JPH01302373A - 温度制御方式 - Google Patents
温度制御方式Info
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- JPH01302373A JPH01302373A JP63131570A JP13157088A JPH01302373A JP H01302373 A JPH01302373 A JP H01302373A JP 63131570 A JP63131570 A JP 63131570A JP 13157088 A JP13157088 A JP 13157088A JP H01302373 A JPH01302373 A JP H01302373A
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Landscapes
- Control Or Security For Electrophotography (AREA)
- Control Of Resistance Heating (AREA)
- Control Of Temperature (AREA)
- Fixing For Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電子写真記録方式を用いた複写器、プリンター
等の事務用機器の定着器の温度制御方式の改良に関する
ものである。
等の事務用機器の定着器の温度制御方式の改良に関する
ものである。
サーミスタ等の測温用素子の抵抗値変化を電圧として検
出してアナログコンパレータにより基準電圧と比較して
定着器のヒータの制御を行なうのが一般的な方式である
。
出してアナログコンパレータにより基準電圧と比較して
定着器のヒータの制御を行なうのが一般的な方式である
。
しかしながら従来の方式の場合、温度制御の他に複数の
温度検出及び温度検出回路の断線、短絡等の異常状態の
検出のために検出値が多（なるとアナログコンパレータ
もそれに従って多（必要となり、制御用ＣＰＵの入力ポ
ートもそれに応じて増加すると共に制御値の設定も複雑
でコストも高（なるという欠点がある。
温度検出及び温度検出回路の断線、短絡等の異常状態の
検出のために検出値が多（なるとアナログコンパレータ
もそれに従って多（必要となり、制御用ＣＰＵの入力ポ
ートもそれに応じて増加すると共に制御値の設定も複雑
でコストも高（なるという欠点がある。
さらに従来の方式では、測温用素子として例えばサーミ
スタを使用すると、低温時にサーミスタは高抵抗を示す
ため、サーミスタが断線すると低温時と同じ状態になり
、このサーミスタの断線と低温状態との区別はつけにく
く、完全な異常状態の検出は困難である。このため、ヒ
ータは通電され続けて機器の焼損に到る重大な事故とな
りかねなかった。
スタを使用すると、低温時にサーミスタは高抵抗を示す
ため、サーミスタが断線すると低温時と同じ状態になり
、このサーミスタの断線と低温状態との区別はつけにく
く、完全な異常状態の検出は困難である。このため、ヒ
ータは通電され続けて機器の焼損に到る重大な事故とな
りかねなかった。
本発明は上記従来の課題に鑑みなされたものであり、簡
単でかつ確実な方式で温度検出、温度制御、検出回路の
異常状態の検出等を行なう定着器の温度制御方式を提供
するものである。
単でかつ確実な方式で温度検出、温度制御、検出回路の
異常状態の検出等を行なう定着器の温度制御方式を提供
するものである。
上記課題を解決するために、本発明は、測温用素子を含
む検出回路、ヒータ駆動回路を有する電子写真方式の事
務用機器に使用される定着器の温度制御方式に於て、検
出回路出力をＡＤ変換するＡＤ変換回路、複数の温度設
定値を有する記憶回路、ＡＤ変換回路出力を入力とする
ＣＰＵを設けたことを特徴とする。
む検出回路、ヒータ駆動回路を有する電子写真方式の事
務用機器に使用される定着器の温度制御方式に於て、検
出回路出力をＡＤ変換するＡＤ変換回路、複数の温度設
定値を有する記憶回路、ＡＤ変換回路出力を入力とする
ＣＰＵを設けたことを特徴とする。
又、本発明は、測温用素子を含む検出回路、検出回路出
力をＡＤ変換するＡＤ変換回路、ＡＤ変換回路出力を入
力とするＣＰＵ、温度設定値を記憶する記憶回路、ＣＰ
Ｕ出力により制御されるヒータ駆動回路からなる電子写
真方式の事務用機器に使用される定着器に於て、以下の
ような手段を用いることを特徴とする。
力をＡＤ変換するＡＤ変換回路、ＡＤ変換回路出力を入
力とするＣＰＵ、温度設定値を記憶する記憶回路、ＣＰ
Ｕ出力により制御されるヒータ駆動回路からなる電子写
真方式の事務用機器に使用される定着器に於て、以下の
ような手段を用いることを特徴とする。
イ、記憶回路は検出回路の測温用素子の特性に対応した
電圧−温度変換データを有すると共に、ＡＤ変換回路は
一定時間毎にサンプル出力を発生し、ＣＰＵはＡＤ変換
回路のサンプル出力に対応する電圧−温度変換データＴ
（ｋｌと次のサンプル出力に対応する電圧−温度変換
データＴ（ｋｌ１）とを求めること。
電圧−温度変換データを有すると共に、ＡＤ変換回路は
一定時間毎にサンプル出力を発生し、ＣＰＵはＡＤ変換
回路のサンプル出力に対応する電圧−温度変換データＴ
（ｋｌと次のサンプル出力に対応する電圧−温度変換
データＴ（ｋｌ１）とを求めること。
口、記憶回路は検出回路の測温用素子の特性に対応した
電圧−温度変換データを有すると共に、ＡＤ変換回路は
一定時間毎にサンプル出力を発生し、ＣＰＵはＡＤ変換
回路のサンプル出力に対応する電圧−温度変換データＴ
（ｋ）を求め、任意に設定した予測値了（ｋ）に定着
器の温度下降の時定数Ａ（＜１ ）を乗じた値とヒータ
駆動回路入力信号がある場合は温度上昇分Ｂと、実測値
である電圧−温度変換データＴ ［ｋ）と予測直了（ｋ
＞との差の合算値入子（ｋ）＋ Ｂ ＋ （Ｔ （ｋｌ
−″ｆｔ＋ｏ）を演算により求め、この合算値を次のサ
ンプル時の予測値↑（ｋｌ１）とすること。
電圧−温度変換データを有すると共に、ＡＤ変換回路は
一定時間毎にサンプル出力を発生し、ＣＰＵはＡＤ変換
回路のサンプル出力に対応する電圧−温度変換データＴ
（ｋ）を求め、任意に設定した予測値了（ｋ）に定着
器の温度下降の時定数Ａ（＜１ ）を乗じた値とヒータ
駆動回路入力信号がある場合は温度上昇分Ｂと、実測値
である電圧−温度変換データＴ ［ｋ）と予測直了（ｋ
