JPH0135484Y2 - - Google Patents
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- JPH0135484Y2 JPH0135484Y2 JP921984U JP921984U JPH0135484Y2 JP H0135484 Y2 JPH0135484 Y2 JP H0135484Y2 JP 921984 U JP921984 U JP 921984U JP 921984 U JP921984 U JP 921984U JP H0135484 Y2 JPH0135484 Y2 JP H0135484Y2
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
- H01L23/373—Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
- H01L23/3735—Laminates or multilayers, e.g. direct bond copper ceramic substrates
-
- H—ELECTRICITY
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-
- H—ELECTRICITY
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- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/46—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids
- H01L23/473—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids by flowing liquids
-
- H—ELECTRICITY
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
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- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は集積回路チツプの冷却に関するもの
である。
である。
集積回路チツプの温度は適正な機能、信頼性お
よび有用寿命を保証するために指定限界以下に保
持されなければならない。集積回路技術における
動向はチツプ当りの機能を増大する大規模集積化
に向つている。また、システム設計者は回路相互
接続部における伝搬遅延を最少にするためにチツ
プを密接させて装着しつつある(高密度実装)。
その結果として、熱は各チツプ当りに増加するだ
けでなく、また密接装着チツプのためにこもつて
しまう。
よび有用寿命を保証するために指定限界以下に保
持されなければならない。集積回路技術における
動向はチツプ当りの機能を増大する大規模集積化
に向つている。また、システム設計者は回路相互
接続部における伝搬遅延を最少にするためにチツ
プを密接させて装着しつつある(高密度実装)。
その結果として、熱は各チツプ当りに増加するだ
けでなく、また密接装着チツプのためにこもつて
しまう。
これらのチツプの冷却が問題である。
高密度実装の冷却は液体冷却コールドプレート
を回路パツケージと直接に接触させて置くことに
よつて達成されてきた。これの限界は回路素子が
種々の高さおよび形状を有するということであ
る。これらの変動に適応するためにコールドプレ
ート回路素子との間に柔軟なインタフエースが使
用されてきた。このインタフエースは熱伝導性か
つ電気絶縁性でありかつペーストとフイルムとか
らなる。
を回路パツケージと直接に接触させて置くことに
よつて達成されてきた。これの限界は回路素子が
種々の高さおよび形状を有するということであ
る。これらの変動に適応するためにコールドプレ
ート回路素子との間に柔軟なインタフエースが使
用されてきた。このインタフエースは熱伝導性か
つ電気絶縁性でありかつペーストとフイルムとか
らなる。
この柔軟なインタフエースの限界はその熱抵抗
が高く、熱を均一に広げないということである。
さらに、ペーストが分解(化学的に)する場合に
は、回路素子の温度は望ましくないレベルまで上
昇する。
が高く、熱を均一に広げないということである。
さらに、ペーストが分解(化学的に)する場合に
は、回路素子の温度は望ましくないレベルまで上
昇する。
以上は従来技術の限界を示すものである。した
がつて、上記限界の1つまたはそれ以上を克服す
るのに適応したものを提供することが有利である
ことは明白である。
がつて、上記限界の1つまたはそれ以上を克服す
るのに適応したものを提供することが有利である
ことは明白である。
本考案の一面において、これは柔軟なマツトを
有するコールドプレートからなる、集積回路チツ
プを冷却する装置を提供することによつて達成さ
れる。このマツトは、コールドプレートと接触す
る熱伝導性かつ電気絶縁性であるところのペース
トの第一のフイルムと、第一のフイルムと接触す
る第二の金属フイルムと、第二のフイルムと接触
する熱伝導性かつ電気絶縁性の第三のフイルムと
を含む。
有するコールドプレートからなる、集積回路チツ
