JPH0142750B2 - - Google Patents

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JPH0142750B2
JPH0142750B2 JP59019105A JP1910584A JPH0142750B2 JP H0142750 B2 JPH0142750 B2 JP H0142750B2 JP 59019105 A JP59019105 A JP 59019105A JP 1910584 A JP1910584 A JP 1910584A JP H0142750 B2 JPH0142750 B2 JP H0142750B2
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JP
Japan
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cation exchange
exchange resin
pure water
silica
water production
Prior art date
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JP59019105A
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JPS60166081A (ja
Inventor
Hiroshi Morita
Shigeaki Sato
Nobuhiro Oda
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Kurita Water Industries Ltd
Original Assignee
Kurita Water Industries Ltd
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Publication date
Application filed by Kurita Water Industries Ltd filed Critical Kurita Water Industries Ltd
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  • Treatment Of Water By Ion Exchange (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は、カチオン交換樹脂およびアニオン
交換樹脂により脱塩を行う純水製造装置のシリカ
ブレーク検出装置に関するものである。
〔従来技術〕
アニオンブレークタイプの純水製造装置では、
イオン交換能力の低下に伴つてアニオンがブレー
クするが、アニオンのうちシリカが最初にブレー
クする。このシリカはボイラ等に給水されると硬
質のスケールを形成するため、そのブレークを完
全にチエツクする必要があるが、シリカは処理水
の比抵抗値または電導度に対する影響が小さいた
め、比抵抗値等を測定していてもシリカブレーク
を検出することができない。
従来のシリカブレークの検出は、高価なシリカ
メータによる連続モニタリングか、あるいは長時
間を要する化学分析によらざるを得ず、これらに
よらない場合には安全係数を見込んだ定体積運転
により一定量の純水を採取する必要があり、純水
製造装置の効率が低くなる問題点があつた。
〔発明の目的〕
この発明は上記問題点を解消するためのもの
で、処理水をH形カチオン交換樹脂層に通水後、
比抵抗値またはこれと等価の値を測定することに
より、簡単な装置と操作で正確にシリカブレーク
を検出できる純水製造装置のシリカブレーク検出
装置を提供することを目的としている。
〔発明の構成〕
この発明は、カチオン交換樹脂およびアニオン
交換樹脂により脱塩を行う純水製造装置の処理水
の一部を通水するH形カチオン交換樹脂層と、こ
の樹脂層を通過した水の比抵抗値またはこれと等
価の値を測定する手段とを有することを特徴とす
る純水製造装置のシリカブレーク検出装置であ
る。
〔発明の実施例〕
以下、本発明を図面の実施例について説明す
る。第1図はこの発明の一実施例の系統図であ
る。図面において、1はアニオンブレークタイプ
の純水製造装置で、カチオン交換樹脂層2aを有
するカチオン交換塔2、脱炭酸塔3、およびアニ
オン交換樹脂層4aを有するアニオン交換塔4が
シリーズに接続されている。カチオン交換塔2に
は原水管5が、カチオン交換塔2および脱炭酸塔
3間には連絡管6が、脱炭酸塔3およびアニオン
交換塔4間には連絡管7が、アニオン交換塔4に
は処理水管8がそれぞれ接続している。
処理水管8の分岐管9にはH形カチオン交換樹
脂層10aを有すカラム10および比抵抗計11
が設けられており、比抵抗計11はレコーダ12
に接続している。分岐管9は処理水の一部(10
/hr程度)を流す程度の径で十分である。樹脂
層10aは完全再生したH形カチオン交換樹脂を
100ml程度充填したもので、SV=50〜100程度の
流速が得られるようにする。樹脂層10aを構成
するカチオン交換樹脂は中性塩分解能を有するも
のを使用する。
以上の構成において、純水製造装置1では原水
管5から原水(過水)を供給し、カチオン交換
塔2においてカチオンを交換除去し、脱炭酸塔3
で脱炭酸を行い、アニオン交換塔4においてアニ
オンを交換除去して脱塩し、処理水管8から処理
水(純水)を得る。処理水の一部は分岐管9から
カラム10に供給してH形カチオン交換樹脂層1
0aを通過させた後、比抵抗計11において連続
的に比抵抗を測定し、レコーダ12に記録する。
カチオン交換塔2は再生後も微量のNa形樹脂
が残存するため、カチオン交換を行つた水には微
量のナトリウムイオンがリークする。このためア
ニオン交換塔4から出る処理水中には水酸化ナト
リウムが含まれる。アニオン交換塔4のブレーク
開始時には、シリカとともに微量の塩素イオンが
リークし始め、それにより処理水の微量水酸化ナ
トリウムは一部が微量塩化ナトリウムに変わる。
水酸化ナトリウムよりも塩化ナトリウムの方が比
抵抗値に対する影響が小さいため、この時点より
塩素イオンのリークが過剰になるまでの間、一時
的に処理水の比抵抗値はやや高くなるが、その差
は微少であるため、直接測定するのは困難であ
る。
そこで処理水を分岐管9から、カラム10に導
入し、完全再生されたH形カチオン交換樹脂層1
0aを通過させると、処理水中のナトリウムイオ
ンは水素イオンに交換され、カラム10の出口水
はアニオンブレーク前では不純物を含まない水