＞との差の合算値入子（ｋ）＋ Ｂ ＋ （Ｔ （ｋｌ
−″ｆｔ＋ｏ）を演算により求め、この合算値を次のサ
ンプル時の予測値↑（ｋｌ１）とすること。
ハ、ＣＰＵをバックアップする電池又はコンデンサを設
げ、メインスイッチオフの後もＣＰＵは予測値↑（ｋｌ
に温度の下降時定数Ａを乗じた直入↑（ｋ）を一定時間
後の予測値↑（ｋｌ１）とする演算を続行すること。
げ、メインスイッチオフの後もＣＰＵは予測値↑（ｋｌ
に温度の下降時定数Ａを乗じた直入↑（ｋ）を一定時間
後の予測値↑（ｋｌ１）とする演算を続行すること。
二、定着器の温度上昇時定数と同じ充電時定数、温度下
降時定数と同じ放電時定数を有し、ＣＰＵ出力に同期し
て動作するコンデンサ及び抵抗からなる電荷蓄積回路を
設けたこと。
降時定数と同じ放電時定数を有し、ＣＰＵ出力に同期し
て動作するコンデンサ及び抵抗からなる電荷蓄積回路を
設けたこと。
ホ、検出回路は第１０測温用素子を含む第１の検出回路
と第２の測温用素子を含む第２の検出回路とからなるこ
と。
と第２の測温用素子を含む第２の検出回路とからなるこ
と。
へ、検出回路は一端を測温用素子に並列接続され他端に
基準電圧を印加される低抵抗と、他端に基準電圧以上の
高電圧を印加される高抵抗とを有し、さらに基準電圧よ
り低い検知電圧レベルの第１のコンパレータと基準電圧
とはｙ同じ検知電圧レベルの第２のコンパレータからな
る異常検知回路を設けたこと。
基準電圧を印加される低抵抗と、他端に基準電圧以上の
高電圧を印加される高抵抗とを有し、さらに基準電圧よ
り低い検知電圧レベルの第１のコンパレータと基準電圧
とはｙ同じ検知電圧レベルの第２のコンパレータからな
る異常検知回路を設けたこと。
１、ＣＰＵはＡＤ変換回路出力と記憶回路の複数の温度
設定値を比較することにより、ヒータ駆動回路を制御し
て、定着器の温度制御を行なうことができる。
設定値を比較することにより、ヒータ駆動回路を制御し
て、定着器の温度制御を行なうことができる。
２、ＣＰＵはＡＤ変換回路のサンプル出力に対応する電
圧−温度変換データＴ （ｋ）と次の電圧−温度変換デ
ータＴ（ｋｌ１）との差分値を演算し、この差分値に従
って、定着器の温度制御及び検出回路の異常状態の検出
を行なうことができる。
圧−温度変換データＴ （ｋ）と次の電圧−温度変換デ
ータＴ（ｋｌ１）との差分値を演算し、この差分値に従
って、定着器の温度制御及び検出回路の異常状態の検出
を行なうことができる。
３、ＣＰＵはＡＤ変換回路のサンプル出力に対応する電
圧−温度変換データＴ （ｋ）を求め、予測値了（ｋ）
に定着器の温度下降の時定数Ａ（＜１）を乗じた値と前
記ヒータ駆動回路入力信号がある場合は温度上昇分Ｂと
、実測値Ｔ （ｋ）と予測匝了（ｋ）の差の合算値Ａ↑
（ｋ）＋ ８ ＋ （Ｔ（ｋ）−了（ｋ））を演算によ
り求め、該合算値を予測値 ″’ｒ（ｋ−ｚ ）として、次のサンプル時の実測値Ｔ
（ｋｌ１）と比較することにより、定着器の温度制御及
び検出回路の異常状態の検出を行うことができる。
圧−温度変換データＴ （ｋ）を求め、予測値了（ｋ）
に定着器の温度下降の時定数Ａ（＜１）を乗じた値と前
記ヒータ駆動回路入力信号がある場合は温度上昇分Ｂと
、実測値Ｔ （ｋ）と予測匝了（ｋ）の差の合算値Ａ↑
（ｋ）＋ ８ ＋ （Ｔ（ｋ）−了（ｋ））を演算によ
り求め、該合算値を予測値 ″’ｒ（ｋ−ｚ ）として、次のサンプル時の実測値Ｔ
（ｋｌ１）と比較することにより、定着器の温度制御及
び検出回路の異常状態の検出を行うことができる。
４、ＣＰＵは、メインスイッチオフの後もバックアップ
する電池又はコンデンサにより予測値’ｆ ｔ＋ａに温
度の下降時定数Ａを乗じた値Ａ了ｔｋ）を一定時間後の
予測値↑（ｋ＋１）とする演算を続行し、メインスイッ
チオン時に実測値と比較して定着器の温度制御及び検出
回路の異常状態の検出を行なうことができる。
する電池又はコンデンサにより予測値’ｆ ｔ＋ａに温
度の下降時定数Ａを乗じた値Ａ了ｔｋ）を一定時間後の
予測値↑（ｋ＋１）とする演算を続行し、メインスイッ
チオン時に実測値と比較して定着器の温度制御及び検出
回路の異常状態の検出を行なうことができる。
５、ＣＰＵは定着器の温度上昇時定数と同じ充電時定数
、温度下降時定数と同じ放電時定数を有し、ＣＰＵ出力
に同期して動作するコンデンサ及び抵抗からなる電荷蓄
積回路の出力と実測値であるＡＤ変換回路の出力を比較
することにより、定着器の温度制御及び検出回路の異常
状態の検出を行なうことができる。
、温度下降時定数と同じ放電時定数を有し、ＣＰＵ出力
に同期して動作するコンデンサ及び抵抗からなる電荷蓄
積回路の出力と実測値であるＡＤ変換回路の出力を比較
することにより、定着器の温度制御及び検出回路の異常
状態の検出を行なうことができる。
６、ＣＰＵは第１の検出回路と第２の検出回路からなる
検出回路の第１の検出回路出力と第２の検出回路出力を
比較することにより、定着器の温度制御及び検出回路の
異常状態の検出を行なうことができる。
検出回路の第１の検出回路出力と第２の検出回路出力を
比較することにより、定着器の温度制御及び検出回路の
異常状態の検出を行なうことができる。
７、ＣＰＵは異常検知回路の基準電圧より高い検知電圧
レベルの第１のコンパレータ出力によって、測温用素子
の短絡を検知することができる。
レベルの第１のコンパレータ出力によって、測温用素子
の短絡を検知することができる。
さらに基単電圧と同じ検知電圧レベルの第２のコンパレ
ータ出力によって、測温用素子の断線を検知することが
できる。
ータ出力によって、測温用素子の断線を検知することが
できる。
以下図面に基づいて本発明の好適な実施例を説明する。
〔実施例１〕
第１の実施例を第１図に示す。１０１は検出回路で測温
用素子１０２、抵抗１０３よりなり、測温用素子１０２
は定着器１１０に近接して取付けてあり、定着器１１０
の温度は検出回路１０１により電圧に変換されてＡＤ変
換回路１０４に入力されディジタル化され、このディジ
タル化された値と記憶回路１０６の電圧で示された温度
設定値とをＣＰＵ１０７が比較して、制御出力を出カポ
−）１０５かも出力し、ヒータ駆動回路１０８を制御し
てヒータ１０９をオン又はオフして定着器１１０の温度
を一定値に保持する。
用素子１０２、抵抗１０３よりなり、測温用素子１０２
は定着器１１０に近接して取付けてあり、定着器１１０
の温度は検出回路１０１により電圧に変換されてＡＤ変
換回路１０４に入力されディジタル化され、このディジ