プを冷却する装置を提供することによつて達成さ
れる。このマツトは、コールドプレートと接触す
る熱伝導性かつ電気絶縁性であるところのペース
トの第一のフイルムと、第一のフイルムと接触す
る第二の金属フイルムと、第二のフイルムと接触
する熱伝導性かつ電気絶縁性の第三のフイルムと
を含む。
次に図面を参照して本考案の実施例について説
明する。
明する。
集積回路チツプを冷却する装置は第1図に10
で示され、アルミニウムのような適当な材料から
作られた周知のコールドプレートを含む。このコ
ールドプレートは第一の部分12aを有し、この
第一の部分は第二の部分12bに接続かつ封着さ
れている。入口ポート14は典型的な導管18に
よつて出口ポートに接続され、導管18は適当な
方法でコールドプレート中を通つて延在し、冷却
水のような流体を流通させ、コールドプレート1
2内の漏れを回避するようになつている。コール
ドプレート12を貫通する一対の開口20はコー
ルドプレート12の両側面22,24に装着され
る一対の周知の基板間の電気コネクタに適応する
ために設けられている。基板およびこれに接続さ
れる関連集積回路については後で説明する。
で示され、アルミニウムのような適当な材料から
作られた周知のコールドプレートを含む。このコ
ールドプレートは第一の部分12aを有し、この
第一の部分は第二の部分12bに接続かつ封着さ
れている。入口ポート14は典型的な導管18に
よつて出口ポートに接続され、導管18は適当な
方法でコールドプレート中を通つて延在し、冷却
水のような流体を流通させ、コールドプレート1
2内の漏れを回避するようになつている。コール
ドプレート12を貫通する一対の開口20はコー
ルドプレート12の両側面22,24に装着され
る一対の周知の基板間の電気コネクタに適応する
ために設けられている。基板およびこれに接続さ
れる関連集積回路については後で説明する。
柔軟なマツト21(第1,2図)が側面22と
接触し、別の類似の柔軟なマツト21が側面24
と接触している。各マツト21は側面22,24
に接着するペースト26の第一のフイルムを含
む。ペースト26は市販の熱伝導性ペーストであ
る。第二の金属フイルム28はアルミニウムであ
つてもよいが、好適にはペースト26に接着する
銅のフイルムでありかつマイクロクラツド
(MICROCLAD)と呼ばれる周知の方法で第三
のフイルム30に積層されている。第三のフイル
ム30は市販のプラスチツク材料であり、製品テ
ツドラー(TEDLAR)すなわちポリビニルフル
オライドであつてもよいが、好適には製品カプト
ン(KAPTON)すなわちポリイミドである。積
層された第二のフイルム28および第三のフイル
ム30は米国カリフオルニア州SylmarのFortin
Laminating Co.から販売されている。ペースト
26の厚さは約0.040インチ(1.016mm)であり、
銅28の厚さは約0.001インチ(0.0254mm)であり、
ポリイミド30の厚さは約0.001インチ(0.0254
mm)である。
接触し、別の類似の柔軟なマツト21が側面24
と接触している。各マツト21は側面22,24
に接着するペースト26の第一のフイルムを含
む。ペースト26は市販の熱伝導性ペーストであ
る。第二の金属フイルム28はアルミニウムであ
つてもよいが、好適にはペースト26に接着する
銅のフイルムでありかつマイクロクラツド
(MICROCLAD)と呼ばれる周知の方法で第三
のフイルム30に積層されている。第三のフイル
ム30は市販のプラスチツク材料であり、製品テ
ツドラー(TEDLAR)すなわちポリビニルフル
オライドであつてもよいが、好適には製品カプト
ン(KAPTON)すなわちポリイミドである。積
層された第二のフイルム28および第三のフイル
ム30は米国カリフオルニア州SylmarのFortin
Laminating Co.から販売されている。ペースト
26の厚さは約0.040インチ(1.016mm)であり、
銅28の厚さは約0.001インチ(0.0254mm)であり、
ポリイミド30の厚さは約0.001インチ(0.0254
mm)である。
第2図はコールドプレート12の各側面22,
24と関連する周知の基板32を示す。各基板3
2は種々の形状および大きさを有する、複数の市
販の集積回路パツケージ34を含む。周知のよう
に、そのような基板32はパツケージ34を冷却
するためにコールドプレート12と接触させられ
る。基板32はボルトその他の適当な手段によつ
てコールドプレート12に接続されかつ開口20
を貫通するコネクタによつて電気接続される。
24と関連する周知の基板32を示す。各基板3
2は種々の形状および大きさを有する、複数の市
販の集積回路パツケージ34を含む。周知のよう
に、そのような基板32はパツケージ34を冷却
するためにコールドプレート12と接触させられ
る。基板32はボルトその他の適当な手段によつ
てコールドプレート12に接続されかつ開口20
を貫通するコネクタによつて電気接続される。
マツト21は柔軟なであるため、種々の形状お
よび大きさのパツケージ34がフイルム30にお
いてマツト21の一部分と接触させられ、したが
つてマツト21を介する熱伝導性が保証される。
マツト21の剛さを制限するために、第二の金属
フイルム28は適当な方法によつてエツチングさ
