JPH0193043A - イオン処理装置 - Google Patents

イオン処理装置

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JPH0193043A
JPH0193043A JP25086987A JP25086987A JPH0193043A JP H0193043 A JPH0193043 A JP H0193043A JP 25086987 A JP25086987 A JP 25086987A JP 25086987 A JP25086987 A JP 25086987A JP H0193043 A JPH0193043 A JP H0193043A
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Yoshio Tamura
田村 喜生
Hisashi Maeda
尚志 前田
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Nissin Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、例えばイオン注入装置等のように、真空中
でウェハにイオンビームを照射して当該ウェハを処理す
るイオン処理装置に関する。
〔従来の技術とその問題点〕
第5図は、従来のイオン処理装置の一例を示す概略図で
ある。
イオンビーム72を導入してそれをウェハ70に照射し
てイオン注入等の処理を行うための処理室74の両側に
、当該処理室74と大気中との間でウェハ70を搬出入
するための真空予備室76a、76bが設けられている
。82a〜B2dは真空弁であり、84a〜84cはウ
ェハ70の搬送ベルトである。
また処理室74内には、ウェハ70を保持可能なホルダ
80であって、その端部に結合された回転軸78によっ
て、ウェハ70の着脱のための水子状態とウェハ70の
処理のための起立状態間で回転させられるものが設けら
れている。86は、イオンビーム72のビーム電流計測
用のファラデーケージである。
ウェハ70の処理動作の一例を簡単に説明すると(但し
、真空弁82a〜82dは適宜開閉されるものとし、そ
の動作説明は省略する。)、まず大気中から未処理のウ
ェハ70が真空予備室76a内に搬入され、更に搬送ベ
ルト84a、84cによって処理室74内に搬入されて
ホルダ80に装着される。次いで、ホルダ80が起立状
態にされ、その上のウェハ70にイオンビーム72が照
射されてイオン注入等の処理が行われる。次いで、ホル
ダ80が水平状態に戻され、処理済のウェハ70が搬送
ベルト84C184bによって真空予備室76b内に搬
出され、更に大気中に搬出される。以降同様の動作が適
宜繰り返される。
ところで近年は、ウェハ70の表面に刻まれた凹みの側
壁にもイオンビーム72を照射してイオン注入等の処理
を行う、あるいはウェハ70に対する処理の均一性を高
める等の理由から、ウェハ70の表面に対するイオンビ
ーム72の入射角(即ちイオンビーム72とウェハ70
の表面に対する垂線との成す角度で、イオン注入の場合
は注入角と呼ばれる。)を様々に変える必要性が高まっ
てきている。
ところが上記装置では、ホルダ80゛を起立させる中心
軸78cとホルダ80上のウェハ70の中心点とが大き
く離れているため、ホルダ80の起立角度を変えること
によって、ウェハ70に対するイオンビーム72の入射
角を予め定められたものから変えようとすると、イオン
ビーム72の走査中心とウェハ70の中心とがずれてし
まい、所望の処理が行えなくなる等の問題が生じる。
そこでこのような問題を解決するために、第6図に示す
ような装置が提案されている。
即ちこの装置においては、回転軸78をホルダ80の中
心部に結合してホルダ80を起立させる中心軸78cが
ホルダ80上のウェハ70表面の中心点を通るようにし
ており、それによってウェハ70に対するイオンビーム
72の入射角を変えてもイオンビーム72の走査中心と
ウェハ70の中心とがずれないようにしている。
ところが上記のようにすることに伴って、ホルダ80の