タル化された値と記憶回路１０６の電圧で示された温度
設定値とをＣＰＵ１０７が比較して、制御出力を出カポ
−）１０５かも出力し、ヒータ駆動回路１０８を制御し
てヒータ１０９をオン又はオフして定着器１１０の温度
を一定値に保持する。
ヒータオンから定常値に達するまでの定着器１１０の概
略の温度推移を第２図に示す。スタート時温度Ｔ。とじ
て、通過温度Ｔ１、下限温度Ｔ２、設定温度Ｔ５、上限
温度Ｔ４、危険温度Ｔ、であり、検出回路１０１の測温
用抵抗値Ｒ７の温度による変化は第３図に示すように温
度に逆比例して急激に減少するため、例えば定電圧５ｖ
を検出回路１０１に印加すると、その出力電圧ｖ０は図
示する如く低温あるいは常温ではほとんど変化せず、高
温で急激に減少することになる。
略の温度推移を第２図に示す。スタート時温度Ｔ。とじ
て、通過温度Ｔ１、下限温度Ｔ２、設定温度Ｔ５、上限
温度Ｔ４、危険温度Ｔ、であり、検出回路１０１の測温
用抵抗値Ｒ７の温度による変化は第３図に示すように温
度に逆比例して急激に減少するため、例えば定電圧５ｖ
を検出回路１０１に印加すると、その出力電圧ｖ０は図
示する如く低温あるいは常温ではほとんど変化せず、高
温で急激に減少することになる。
前述した各々の温度Ｔ＋ 、Ｔ２ 、Ｔａ 、Ｔ４、Ｔ
、に対応する検出回路１０１の出力電圧Ｖ？１、■デ２
、ｖＴｌ、Ｖ？４、Ｖ？、を温度設定値として記憶回路
１０６に設定しておけば、ＡＤ変換回路１０４の出力電
圧をφ、Ｄとして、φ、Ｄと各々の温度設定値を比較し
、例えばφＡＤ （Ｖ ｒ３ であれば、φ、０を変
換した温度の値がＴ、まり大すなわち定着器１１０が設
定温度をオーバーしたことを示すから、ＣＰＵ１０７は
ヒータ駆動回路１０８をオフにする制御信号を発生する
ことによりヒータ１０９はオフになり、定着器１１０の
温度は下降を始める。その結果φ□。〉■７．すなわち
定着器１１０が設定温度以下になったことを示すから、
ヒータ原動回路１０８をオンにする制御信号を発生して
ヒータ１０９をオンとする。
、に対応する検出回路１０１の出力電圧Ｖ？１、■デ２
、ｖＴｌ、Ｖ？４、Ｖ？、を温度設定値として記憶回路
１０６に設定しておけば、ＡＤ変換回路１０４の出力電
圧をφ、Ｄとして、φ、Ｄと各々の温度設定値を比較し
、例えばφＡＤ （Ｖ ｒ３ であれば、φ、０を変
換した温度の値がＴ、まり大すなわち定着器１１０が設
定温度をオーバーしたことを示すから、ＣＰＵ１０７は
ヒータ駆動回路１０８をオフにする制御信号を発生する
ことによりヒータ１０９はオフになり、定着器１１０の
温度は下降を始める。その結果φ□。〉■７．すなわち
定着器１１０が設定温度以下になったことを示すから、
ヒータ原動回路１０８をオンにする制御信号を発生して
ヒータ１０９をオンとする。
このように、設定温度Ｔ、を中心にオンオフ制御をすれ
ば、±１℃程度のリップルで温度制御が可能である。設
定温度Ｔ、の他に例えば通過温度Ｔ、を設定してあれば
、ヒータオンからの温度推移を知ることができ、下限温
度Ｔ２、上限温度Ｔ４は温度の周期的変動を知ることに
より制御の安定性がわかる。また設定温度Ｔ３を中心に
した制御にもかかわらず温度が上昇した場合でも、危険
温度Ｔ、を設定しておけば、緊急にヒータをオフするこ
とにより定着器の焼損を防止することができる。
ば、±１℃程度のリップルで温度制御が可能である。設
定温度Ｔ、の他に例えば通過温度Ｔ、を設定してあれば
、ヒータオンからの温度推移を知ることができ、下限温
度Ｔ２、上限温度Ｔ４は温度の周期的変動を知ることに
より制御の安定性がわかる。また設定温度Ｔ３を中心に
した制御にもかかわらず温度が上昇した場合でも、危険
温度Ｔ、を設定しておけば、緊急にヒータをオフするこ
とにより定着器の焼損を防止することができる。
〔実施例２〕
第２の実施例としてのフローチャートを第４図に示す。
具体的回路構成は前述の第１図に示しているものと同じ
であり、記憶回路１０６が検出回路１０１の測温用素子
１０２の特性に対応した電圧−温度変換データを有し、
実測値を温度に変換して比較することにより検出回路の
異常状態を検出しようとするものである。
であり、記憶回路１０６が検出回路１０１の測温用素子
１０２の特性に対応した電圧−温度変換データを有し、
実測値を温度に変換して比較することにより検出回路の
異常状態を検出しようとするものである。
第４図に於てＣＰＵはｔ＝に時のＡＤ変換回路出力〔φ
ＡＤ ］ に対応する電圧−温度変換デｔ＝ ｋ −タ（以後サンプルデータと呼ぶ）Ｔ（ｋ）を記憶回路
上から求め、さらに次のｔ＝ｌ（４−１時のＡＤ変換出
力〔φＡＤ ］ ＞＝ ｙ ＋ １ に対応するデー
タＴ（ｋ＋１）を求め差分値Ｔ（ｋ）−Ｔ （ｋ ＋
１ ）を演算し、この差分値が定数Ｔ６より大であれば
、検出回路の測温用素子が断線したものと判断する。
ＡＤ ］ に対応する電圧−温度変換デｔ＝ ｋ −タ（以後サンプルデータと呼ぶ）Ｔ（ｋ）を記憶回路
上から求め、さらに次のｔ＝ｌ（４−１時のＡＤ変換出
力〔φＡＤ ］ ＞＝ ｙ ＋ １ に対応するデー
タＴ（ｋ＋１）を求め差分値Ｔ（ｋ）−Ｔ （ｋ ＋
１ ）を演算し、この差分値が定数Ｔ６より大であれば
、検出回路の測温用素子が断線したものと判断する。
ここで定数Ｔ６はあらかじめヒータをオフにした状態で
Ｔ （ｋ）及びＴ（ｋ＋１）を実測し、Ｔｔｋｌ−Ｔ
（ｋ ＋ １ ）よりも大きな値に設定しておく。実験
ではＴｆｋ）−Ｔ （ｋ ＋ １ ）の約２倍の直にし
ておくことで判断可能であったが、判断かつ（のであれ
ばその値（定数Ｔ６ ）の大小にはこだわらない。
Ｔ （ｋ）及びＴ（ｋ＋１）を実測し、Ｔｔｋｌ−Ｔ
（ｋ ＋ １ ）よりも大きな値に設定しておく。実験
ではＴｆｋ）−Ｔ （ｋ ＋ １ ）の約２倍の直にし
ておくことで判断可能であったが、判断かつ（のであれ
ばその値（定数Ｔ６ ）の大小にはこだわらない。
よって上記差分値がＴ６より大であれば、温度が急激に
減少したことではなく測温用素子の抵抗が無限大つまり
断線したことを示す。これＫより定着器を使用中の検出
回路の異常が判定できる。
減少したことではなく測温用素子の抵抗が無限大つまり
断線したことを示す。これＫより定着器を使用中の検出
回路の異常が判定できる。
次Ｋｔ＝に時のサンプルデータＴ （ｋ）とｔ ］＝
ｋ ＋ ｍ時のサンプルデータＴ（ｋ＋ｍ）と第２図の
通過温度Ｔ、を比較して共にＴ、より小であれば、Ｔ
（ｋ＋と’ｌ’（ｋ＋ｍ）の大小を比較し同じ値を示せ
