JP2010212808A - 多チャンネルアナログ入出力回路の故障診断装置及び故障診断方法 - Google Patents

多チャンネルアナログ入出力回路の故障診断装置及び故障診断方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2010212808A
JP2010212808A JP2009054194A JP2009054194A JP2010212808A JP 2010212808 A JP2010212808 A JP 2010212808A JP 2009054194 A JP2009054194 A JP 2009054194A JP 2009054194 A JP2009054194 A JP 2009054194A JP 2010212808 A JP2010212808 A JP 2010212808A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
input
analog
circuit
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2009054194A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4801180B2 (ja
Inventor
Nao Terae
尚 寺江
Masakazu Ishikawa
雅一 石川
Yasuyuki Furuta
康幸 古田
Katsumi Yoshida
克己 吉田
Atsushi Nishioka
淳 西岡
Yasuhiro Kiyofuji
康弘 清藤
Takenori Kasahara
武則 笠原
Shuichi Nagayama
修一 長山
Fujiya Kawakazu
藤也 川和
Manabu Kubota
学 久保田
Tatsuyuki Otani
辰幸 大谷
Hidechiyo Tanaka
秀千代 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2009054194A priority Critical patent/JP4801180B2/ja
Priority to CA2693033A priority patent/CA2693033C/en
Priority to US12/707,938 priority patent/US8386862B2/en
Priority to CN201010117432.2A priority patent/CN101825900B/zh
Publication of JP2010212808A publication Critical patent/JP2010212808A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4801180B2 publication Critical patent/JP4801180B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/04Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
    • G05B19/042Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers using digital processors
    • G05B19/0423Input/output
    • G05B19/0425Safety, monitoring
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00Program-control systems
    • G05B2219/20Pc systems
    • G05B2219/21Pc I-O input output
    • G05B2219/21137Analog to digital conversion, ADC, DAC
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00Program-control systems
    • G05B2219/20Pc systems
    • G05B2219/24Pc safety
    • G05B2219/24069Diagnostic
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00Program-control systems
    • G05B2219/20Pc systems
    • G05B2219/25Pc structure of the system
    • G05B2219/25435Multiplex for analog signals

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

【課題】多チャンネルアナログ入出力回路に用いられるマルチプレクサの故障とA/D変換器の故障を同時に検出でき、故障の原因も切り分け可能とする。
【解決手段】アナログ信号変換部を構成する複数チャンネルを有するマルチプレクサと、該マルチプレクサの出力をデジタル信号に変換するA/D変換器に対して、マルチプレクサの各チャンネル毎に異なったテスト電圧値を、診断電圧入力部から入力する。そして、各チャンネル毎に出力されるデジタル電圧値を入力されたテスト電圧値と比較し、その比較結果から、マルチプレクサの故障か、あるいはA/D変換器の故障かを判別する。
【選択図】図1

