JPH01302873A - 発光ダイオードの製造方法 - Google Patents
発光ダイオードの製造方法Info
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- JPH01302873A JPH01302873A JP63133650A JP13365088A JPH01302873A JP H01302873 A JPH01302873 A JP H01302873A JP 63133650 A JP63133650 A JP 63133650A JP 13365088 A JP13365088 A JP 13365088A JP H01302873 A JPH01302873 A JP H01302873A
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 24
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 18
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 8
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 8
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 8
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims abstract description 8
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 claims abstract description 8
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 claims abstract description 8
- 238000000465 moulding Methods 0.000 claims description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 abstract description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 2
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 238000004943 liquid phase epitaxy Methods 0.000 abstract 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 abstract 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 abstract 1
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 5
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 description 3
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 3
- 238000000992 sputter etching Methods 0.000 description 3
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910000673 Indium arsenide Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- RPQDHPTXJYYUPQ-UHFFFAOYSA-N indium arsenide Chemical compound [In]#[As] RPQDHPTXJYYUPQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 206010011224 Cough Diseases 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N methanol Substances OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
Landscapes
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
- Led Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
本発明は発光ダイオードの光出射側表面に集光手段を形
成する工程に関わり、 簡易な処理で凸レンズの形状を得ることを目的とし、 InP基板の一方の表面に、直径が順次縮小された複数
の円筒を中心を略一致させて積み重ねた形状に成型した
後、これをリンの蒸気を含む水素雰囲気中で熱処理して
前記積層構造の階段形状を1頃斜曲面に変形させ、基板
の他方表面にInP/1nGaAsPから成る発光ダイ
オードを形成する如く構成する。
成する工程に関わり、 簡易な処理で凸レンズの形状を得ることを目的とし、 InP基板の一方の表面に、直径が順次縮小された複数
の円筒を中心を略一致させて積み重ねた形状に成型した
後、これをリンの蒸気を含む水素雰囲気中で熱処理して
前記積層構造の階段形状を1頃斜曲面に変形させ、基板
の他方表面にInP/1nGaAsPから成る発光ダイ
オードを形成する如く構成する。
(産業上の利用分野〕
本発明はrnP/InGaAsP系の発光ダイオードの
製造方法に関わり、特に発光ダイオードの光出射面に凸
レンズ状の集光手段を形成する方法に関わる。
製造方法に関わり、特に発光ダイオードの光出射面に凸
レンズ状の集光手段を形成する方法に関わる。
前記発光ダイオード(LED)は長波長帯の光通信の信
号光発生に用いられるが、その場合、光ファイバとの結
合効率を良くするには、出射光を収束させることが必要
である。そのための手段として、LEDチップをモール
ドする樹脂の外形を凸レンズ状に形成する等の方式が知
られている。
号光発生に用いられるが、その場合、光ファイバとの結
合効率を良くするには、出射光を収束させることが必要
である。そのための手段として、LEDチップをモール
ドする樹脂の外形を凸レンズ状に形成する等の方式が知
られている。
しかしながらこの方式では、光ファイバも含めて一体に
成型することが出来ないので、LEDそのものに凸レン