ば測温用素子が断線したことを示す。ｍの値は定着器温
度が上昇しすぎない程度に適当（で定める。これにより
中着器未使用時に検出回路に異常があったことが判定で
きる。第３図に示すようにＴ０キ３０℃以下では測温用
素子の抵抗［直ＲＴ＝ＩＭΩ以上となり、直列抵抗を約
７にΩとすると検出回路の出力電圧ｖｏはほとんど基準
電圧である５ｖに等しくなってしまう。一方測温用素子
が断線すると検出回路の出力電圧は基準電圧５■となる
。
ｋ ＋ ｍ時のサンプルデータＴ（ｋ＋ｍ）と第２図の
通過温度Ｔ、を比較して共にＴ、より小であれば、Ｔ
（ｋ＋と’ｌ’（ｋ＋ｍ）の大小を比較し同じ値を示せ
ば測温用素子が断線したことを示す。ｍの値は定着器温
度が上昇しすぎない程度に適当（で定める。これにより
中着器未使用時に検出回路に異常があったことが判定で
きる。第３図に示すようにＴ０キ３０℃以下では測温用
素子の抵抗［直ＲＴ＝ＩＭΩ以上となり、直列抵抗を約
７にΩとすると検出回路の出力電圧ｖｏはほとんど基準
電圧である５ｖに等しくなってしまう。一方測温用素子
が断線すると検出回路の出力電圧は基準電圧５■となる
。
従って低温状態と測温用素子の断線の区別は実測値と設
定値の単純な比較ではかなり困難であるが、上述したサ
ンプルデータＴ （ｋ）と次のサンプルデータＴ（ｋ＋
１）又はｍ回後のサンプルデータＴ（ｋ＋ｍ）の差分値
を求めることにより簡単に知ることができる。
定値の単純な比較ではかなり困難であるが、上述したサ
ンプルデータＴ （ｋ）と次のサンプルデータＴ（ｋ＋
１）又はｍ回後のサンプルデータＴ（ｋ＋ｍ）の差分値
を求めることにより簡単に知ることができる。
〔実施例３〕
第３の実施例としてのフローチャートを第５図に示す。
具体的回路構成は前述の実施例１０回路構成と同じであ
る。
る。
第５図に於てｔ＝に時にヒータオン信号がある場合は予
測値↑［ｋ＋に定着器の温度下降の時定数Ａ（く１）を
乗じた値と温度上昇分Ｂと、実測値であるサンプルデー
タＴ （ｋ）と予測値子ｔｋ＋との差の合ＩＫｆｔｉＡ
了（ｋ）＋ ８ ＋ （Ｔ（ｋ）−ｆｒ（ｋ））ヲ、ヒ
ータオン信号がない場合は、予測値′１ｖ（ｋ）に温度
下降の時定数Ａを乗じた値とサンプルデータＴ ［ｋ）
と予測値′；ｆ（ｋ）との差の合算値入子（ｋ） ＋
（Ｔ （ｋ）−↑（ｋ））を次のｔ＝に＋１時の予測値
である了（ｋ＋１）とする。ここで、時定数Ａは以下の
ようにして設定する。すなわち、第２図に於て定着器は
ｔ＝ｇ時に温度Ｔ （ｌ＋、ｔ＝ｌ＋ｎ時に温度Ｔ （
ｌ＋ｎ ）となり、この間ｎ回のサンプル検出が行なわ
れ、この間ヒータの通電はされないとして温度下降の時
定数をＡとすると、Ｔ （１＋１ ）＝ＡＴ（Ａ’）、
従ってＴ（ｌ＋ｎ）＝Ａ’″Ｔ （Ｉｔ）となるから、
Ｔ （１＋ｎ）及びＴ （Ａりを実測することによりＡ
が求められる。
測値↑［ｋ＋に定着器の温度下降の時定数Ａ（く１）を
乗じた値と温度上昇分Ｂと、実測値であるサンプルデー
タＴ （ｋ）と予測値子ｔｋ＋との差の合ＩＫｆｔｉＡ
了（ｋ）＋ ８ ＋ （Ｔ（ｋ）−ｆｒ（ｋ））ヲ、ヒ
ータオン信号がない場合は、予測値′１ｖ（ｋ）に温度
下降の時定数Ａを乗じた値とサンプルデータＴ ［ｋ）
と予測値′；ｆ（ｋ）との差の合算値入子（ｋ） ＋
（Ｔ （ｋ）−↑（ｋ））を次のｔ＝に＋１時の予測値
である了（ｋ＋１）とする。ここで、時定数Ａは以下の
ようにして設定する。すなわち、第２図に於て定着器は
ｔ＝ｇ時に温度Ｔ （ｌ＋、ｔ＝ｌ＋ｎ時に温度Ｔ （
ｌ＋ｎ ）となり、この間ｎ回のサンプル検出が行なわ
れ、この間ヒータの通電はされないとして温度下降の時
定数をＡとすると、Ｔ （１＋１ ）＝ＡＴ（Ａ’）、
従ってＴ（ｌ＋ｎ）＝Ａ’″Ｔ （Ｉｔ）となるから、
Ｔ （１＋ｎ）及びＴ （Ａりを実測することによりＡ
が求められる。
次にこの予測値↑（ｋ＋１）とｔ＝に＋１の時の実測さ
れたサンプルデータＴ（ｋ＋１）と比較して、一定値１
６以上の差があれば、サンプルデータＴ（ｋ＋１）が誤
りであることがわかる。このときＴ（ｋ＋１）が↑（ｋ
＋１）に比較して著しく、低温を示せば、測温用素子の
断線であり、またＴ（ｋ＋１）が了（ｋ＋１）に比較し
て著しく高温を示せば、測温用素子の短絡であるとして
検出回路の異常状態を検出できる。
れたサンプルデータＴ（ｋ＋１）と比較して、一定値１
６以上の差があれば、サンプルデータＴ（ｋ＋１）が誤
りであることがわかる。このときＴ（ｋ＋１）が↑（ｋ
＋１）に比較して著しく、低温を示せば、測温用素子の
断線であり、またＴ（ｋ＋１）が了（ｋ＋１）に比較し
て著しく高温を示せば、測温用素子の短絡であるとして
検出回路の異常状態を検出できる。
この方式の定常時でのヒータオン信号φヨ。に対応して
サンプル検出される定着器の温度のサンプルデータＴと
予測値↑との波形を第６図に示す。
サンプル検出される定着器の温度のサンプルデータＴと
予測値↑との波形を第６図に示す。
φｃＬは同期信号である。予測値〒（ｋ）はＴ （ｋ＋
との差の補正（Ｔ（ｋ）−了（ｋ））を−度行えば、は
ｇ実測値に近似した値を示す。なお温度下降の時定数は
前述した如くヒータオフのとき、Ｔ（ｋ＋１）＝ＡＴ（
ｋｌとしてサンプルデータから求めることができる。
との差の補正（Ｔ（ｋ）−了（ｋ））を−度行えば、は
ｇ実測値に近似した値を示す。なお温度下降の時定数は
前述した如くヒータオフのとき、Ｔ（ｋ＋１）＝ＡＴ（
ｋｌとしてサンプルデータから求めることができる。
〔実施例４〕
第４の実施例を第７図に示す。メインスイッチ２０６が
オンの状態で電力は電源２０４からダイオード２０２を
介して各回路ブロックに供給され、ＣＰＵ２０５の電源
端子にはバックアップ用として例えば電気二重層コンデ
ンサのような高容量のコンデンサ２０１が接続されて常
時充電されている。ここでメインスイッチ２０３をオフ
にするとヒータ２０９はオフになるが、第８図のフロー
チャートに示す如＜ＣＰＵ２０５は予測値子（ｋ）に温
度の下降時定数Ａを乗じた値Ａ ’ｆ （ｋ）を一定時
間後の予測値■（ｋｌ１）とする演算を実行し続け、メ
インスイッチオン時に定着器の温度を実測して、サンプ
ルデータＴと予測値↑の差を求めこの値が一定値Ｔ６以
上であれば、メインスイッチオフの期間に測温用素子の
断線があったとして、検出回路の異常を知ることができ
る。
オンの状態で電力は電源２０４からダイオード２０２を
介して各回路ブロックに供給され、ＣＰＵ２０５の電源