Description

本発明は、プログラムマブル電子装置に用いられる多チャンネルアナログ入出力回路の故障診断を行うための装置及びその方法に関する。
原子力プラントや化学プラントなど潜在的な危険性の高いプロセス設備では,万が一の事態に作業員及び周辺環境への影響を低減するため,隔壁等の防護設備による受動的な対策とともに、緊急停止装置等の安全装置を用いる能動的な対策が講じられている。
このうち,安全装置等の制御手段は,従来リレー等の電磁的・機械的手段により実現されていた。しかし,近年,プログラマブル電子装置(PLC:Programmable Logic Controller)に代表されるプログラム可能な制御機器における技術の発展に伴い,これらの制御機器を安全制御システムの制御手段として利用するニーズが高まっている。
非特許文献1に示したIEC61508は,そのような動向に対応して発行された国際規格であり,電気的/電子的/プログラム可能な電子的装置を安全制御システムの一部に利用する場合の要件が規定されている。すなわち、IEC61508では,安全制御システムの能力の尺度としてSIL(Safety Integrity Level)を定義し,1から4までのレベルに対応する水準の要求事項を規定している。SILが高いほどプロセス設備の持つ潜在的な危険性を低減できる度合が大きいことを示す。すなわち,このSILのレベルは、プロセス設備の異常を検出した際,どれだけ確実に所定の安全制御を実施できるかを意味している。
安全制御装置は,通常稼働状態で非活性となっていても,プロセス設備の異常発生時には直ちに活性化することを求められる。そのため,常時自己診断を行い,自身の健全性をチェックし続けることが重要となる。また,高いSILが要求される安全制御システムでは,未検出の故障によりシステムが不動作となる確率を極小とするため,広範囲・高精度な自己診断を実施する必要がある。
IEC61508では,安全制御装置を構成する要素部品の種類ごとに,各々適用される自己診断技法が紹介されており,それぞれの技法の有効性が診断率という形で示されている。ここで、診断率とは,各構成要素における全故障のうち,その診断技法を採用したときに検出可能な故障の割合を示すものである。
また、PLCの構成要素の一つであるアナログ入出力装置の故障検出手段としては、故障診断用の回路を別に設ける方法、つまり回路を二重化するなどの方法によって故障を検出する方法がとられている。例えば、A/D変換器に接続するマルチプレクサの故障を診断するために、マルチプレクサを二重化し、それらの出力を比較することによりマルチプレクサの故障を診断する方法が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
また、A/D変換器の故障を検出する際に、A/D変換器の前にマルチプレクサを設け、このマルチプレクサの入力を電源電圧とグランド電圧に接続して、A/D変換器の故障診断をする方法も提案されている(特許文献2を参照)。
更に、外付け回路を不要としたA/D変換器の良否判定を行う方法であって、低電位から高電位までのテスト電圧を用意し、このテスト電圧をA/D変換信号として出力することにより、この出力値に基づいてA/D変換器の良否判定を行う方法も提案されている(特許文献3参照)
また、複数のテストパターン(テストモード)を発生させて、入力されるアナログ信号とテストパターン信号を切り換えて、A/D変換器を含むアナログ処理部に供給し、A/D変換器から出力されるテストパターン信号のデジタル信号に基づいて、アナログとデジタルの混在回路の障害を検出する方法も提案されている(特許文献4参照)。
特開平1−101020号公報 特開平8−330959号公報 特開2007−285764号公報 特開2004−228928号公報
しかしながら、上述した特許文献1〜4に示した技術では、それぞれマルチプレクサの故障またはA/D変換器の故障を検出することはできるが、これら2つの部品の故障を同時に検出して、更にその上で、その故障の原因の切り分けを行うことはできない。
例えば、特許文献2に記載の技術では、マルチプレクサの各チャンネル間に同じ電圧値が入力された場合、特に入力選択信号自体に故障が生じた場合などには、故障していることすら検出できない場合が発生するという問題があった。すなわち、特許文献1〜4に示されるような故障診断方法は、高い故障診断検出率を要求されるシステムには、十分な機能安全が確保できないものであった。
本発明の目的は、多チャンネルアナログ入力回路に用いられるマルチプレクサの故障とA/D変換器の故障を同時に検出でき、更には故障の原因も切り分け可能とした故障診断装置及び故障診断方法を提供することにある。
上記課題を解決し、本発明の目的を達成するため、本発明の故障診断装置は、複数種類の信号を発する信号源と、該信号源からの信号が供給される少なくとも2つ以上のスイッチを有する第1の切換回路と、この第1の切換回路を介して信号源からの出力が供給されるアナログ信号変換部と、テスト電圧が入力される診断電圧入力部とを、備えている。
すなわち、本発明の故障診断装置は、アナログ信号変換部と、診断電圧入力部とから構成される装置であり、アナログ信号変換部は、信号源からの信号が前記第1の切換回路を介して供給され、第1の切換回路が有する複数のスイッチと同数のチャンネルを有するマルチプレクサと、このマルチプレクサからの信号が供給されるアナログ/デジタル変換器と、アナログ/デジタル変換器からの出力が供給され出力処理回路と、を備えている。
また、診断電圧入力部は、テスト電圧入力回路と、該テスト電圧入力回路からのテスト電圧が供給されるデジタル/アナログ変換器と、このデジタル/アナログ変換器からのアナログ信号が供給され、複数の出力チャンネルを有するデマルチプレクサと、デマルチプレクサに接続された少なくともデマルチプレクサの出力チャンネルと同数のスイッチを有する第2の切換回路と、を備えている。そして、故障診断時に、デマルチプレクサからのアナログのテスト電圧が、第2の切換回路の各スイッチ介して、アナログ信号変換部のマルチプレクサの各チャンネルの入力として供給されるようになっている。
また、本発明の故障診断方法は、複数種類の信号を発する信号源と、この信号源からの信号が供給される少なくとも2つ以上のスイッチを有する第1の切換回路と、第1の切換回路の出力が供給されるアナログ信号変換部と、テスト電圧が入力される診断電圧入力部とを、備える多チャンネルアナログ入出力回路の故障診断方法である。まず、アナログ信号変換部を構成する複数チャンネルを備えるマルチプレクサと、該マルチプレクサの出力をデジタル信号に変換するA/D変換器に対して、マルチプレクサの各チャンネル毎に異なったテスト電圧値を、診断電圧入力部から入力する。そして、各チャンネル毎に出力されるデジタル電圧値を、入力されたテスト電圧値と比較し、その比較結果から、マルチプレクサの故障か、あるいはA/D変換器の故障かを判別するようにしている。