ズ構造を形成したいという要求がある。
成型することが出来ないので、LEDそのものに凸レン
ズ構造を形成したいという要求がある。
LEDに凸レンズを付随させたものは、第3図に断面構
造が模式的に示されているような構造になる。咳図に於
いて、lはInP基板、2はInGaAsPの活性層、
3はp−TnPnチク9フ、4はI)’−1nGaAs
Pであるコンタクト層で、その上のS i O2膜6に
開けられた窓にアノード電極5が形成されている。
造が模式的に示されているような構造になる。咳図に於
いて、lはInP基板、2はInGaAsPの活性層、
3はp−TnPnチク9フ、4はI)’−1nGaAs
Pであるコンタクト層で、その上のS i O2膜6に
開けられた窓にアノード電極5が形成されている。
InP基板の他方の表面側には、その中央部にInPの
凸レンズ部8が設けられ、該レンズを囲んでカソード電
極7が設けられている。
凸レンズ部8が設けられ、該レンズを囲んでカソード電
極7が設けられている。
このようなrnPの凸レンズ構造は、従来、化学エツチ
ングやイオンエツチングなどを利用して形成することが
試みられてきた。
ングやイオンエツチングなどを利用して形成することが
試みられてきた。
化学エツチングやイオンエツチングでは滑らかな曲面が
得難く、階段状の起伏が生じたり、再現性が良くない等
の問題がある。また、イオンエツチングでは結晶性が劣
化する場合もある。
得難く、階段状の起伏が生じたり、再現性が良くない等
の問題がある。また、イオンエツチングでは結晶性が劣
化する場合もある。
本発明の目的は、より簡易な処理によってInP基板に
凸レンズ構造を形成する方法を提供することである。
凸レンズ構造を形成する方法を提供することである。
上記目的を達成するため、本発明のLED製造方法では
rnPJj仮の一方の表面を通常の選択エツチングによ
って、直径が順次縮小された複数の円筒を、夫々の中心
を略一致させて積み重ねた形状に成型し、 これをリンの蒸気を含む水素雰囲気中で熱処理したのち
、 InP基板の他方の表面にInPとInGaAsPから
成る多層構造を形成することが行われ〔作 用〕 本発明ではマス・トランスポートを利用して滑らか、な
曲面を得る。マス・トランスポートとは以下のような現
象である。
って、直径が順次縮小された複数の円筒を、夫々の中心
を略一致させて積み重ねた形状に成型し、 これをリンの蒸気を含む水素雰囲気中で熱処理したのち
、 InP基板の他方の表面にInPとInGaAsPから
成る多層構造を形成することが行われ〔作 用〕 本発明ではマス・トランスポートを利用して滑らか、な
曲面を得る。マス・トランスポートとは以下のような現
象である。
第2図は本発明の原理であるマス・トランスポートを説
明する模式図である。該図(alのようにlnP単結晶
基板1に凹凸を設け、これをある程度のリン蒸気圧を有
する水素雰囲気中で熱処理すると、同図(b)のように
凸部のInP分子が凹部に移動したような状態が起こり
、段差部が傾斜面に変わる。本発明はこれを積極的に利
用するもので、この現象はリアウ等によって報告されて
いる (Z。
明する模式図である。該図(alのようにlnP単結晶
基板1に凹凸を設け、これをある程度のリン蒸気圧を有
する水素雰囲気中で熱処理すると、同図(b)のように
凸部のInP分子が凹部に移動したような状態が起こり
、段差部が傾斜面に変わる。本発明はこれを積極的に利
用するもので、この現象はリアウ等によって報告されて
いる (Z。
Liau et al、 Appl、Phys、Let
t、、40(1982)、p、56B)。
t、、40(1982)、p、56B)。
液相エピタキシャルを含むLED形成工程は、マス・ト
ランスポート処理の後に行われるので、活性層に対して
高温熱処理の悪影響が及ぶことはない。
ランスポート処理の後に行われるので、活性層に対して
高温熱処理の悪影響が及ぶことはない。
第1図は本発明の実施例の工程を示す模式断面図である
。以下、該図面を参照しながら実施例の工程を説明する
。
。以下、該図面を参照しながら実施例の工程を説明する
。
fa1図のように、両面が鏡面研磨されたInP基ef
fl lの一方の表面に、5ioz膜16をマスクとす
る選択エツチングを施して約10μmの段差を有する直
径11001rの円形凸部12を形成する。InP基板
面の指数は(100)であり、不純物濃度の高いn型で
ある。また上記エツチングは、Brメタノール系による
化学エツチングである。
fl lの一方の表面に、5ioz膜16をマスクとす
る選択エツチングを施して約10μmの段差を有する直
径11001rの円形凸部12を形成する。InP基板
面の指数は(100)であり、不純物濃度の高いn型で
ある。また上記エツチングは、Brメタノール系による
化学エツチングである。
更に同様の処理により、(b1図の如く同心円状に直径
90μmの円形凸部13を、これも約IOμmの段差を
付けて形成する。
90μmの円形凸部13を、これも約IOμmの段差を
付けて形成する。
同様の処理を続けて、401図に示すように、直径を7
5μm、55μm、30μmと順次縮小した同心円状の
、且つ夫々約10μmの段差を有する凸部を形成する。
5μm、55μm、30μmと順次縮小した同心円状の
、且つ夫々約10μmの段差を有する凸部を形成する。
各回の直径と段差部の高さは、各回の周辺を包絡する面
が凸レンズの曲面にはy−tするように選定される。
が凸レンズの曲面にはy−tするように選定される。
以上の処理を行ったInP基板を、リン蒸気圧を有する
水素雰囲気中で800℃、2時間の熱処理を行うと、階
段状構造がなだらかな曲面に変わり、[d1図のように
基板の一方の面に部分球状の凸部18が形成される。該
基板の他方の面に液相エピタキシャル成長を行うと共に
必要な電極を形成すれば、第2図のレンズ付きLEDが
形成される。
水素雰囲気中で800℃、2時間の熱処理を行うと、階
段状構造がなだらかな曲面に変わり、[d1図のように
基板の一方の面に部分球状の凸部18が形成される。該
基板の他方の面に液相エピタキシャル成長を行うと共に
必要な電極を形成すれば、第2図のレンズ付きLEDが
形成される。
通常の液相エピタキシャル成長には、第4図に示すよう
にInPi板1をボート内に設置し、別なInP基板2
Iで囲って予備加熱する工程が含まれるので、この加熱
処理条件をマス・トランスポートに適したものとするこ
とにより、段差付き円形凸部を形成する工程を通常の工
程に追加するだけで、本発明を実施することが出来る。
にInPi板1をボート内に設置し、別なInP基板2