端子にはバックアップ用として例えば電気二重層コンデ
ンサのような高容量のコンデンサ２０１が接続されて常
時充電されている。ここでメインスイッチ２０３をオフ
にするとヒータ２０９はオフになるが、第８図のフロー
チャートに示す如＜ＣＰＵ２０５は予測値子（ｋ）に温
度の下降時定数Ａを乗じた値Ａ ’ｆ （ｋ）を一定時
間後の予測値■（ｋｌ１）とする演算を実行し続け、メ
インスイッチオン時に定着器の温度を実測して、サンプ
ルデータＴと予測値↑の差を求めこの値が一定値Ｔ６以
上であれば、メインスイッチオフの期間に測温用素子の
断線があったとして、検出回路の異常を知ることができ
る。
メインスイッチオフ後に一定時間たって定着器が常温に
もどれば検出回路に異常があったとしてもメインスイッ
チオン後にその検出が可能であるから、予測値を求める
演算は数十分程度続けばよく、それ以後は演算を停止し
てもよい。
もどれば検出回路に異常があったとしてもメインスイッ
チオン後にその検出が可能であるから、予測値を求める
演算は数十分程度続けばよく、それ以後は演算を停止し
てもよい。
〔実施例５〕
第５の実施例を第９図に示す。６０１は検出回路で測温
用素子６０２、抵抗６０６よりなり、測温用素子６０２
は定着器６１０に近接して取付けてあり、定着器３１０
の温度は検出回路３０１により電圧に変換されてＡＤ変
換回路３０４に入力されディジタル化され、このディジ
タル化された値と記憶回路６０６の電圧で示された温度
設定値とをＣＰＵ３０７が比較して、制御出力を出カポ
−）３０５から発生し、ヒータ駆動回路６０８を制御し
てヒータ６０９をオン又はオフして定着器３１０の温度
を一定値に保持する。
用素子６０２、抵抗６０６よりなり、測温用素子６０２
は定着器６１０に近接して取付けてあり、定着器３１０
の温度は検出回路３０１により電圧に変換されてＡＤ変
換回路３０４に入力されディジタル化され、このディジ
タル化された値と記憶回路６０６の電圧で示された温度
設定値とをＣＰＵ３０７が比較して、制御出力を出カポ
−）３０５から発生し、ヒータ駆動回路６０８を制御し
てヒータ６０９をオン又はオフして定着器３１０の温度
を一定値に保持する。
このように定常の温度制御は実施例１とまった（同じよ
うにして行うが検出回路３０１の異常は電荷蓄積回路６
１１を設け、これにより検出する。
うにして行うが検出回路３０１の異常は電荷蓄積回路６
１１を設け、これにより検出する。
電荷蓄積回路３１１は出力ポートロ０５から出力される
ＣＰＵ３０７のヒータ駆動回路６０８の制御信号により
制御されるトランジスタ６１２、抵抗Ｉ（，３１３、抵
抗Ｒ，２３１４、コンデンサｃ３１５からなり、抵抗Ｒ
２とコンデンサＣにより定着器の温度上昇時定数と同じ
充電時定数、抵抗Ｒ１とＲ２及びコンデンサＣにより定
着器の温度下降時定数と同じ放電時定数を示すように各
抵抗、コンデンサの定数を定めである。
ＣＰＵ３０７のヒータ駆動回路６０８の制御信号により
制御されるトランジスタ６１２、抵抗Ｉ（，３１３、抵
抗Ｒ，２３１４、コンデンサｃ３１５からなり、抵抗Ｒ
２とコンデンサＣにより定着器の温度上昇時定数と同じ
充電時定数、抵抗Ｒ１とＲ２及びコンデンサＣにより定
着器の温度下降時定数と同じ放電時定数を示すように各
抵抗、コンデンサの定数を定めである。
従ってヒータ６０９のオンオフに同期して電荷蓄積回路
３１１も充放電を行なうから、コンデンサの蓄積電位を
電荷蓄積回路の出方電圧としてこの出力電圧と検出回路
３０１の出方電圧とを各々ＡＤ変換回路６０４に入力し
その出力を各々比較する。これは、一般に静的な熱の場
は静電場に等価なものとして考えることができ、定着器
の失なう熱量は、電気回路上の蓄積電荷に対応できる。
３１１も充放電を行なうから、コンデンサの蓄積電位を
電荷蓄積回路の出方電圧としてこの出力電圧と検出回路
３０１の出方電圧とを各々ＡＤ変換回路６０４に入力し
その出力を各々比較する。これは、一般に静的な熱の場
は静電場に等価なものとして考えることができ、定着器
の失なう熱量は、電気回路上の蓄積電荷に対応できる。
また、表面温度はポテンシャル（電位）に対応するから
、上記電荷蓄積回路の出力は検出回路の出２カにほぼ比
例した出力となる。したがって、２つの出力かまった（
異なった傾向を示せば、検出回路に異常あったと考えら
れるためである。
、上記電荷蓄積回路の出力は検出回路の出２カにほぼ比
例した出力となる。したがって、２つの出力かまった（
異なった傾向を示せば、検出回路に異常あったと考えら
れるためである。
よって、ｔ＝にの時検出回路のサンプルデータＴ （ｋ
）、電荷蓄積回路のサンプルデータをＴｃ（ｋ）として
Ｔ （ｋ）がＴｃ（ｋ）より著しい低温を示せば、測温
用素子の断線であり、またＴ （ｋ）がＴ ｃ （ｋ）
より著しい高温を示せば、短絡であると考えられ、検出
回路の異常状態が検出できる。
）、電荷蓄積回路のサンプルデータをＴｃ（ｋ）として
Ｔ （ｋ）がＴｃ（ｋ）より著しい低温を示せば、測温
用素子の断線であり、またＴ （ｋ）がＴ ｃ （ｋ）
より著しい高温を示せば、短絡であると考えられ、検出
回路の異常状態が検出できる。
この方式の定常時でのヒータオン信号φヨ。に対応して
サンプル検出される定着器の温度のサンプルデータＴ
（ｋ）と電荷蓄積回路のサンプルデータＴｃ（ｋ）との
波形を第１０図に示す。メインスイッチオン時に定着器
は外部の雰囲気と同じ温度になっているため、電荷蓄積
回路と同じ初期筺を示さない場合は、検出回路出力Ｔ
（ｋ）と電荷蓄積回路出力’ｌ’ ｃ （ｋ）との差Ｔ
（ｋ） ”−Ｔ ｃ （ｋ）を次の電荷蓄積回路出力Ｔ
Ｃ（ｋｌ１ ）に加えて考えればよい。ここでメインス
イッチオフとなると電荷蓄積回路は定着器の温度下降時
定数と同じ放電時定数で放電を続け、メインスイッチオ
ン時に定着器の温度を実測して、実測値Ｔと予測＠Ｔｃ
との差を求め、この値が一定値Ｔ６以上であれば、メイ
ンスイッチオフの期間に検出回路の測温用素子に断線が
あったことがわかる。
サンプル検出される定着器の温度のサンプルデータＴ
（ｋ）と電荷蓄積回路のサンプルデータＴｃ（ｋ）との
波形を第１０図に示す。メインスイッチオン時に定着器
は外部の雰囲気と同じ温度になっているため、電荷蓄積
回路と同じ初期筺を示さない場合は、検出回路出力Ｔ
（ｋ）と電荷蓄積回路出力’ｌ’ ｃ （ｋ）との差Ｔ
（ｋ） ”−Ｔ ｃ （ｋ）を次の電荷蓄積回路出力Ｔ
Ｃ（ｋｌ１ ）に加えて考えればよい。ここでメインス