回転輪78を含む駆動機構(図示省略)がホルダ80の
中心の横に設置されることやファラデーケージ86の側
壁が後方側(イオンビーム72の下流側)にせり出すた
め、ホルダ80に対するウェハ70の出し入れが第5図
の例のようにホルダ80の両横から行うことができず、
後方側からの一方向に限定される。
そのためホルダ80の後方側に、搬送ベルト84dに直
交するように昇降式の搬送ベル)84eを設けており、
ホルダ80に対するウェハ70の出し入れは次のように
して行われる。
即ち、搬送ベル)84eを降下させた状態で、真空予備
室76aから未処理のウェハ70が搬送ベルト84a、
84dによって搬送ベルト84e上まで搬入される。次
いで搬送ベル)84eが上昇して当該ウェハ70が搬送
゛ベル)84dから持ち上げられ、搬送ベルト84e、
84cによって水平状態にあるホルダ80上へ搬送され
て装着される。次いで第5図の例と同様に、ホルダ80
が起立状態にされてウェハ70が処理され、ホルダ80
が水平状態に戻される。次いで処理済のウェハ70が搬
送ベルF 84 C% 84 eによって搬送ベルl−
84d上まで搬出され、搬送ベルト84eが降下して搬
送ベル)84d上に載置される。そして当1亥ウェハ7
0が搬送ベルト84d、84bによって真空予備室76
b内へ搬出される。
ところが、上記説明からも分るように、第6図の装置で
は、ホルダ80に対するウェハ70のハンドリングに第
5図の装置に比べ多くの時間がかかるため、スルーブツ
ト(単位時間当たりの処理能力)が低下してしまうとい
う問題が生じる。
〔発明の目的〕
そこでこの発明は、ホルダの起立角度を変えることによ
ってイオンビームの入射角を変えてもイオンビームの走
査中心とウェハの中心とがずれることがなく、しかもス
ループットの高いイオン処理装置を提供することを主た
る目的とする。
〔目的達成のための手段〕
この発明のイオン処理装置は、イオンビームを導入して
それをウェハに照射するための処理室内に、ウェハを保
持可能なホルダであって保持したウェハ表面の中心点を
通る中心軸を中心に水平状態と起立状態間で回転させら
れるものと、ウェハを!!2置装能な第1および第2の
ステーションと、ホルダのウェハ保持部中心と第1のス
テーションのウェハ載置部中心から等距離の所に回転中
心を持ち第1のステーションからウェハを受け取りそれ
をホルダに渡す回転式の第1のアームと、ホルダのウェ
ハ保持部中心と第2のステーションのウェハ載置部中心
から等距離の所に回転中心を持ちホルダからウェハを受
け取りそれを第2のステーションに渡す回転式の第2の
アームとを設け、かつ第1のアームによるウェハの第1
のステーションからホルダへの移載と、第2のアームに
よるウェハのホルダから第2のステーションへの移載と
を並行して行なえるよう構成していることを特徴とする
〔作用〕
上記ホルダは、そこに保持したウェハ表面の中心点を通
る中心軸を中心に回転させられるため、当該ホルダの起
立角度を変えることによってウェハに対するイオンビー
ムの入射角を変えても、イオンビームの走査中心とウェ
ハの中心とがずれることはない。
また、上記ホルダに対するウェハの搬入と同ホルダから
のウェハの搬出とを、第1および第2のアームによって
並行して行なえるので、ホルダに対するウェハのハンド
リング時間が短縮でき、その結果当該イオン処理装置の
スループットが向上する。
〔実施例] 第1図はこの発明の一実施例に係るイオン処理装置を部
分的に切り欠いて示す平面図であり、第2図は第1図の
線■−■に沿う部分断面図であり、第3図は第1図の線
■−■に沿う部分断面図である。
二の実施例においては、真空に排気される部屋であって
イオンビーム4を導入してそれをウェハlOに照射する
ための処理室2の天井部の左右に対称的に、ウェハlO
を処理室2と大気側との間で出し入れするための第1お
よび第2の真空予備室18aおよび18bを隣接させて
おり、各真空予備室18a、18bは真空弁(例えばフ
ラップ弁)24a、24bによってそれぞれ大気側と仕
切られている。
また、処理室2内であって各真空予備室18a、18b
の下方には、両真空予備室18a、18bと処理室2間
