JPH01319818A - マルチプレクサ付ａｄ変換器の試験法 - Google Patents
マルチプレクサ付ａｄ変換器の試験法Info
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- JPH01319818A JPH01319818A JP15309788A JP15309788A JPH01319818A JP H01319818 A JPH01319818 A JP H01319818A JP 15309788 A JP15309788 A JP 15309788A JP 15309788 A JP15309788 A JP 15309788A JP H01319818 A JPH01319818 A JP H01319818A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 12
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 13
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この発明は入力段にマルチプレクサを具備したＡＤ変換
器に対する試験法に関する。
器に対する試験法に関する。
「従来の技術」
従来の試験法は一つの可変電圧源をマルチプレクサ付Ａ
Ｄ変換器の一つのチャネル（−接続し、その電圧源の電
圧値をＡＤ変換器のＬＳＢの１／Ｈのステップで、ゼロ
スケールからフルスケールまで単純に変化させ、ＡＤ変
換出力をバッファメモリに取込み、出力の遷移点を探す
直線性のチエツクを行っていた。
Ｄ変換器の一つのチャネル（−接続し、その電圧源の電
圧値をＡＤ変換器のＬＳＢの１／Ｈのステップで、ゼロ
スケールからフルスケールまで単純に変化させ、ＡＤ変
換出力をバッファメモリに取込み、出力の遷移点を探す
直線性のチエツクを行っていた。
「発明が解決しようとする課題」
従来は入力値を単純に１ステップずつ変化させる静的な
測定であったが、実際には入力はダイナミックに双化す
るものであり実動作と異なった試験となっていた。
測定であったが、実際には入力はダイナミックに双化す
るものであり実動作と異なった試験となっていた。
また入力電圧を１ステツプずつ変化させて測定を行うが
、その１ステツプ変化した電圧が安定するまでの時間、
いわゆるセットリング時間が存在しているため、このセ
ットリング時間の間は測定を中止する必要があり、測定
回数が非常に多いため、数ミリセコンドの待ち時間も無
視できなくなる。
、その１ステツプ変化した電圧が安定するまでの時間、
いわゆるセットリング時間が存在しているため、このセ
ットリング時間の間は測定を中止する必要があり、測定
回数が非常に多いため、数ミリセコンドの待ち時間も無
視できなくなる。
「課題を解決するための手段」
この発明によれば被試験マルチプレクサ付ＡＤ変換器に
対し２台の可変電圧源が接続され、チャネル選択、ＡＤ
変換、ＡＤ変換出力の取込み、入力値の変化の一連の動
作は各チャネル交互に行われる。
対し２台の可変電圧源が接続され、チャネル選択、ＡＤ
変換、ＡＤ変換出力の取込み、入力値の変化の一連の動
作は各チャネル交互に行われる。
その入力値の変化は一方をゼロスケールからフルスケー
ルへ変化させ、他方をフルスケールからゼロスケールに
変化させる。
ルへ変化させ、他方をフルスケールからゼロスケールに
変化させる。
「実施例」
第１図はこの発明の実施例を示す。被試験マルチプレク
サ付ＡＤ変換器１１は入力段にマルチプレクサ１２が設
けられ、マルチプレクサ１２で選択されたチャネルがＡ
Ｄ変換部１３に接続される。
サ付ＡＤ変換器１１は入力段にマルチプレクサ１２が設
けられ、マルチプレクサ１２で選択されたチャネルがＡ
Ｄ変換部１３に接続される。
マルチプレクサ１２はアドレスラッチ１４１ニラツチさ
れたアドレスにより選択制御が行われる。コントロール
ロジック１５でＡＤ変換のモード選択と、チャネル選択
とが行われる。
れたアドレスにより選択制御が行われる。コントロール
ロジック１５でＡＤ変換のモード選択と、チャネル選択
とが行われる。
この発明においては可変電圧源１６．１７がマルチプレ
クサ付ＡＤ変換器１１に接続される。この例では第１チ
ヤネルＣＨＩと、第４チヤネルＣＨ４とに可変電圧源１
６．１７がそれぞれ接続される。パタ二ン発生器１８か
らアドレスラッテ１４ヘラツチされるアドレス、つまり
選択するチャネルが出力されると共に、全体の動作クロ
ックＣＬＫと、ＡＤ変換部１３の変換起動指令５ＴＡＲ
Ｔとが出力される。更（ニパターン発生器１８により可
変電圧源１６．１７の発生電圧が制御される。
クサ付ＡＤ変換器１１に接続される。この例では第１チ
ヤネルＣＨＩと、第４チヤネルＣＨ４とに可変電圧源１
６．１７がそれぞれ接続される。パタ二ン発生器１８か
らアドレスラッテ１４ヘラツチされるアドレス、つまり
選択するチャネルが出力されると共に、全体の動作クロ
ックＣＬＫと、ＡＤ変換部１３の変換起動指令５ＴＡＲ
Ｔとが出力される。更（ニパターン発生器１８により可
変電圧源１６．１７の発生電圧が制御される。
可変電圧源１６はゼロスケールからフルスケールまで、
ＡＤ変換部１３のＬＳＢの１／Ｎのステップで変化され
る。一方可変電圧源１７はフルスケールからゼロスケー
ルまで、ＡＤ変換部１３のＬＳＢの１／Ｈのステップで
変化される。この各ステップ変化ごとにアドレスラッチ
１４に対して第１チヤネルＣＨＩと第４チヤネルＣＨ４
とのアドレスが交互にラッテされる。
ＡＤ変換部１３のＬＳＢの１／Ｎのステップで変化され
る。一方可変電圧源１７はフルスケールからゼロスケー
ルまで、ＡＤ変換部１３のＬＳＢの１／Ｈのステップで
変化される。この各ステップ変化ごとにアドレスラッチ
１４に対して第１チヤネルＣＨＩと第４チヤネルＣＨ４
とのアドレスが交互にラッテされる。
第２図Ａに示す動作クロックに対し、チャネルを選択す
るアドレスは第２図Ｂに示すように発生し、ＡＤ変換の
開始指令が第２図Ｃに示すように発生し、第２図りに示
すようにＡＤ変換出力が取出され、可変電圧源１６．１
７に対する電圧設定が第２図Ｅ、Ｆに示すようｆ二行わ
れ、ＡＤ変換出力が第２図Ｇに示すようにバッファメモ
リに取込まれる。