つまり、本発明の故障診断装置及び故障診断方法では、マルチプレクサ及びA/D変換器のどちらが故障しているのかを、各入力チャンネル毎に異なったテスト電圧値を入力してその挙動パターンを観察することにより、マルチプレクサの故障か、A/D変換器の故障かを特定できるようにしている。
本発明によれば、多チャンネルアナログ入出力回の故障診断範囲を拡大することができるとともに、異常発生後には、故障部位の特定が容易になり、部品交換にかかる時間が短くなるという作用効果がある。その結果、平均復旧時間(MTTR:Mean Time To Repair)が短縮されるので、高信頼性のシステムを実現することができる。また、マルチプレクサ、A/D変換器、スイッチなどを個別に診断するための回路を構成する必要がないので、部品点数が下がり、コスト低減につながるという利点もある。
なお、MTTRとは、故障したシステムの復旧に係る時間の平均を表わす数値であり、修理時間を故障回数で割った値である。このMTTRは、システムの保全性の指標として用いられ、MTTRが小さいほど復旧までの時間が短く、保全性が高いシステムであるということができる。
本発明の実施の形態例としてのアナログ入出力回路の故障診断装置のブロック構成図である。 本発明の実施の形態例における、回路側スイッチのON/OFFの固着診断及び回路の故障診断の動作を説明するためのフローチャートである。 本発明の実施の形態例における、正常状態での各チャンネルの出力値とテスト入力値との比較結果を示した図である。 本発明の実施の形態例における、マルチプレクサの異常状態での各チャンネルの出力値とテスト入力値との比較結果を示した図である。 本発明の実施の形態例における、A/D変換器の異常状態での各チャンネルの出力値とテスト入力値との比較結果を示した図である。 本発明の実施の形態例における、A/D変換器の異常状態での各チャンネルの各ビット列を比較して示した図である。
以下、本発明を実施するための実施形態例(以下、「本例」ということもある)について図面を参照して説明する。
図1は、本発明の実施形態例のアナログ入出力回路の故障診断装置のブロック回路図である。本例では、便宜上、信号源の数とチャンネルの数を16個として説明している。つまり、信号源105は、16種類の電圧を発生するようになっている。この信号源電圧の幅は1V〜5Vとされる。また、テスト電圧アナログ入力値は、0.5V〜8Vとし、テスト電圧のデジタル値の下限と上限をそれぞれ4000、16000として説明する。ただし、これらの数値はあくまでも一例を示すものであって、実際の実施形態例においては、これらの数値に限定されるものではない。したがって、本発明がこれらの数値の制約を受けることはない。
図1に示すように、本発明の実施形態例は、信号源100と、信号源100からの信号が供給される16個のスイッチを有する第1の切換回路101と、この第1の切換回路101が接続されるアナログ信号変換部102と、このアナログ信号変換部102に接続され、テスト電圧を供給する診断電圧入力部103から構成されている。
アナログ信号変換部102は、第1の切換回路101を介して供給される信号源電圧の中の1つを選択し、デジタル値に変換して出力する回路である。また、診断電圧入力部103は、後述するようにD/A変換された複数段階の診断用テスト電圧をアナログ信号変換部102に供給する回路である。
アナログ信号変換部102は、16チャンネルの信号源100からの信号が、第1の切換回路101と信号線104を介して入力されるマルチプレクサ105と、マルチプレクサ105からのアナログ出力値をデジタル信号に変換するA/D変換器106と、A/D変換器106の出力値を処理する出力処理回路107とから構成されている。なお、マルチプレクサ105がどのチャンネルの信号を選択するかは、外部から供給される入力選択信号108により決定される。
また、診断電圧入力部103は、0.5V〜8Vまでを16段階に分けて、16のテスト電圧値(デジタル値)を発生するテスト電圧入力回路109と、このテスト電圧入力回路109の出力をアナログ信号に変換するD/A変換器110と、D/A変換器110の出力を分配するデマルチプレクサ111と、デマルチプレクサ111で分配された16段階のテスト電圧を供給する第2の切換回路112から構成されている。ここで、デマルチプレクサ111の切換選択は、入力選択信号108と同期した出力選択信号113によって行われる。
診断電圧入力部103からのテスト電圧は、抵抗群114を経由して、アナログ信号変換部102の信号線104に供給される。また、アナログ信号変換部102の出力処理回路107からの出力信号と、診断電圧入力部103のテスト電圧入力回路109からのテスト電圧は、出力比較回路115で比較され、この出力比較回路115の比較結果から、アナログ信号変換部102を構成するそれぞれの回路の正常、異常の判定がなされるようになっている。何らかの異常を検出した場合には、出力比較回路115からエラー信号116が不図示の警告装置に送られるようになっている。
次に、図1に示す回路の動作を説明する。16チャンネルを有する信号源100からの信号は、第1の切換回路101によって、チャンネル毎に独立に接続の開閉を切り替えられるようになっている。そして、マルチプレクサ105は、16チャンネルのうちの1つを選択して、A/D変換器106に送るようにしている。ここで、どのチャンネルに切り替えるかは、外部から入力される入力選択信号108によって決定される。そして、A/D変換器106によってデジタル値に変換された信号は、出力処理回路107に送られ、ここで通常の処理がなされて、出力比較回路115に出力される。なお、信号源100からの電圧値は、上述したように1V〜5Vの範囲内で変化するように設定される。
また、テスト電圧入力回路109からの出力は、D/A変換器110でアナログ値に変換され、デマルチプレクサ111によって16チャンネルの出力のいずれかに分配される。このデマルチプレクサ111における各チャンネルの選択切換は、外部から供給される出力選択信号113によって行われる。この出力選択信号113は既に述べた入力選択信号108と同期がとれた信号となっている。