イッチオフとなると電荷蓄積回路は定着器の温度下降時
定数と同じ放電時定数で放電を続け、メインスイッチオ
ン時に定着器の温度を実測して、実測値Ｔと予測＠Ｔｃ
との差を求め、この値が一定値Ｔ６以上であれば、メイ
ンスイッチオフの期間に検出回路の測温用素子に断線が
あったことがわかる。
〔実施例６〕
第６の実施例を第１１図に示す。第１１図に於て検出回
路は第１の検出回路４０１と第２の検出回路４０６とか
らなり、第１の検出回路４０１の測温用素子４０２とほ
ぼ同じ特性を示す測温用素子４０４を第２の検出回路４
０６に設け、２つの測温用素子を近接して取付け、第１
の検出回路を正常の温度検出用、第２の検出回路を異常
状態の検出用とする。第１の検出回路出力、第２の検出
回路出力を各々ＡＤ変換して比較し、両方とも同じ値を
示せば正常、一方が著しい低温を示せば、低温を示した
方の測温用素子の断、一方が著しい高温を示せば、高温
を示した方の測温用素子が短絡であることがわかる。ま
た両方とも著しい低温を示した場合は測温用素子が接続
されたコネクタが抜けたことを示す。
路は第１の検出回路４０１と第２の検出回路４０６とか
らなり、第１の検出回路４０１の測温用素子４０２とほ
ぼ同じ特性を示す測温用素子４０４を第２の検出回路４
０６に設け、２つの測温用素子を近接して取付け、第１
の検出回路を正常の温度検出用、第２の検出回路を異常
状態の検出用とする。第１の検出回路出力、第２の検出
回路出力を各々ＡＤ変換して比較し、両方とも同じ値を
示せば正常、一方が著しい低温を示せば、低温を示した
方の測温用素子の断、一方が著しい高温を示せば、高温
を示した方の測温用素子が短絡であることがわかる。ま
た両方とも著しい低温を示した場合は測温用素子が接続
されたコネクタが抜けたことを示す。
〔実施例７〕
第７の実施例を第１２図に示す。第１２図に於て、２検
出回路５０１は、低抵抗Ｒ，５０２、高抵抗Ｒ，５０３
、測温用素子５０４、ダイオード５０５よりなり、検出
回路出力端子５０８は図示してないが、ＡＤ変換回路の
入力端子に接続されている。
出回路５０１は、低抵抗Ｒ，５０２、高抵抗Ｒ，５０３
、測温用素子５０４、ダイオード５０５よりなり、検出
回路出力端子５０８は図示してないが、ＡＤ変換回路の
入力端子に接続されている。
低抵抗Ｒ１には基準電圧Ｅと同じ電圧Ｖ１が、高抵抗Ｒ
２には基準電圧より高い電圧■２が印加されており、測
温用素子５０４は基準電圧と同じ電圧■１により低抵抗
Ｒ，５０２，ダイオード５０５を介してバイアスされ、
検出回路出力電圧■、は第３図の検出回路出力電圧とは
ｙ同じ曲線を示す。測温用素子が断線した時に、従来例
では検出回路出力は基準電圧と同じ電圧■□を示すが、
これは低温時の出力電圧とはｙ同じであるため検知する
のが困難であったが、本実施例では、検出回路出力は基
準電圧より高い電圧ｖ２を示すため、検出回路に接続さ
れた異常検知回路５１０の第１のコンパレータ５０６に
より容易に検知することができる。また測温用素子の短
絡は異常検知回路５１０（７）ＩＥ２のコンパレータ５
０７により検知することができる。
２には基準電圧より高い電圧■２が印加されており、測
温用素子５０４は基準電圧と同じ電圧■１により低抵抗
Ｒ，５０２，ダイオード５０５を介してバイアスされ、
検出回路出力電圧■、は第３図の検出回路出力電圧とは
ｙ同じ曲線を示す。測温用素子が断線した時に、従来例
では検出回路出力は基準電圧と同じ電圧■□を示すが、
これは低温時の出力電圧とはｙ同じであるため検知する
のが困難であったが、本実施例では、検出回路出力は基
準電圧より高い電圧ｖ２を示すため、検出回路に接続さ
れた異常検知回路５１０の第１のコンパレータ５０６に
より容易に検知することができる。また測温用素子の短
絡は異常検知回路５１０（７）ＩＥ２のコンパレータ５
０７により検知することができる。
以上説明したように、本発明によれば、定着器の温度を
検出回路により検出してＡＤ変換回路に入力し、ＡＤ変
換回路出力と記憶回路の複数の温度設定置と比較してヒ
ータ駆動回路を制御することにより、温度制御を行なう
ため、多くのコンパレータを必要とせず、制御値の設定
も容易でありコストも低減できる。
検出回路により検出してＡＤ変換回路に入力し、ＡＤ変
換回路出力と記憶回路の複数の温度設定置と比較してヒ
ータ駆動回路を制御することにより、温度制御を行なう
ため、多くのコンパレータを必要とせず、制御値の設定
も容易でありコストも低減できる。
さらに、本発明によれば、ＡＤ変換回路のサンプル出力
に対応する電圧−温度変換データＴ （ｋ）と次のサン
プル出力に対応する電圧−温度変換データＴ（ｋ＋１）
との差分値をＣＰＵが演算し、この値によって定着器の
温度制御を行なうため、回路構成が簡単となり、検出回
路の異常状態も容易に検知できる。
に対応する電圧−温度変換データＴ （ｋ）と次のサン
プル出力に対応する電圧−温度変換データＴ（ｋ＋１）
との差分値をＣＰＵが演算し、この値によって定着器の
温度制御を行なうため、回路構成が簡単となり、検出回
路の異常状態も容易に検知できる。
さらに本発明によれば、ＡＤ変換回路のサンプル出力に
対応する電圧−温度変換データＴ （ｋ＋を求め、この
実測値Ｔ （ｋ）と予測値↑（ｋ）及び定着器の温度下
降の時定数Ａ、温度上昇分Ｂとにより次のサンプル時の
予測ｉ１’ｕｃ＋１）をＣＰＵが演算し、サンプルデー
タＴ（ｋ＋１）と比較して定着器の温度制御を行なうた
め、回路構成が簡単となり、検出回路の異常の検出も容
易である。
対応する電圧−温度変換データＴ （ｋ＋を求め、この
実測値Ｔ （ｋ）と予測値↑（ｋ）及び定着器の温度下
降の時定数Ａ、温度上昇分Ｂとにより次のサンプル時の
予測ｉ１’ｕｃ＋１）をＣＰＵが演算し、サンプルデー
タＴ（ｋ＋１）と比較して定着器の温度制御を行なうた
め、回路構成が簡単となり、検出回路の異常の検出も容
易である。
さらに本発明によれば、メインスイッチオフの後も予測
値を求める演算が続行され、メインスイッチオン時に実
測値を比較することにより、メインスイッチオフ状態で
の測温用素子の断線の検出が簡単にできる。
値を求める演算が続行され、メインスイッチオン時に実
測値を比較することにより、メインスイッチオフ状態で
の測温用素子の断線の検出が簡単にできる。
さらに本発明は、ＣＰＵ出力に同期して動作するコンデ
ンサ及び抵抗からなる電荷蓄積回路の出力を定着器の温