(微少の常時リークアニオンは含まれる)となる
が、アニオンブレーク時にはシリカおよび微増す
る塩素イオンにより、塩酸を含むようになる。カ
ラム10の出口水は純度が極めて高く、また塩酸
の比抵抗に対する影響は比較的大きいので、アニ
オンブレークの前後にわたつて比抵抗計11でカ
ラム10出口水の比抵抗値を測定していると、ア
ニオンブレークによる比抵抗値の低下を明確に検
出することができる。出口水の比抵抗値の低下は
シリカブレークの時点と一致するので、これによ
りシリカブレークを検出することができる。
次に試験例について説明する。
第1図において、カチオン交換樹脂層2aとし
て強酸性カチオン交換樹脂レワチツトS100(バイ
エル社商標)を約1.8、アニオン交換樹脂層4
aとしてアンバーライトIRA402(ロームアンドハ
ース社商標)を200ml使用し、通常再生により、
脱ガス全アニオン60mg/(asCaCO3)、シリカ
0.5mg/(asCaCO3)の原水を通水して脱塩を
行つた。処理水はH形カチオン交換樹脂層10a
として強酸性カチオン交換樹脂ダイヤイオン
SKN1(三菱化成工業KK商標)を約100ml充填し
たカラム10にSV60で通過させ、出口水の比抵
抗値を比抵抗計11で測定した。一方処理水のシ
リカ濃度をJISK−0101モリブデン青法により測
定した。アニオンブレーク前後の比抵抗値および
シリカ濃度を第2図に示す。
第2図より、シリカブレークと比抵抗値の上昇
が一致し、比抵抗値の上昇時点を検出することに
より、シリカブレークとして検出できることがわ
かる。
以上の説明では、純水製造装置1として、カチ
オン交換塔2、脱炭酸塔3およびアニオン交換塔
4がそれぞれ1塔の例を示したが、カチオン交換
塔または(および)アニオン交換塔が複数のも
の、これらの後にまたはこれらに代えて混床塔を
採用するものなど、他の方式のものでもよく、ま
た各塔は単層式もしくは複層式の順流式、向流式
など、任意の形式のものであつてもよく、使用す
るカチオン交換樹脂およびアニオン交換樹脂も制
限はない。カラム10のH形カチオン交換樹脂と
しては中性塩分解能を有するものであればよい。
また上記実施例では比抵抗値を測定する場合につ
いて説明したが、電導度などの比抵抗値と等価の
値もシリカブレークと相関関係を有するから、こ
れらの測定によつてシリカブレークを検出するこ
とも可能である。
〔発明の効果〕
この発明によれば、純水製造装置の処理水をH
形カチオン交換樹脂層に通水後、比抵抗値または
これと等価の値を測定するようにしたので、簡単
な装置と操作で、短時間で容易かつ正確にシリカ
ブレークを検出することができ、このためシリカ
ブレーク開始時点まで純水を採水することがで
き、純水製造装置を効率よく運転することができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は実施例の系統図、第2図は試験例の結
果を示すグラフであり、1は純水製造装置、2は
カチオン交換塔、3は脱炭酸塔、4はアニオン交
換塔、10はカラム、10aはH形カチオン交換
樹脂層、11は比抵抗計、12はレコーダであ
る。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 カチオン交換樹脂およびアニオン交換樹脂に
    より脱塩を行う純水製造装置の処理水の一部を通
    水するH形カチオン交換樹脂層と、この樹脂層を
    通過した水の比抵抗値またはこれと等価の値を測
    定する手段とを有することを特徴とする純水製造
    装置のシリカブレーク検出装置。 2 純水製造装置がアニオンブレークタイプであ
    る特許請求の範囲第1項記載の純水製造装置のシ
    リカブレーク検出装置。 3 H形カチオン交換樹脂充填層が完全再生され
    たものである特許請求の範囲第1項または第2項
    記載の純水製造装置のシリカブレーク検出装置。 4 等価の値が電導度である特許請求の範囲第1
    項ないし第3項のいずれかに記載の純水製造装置
    のシリカブレーク検出装置。
JP59019105A 1984-02-03 1984-02-03 純水製造装置のシリカブレ−ク検出装置 Granted JPS60166081A (ja)

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JP59019105A JPS60166081A (ja) 1984-02-03 1984-02-03 純水製造装置のシリカブレ−ク検出装置

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JP59019105A JPS60166081A (ja) 1984-02-03 1984-02-03 純水製造装置のシリカブレ−ク検出装置

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Publication Number Publication Date
JPS60166081A JPS60166081A (ja) 1985-08-29
JPH0142750B2 true JPH0142750B2 (ja) 1989-09-14

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ID=11990199

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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0790218B2 (ja) * 1986-10-29 1995-10-04 栗田工業株式会社 純水製造装置
JP6362299B2 (ja) * 2013-03-27 2018-07-25 栗田工業株式会社 イオン交換樹脂装置の運転方法及びイオン交換樹脂装置
JP6108021B1 (ja) * 2016-09-27 2017-04-05 東亜ディーケーケー株式会社 陰イオン検出システム
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JP6722710B2 (ja) * 2018-03-22 2020-07-15 水ing株式会社 純水製造装置
JP6720241B2 (ja) * 2018-03-22 2020-07-08 水ing株式会社 純水製造方法

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