をそれぞれ真空的に仕切ることができる昇降式の第1お
よび第2の弁体32aおよび32bがそれぞれ設けられ
ている。39a、39bはその昇降用の軸である。
上記弁体32a、32bは、ウェハ10を載置する第1
および第2のステーションをそれぞれ兼ねており、それ
らの各上面にはウェハ10をそれぞれ載置可能である。
また、各弁体32a、32bの上面部の両側には、後述
するアーム40a、40bのウェハ載置部42a、42
bと干渉しないように凹み36a136bをそれぞれ設
けており、かつ中央部には、大気側から、開状態の真空
弁24a、24bを通して、二点鎖線で示すようなウェ
ハ移載用の板状のアーム58a、58bが横方向に入り
込みかつ若干上下できる程度の凹み38a、38bをそ
れぞれ設けている。
一方、処理室2の側壁を真空シールされた状態で貫通す
る回転軸51の先端部に取り付けられたクランク状のホ
ルダ支持アーム52の先端部に、ウェハ10保持用のホ
ルダ6が取り付けられており、ホルダ駆動装置56によ
って回転軸51を矢印Gのように回転させることによっ
て、当該ホルダ6を水平状態(図示例)と任意の注入角
度の起立状態とにすることができる。54は、イオンビ
ーム4のビーム電流計測用のファラデーケージである。
この場合、回転軸51の中心軸51cは、ホルダ6に保
持された(即ち後述するホルダベース6■とクランパー
62間に挟持された状態の)ウェハ10の表面の中心点
を通るようにされている。
従って、ホルダ6の起立角度を変えることによってウェ
ハ10に対するイオンビーム4の入射角(注入角)を変
えても、イオンビーム4の走査中心とウェハ10の中心
とがずれることはない。
ホルダ6は、第3図を参照して、ホルダベース61およ
びリング状のクランパー62を備えており、クランパー
62は、ホルダ6の水平状態において、ホルダベース6
1を貫通するガイド軸48を介してつながる昇降板44
を図示しない手段によって昇降させることによって、ホ
ルダベース61に対して上下させることができ、その上
昇状態においてホルダベース61との間にアーム40a
、40bの先端部を通すことができ、降下状態において
ばね50の弾性力でウェハ10の周縁部を押圧保持する
ことができる。
また、昇降板44には、ホルダベース61を貫通してい
て、クランパー62と所定の上下関係で上下させられる
ものであって、ウェハlOをその周縁部で支えることが
できるウェハ受け46が幾つか取り付けられている。
そして、処理室2内であってホルダ6のウェハ保持部中
心と弁体32a、32bのウェハ載置部中心(換言すれ
ば弁体32a、32b用の軸39a、39bの中心)と
それぞれ等距離の所に、回転および昇降可能な軸41a
、41bがそれぞれ設けられており、それらに例えばロ
ード用の第1のアーム40aおよび例えばアンロード用
の第2のアーム40bがそれぞれ取り付けられている。
従って各アーム40a、40bは、矢印E、E’および
F、F’のように水平方向に旋回可能であると共に昇降
可能である。
そして各アーム40a、40bの先端部には、ウェハ1
0の両側を下から支えるウェハ載置部42a、42bが
それぞれ設けられている。しかもこのアーム40a、4
0bの各先端部は、降下状態にある弁体32a、32b
と処理室2の天井部との間に入り込むことができ、かつ
水平状態にあるホルダ6の上昇状態にあるクランパー6
2とその下のホルダベース61との間の入り込むことが
できる位置関係にされている。
また両アーム40a、40bは、それらがそれぞれ矢印
E、Fあるいはその逆の矢印E’、F’のように同時に
並行して旋回されるよう構成されており、しかもそのよ
うに動作してもそれぞれのウェハ載置部42a、42b
が互いに干渉しないようにされている。
これを第4図のモデルを参照して説明する。例えば各ア
ーム40a、40bの回転中心とホルダ6のウェハ保持
部中心および各弁体32a、32bのウェハ載置部中心
間の距離を共にLとし、各アーム40a、40bのウェ
ハ載置部42a、42bの中心から最外端部までの距離
をdとする。
そして、両アーム40a、40bを矢印E、Fのように