そして、デマルチプレクサ111の出力チャンネルが、第2の切換回路112で選択されるいずれかのスイッチに接続され、テスト電圧が、診断電圧入力部103からアナログ信号変換部102に供給されるようになっている。また、出力比較回路115は、上述のように、テスト電圧入力回路109からのテスト電圧と、このテスト電圧がアナログ信号変換部102を経由して出力処理回路107から出力された出力電圧とを比較する。そして、この比較結果から、アナログ信号変換部102の異常判定が行われる。
図1のように構成した、多チャンネルアナログ入出力回路の故障診断装置において、通常時には、第1の切換回路101は、ONになっており、信号源100からの信号がマルチプレクサ105を経由してA/D変換器106に供給される。そして、A/D変換器106でアナログ値からデジタル値に変換される。
一方、故障診断動作時には、第1の切換回路101をOFFに設定し、第2の切換回路112をONに設定する。そして、診断電圧入力部103からのテスト電圧をマルチプレクサ105に供給する。なお、故障診断動作を行う際には、テスト電圧として、チャンネルごとに異なった電圧値を設定し、デマルチプレクサ111でチャンネルを順次切り替えて入力するようにする。
次に、図2に示したフローチャートに基づいて、アナログ入力診断部102のマルチプレクサ105とA/D変換器106の故障検出を行う場合の前提となる動作を説明するとともに、アナログ信号変換部102の各回路の故障診断について説明する。
まず、アナログ入力診断部102の故障検出に当たり、第1の切換回路101の健全性を調べておく必要がある。つまり、第1の切換回路102のON固着またはOFF固着を診断しておく必要があり、図2のフローチャートはその為の手順を示したものである。
図2に示すように、今後は、第1の切換回路101を「スイッチ101」と記載し、第2の切換回路112を「スイッチ112」と記載して、以下説明する。
最初に、スイッチ101のON固着及びOFF固着について調べるための流れを説明する。まずスイッチ101をOFF状態にし、スイッチ112をON状態に設定する。そしてテスト電圧入力回路109から0Vを入力する(ステップS201)。
そして、アナログ信号診断部102の出力処理回路107の出力が「0Vである」かどうかを判定する(ステップS202)。この判断ステップS202において、テスト電圧入力回路109から入力した電圧0Vが、出力処理回路107から出力されていると判定されたならば(ステップS202のYes)、スイッチ101は、正常に開放されている、つまりOFF状態になっていると判断される。言い換えると、スイッチ101がON固着していないと判断され、次のステップS204に進む。
一方、判断ステップS202で、出力処理回路107の出力が0V以外の値になったと判定された場合(ステップS202のNo)は、本来出力されないはずの信号源100からの出力が、スイッチ101を経由して出力処理回路107から出力されている可能性がある。すなわち、スイッチ101がOFF状態になっておらず、ON状態になっている可能性が高いことになる。このような場合には、スイッチ101がON固着になっていると判断される(ステップS203)。
判断ステップS202でスイッチ101がON固着になっていないと判断された場合には、続いて、スイッチ101がOFF固着になっているかどうかが判定されなければならない。そこで、スイッチ101をON状態に切り替え、スイッチ112をOFF状態に切り替える。信号源100からは1V〜5Vの電圧が供給され、テスト電圧入力回路109からのテスト電圧は0Vとされる(ステップS204)。
そして、再びアナログ信号変換部102の出力処理回路107から出力される電圧が「0Vでない」か否かを判定する(ステップS205)。この判断ステップS205において、出力処理回路107からの出力が0Vではない(ステップS205のYes)と判定された場合は、信号源100からの入力がスイッチ101を経由して、出力されていると認めることができる。つまり、スイッチ101は正常に動作しており、OFF固着していないと判断することができる。
一方、判断ステップS205において、出力処理回路107から0Vが出力されていると判定された場合(ステップS205のNo)は、スイッチ101が信号源100に接続されていない可能性が大きい。すなわち、スイッチ101は、ON状態ではなくOFF状態に固着している、つまりOFF固着になっていると判断される(ステップS206)。
判断ステップS205で、出力処理回路107から0Vではない、何らかの信号が出力されていると判定された場合には、続いて、アナログ信号変換部102を構成する回路が正常に動作しているか否かが判断される。つまり、スイッチ101にON固着も、OFF固着もないという状態で、回路の異常検出が行われることになる。
そこで、今度は、スイッチ101をOFF状態に切り替え、スイッチ112をON状態に切り替える。そして、信号源100からの信号はそのままの状態に保ち、テスト電圧入力回路109から16段階のテスト電圧Vtestを発生させる(ステップS207)。そして、この状態で出力処理回路107の出力として、入力されたテスト電圧と同じ値の電圧Vtestが出力されているかどうかを判定する(ステップS208)。
この判断ステップS208で、出力処理回路107からテスト電圧Vtestと同じ電圧値が出力されていると判定された場合(ステップS208のYes)、つまり、図1の回路で言えば、テスト電圧16段階の全ての段階において出力比較回路115からエラー信号116が出力されない場合は、アナログ信号変換部102の全ての回路は正常に動作していると判定される(ステップS210)。
しかしながら、判断ステップS208において、出力処理回路107からテスト電圧Vtest以外の電圧値が出力されていると判定された場合(ステップS208のNo)には、アナログ信号変換部102を構成する回路、すなわちA/D変換器106かマルチプレクサ105に何らかの異常があったと判断される(ステップS209)。
しかし、単一チャンネルのみの診断だけでは、マルチプレクサ105の故障なのか、あるいはA/D変換器106の故障なのかを判断することはできないので、テスト電圧Vtestを16個のチャンネルを介して供給し、16チャンネルの全ての出力を診断して故障部位の特定を行うようにしている。
次に、図3〜図6に基づいて、本例の故障診断装置及び故障診断方法において、故障がない正常な状態と、何らかの故障がある異常状態を比較して説明する。