Iで囲って予備加熱する工程が含まれるので、この加熱
処理条件をマス・トランスポートに適したものとするこ
とにより、段差付き円形凸部を形成する工程を通常の工
程に追加するだけで、本発明を実施することが出来る。
図中、22は原料融液、23はボート台、24はスライ
ダである。
ダである。
LEDを形成するための液相エピタキシャル成長の条件
の一例が以下に記される。なお、成長温度は各工程共通
で585℃である。
の一例が以下に記される。なお、成長温度は各工程共通
で585℃である。
n−InPJtJの成長:
In:rnP:Sn = Ig: 4.4mg: 30
mg成長時間 300 sec。
mg成長時間 300 sec。
成長層厚 3 μm
InGaAsP’1mの成長;
rn:InAs:GaAs:rnP= Ig:36.h
gニア、9mg:1.5mg成長時間 120 se
c。
gニア、9mg:1.5mg成長時間 120 se
c。
成長層厚 2 μm
p−InPNの成長:
+n:InP:Cd = Ig: 4.4mg;
30mg成長時間 200 sec。
30mg成長時間 200 sec。
成長層厚 2.5μm
p”−InGaAsP層の成長;
Tn:InAs:GaAs:InP:Zn= Ig:3
2.9mg:5.3a+B:2−0mg:0.25mg
成長時間 60 sec。
2.9mg:5.3a+B:2−0mg:0.25mg
成長時間 60 sec。
成長層厚 0.7 μm
〔発明の効果)
以上説明したように本発明の方法によれば、マス・トラ
ンスポート効果によって、滑らかな曲面の凸レンズをL
EDのチップに形成することが出来、しかも処理工程の
大幅な増加を必要とせず、結晶に不要の欠陥を生ずる事
もない。
ンスポート効果によって、滑らかな曲面の凸レンズをL
EDのチップに形成することが出来、しかも処理工程の
大幅な増加を必要とせず、結晶に不要の欠陥を生ずる事
もない。
本発明によって凸レンズ付きLEDを形成すれば、光フ
ァイバとの結合効率が非常に優れたLEDを、再現性良
く製造することが出来ることになる。
ァイバとの結合効率が非常に優れたLEDを、再現性良
く製造することが出来ることになる。
第1図は本発明の基本になる現象を説明する模式図、
第2図はレンズ付きLEDを示す模式図、第3図は実施
例の工程を示す断面模式図、第4図は液相成長装置の構
造を示す模式図であって、 図に於いて ■はInP基板、 1′はn−InP層、 2はTnC;aAsPJii。 3はp−Tnp層、 4はp′″−InGaAsP層、 5ばアノード電極、 6.16はSin、、 7はカソード電極、 8は凸レンズ部、 12、13は円型凸部、 18は球状凸部、 21はInP仮、 22は原n融液、 23はボート台、 24はスライダ である。 1.て了 実施例の工程を示す断面模式図 第1図 実施例の工程を示す断面模式図 第1図 本発明の基本になる現象を説明する図 第2図
例の工程を示す断面模式図、第4図は液相成長装置の構
造を示す模式図であって、 図に於いて ■はInP基板、 1′はn−InP層、 2はTnC;aAsPJii。 3はp−Tnp層、 4はp′″−InGaAsP層、 5ばアノード電極、 6.16はSin、、 7はカソード電極、 8は凸レンズ部、 12、13は円型凸部、 18は球状凸部、 21はInP仮、 22は原n融液、 23はボート台、 24はスライダ である。 1.て了 実施例の工程を示す断面模式図 第1図 実施例の工程を示す断面模式図 第1図 本発明の基本になる現象を説明する図 第2図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 InP基板の一方の表面を、直径が順次縮小された複
数の円筒を中心を略一致させて積み重ねた形状に成型す
る第1の工程と、 該第1の工程を終了した前記InP基板を、リンの蒸気
を含む水素雰囲気中で熱処理する第2の工程と、 該第2の工程を終了した前記InP基板の他方の表面に
InPとInGaAsPから成る多層構造を形成する工
程を包含することを特徴とする発光ダイオードの製造方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63133650A JPH01302873A (ja) | 1988-05-31 | 1988-05-31 | 発光ダイオードの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63133650A JPH01302873A (ja) | 1988-05-31 | 1988-05-31 | 発光ダイオードの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01302873A true JPH01302873A (ja) | 1989-12-06 |
Family
ID=15109751
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63133650A Pending JPH01302873A (ja) | 1988-05-31 | 1988-05-31 | 発光ダイオードの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01302873A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05136460A (ja) * | 1991-06-19 | 1993-06-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | マイクロレンズ形成方法 |
CN103216757A (zh) * | 2013-04-22 | 2013-07-24 | 贵州光浦森光电有限公司 | 一种led照明灯的生产方法 |
-
1988
- 1988-05-31 JP JP63133650A patent/JPH01302873A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05136460A (ja) * | 1991-06-19 | 1993-06-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | マイクロレンズ形成方法 |
CN103216757A (zh) * | 2013-04-22 | 2013-07-24 | 贵州光浦森光电有限公司 | 一种led照明灯的生产方法 |
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