るアドレスは第２図Ｂに示すように発生し、ＡＤ変換の
開始指令が第２図Ｃに示すように発生し、第２図りに示
すようにＡＤ変換出力が取出され、可変電圧源１６．１
７に対する電圧設定が第２図Ｅ、Ｆに示すようｆ二行わ
れ、ＡＤ変換出力が第２図Ｇに示すようにバッファメモ
リに取込まれる。
第２図の時点■でチャネル選択が行われ、時点■でＡＤ
変換が行われ、時点■でＡＤ変換出力のバッファメモリ
への取込みが行われ、時点■で可変電圧源の電圧が変化
される。
変換が行われ、時点■でＡＤ変換出力のバッファメモリ
への取込みが行われ、時点■で可変電圧源の電圧が変化
される。
このように可変電圧源１６．１７が交互に選択されるた
め、可変電圧源のセットリング時間（−影響されること
なく、試験をすることができる。また可変電圧源１６は
ゼロスケールからフルスケールに双化し、可変電圧源１
７はフルスケールからゼロスケールに双化するため、出
力コードは第３図に示すようになり、ＡＤ変換部１３に
人力される電圧はダイナミックに双化し、実際の動作に
近い試験が行われる。
め、可変電圧源のセットリング時間（−影響されること
なく、試験をすることができる。また可変電圧源１６は
ゼロスケールからフルスケールに双化し、可変電圧源１
７はフルスケールからゼロスケールに双化するため、出
力コードは第３図に示すようになり、ＡＤ変換部１３に
人力される電圧はダイナミックに双化し、実際の動作に
近い試験が行われる。
上述では可変電圧源を２台使用したが、３台以上使用し
てもよい。
てもよい。
「発明の効果」
以上述べたよう（−この発明（＝よれば交互（−チャネ
ル選択をしているため可変電圧ｉ１６ 、１７のセット
リング時間（＝影響されることなく試験を行うことがで
き、それだけ短時間に試験を行うことができる。また可
変電圧源１６．１７の一方をゼロスケールからフルスケ
ールに変化させ、他方をフルスケールからゼロスケール
に双化させ、これら電圧を交互にＡＤ変換しているため
、ＡＤ変換部１３の入力がダイナミックに双化し、実動
作に近い試験を行うことができる。
ル選択をしているため可変電圧ｉ１６ 、１７のセット
リング時間（＝影響されることなく試験を行うことがで
き、それだけ短時間に試験を行うことができる。また可
変電圧源１６．１７の一方をゼロスケールからフルスケ
ールに変化させ、他方をフルスケールからゼロスケール
に双化させ、これら電圧を交互にＡＤ変換しているため
、ＡＤ変換部１３の入力がダイナミックに双化し、実動
作に近い試験を行うことができる。
第１図はこの発明の実施例を示すブロック図、第２図は
その動作例を示すタイムチャート、第３図は出力の変化
状態を示す図である。
その動作例を示すタイムチャート、第３図は出力の変化
状態を示す図である。
Claims (1)
- （１）被試験マルチプレクサ付ＡＤ変換器に対し、２台
の可変電圧源を接続し、 チャネル選択、ＡＤ変換、ＡＤ変換出力の取込み、入力
値の変化の一連の動作を各チャネル交互に行い、 入力値の変化は一方をゼロスケールからフルスケールへ
変化させ、他方をフルスケールからゼロスケールに変化
させるマルチプレクサ付ＡＤ変換器の試験法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15309788A JP2592656B2 (ja) | 1988-06-20 | 1988-06-20 | マルチプレクサ付ａｄ変換器の試験法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15309788A JP2592656B2 (ja) | 1988-06-20 | 1988-06-20 | マルチプレクサ付ａｄ変換器の試験法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01319818A true JPH01319818A (ja) | 1989-12-26 |
| JP2592656B2 JP2592656B2 (ja) | 1997-03-19 |
Family
ID=15554909
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15309788A Expired - Lifetime JP2592656B2 (ja) | 1988-06-20 | 1988-06-20 | マルチプレクサ付ａｄ変換器の試験法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2592656B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010212808A (ja) * | 2009-03-06 | 2010-09-24 | Hitachi Ltd | 多チャンネルアナログ入出力回路の故障診断装置及び故障診断方法 |
| JP2014022856A (ja) * | 2012-07-17 | 2014-02-03 | Denso Corp | マルチプレクサの異常診断装置 |
-
1988
- 1988-06-20 JP JP15309788A patent/JP2592656B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010212808A (ja) * | 2009-03-06 | 2010-09-24 | Hitachi Ltd | 多チャンネルアナログ入出力回路の故障診断装置及び故障診断方法 |
| JP2014022856A (ja) * | 2012-07-17 | 2014-02-03 | Denso Corp | マルチプレクサの異常診断装置 |
| US9215046B2 (en) | 2012-07-17 | 2015-12-15 | Denso Corporation | Fault diagnosis device for multiplexer |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2592656B2 (ja) | 1997-03-19 |
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