図3は、本例を構成する全ての回路が正常に動作している場合の例を示している。図3の横軸は、テスト電圧が供給される各チャンネルの番号を示している。それぞれのチャンネルには、0.5V〜8Vのテスト電圧が供給されるようになっている。一方、図3の縦軸の左側には、A/D変換器106でデジタル変換され、出力処理回路107から出力されるデジタル値が示され、右側には、A/D変換器106で変換される前のアナログ値が示されている。
図3に示すように、各チャンネル0〜15に加えられる電圧と、A/D変換器106からのデジタル出力値は比例関係にあることが分かる。実線p320は、テスト電圧入力回路109から入力されたデジタル値16個を結んだ線を表わしている。
点p300〜p315は、各チャンネル0〜15からマルチプレクサ105とA/D変換器106を介して出力処理回路107へ入力した値を表している。
図3から分かるように、点p300〜p315は、実線p320上に全て乗っており、このことから判断して、マルチプレクサ105及びA/D変換器106が正常に動作していることが確認できる。
次に、図4に基づいて、マルチプレクサが故障している場合について説明する。横軸と縦軸については、図3と同じであるので説明は省略する。また、図4の実線p420は、図3の実線p320と同じ線であり、テスト電圧入力回路109から入力されたデジタル値16個を線で結んだものである。
図4においても、点p400〜p415は、各チャンネルからマルチプレクサ105とA/D変換器106を介して出力処理回路107へ入力した値を表している。
図4に示されるように、点p400からp405、及び点p411からp415までは、実線p420上にあるが、点p406〜p410は、実線p420上にない。すなわち、点p406〜p410は、点p405と同じデジタル値8000になっている。入力テスト電圧をチャンネルごとに変えているので、その出力電圧も本来はチャンネルごとに異なる値となるはずであるが、図4のものは、複数のチャンネルで同一の値が出ていることが認識できる。
このことは、マルチプレクサ105による入力信号の選択が正常に行われないことを意味している。つまり、点p405の値に対応しているチャンネル番号5で固着していることが考えられ、マルチプレクサ105が故障していると判断される。
次に、図5に基づいて、A/D変換器106が故障している場合について説明する。横軸と縦軸については、図3、図4と同じであるので説明は省略する。また、図5の実線p520も、図3、図4に示す実線p320、p420と同じである。図5に示す、点p500〜p515も、図3、図4と同様に、各チャンネルからマルチプレクサ105とA/D変換器106を介して出力処理回路107に入力した値を示している。
図5に示すように、実線p520上に全ての点が乗っているのではなく、一部は実線p520から下方にシフトしている。つまり、実線p520上にあるのは、点p501、p502、p506、p507、p511、p512の6点だけであり、それ以外の点は、実線p520上にないことが認められる。この現象は、図4で示したマルチプレクサ105が故障している場合とは異なった現象である。
そこで、図5で得られたデジタル値をビット列にして並べたものを図6に示した。各チャンネル0〜15には、電圧0.5V〜8Vが0.5Vずつ暫時増加させるように加えられる。その各チャンネルに加えられる上記アナログ電圧に対応して、A/D変換器106でデジタル変換されたデジタル値を「4000」〜「16000」で示している。図6は、この値に対応する14ビットのビット列を示したものである。図6の上の図が正常な状態、例えば図3に示す状態のビット列であり、下の図が異常状態、つまり図5に示すような異常出力がある状態を示している。
今、図6のビット列のうち、上から3ビット目(下から12ビット目)に注目する(図の枠601で囲んだ部分)と、正常状態を示す上の図では、16個の各チャンネル「0、1・・・14、15」に対応して「1、0・・・1、1」となっている。これに対して、異常状態を示す下の図では、「0、0、・・・0、0」となっている。つまり、正常状態では上位3ビット目は、「0」または「1」のように、各チャンネルによって異なる値を取るのに対して、異常状態では、上位3ビット目が全てのチャンネルで「0」になっていることが確認される。
このことは、本来であれば、「0」と「1」の両方を取り得るはずのビットが、「0」に固着していることを意味している。言い換えると、A/D変換器106がアナログ値をデジタル値に変換する際に、正確に変換できなかったこと、つまりA/D変換器106の故障を意味しているということができる。上位3ビット目にあって、本来「1」であるべきものが、「0」になったということは、図6で言えば、同じ数だけ減少したことを意味するから、下方に一定量だけシフトしたことに他ならない。
なお、ここで図6に示したビット列の何番目のビットを使って、A/D変換器106の異常検出を行うかであるが、下から3〜4ビットは正常状態でも全て0になる場合があるので、通常は上位ビット、例えば上位1〜10ビット程度のビットを、16段階のテスト電圧毎に比較することが好ましい。
図3〜図6で説明したように、本例によれば、診断電圧入力部103からの16段階のテスト電圧をアナログ変換器102に供給し、その出力電圧と、入力電圧を比較することにより、多チャンネルアナログ入出力回路を構成するマルチプレクサ105とA/D変換器106の異常を同時に検出している。そして、異常時には、出力比較回路115からエラー信号116を発生し、プラント等の監視者または操作者に何らかの警告を行うようにしている。
以上、図1〜図6に基づいて、本発明の実施の形態例を説明したが、本発明は、上記実施形態例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載した本発明の要旨を逸脱しない限りにおいて、種々の変形例及び応用例を含むことは言うまでもない。
100・・・信号源(16個)、101・・・第1の切換回路(スイッチ16個)、102・・・アナログ信号変換部、103・・・診断電圧入力部、104・・・信号線、105・・・マルチプレクサ、106・・・A/D(アナログ/デジタル)変換器、107・・・出力処理回路、107・・・出力処理回路、108・・・入力選択信号、109・・・テスト電圧入力回路、110・・・D/A(デジタル/アナログ)変換器、111・・・デマルチプレクサ、112・・・第2の切換回路(スイッチ16個)、113・・・出録選択信号、114・・・抵抗群、115・・・出力比較回路、116・・・エラー信号(異常信号)