れ、金属ブランチ38で相互に接続された複数の
金属パツド36を有する所定の配列を形成する
(第3図参照)。相互接続パツド36の配列は図示
のものとは変わつたものであつてもよい。また、
パツド36の全部でなく一部が相互接続されるこ
ともある。このようにして、第4図に示すよう
に、金属部分40がエツチングで除去されてフイ
ルム30を露出し、したがつてマツト21の剛さ
を低減する。金属部分40をエツチングで除去す
る結果として、パツド36と相互接続アーム38
はマツト21中の熱束の広がりを改良するのに適
した配列を与える。
よび大きさのパツケージ34がフイルム30にお
いてマツト21の一部分と接触させられ、したが
つてマツト21を介する熱伝導性が保証される。
マツト21の剛さを制限するために、第二の金属
フイルム28は適当な方法によつてエツチングさ
れ、金属ブランチ38で相互に接続された複数の
金属パツド36を有する所定の配列を形成する
(第3図参照)。相互接続パツド36の配列は図示
のものとは変わつたものであつてもよい。また、
パツド36の全部でなく一部が相互接続されるこ
ともある。このようにして、第4図に示すよう
に、金属部分40がエツチングで除去されてフイ
ルム30を露出し、したがつてマツト21の剛さ
を低減する。金属部分40をエツチングで除去す
る結果として、パツド36と相互接続アーム38
はマツト21中の熱束の広がりを改良するのに適
した配列を与える。
パツケージ34は通常アルミナまたはベリリア
のような絶縁材料から形成されかつ集積回路チツ
プ42が埋込まれている。これらのパツケージ3
4はパツド36の配列に対応する所定アレイにお
いて基板32上に与えられる(第4,5,6図参
照)。このようにして、金属パツド36はそれぞ
れのパツケージ34に隣接する。したがつて、チ
ツプ42で発生された際はパツケージ34、フイ
ルム30、フイルム28、ペースト26、コール
ドプレート12を通して伝導され、導管18中を
押し進められる冷却水のような流体によつてコー
ルドプレート12から運び去られる。
のような絶縁材料から形成されかつ集積回路チツ
プ42が埋込まれている。これらのパツケージ3
4はパツド36の配列に対応する所定アレイにお
いて基板32上に与えられる(第4,5,6図参
照)。このようにして、金属パツド36はそれぞ
れのパツケージ34に隣接する。したがつて、チ
ツプ42で発生された際はパツケージ34、フイ
ルム30、フイルム28、ペースト26、コール
ドプレート12を通して伝導され、導管18中を
押し進められる冷却水のような流体によつてコー
ルドプレート12から運び去られる。
熱は各パツケージ間で変動しうるから、相互接
続ブランチ38が各種パッド36間の熱の広がり
を助長し、したがつてマツト21の均一な熱分布
を促進することは重要である。
続ブランチ38が各種パッド36間の熱の広がり
を助長し、したがつてマツト21の均一な熱分布
を促進することは重要である。
マツト21から剛さを除去するのに加えて、エ
ツチングはフイルム28の各部分を露出し、した
がつて、伝導性でなく絶縁性であるために望まし
くないところの、ペースト26中の気泡またはエ
アポケツトの視覚検査を可能にする。銅パツド3
6を相互に接続する銅ブランチ38はパツケージ
34間に相互の熱通路を与える。この相互熱通路
はチツプ42の全部が類似した電力を消散してい
ない場合に特に有利である。温度分布はペースト
26中で実質的に一様になり、したがつてペース
ト26の寿命が延長される。
ツチングはフイルム28の各部分を露出し、した
がつて、伝導性でなく絶縁性であるために望まし
くないところの、ペースト26中の気泡またはエ
アポケツトの視覚検査を可能にする。銅パツド3
6を相互に接続する銅ブランチ38はパツケージ
34間に相互の熱通路を与える。この相互熱通路
はチツプ42の全部が類似した電力を消散してい
ない場合に特に有利である。温度分布はペースト
26中で実質的に一様になり、したがつてペース
ト26の寿命が延長される。
以上説明した装置は、サーマルペーストと、マ
ツト中の熱束の一様な分布を促進する金属フイル
ムと、集積回路パツケージと接触する別のフイル
ムとを含む柔軟なマツトと接触するところの集積
回路チツプを冷却するものである。
ツト中の熱束の一様な分布を促進する金属フイル
ムと、集積回路パツケージと接触する別のフイル
ムとを含む柔軟なマツトと接触するところの集積
回路チツプを冷却するものである。
第1図は本考案の実施例を示す斜視図である。
第2図は第1図の2−2線断面図である。第3図
は本考案のエツチングされたフイルムの実施例を
示す平面図である。第4図は関連集積回路パツケ
ージおよび基板の対応部分との関係を示す第3図
のエツチングされたフイルムの斜視図である。第
5図は第4図の5−5線断面図である。第6図は
エツチングされたフイルムの重ねられた対応アレ
イを含む基板および集積回路パツケージの所定ア
レイの実施例を示す平面図である。 10……集積回路チツプ、12……コールドプ
レート、14……流体入口ポート、16……出口
ポート、18……導管、20……開口、21……
マツト、26……ペースト、28……金属フイル
ム、30……プラスチツクフイルム、32……基
板、34……集積回路パツケージ、36……金属
パツド、38……金属ブランチ、40……金属部
