれよ
り小さい程オーバライト特性に優れ、これより大きいと
オーバライト特性不良と判定される。
り小さい程オーバライト特性に優れ、これより大きいと
オーバライト特性不良と判定される。
第３図は従来の測定装置を示すブロック図である。
図においてＦＤＤテスタ１からＦＤＤ２に書き込み命令
と１ｒ信号を送出し、フロッピーディスク２１に１ｆ信
号を書き込んだ後この信号を読み出す。次いでＦＤＤテ
スタ１からＦＤＤ２に書き込み命令と２ｒ信号を送出し
、前の１ｆ信号の上に２ｆ信号を重ね書きした後この信
号を読み出す。
と１ｒ信号を送出し、フロッピーディスク２１に１ｆ信
号を書き込んだ後この信号を読み出す。次いでＦＤＤテ
スタ１からＦＤＤ２に書き込み命令と２ｒ信号を送出し
、前の１ｆ信号の上に２ｆ信号を重ね書きした後この信
号を読み出す。
この二つの再生出力はそれぞれ磁気ヘッド２２がらＦＤ
Ｄ２に内蔵された増幅回路２３を経由して、スペクトラ
ムアナライザ３に入力され波形が測定器の画面に表示さ
れる。
Ｄ２に内蔵された増幅回路２３を経由して、スペクトラ
ムアナライザ３に入力され波形が測定器の画面に表示さ
れる。
スペクトラムアナライザ３の画面から蒸出力レベルＶｌ
と残存出力レベルｖ２を読み取り、上記の式を用いて
そのＦＤＤにおけるオーバライト特性を算出する。
と残存出力レベルｖ２を読み取り、上記の式を用いて
そのＦＤＤにおけるオーバライト特性を算出する。
スペクトラムアナライザは多くの機能を具えており、付
属のキーボードを介して命令を入力することによって、
各種の測定器として利用できるように設計されているが
、測定の都度測定対象とする周波数や、検出項目、表示
レベル等を、キーボードを介して入力する必要があり操
作が複雑で、数多くのＦＤＤを短い時間の間に試験する
工場用の測定装置には適さない。また表示された波形か
ら再生出力を読み取ってオーバライト特性を算出しなけ
ればならない等測定に長い時間を必要とする。しかも読
み取り誤差や個人差が多く含まれるために信頼性に欠け
るという問題があった。
属のキーボードを介して命令を入力することによって、
各種の測定器として利用できるように設計されているが
、測定の都度測定対象とする周波数や、検出項目、表示
レベル等を、キーボードを介して入力する必要があり操
作が複雑で、数多くのＦＤＤを短い時間の間に試験する
工場用の測定装置には適さない。また表示された波形か
ら再生出力を読み取ってオーバライト特性を算出しなけ
ればならない等測定に長い時間を必要とする。しかも読
み取り誤差や個人差が多く含まれるために信頼性に欠け
るという問題があった。
第１図は本発明になるオーバライト特性測定装置を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
上記問題点は多くの機能を具えあらゆる用途に利用でき
るように設計された測定器を用いたため生じたもので、
１ｆ信号を書き込んだフロッピーディスクから得られる
再生出力のピーク値を検出し、そのピーク値を蒸出力レ
ベルとして保持する第１の検出回路４と、１ｆ信号に２
ｆ信号を重ね書きしてなる信号を読み出し、その再生出
力から２ｆ信号成分を除去した後の再生出力のピーク値
を検出し、残存出力レベルとして保持する第２の検出回
路５と、蒸出力レベルと残存出力レベルの比率を算出し
表示する演算回路６とを、具備してなる本発明のオーバ
ライト特性測定装置によって解決される。
るように設計された測定器を用いたため生じたもので、
１ｆ信号を書き込んだフロッピーディスクから得られる
再生出力のピーク値を検出し、そのピーク値を蒸出力レ
ベルとして保持する第１の検出回路４と、１ｆ信号に２
ｆ信号を重ね書きしてなる信号を読み出し、その再生出
力から２ｆ信号成分を除去した後の再生出力のピーク値
を検出し、残存出力レベルとして保持する第２の検出回
路５と、蒸出力レベルと残存出力レベルの比率を算出し
表示する演算回路６とを、具備してなる本発明のオーバ
ライト特性測定装置によって解決される。
第１図において蒸出力レベルと残存出力レベルをそれぞ
れ保持する回路と、オーバライト特性を算出し表示する
回路とで専用の測定装置を構成することによって、デー
タの収集からオーバライト特性算出まで自動化し、操作
の単純化と測定時間の短縮を実現すると共に、読み取り
誤差や個人差を無くし信頼正を向上させることができる
。
れ保持する回路と、オーバライト特性を算出し表示する
回路とで専用の測定装置を構成することによって、デー
タの収集からオーバライト特性算出まで自動化し、操作
の単純化と測定時間の短縮を実現すると共に、読み取り