Claims (4)

  1. 複数種類の信号を発する信号源と、前記信号源からの信号が供給される少なくとも2つ以上のスイッチを有する第1の切換回路と、前記第1の切換回路を介して前記信号源からの出力が供給されるアナログ信号変換部と、テスト電圧が入力される診断電圧入力部とを、備えるアナログ入出力回路の故障診断装置であって、
    前記アナログ信号変換部は、
    前記信号源からの信号が前記第1の切換回路を介して供給され、前記第1の切換回路が有する複数のスイッチと同数のチャンネルを有するマルチプレクサと、
    前記マルチプレクサからの信号が供給されるアナログ/デジタル変換器と、
    前記アナログ/デジタル変換器からの出力が供給され出力処理回路と、を備え、
    前記診断電圧入力部は、
    テスト電圧入力回路と、
    該テスト電圧入力回路からのテスト電圧が供給されるデジタル/アナログ変換器と、
    前記デジタル/アナログ変換器からのアナログ信号が供給され、複数の出力チャンネルを有するデマルチプレクサと、
    前記デマルチプレクサに接続された少なくとも前記デマルチプレクサの出力チャンネルと同数のスイッチを有する第2の切換回路と、を備え、
    故障診断時に、前記デマルチプレクサからのアナログのテスト電圧が、前記第2の切換回路の各スイッチ介して、前記アナログ信号変換部の前記マルチプレクサの前記各チャンネルの入力として供給されること
    を特徴とする多チャンネルアナログ入出力回路の故障診断装置。
  2. 前記マルチプレクサには、該マルチプレクサの入力を選択ための入力選択信号が供給され、前記デマルチプレクサには、該デマルチプレクサの出力を選択するために、前記入力選択信号と同期した出力選択信号が供給される、
    ことを特徴とする請求項1に記載の多チャンネルアナログ入出力回路の故障診断装置。
  3. 複数種類の信号を発する信号源と、前記信号源からの信号が供給される少なくとも2つ以上のスイッチを有する第1の切換回路と、前記第1の切換回路の出力が供給されるアナログ信号変換部と、テスト電圧が入力される診断電圧入力部とを、備える多チャンネルアナログ入出力回路の故障診断方法であって、
    前記アナログ信号変換部を構成する複数チャンネルを備えるマルチプレクサと、該マルチプレクサの出力をデジタル信号に変換するA/D変換器に対して、前記マルチプレクサの各チャンネル毎に異なったテスト電圧値を、前記診断電圧入力部から入力し、
    前記各チャンネル毎に出力されるデジタル電圧値を、前記入力された前記テスト電圧値と比較することにより、前記マルチプレクサの故障か、あるいは前記A/D変換器の故障かを判別することを特徴とする、多チャンネルアナログ入出力回路の故障診断方法。
  4. 複数種類の信号を発する信号源と、前記信号源からの信号が供給される少なくとも2つ以上のスイッチを有する第1の切換回路と、前記第1の切換回路を介して前記信号源からの出力が供給される複数の入力チャンネルを有するマルチプレクサと、該マルチプレクサからの信号をデジタル信号に変換するアナログデジタル変換器と、前記アナログデジタル変換器からの信号が供給される出力処理回路を備えるアナログ信号変換部と、複数のテスト電圧を発生させるためのテスト電圧発生回路と、該テスト電圧が入力されるデジタルアナログ変換器と、該デジタルアナログ変換器の出力が入力される複数の出力チャンネルを有するデマルチプレクサと、該デマルチプレクサの出力が供給される第2の切換回路を備える診断電圧入力部とを備えた多チャンネルアナログ入出力回路の故障診断方法であって、
    前記第1の切換回路の各スイッチをオフに設定した状態で、前記第2の切換回路をオンに設定し、前記テスト電圧を0Vに固定した状態で、前記信号源から複数の電圧を発生させるように設定する第1のステップと、
    前記第1のステップの設定状態で、出力処理回路の出力電圧が0Vになっているか否かを判断する第2のステップと、
    前記第2のステップで、前記出力処理回路の出力電圧が0Vでないときに、前記第1の切換回路を構成するスイッチがオン固着していると判定する第3のステップと、
    前記第2のステップで、前記出力処理回路の出力電圧が0Vと判定されたときに、前記第1の切換回路の各スイッチをオンに設定した状態で、前記第2の切換回路のスイッチをオフに設定し、前記テスト電圧を0Vに固定した状態で、前記信号源から複数の電圧を発生させるように設定する第4のステップと、
    前記第4のステップの設定状態で、前記出力処理回路の出力電圧が0Vになっているか否かを判断する第5のステップと、
    前記第5のステップで、前記出力処理回路の出力電圧が0Vであるとき、前記第1の切換回路を構成するスイッチがオフ固着していると判定する第6のステップと、
    前記第5のステップで、前記出力処理回路の出力電圧が0Vではないと判定されたときに、前記第1の切換回路の各スイッチをオフに設定した状態で、前記第2の切換回路のスイッチをオンに設定し、前記テスト電圧を複数段階に切り替えて、前記信号源から複数の電圧を発生させるように設定する第7のステップと、
    前記第7のステップの設定状態で、前記出力処理回路の出力電圧が、前記複数段階に切り換えられて入力されるテスト電圧に等しくなっているかどうかを判断する第8のステップと、
    前記第8のステップで、前記出力処理回路の出力電圧が前記入力されたテスト電圧と一致しない場合に、前記アナログ入出力回路は、前記マルチプレクサまたはアナログデジタル変換器が正常に動作していないと判定する第9のステップと、
    前記第8のステップで、前記出力処理回路の出力電圧が前記入力されたテスト電圧と等しいと判断された場合に、前記アナログ入出力回路は正常に動作していると判定する第10のステップと、を含む、
    多チャンネルアナログ入出力回路の故障診断方法。
JP2009054194A 2009-03-06 2009-03-06 多チャンネルアナログ入出力回路の故障診断装置及び故障診断方法 Active JP4801180B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009054194A JP4801180B2 (ja) 2009-03-06 2009-03-06 多チャンネルアナログ入出力回路の故障診断装置及び故障診断方法
CA2693033A CA2693033C (en) 2009-03-06 2010-02-16 Fault diagnosis apparatus and fault diagnosis method of multi-channel analog input/output circuit
US12/707,938 US8386862B2 (en) 2009-03-06 2010-02-18 Fault diagnosis apparatus and fault diagnosis method of multi-channel analog input/output circuit
CN201010117432.2A CN101825900B (zh) 2009-03-06 2010-02-20 多路模拟输入输出电路的故障诊断装置及故障诊断方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009054194A JP4801180B2 (ja) 2009-03-06 2009-03-06 多チャンネルアナログ入出力回路の故障診断装置及び故障診断方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010212808A true JP2010212808A (ja) 2010-09-24
JP4801180B2 JP4801180B2 (ja) 2011-10-26