度の予測値として温度制御することにより、容易に検出
回路の異状を検出ができる。
ンサ及び抵抗からなる電荷蓄積回路の出力を定着器の温
度の予測値として温度制御することにより、容易に検出
回路の異状を検出ができる。
またノイズによってＣＰＵが正常の動作ではな（暴走を
始めたときも電荷蓄積回路の出力レベルの変動によって
知ることができる利点もある。
始めたときも電荷蓄積回路の出力レベルの変動によって
知ることができる利点もある。
さらに本発明によれば、第１の検出回路と第２の検出回
路からなる検出回路の第１の検出回路出力と第２の検出
回路出力とを比較することにより定着器の温度制御及び
検出回路の異常状態の検出を容易に行なうことができる
。
路からなる検出回路の第１の検出回路出力と第２の検出
回路出力とを比較することにより定着器の温度制御及び
検出回路の異常状態の検出を容易に行なうことができる
。
さらに本発明によれば、簡単な回路構成の異常検知回路
によって、容易に測温用素子の断線を検知することがで
きる。また検出回路の測温用素子の抵抗変化が数百から
数千倍と大きくても検出が可能である。
によって、容易に測温用素子の断線を検知することがで
きる。また検出回路の測温用素子の抵抗変化が数百から
数千倍と大きくても検出が可能である。
本発明は以上述べた如（比較的簡単な回路構成及びあら
かじめ定められたプログラムで温度制御ができ、コスト
も低減できる。
かじめ定められたプログラムで温度制御ができ、コスト
も低減できる。
また従来例では測温用素子が断線するとヒータは通電し
続けて、その結果機器を焼損する危険があったが、本発
明によれば測温用素子の断線を検出してヒータの通電を
切ることができるため機器の焼損を確実に防止できる。
続けて、その結果機器を焼損する危険があったが、本発
明によれば測温用素子の断線を検出してヒータの通電を
切ることができるため機器の焼損を確実に防止できる。
第１図は本発明に係わる温度制御方式の第１の実施例を
示すブロック図、第２図は本発明に係わる定着器の起動
時の温度特性を示す特性図、第３図は本発明に係わる検
出回路の測温用素子の抵抗−温度特性及び検出回路の電
圧−温度特性を示す特性図、第４図は本発明の第２の実
施例に係わる検出回路の異常を検出するプログラムのフ
ローチャーと、第５図は本発明の第３の実施例に係わる
検出回路の異常を検出するプログラムのフローチャーと
、第６図は本発明の第３の実施例に係わる実測値と予測
値の比較を示す波形図、また第７図は本発明の第４の実
施例を示すブロック図、第８図は本発明の第４の実施例
に係わる検出回路の異常を検出するプログラムのフロー
チャートラ示シ、第９図は本発明の第５の実施例を示す
ブロック図、第１０図は本発明の第５の実施例に係わる
実測値と電荷蓄積回路の出力電圧との比較を示す波形図
、第１１図は本発明の第６の実施例を示すブロック図、
第１２図は本発明の第７の実施例を示す回路図である。 １０１．６０１．４０１．４０３．５０１・・・・・・
検出回路、 １０２．６０２．４０２，４０４．５０４・・・・・・
測温用素子、 ６１１・・・・・・電荷蓄積回路、 ５１０・・・・・・異常検知回路。 第１図 第２図 ”ｌ Ｌ２ ＄３ Ｉ １ｍ 時間第３図 屋 度 第４図 第６図 第１０図 ｋｋ↑ｌ ｋ＋２ ｋ＋３第７＠ 第９図 第１２図
示すブロック図、第２図は本発明に係わる定着器の起動
時の温度特性を示す特性図、第３図は本発明に係わる検
出回路の測温用素子の抵抗−温度特性及び検出回路の電
圧−温度特性を示す特性図、第４図は本発明の第２の実
施例に係わる検出回路の異常を検出するプログラムのフ
ローチャーと、第５図は本発明の第３の実施例に係わる
検出回路の異常を検出するプログラムのフローチャーと
、第６図は本発明の第３の実施例に係わる実測値と予測
値の比較を示す波形図、また第７図は本発明の第４の実
施例を示すブロック図、第８図は本発明の第４の実施例
に係わる検出回路の異常を検出するプログラムのフロー
チャートラ示シ、第９図は本発明の第５の実施例を示す
ブロック図、第１０図は本発明の第５の実施例に係わる
実測値と電荷蓄積回路の出力電圧との比較を示す波形図
、第１１図は本発明の第６の実施例を示すブロック図、
第１２図は本発明の第７の実施例を示す回路図である。 １０１．６０１．４０１．４０３．５０１・・・・・・
検出回路、 １０２．６０２．４０２，４０４．５０４・・・・・・
測温用素子、 ６１１・・・・・・電荷蓄積回路、 ５１０・・・・・・異常検知回路。 第１図 第２図 ”ｌ Ｌ２ ＄３ Ｉ １ｍ 時間第３図 屋 度 第４図 第６図 第１０図 ｋｋ↑ｌ ｋ＋２ ｋ＋３第７＠ 第９図 第１２図
Claims (7)
- （１）測温用素子を含む検出回路、ヒータ駆動回路を有
する電子写真方式の事務用機器に使用される定着器の温
度制御方式に於て、前記検出回路の出力をＡＤ変換する
ＡＤ変換回路、あらかじめ記憶された複数の温度設定値
を有する記憶回路、前記ＡＤ変換回路出力を入力とする
ＣＰＵを設け、該ＣＰＵは前記ＡＤ変換回路出力と前記
記憶回路の前記複数の温度設定値を比較することにより
、前記ヒータ駆動回路を制御して、前記定着器の温度制
御を行なうことを特徴とする温度制御方式。 - （２）測温用素子を含む検出回路、該検出回路出力をＡ
Ｄ変換するＡＤ変換回路、該ＡＤ変換回路出力を入力と
するＣＰＵ、温度設定値を記憶する記憶回路、前記ＣＰ
Ｕ出力により制御されるヒータ駆動回路からなる電子写
真方式の事務用機器に使用される定着器に於て、前記記
憶回路は前記検出回路の測温用素子の特性に対応した電
圧−温度変換データを有すると共に、前記ＡＤ変換回路
は一定時間毎にサンプル出力を発生し、前記ＣＰＵは該
ＡＤ変換回路のサンプル出力に対応する電圧−温度変換
データＴ（ｋ）と次のサンプル出力に対応する電圧−温
度変換データＴ（ｋ＋１）との差分値を演算し、該差分
値に従って、前記定着器の温度制御及び前記検出回路の
異常状態の検出を行なうことを特徴とする温度制御方式
。 - （３）測温用素子を含む検出回路、該検出回路出力をＡ
Ｄ変換するＡＤ変換回路、該ＡＤ変換回路出力を入力と
するＣＰＵ、温度設定値を記憶する記憶回路、前記ＣＰ
Ｕ出力により制御されるヒータ駆動回路からなる電子写
真方式の事務用機器に使用される定着器に於て、前記記
憶回路は前記検出回路の測温用素子の特性に対応した電
圧−温度変換データを有すると共に、前記ＡＤ変換回路
は一定時間毎にサンプル出力を発生し、前記ＣＰＵは該