(あるいはその逆方向に)共に角速度がωの等速度で同
期して旋回させたとき(これは歯車列等の公知の手段で
容易に実現できる)、両アーム40a、40bのウェハ
載置部42a、42bの中心間の距離Xは、 で表され、それの両アーム40a、40bが互いに最接
近したときの最小距離X +ainは、X□、=2Lf
i蓄闇Tζ0.586Lとなる。tは時間である。これ
は、0≦ωt≦π/2で1≦(cosωt +sinω
t)≦2だからである。
従って、両アーム40a、40bのウェハ載置部42a
、42bが互いに衝突しない条件は、X +5in−0
,586L>2d であり、この実施例の装置はこの条件を満たすように構
成されている。
第1図に戻って上記装置の全体的な動作例を説明するが
、前提として、例えば、弁体32a、32bは降下状態
に、アーム40a、40bはホルダ6と弁体32a、3
2bとのそれぞれ中間位置に、かつホルダ6は水平状態
にあり、そして処理室2および真空予備室18a、18
bは所定の真空状態にあるものとする。
まず弁体32aが上昇して処理室2と真空予備室18a
間を仕切り、真空予備室18a内が大気圧状態に戻され
、真空弁24aが開かれる。そして矢印Aのように大気
側から例えばアーム58aによって未処理のウェハlO
が一枚真空予備室18a内に搬入され、弁体32a上に
載置される。
そして真空弁24aが閉じられ、真空予備室18aが真
空引きされ、それが完了すると弁体32aが降下する。
これによってウェハ10は真空予備室18a内から処理
室2内へ移送されたことになる。
その状態で、ロード用のアーム40aが弁体32a側に
(即ち矢印E′方向に)旋回してそのウェハ載置部42
aが弁体32a上のウェハ10の下に入り込み、そして
アーム40aが若干上昇してそのウェハ載置部42a上
にウェハ10を載置する(第2図の状態)。
この間に、水平状態にあるホルダ6のクランパー62お
よびウェハ受け46は上昇状態にされており、そしてア
ーム40aがホルダ6側に(即ち矢印E方向に)旋回し
てそのウェハ載置部42aがホルダベース61とクラン
パー62間に入り、そしてアーム40aが若干降下して
ウェハ載置部42a上のウェハ10をウェハ受け46上
に載せる。
次いでアーム40aが矢印E′方向に旋回して。
中間位置に戻ると共に、クランパー62およびウェハ受
け46が降下してウェハ10をクランパー62とホルダ
ベース61間に挟持し、そしてホルダ6が起立状態にさ
れ、そのウェハ10にイオンビーム4が照射されてイオ
ン注入等の処理が行わ□れる。尚、このときのウェハ1
0に対するイオンビーム4の入射角は、前述したように
ホルダ6の起立角度を変えることにより、例えば0〜9
0度の範囲内で任意に設定することができる。また、処
理(注入)中にホルダ6を自転させて、ウェハ10に対
する処理(注入)量の均一化を図るようにしても良い。
所定の処理が終了すると、ホルダ6は水平状態に戻され
、クランパー62およびウェハ受け46が上昇してウェ
ハ10が持ち上げられた所に、アンロード用のアーム4
0bが矢印F′方向に旋回してきてそのウェハ載置部4
2bがウェハ10の下に入り込み(第3図の状態)、そ
してアーム40bが若干上昇してそのウェハ載置部42
b上にウェハ10を載置する。
次いでアーム40bが弁体32b側に(即ち矢印F方向
に)旋回して弁体32b上に位置し、そして若干降下し
てそのウェハ載置部42b上のウェハ10を弁体32b
上に載置する。
そしてアーム40bが矢印F′方向に旋回して中間位置
に戻ると共に弁体32bが上昇して、ウェハ10を真空
予備室18b内に入れると共に真空予備室18bと処理
室2間を仕切り、そして真空予備室18b内が大気圧状
態に戻され、真空弁24bが開かれる。そして例えばア
ーム58bによって矢印Bのように処理済のウェハ10
が大気側に搬出される。
以降同様の動作が必要に応じて繰り返される。
尚、以上においては、−枚のウェハlOに注目してそれ
を大気側から搬入して処理して大気側に搬出するまでの
動作を説明したが、実際は未処理のウェハ10を大気側
から搬入してホルダ6に装着するローディング動作と、
ホルダ6上の処理済のウェハ10を大気側に搬出するア