Family

ID=42689853

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009054194A Active JP4801180B2 (ja) 2009-03-06 2009-03-06 多チャンネルアナログ入出力回路の故障診断装置及び故障診断方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8386862B2 (ja)
JP (1) JP4801180B2 (ja)
CN (1) CN101825900B (ja)
CA (1) CA2693033C (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013183266A (ja) * 2012-03-01 2013-09-12 Denso Corp A/d変換器の故障診断方法及びa/d変換器を備えたマイコン
CN103969531A (zh) * 2014-05-09 2014-08-06 王允 线性光耦线性度自动测试装置
TWI463153B (zh) * 2012-03-30 2014-12-01 Atomic Energy Council 三重容錯類比輸入模組自動偵查故障裝置
JP2017126823A (ja) * 2016-01-12 2017-07-20 トヨタ自動車株式会社 A/d変換器の異常診断装置

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2447728B1 (en) * 2010-10-28 2013-06-19 Nxp B.V. Spectroscopic battery-cell-impedance measurement arrangement
CN102478853B (zh) * 2010-11-30 2014-09-10 英业达股份有限公司 矩阵式通用输入输出引脚的测试装置
CN103063937A (zh) * 2011-10-19 2013-04-24 北京强度环境研究所 模拟量变换器测试台
DE102012203670A1 (de) * 2012-03-08 2013-09-12 Robert Bosch Gmbh Analog-Digital-Wandleranordnung und zugehöriges Verfahren zur Überprüfung eines Multiplexers für einen Analog-Digital-Wandler
DE102012010143B3 (de) * 2012-05-24 2013-11-14 Phoenix Contact Gmbh & Co. Kg Analogsignal-Eingangsschaltung mit einer Anzahl von Analogsignal-Erfassungskanälen
JP5590078B2 (ja) 2012-07-17 2014-09-17 株式会社デンソー マルチプレクサの異常診断装置
US9509325B1 (en) * 2015-05-07 2016-11-29 Texas Instruments Incorporated Diagnostic monitoring for analog-to-digital converters
CN106020074A (zh) * 2016-08-04 2016-10-12 北京安控科技股份有限公司 一种一取一加诊断的功能安全模拟量输入电路
TWI629631B (zh) * 2016-12-30 2018-07-11 禾瑞亞科技股份有限公司 Multi-channel touch controller with channel switching circuit
JP6509461B2 (ja) * 2017-01-10 2019-05-08 三菱電機株式会社 代替装置、情報処理システム及び代替方法
JP6681354B2 (ja) * 2017-02-13 2020-04-15 矢崎総業株式会社 電力供給装置およびa/d変換部の異常判定方法
CN106802363A (zh) * 2017-03-09 2017-06-06 中国电子信息产业集团有限公司第六研究所 一种高精度plc模拟量输入模块工装测试方法及系统
JP2018165641A (ja) * 2017-03-28 2018-10-25 セイコーエプソン株式会社 故障判定回路、物理量検出装置、電子機器及び移動体
CN107315152A (zh) * 2017-04-28 2017-11-03 中国人民解放军91550部队 一种多测量通道机内自检电路设计
CN108226762B (zh) * 2018-01-15 2021-02-02 浙江中控技术股份有限公司 一种用于多路信号采集电路的诊断电路
EP3514964A1 (en) * 2018-01-19 2019-07-24 Socionext Inc. Semiconductor integrated circuitry
KR101918253B1 (ko) * 2018-01-26 2018-11-13 최운선 플라즈마 전원장치의 자가진단모듈 및 자가진단방법
WO2020217925A1 (ja) * 2019-04-23 2020-10-29 日立オートモティブシステムズ株式会社 半導体集積回路装置および半導体集積回路装置の検査方法
CN110212919A (zh) * 2019-05-27 2019-09-06 长沙韶光半导体有限公司 用于16通道模拟多路复用器的esd保护装置及多路复用装置
CN110440833A (zh) * 2019-09-03 2019-11-12 中核核电运行管理有限公司 信号转换装置及信号转换板卡
CN111190047B (zh) * 2019-10-11 2022-03-25 浙江中控技术股份有限公司 一种电流采集诊断电路及其失效诊断方法
CN111619539B (zh) * 2020-05-28 2021-10-15 神龙汽车有限公司 汽车制动开关功能检测系统的检测方法
US11409691B2 (en) * 2020-12-19 2022-08-09 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. High speed on die shared bus for multi-channel communication
CN112615623B (zh) * 2020-12-23 2022-03-25 电子科技大学 倒t型dac转换电路的单故障诊断方法
CN113518300B (zh) * 2021-06-15 2023-12-22 翱捷科技(深圳)有限公司 一种基于i2s的音频采集芯片参数自动配置方法及系统
CN114236344B (zh) * 2021-11-09 2023-04-18 广州质谱技术有限公司 三重四极杆质谱的通道电压故障检测方法
CN114200288B (zh) * 2021-12-20 2024-03-19 上海辰竹仪表有限公司 安全输入电路、电路故障检测系统以及电路故障检测方法
CN114885040A (zh) * 2022-07-05 2022-08-09 武汉森铂瑞科技有限公司 一种多路复用通信的智能输配电设备通信控制系统及方法
CN115598445B (zh) * 2022-10-25 2023-12-01 浙江御辰东智能科技有限公司 一种基于硬件在环的电气故障检测方法及装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01319818A (ja) * 1988-06-20 1989-12-26 Advantest Corp マルチプレクサ付ad変換器の試験法
JPH06224760A (ja) * 1993-01-22 1994-08-12 Oki Electric Ind Co Ltd マルチプレクサ内蔵a/d変換方式
JPH0739123U (ja) * 1993-12-14 1995-07-14 日新電機株式会社 Ad変換装置
JPH08162927A (ja) * 1994-12-08 1996-06-21 Mitsubishi Electric Corp マルチプレクサ
JP2009017359A (ja) * 2007-07-06 2009-01-22 Denso Corp 半導体集積回路