誤差や個人差を無くし信頼正を向上させることができる
。
以下第１図により本発明の実施例について詳細に説明す
る。なお企図を通し同じ対象物は同一記号で表している
。
る。なお企図を通し同じ対象物は同一記号で表している
。
図においてＦＤＤテスタｌからＦＤＤ２に書き込み命令
と１ｆ信号を送出し、フロンピーディスク２１に１ｆ信
号を書き込んだ後この信号を読み出す。次いでＦＤＤテ
スタ１からＦＤＤ２に書き込み命令と２１信号を送出し
、前の１ｆ信号の上に２ｆ信号を重ね書きした後この信
号を読み出す。
と１ｆ信号を送出し、フロンピーディスク２１に１ｆ信
号を書き込んだ後この信号を読み出す。次いでＦＤＤテ
スタ１からＦＤＤ２に書き込み命令と２１信号を送出し
、前の１ｆ信号の上に２ｆ信号を重ね書きした後この信
号を読み出す。
二つの再生出力はそれぞれ磁気ヘッド２２からＦＤＤ２
に内蔵された増幅回路２３を経由して、本発明になるオ
ーバライト特性測定装置に入力される。
に内蔵された増幅回路２３を経由して、本発明になるオ
ーバライト特性測定装置に入力される。
本発明になるオーバライト特性測定装置は、１ｆ信号を
書き込んだフロッピーディスクから得られる再生出力Ｖ
ｌｆを入力する第１の検出回路４と、１ｆ信号に２ｆ信
号を重ね書きしてなる信号を読み出したときの再生出力
Ｖ２ｆを入力する第２の検出回路５と、オーバライト特
性を算出し表示する演算回路６とを具えている。
書き込んだフロッピーディスクから得られる再生出力Ｖ
ｌｆを入力する第１の検出回路４と、１ｆ信号に２ｆ信
号を重ね書きしてなる信号を読み出したときの再生出力
Ｖ２ｆを入力する第２の検出回路５と、オーバライト特
性を算出し表示する演算回路６とを具えている。
再生出力Ｖｌｆが入力されると第１の検出回路４は、ピ
ーク値検出回路４１によってピーク値を検出しそれを願
出力レベルＶｌとして保持する。また再生出力Ｖ２ｆが
入力されると第２の検出回路５は、バンドパスフィルタ
５１によって再生出力Ｖ２ｆから２ｆ信号成分を除去し
た後、ピーク値検出回路５２によってピーク値を検出し
それを残存出力レベル■２として保持する。なお検出回
路４の切換回路４２および検出回路５の切換回路５３は
、図示していない電磁継電器に組み込まれている切換回
路で、再生出力を検出回路４または検出回路５のいずれ
か一方に入力するためのものである。
ーク値検出回路４１によってピーク値を検出しそれを願
出力レベルＶｌとして保持する。また再生出力Ｖ２ｆが
入力されると第２の検出回路５は、バンドパスフィルタ
５１によって再生出力Ｖ２ｆから２ｆ信号成分を除去し
た後、ピーク値検出回路５２によってピーク値を検出し
それを残存出力レベル■２として保持する。なお検出回
路４の切換回路４２および検出回路５の切換回路５３は
、図示していない電磁継電器に組み込まれている切換回
路で、再生出力を検出回路４または検出回路５のいずれ
か一方に入力するためのものである。
演算回路６は対数増幅回路６１と反転増幅回路６２とＡ
／Ｄ変換回路６３と表示回路６４とで構成されており、
対数増幅回路６１はピーク値検出回路４１に保持されて
いる願出力レベル■１と、ピーク値検出回路５２に保持
されている残存出力レベル■２の比率を算出すると共に
、願出力レベル■１と残存出力レベルＶ２の比率を対数
値として出力する機能を具えている。即ち ｅ ’ −−１ｏｇ （Ｖ２ ／Ｖｌ ）なる式で算出
される電圧ｅ′が対数増幅回路６１から出力される。
／Ｄ変換回路６３と表示回路６４とで構成されており、
対数増幅回路６１はピーク値検出回路４１に保持されて
いる願出力レベル■１と、ピーク値検出回路５２に保持
されている残存出力レベル■２の比率を算出すると共に
、願出力レベル■１と残存出力レベルＶ２の比率を対数
値として出力する機能を具えている。即ち ｅ ’ −−１ｏｇ （Ｖ２ ／Ｖｌ ）なる式で算出
される電圧ｅ′が対数増幅回路６１から出力される。
この出力電圧ｅ′を反転増幅回路６２に入力することに
よって極性を反転させると共に増幅し、ｅ ’ ＝２０
４！ｏｇ （Ｖ２ ／Ｖｌ ）なる式で算出される電圧
ｅ“が反転増幅回路６２がら出力される。この式は前述
のオーバライト特性を算出する式と同じであり、反転増
幅回路６２から出力される電圧ｅ＃がオーバライト特性
を示す値である。
よって極性を反転させると共に増幅し、ｅ ’ ＝２０
４！ｏｇ （Ｖ２ ／Ｖｌ ）なる式で算出される電圧
ｅ“が反転増幅回路６２がら出力される。この式は前述
のオーバライト特性を算出する式と同じであり、反転増
幅回路６２から出力される電圧ｅ＃がオーバライト特性