ンローディング動作とは並行して行われる。
従ってこの装置によれば、ホルダ6に対するウェハ10
の出し入れを同時に並行して行なえるので、ウェハ10
のハンドリング時間が第6図の装置に比べて大幅に短縮
でき、その結果当該装置のスループットも向上する。
もちろん、ホルダ6へのウェハ10の出し入れ方向が一
方向に限定できるので、ホルダ6周辺の機器や構造物に
対する制約も少ない。
また、ウェハ10のハンドリングを全てアームで行って
いるため、搬送ベルトに比べてパーティクル(ゴミ・)
の発生が少なく、従ってウェハlOの表面の汚れを防止
する効果も大きい。
また、ウェハ10のハンドリング機構が回転・昇降動作
機構のみで構成されるので、構造および動作制御が簡単
であり、しかも処理室2内に駆動部分を設けずに済むの
でこの点からもゴミの発生が軽減される。
尚、第4図中に示したアーム40a側の距MLとアーム
40b側の距離りとは、並行動作でウェハ載置部42a
、42bが互いに干渉しないようにしさえすれば、互い
に異なっていても良い。
また、以上においては、第1および第2の弁体32a、
32bが、処理室2内でウェハ10を載置しておく第1
および第2のステーションを兼ねる場合を例示したが、
上記のような弁体32a132bや真空予備室18a、
18bを設ける代わりに、処理室2内に、複数枚のウェ
ハ10を収納可能な昇降式のかつアームの入るカセット
を二つ設け、このようなものを第1および第2のステー
ションとする等しても良い。
〔発明の効果〕
以上のようにこの発明によれば、ホルダの起立角度を変
えることによってウェハに対するイオンビームの入射角
を変えてもイオンビームの走査中心とウェハの中心とが
ずれることがなく、しかもホルダに対するウェハのハン
ドリング時間が短縮できるのでスループットも向上する
。また、ウェハのハンドリングにアームを使用している
ので、搬送ベルトに比べてゴミの発生が少なく、従って
ウェハ表面の汚れを防止する効果も大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の一実施例に係るイオン処理装置を
部分的に切り欠いて示す平面図である。 第2図は、第1図の線■−■に沿う部分断面図である。 第3図は、第1図のI[[−11Iに沿う部分断面図で
ある。第4図は、アームの位置関係を説明するための図
である。第5図は、従来のイオン処理装置の一例を示す
概略図である。第6図は、従来のイオン処理装置の他の
例を示す概略図である。 2・・・処理室、4・・・イオンビーム、6・・・ホル
ダ、10・・・ウェハ、18 a、  18 b・・・
真空予備室、32a、32b−−−弁体、40a、40
b・・・アーム。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)イオンビームを導入してそれをウェハに照射する
    ための処理室内に、ウェハを保持可能なホルダであって
    保持したウェハ表面の中心点を通る中心軸を中心に水平
    状態と起立状態間で回転させられるものと、ウェハを載
    置可能な第1および第2のステーションと、ホルダのウ
    ェハ保持部中心と第1のステーションのウェハ載置部中
    心から等距離の所に回転中心を持ち第1のステーション
    からウェハを受け取りそれをホルダに渡す回転式の第1
    のアームと、ホルダのウェハ保持部中心と第2のステー
    ションのウェハ載置部中心から等距離の所に回転中心を
    持ちホルダからウェハを受け取りそれを第2のステーシ
    ョンに渡す回転式の第2のアームとを設け、かつ第1の
    アームによるウェハの第1のステーションからホルダへ
    の移載と、第2のアームによるウェハのホルダから第2
    のステーションへの移載とを並行して行なえるよう構成
    していることを特徴とするイオン処理装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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