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01101020A (ja) 1987-10-14 1989-04-19 Yamatake Honeywell Co Ltd 電圧信号入力マルチプレクサ回路
JPH08330959A (ja) 1995-05-31 1996-12-13 Sumitomo Electric Ind Ltd A−d入力回路の故障検出方法
JP2000278132A (ja) * 1999-03-24 2000-10-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd 多信号のクランプ装置
JP2004228928A (ja) 2003-01-23 2004-08-12 Jeol Ltd テスト機能付きパルスプロセッサ
JP3861874B2 (ja) * 2003-12-16 2006-12-27 株式会社デンソー Ad変換器の故障検出装置
US7046180B2 (en) 2004-04-21 2006-05-16 Rosemount Inc. Analog-to-digital converter with range error detection
JP2007285764A (ja) 2006-04-13 2007-11-01 Toshiba Lsi System Support Kk 半導体装置及びその自己試験故障検出方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01319818A (ja) * 1988-06-20 1989-12-26 Advantest Corp マルチプレクサ付ad変換器の試験法
JPH06224760A (ja) * 1993-01-22 1994-08-12 Oki Electric Ind Co Ltd マルチプレクサ内蔵a/d変換方式
JPH0739123U (ja) * 1993-12-14 1995-07-14 日新電機株式会社 Ad変換装置
JPH08162927A (ja) * 1994-12-08 1996-06-21 Mitsubishi Electric Corp マルチプレクサ
JP2009017359A (ja) * 2007-07-06 2009-01-22 Denso Corp 半導体集積回路

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013183266A (ja) * 2012-03-01 2013-09-12 Denso Corp A/d変換器の故障診断方法及びa/d変換器を備えたマイコン
TWI463153B (zh) * 2012-03-30 2014-12-01 Atomic Energy Council 三重容錯類比輸入模組自動偵查故障裝置
CN103969531A (zh) * 2014-05-09 2014-08-06 王允 线性光耦线性度自动测试装置
JP2017126823A (ja) * 2016-01-12 2017-07-20 トヨタ自動車株式会社 A/d変換器の異常診断装置

Also Published As

Publication number Publication date
US20100235699A1 (en) 2010-09-16
CN101825900A (zh) 2010-09-08
US8386862B2 (en) 2013-02-26
CA2693033C (en) 2014-10-14
JP4801180B2 (ja) 2011-10-26
CA2693033A1 (en) 2010-09-06
CN101825900B (zh) 2014-01-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4801180B2 (ja) 多チャンネルアナログ入出力回路の故障診断装置及び故障診断方法
US7606672B2 (en) Plant protective instrumentation equipment
US9256211B2 (en) Input channel diagnostics
JP2012532394A (ja) ディスプレイ上にセーフティ関連情報の表示をする方法、及びその方法を適用する装置
KR101865666B1 (ko) 원자로노심보호계통 소프트웨어 검증용 시뮬레이션 장치 및 시스템
JP2006236214A (ja) 安全系装置の検証方法およびその検証方法で検証された安全系装置
US7487416B2 (en) Self test device and self test method for reconfigurable device mounted board
US20110264396A1 (en) Electrical circuit with physical layer diagnostics system
KR101797078B1 (ko) 원자로노심보호계통 유지보수 시뮬레이션 장치 및 시스템
JP5368926B2 (ja) プログラマブル・ロジック・コントローラ、および、プログラマブル・ロジック・コントローラにおける故障診断方法
EP3559447B1 (en) Detecting electrical failures in a wind turbine generator control system
JP5057837B2 (ja) 冗長化システムおよび冗長化システムの製造方法
KR101902577B1 (ko) 부품을 포함하는 제어 시스템의 기능 검사 방법
US8965735B2 (en) Signal processing device
KR20120034975A (ko) 핵연료 취급 기중기 시뮬레이터
JP2004318254A (ja) 安全保護計測装置の試験装置
US9852036B2 (en) Configurable input/output sub-channels for optimized diagnostics
KR20070037700A (ko) 핵 반응기 보호 시스템용 인쇄 회로 카드
KR101484210B1 (ko) 자동화 라인의 이상회로 점검방법
JP6714981B2 (ja) 多重化制御装置
RU2718168C2 (ru) Автоматизированная система безопасности промышленной установки
JP2012122958A (ja) 安全保護計測装置の健全性確認システム及び健全性確認方法
Pruysen Functional safety from a component supplier's viewpoint
JP2011141812A (ja) インターフェイス装置及びシミュレーションシステム
JPS62126444A (ja) 故障診断システム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110113

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110422

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110510

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110617

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110712

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110804

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140812

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4801180

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150