分、42……チツプ。
第2図は第1図の2−2線断面図である。第3図
は本考案のエツチングされたフイルムの実施例を
示す平面図である。第4図は関連集積回路パツケ
ージおよび基板の対応部分との関係を示す第3図
のエツチングされたフイルムの斜視図である。第
5図は第4図の5−5線断面図である。第6図は
エツチングされたフイルムの重ねられた対応アレ
イを含む基板および集積回路パツケージの所定ア
レイの実施例を示す平面図である。 10……集積回路チツプ、12……コールドプ
レート、14……流体入口ポート、16……出口
ポート、18……導管、20……開口、21……
マツト、26……ペースト、28……金属フイル
ム、30……プラスチツクフイルム、32……基
板、34……集積回路パツケージ、36……金属
パツド、38……金属ブランチ、40……金属部
分、42……チツプ。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 コールドプレートと、 前記コールドプレートに接触し、熱伝導性であ
るとともに電気絶縁性のペースとからなる第一の
フイルムと、 前記第一のフイルムに接触し、所定の配列で相
互に接続された金属パツドを有する第二のフイル
ムと、 前記第二のフイルムに接触し、熱伝導性である
とともに電気絶縁性である第三のフイルムと、 前記金属パツドの配列に対応する所定の配列で
集積回路チツプを備えた複数の回路パツケージを
有する基板とを備えており、 前記各フイルムが一つの柔軟なマツトを構成
し、 前記各回路パツケージが関連の金属パツドに隣
接した前記第三のフイルムに接触していることを
特徴とする集積回路チツプ冷却装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US46429483A | 1983-02-07 | 1983-02-07 | |
US464294 | 1983-02-07 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6057139U JPS6057139U (ja) | 1985-04-20 |
JPH0135484Y2 true JPH0135484Y2 (ja) | 1989-10-30 |
Family
ID=23843332
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP921984U Granted JPS6057139U (ja) | 1983-02-07 | 1984-01-27 | 集積回路チツプ冷却装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6057139U (ja) |
CA (1) | CA1203640A (ja) |
DE (1) | DE3404027A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4312057A1 (de) * | 1993-04-13 | 1993-10-14 | Siegmund Maettig | Vorrichtung zum Kühlen hochintegrierter Multi-Chip-Moduls für Datenverarbeitungsanlagen mit hoher Rechnerleistung |
JP4626082B2 (ja) * | 2001-04-16 | 2011-02-02 | 株式会社日立製作所 | 冷却水路を備えた電気装置 |
JP2005531133A (ja) * | 2002-05-22 | 2005-10-13 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト | 電気部品を冷却するための冷却装置、冷却装置および電気部品から成るモジュール、冷却装置またはモジュールおよび支持体から成る冷却システム |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4092697A (en) * | 1976-12-06 | 1978-05-30 | International Business Machines Corporation | Heat transfer mechanism for integrated circuit package |
-
1983
- 1983-05-18 CA CA000428435A patent/CA1203640A/en not_active Expired
-
1984
- 1984-01-27 JP JP921984U patent/JPS6057139U/ja active Granted
- 1984-02-06 DE DE19843404027 patent/DE3404027A1/de not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CA1203640A (en) | 1986-04-22 |
DE3404027A1 (de) | 1984-08-16 |
JPS6057139U (ja) | 1985-04-20 |
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