を示す値である。
反転増幅回路６２から出力される電圧ｅ″はアナログ量
であり、これをＡ／Ｄ変換回路６３でデジタル量に変換
し表示回路６４に表示している。
であり、これをＡ／Ｄ変換回路６３でデジタル量に変換
し表示回路６４に表示している。
このように願出力レベルと残存出力レベルをそれぞれ保
持する回路と、オーバライト特性を算出し表示する回路
とで専用の測定装置を構成することによって、データの
収集からオーバライト特性算出まで自動化し、操作の単
純化と測定時間の短縮を実現すると共に、読み取り誤差
や個人差を無くし信頼正を向上させることができる。
持する回路と、オーバライト特性を算出し表示する回路
とで専用の測定装置を構成することによって、データの
収集からオーバライト特性算出まで自動化し、操作の単
純化と測定時間の短縮を実現すると共に、読み取り誤差
や個人差を無くし信頼正を向上させることができる。
上述の如く本発明によれば操作が単純で測定時間の短縮
を実現するオーバライト特性測定装置を提供することが
できる。
を実現するオーバライト特性測定装置を提供することが
できる。
第１図は本発明になるオーバライト特性測定装置を示す
ブロック図、 第２図はオーバライト特性の測定原理を示す図、第３図
は従来の測定装置を示すブロック図、である。図におい
て １はＦＤＤテスタ、 ２はＦＤＤ。 ４は第１の検出回路、５は第２の検出回路、６は演算回
路、 ２１はフロッピーディスク、２２は磁気ヘッ
ド、 ２３は増幅回路、４１．５２はピーク値検出回
路、４２．５３は切換回路、５１はバンドパスフィルタ
、６１は対数増幅回路、６２は反転増幅回路、 ６３は
Ａ／Ｄ変換回路、６４は表示回路、 をそれぞれ表す。 不発日用（なうオーへ′ライト将・ｊ・を貝・１定裟置
乏示す）１７０ンク図第１図
ブロック図、 第２図はオーバライト特性の測定原理を示す図、第３図
は従来の測定装置を示すブロック図、である。図におい
て １はＦＤＤテスタ、 ２はＦＤＤ。 ４は第１の検出回路、５は第２の検出回路、６は演算回
路、 ２１はフロッピーディスク、２２は磁気ヘッ
ド、 ２３は増幅回路、４１．５２はピーク値検出回
路、４２．５３は切換回路、５１はバンドパスフィルタ
、６１は対数増幅回路、６２は反転増幅回路、 ６３は
Ａ／Ｄ変換回路、６４は表示回路、 をそれぞれ表す。 不発日用（なうオーへ′ライト将・ｊ・を貝・１定裟置
乏示す）１７０ンク図第１図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ｆ信号を書き込んだフロッピーディスクから得られる
再生出力のピーク値を検出し、そのピーク値を原出力レ
ベルとして保持する第１の検出回路（４）と、 該１ｆ信号に２ｆ信号を重ね書きしてなる信号を読み出
し、その再生出力から２ｆ信号成分を除去した後の再生
出力のピーク値を検出し、残存出力レベルとして保持す
る第２の検出回路（５）と、原出力レベルと残存出力レ
ベルの比率を算出し表示する演算回路（６）とを具備し
てなることを特徴とするオーバライト特性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14256986A JPS62298783A (ja) | 1986-06-18 | 1986-06-18 | オ−バライト特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14256986A JPS62298783A (ja) | 1986-06-18 | 1986-06-18 | オ−バライト特性測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62298783A true JPS62298783A (ja) | 1987-12-25 |
Family
ID=15318373
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14256986A Pending JPS62298783A (ja) | 1986-06-18 | 1986-06-18 | オ−バライト特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62298783A (ja) |
-
1986
- 1986-06-18 JP JP14256986A patent/JPS62298783A/ja active Pending
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