ＡＤ変換回路のサンプル出力に対応する電圧−温度変換
データＴ（ｋ）を求め、任意に設定した予測値■（ｋ）
に前記定着器の温度下降の時定数Ａ（＜１）を乗じた値
と、前記ヒータ駆動回路入力信号がある場合は温度上昇
分Ｂと、実測値である前記電圧−温度変換データＴ（ｋ
）と前記予測値■（ｋ）との差の合算値Ａ■（ｋ）＋Ｂ
＋（Ｔ（ｋ）−■（ｋ））を演算により求め、該合算値
を次のサンプル時の予測値 ■（ｋ＋１）として、次のサンプル時の実測値Ｔ（ｋ＋
１）と比較することにより、前記定着器の温度制御及び
前記検出回路の異常状態の検出を行なうことを特徴とす
る温度制御方式。 - （４）請求項（３）記載の温度制御方式に於て、ＣＰＵ
をバックアップする電池又はコンデンサを設け、メイン
スイッチオフの後も該ＣＰＵは予測値■（ｋ）に温度の
下降時定数Ａを乗じた値Ａ■（ｋ）を一定時間後の予測
値■（ｋ＋１）とする演算を続行し、メインスイッチオ
ン時に実測値と比較して検出回路の異常状態の検出を行
なうことを特徴とする温度制御方式。 - （５）測温用素子を含む検出回路、該検出回路出力をＡ
Ｄ変換するＡＤ変換回路、該ＡＤ変換回路出力を入力と
するＣＰＵ、温度設定値を記憶する記憶回路、該ＣＰＵ
出力により制御されるヒータ駆動回路からなる電子写真
方式の事務用機器に使用される定着器に於て、該定着器
の温度上昇時定数と同じ充電時定数、温度下降時定数と
同じ放電時定数を有し、前記ＣＰＵ出力に同期して動作
するコンデンサ及び抵抗からなる電荷蓄積回路を設け、
該電荷蓄積回路の出力と、前記ＡＤ変換回路の出力を比
較することにより、前記定着器の温度制御及び前記検出
回路の異常状態の検出を行なうことを特徴とする温度制
御方式。 - （６）測温用素子を含む検出回路、該検出回路出力をＡ
Ｄ変換するＡＤ変換回路、該ＡＤ変換回路出力を入力と
するＣＰＵ、温度設定値を記憶する記憶回路、該ＣＰＵ
出力により制御されるヒータ駆動回路からなる電子写真
方式の事務用機器に使用される定着器に於て、前記検出
回路は、第１の測温用素子を含む第１の検出回路と第２
の測温用素子を含む第２の検出回路とからなり、前記Ｃ
ＰＵは該第１の検出回路出力と該第２の検出回路出力を
比較することにより、該検出回路の異常の検出を行うこ
とを特徴とする温度制御方式。 - （７）測温用素子を含む検出回路、該検出回路出力をＡ
Ｄ変換するＡＤ変換回路、該ＡＤ変換回路出力を入力と
するＣＰＵ、温度設定値を記憶する記憶回路、該ＣＰＵ
出力により制御されるヒータ駆動回路からなる電子写真
方式の事務用機器に使用される定着器に於て、前記検出
回路は一端を前記測温用素子に並列接続され他端に基準
電圧を印加される低抵抗と、他端に基準電圧以上の高電
圧を印加される高抵抗とを有し、さらに基準電圧より低
い検知電圧レベルの第１のコンパレータと、基準電圧と
ほゞ同じ検知電圧レベルの第２のコンパレータとからな
る異常検知回路を設け、該異常検知回路出力によって前
記検出回路の異常状態の検出を行なうことを特徴とする
温度制御方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63131570A JPH01302373A (ja) | 1988-05-31 | 1988-05-31 | 温度制御方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63131570A JPH01302373A (ja) | 1988-05-31 | 1988-05-31 | 温度制御方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01302373A true JPH01302373A (ja) | 1989-12-06 |
Family
ID=15061150
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63131570A Pending JPH01302373A (ja) | 1988-05-31 | 1988-05-31 | 温度制御方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01302373A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0777892A (ja) * | 1993-09-10 | 1995-03-20 | Ricoh Co Ltd | 定着装置の温度制御方法及び装置 |
| JP2006058510A (ja) * | 2004-08-19 | 2006-03-02 | Fuji Xerox Co Ltd | 画像形成装置 |
| JP2013190117A (ja) * | 2012-03-12 | 2013-09-26 | Mitsubishi Electric Corp | ヒートポンプ給湯機の制御装置 |
| JP2017054039A (ja) * | 2015-09-10 | 2017-03-16 | 富士ゼロックス株式会社 | 搬送装置及び画像形成装置 |
-
1988
- 1988-05-31 JP JP63131570A patent/JPH01302373A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0777892A (ja) * | 1993-09-10 | 1995-03-20 | Ricoh Co Ltd | 定着装置の温度制御方法及び装置 |
| JP2006058510A (ja) * | 2004-08-19 | 2006-03-02 | Fuji Xerox Co Ltd | 画像形成装置 |
| JP4687034B2 (ja) * | 2004-08-19 | 2011-05-25 | 富士ゼロックス株式会社 | 画像形成装置 |
| JP2013190117A (ja) * | 2012-03-12 | 2013-09-26 | Mitsubishi Electric Corp | ヒートポンプ給湯機の制御装置 |
| JP2017054039A (ja) * | 2015-09-10 | 2017-03-16 | 富士ゼロックス株式会社 | 搬送装置及び画像形成装置 |
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