JPH01296178A - 集積回路測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ＬＣＣ（リードレスチップキャリア）パッケ
ージやフラットパッケージ等に実装された集積回路（Ｉ
Ｃ）等を測定するための装置に関するものである。

〔従来の技術〕

従来、ＬＣＣパッケージやフラットパッケージなどに実
装されたＩＣ（以下、パッケージドＩＣと言う）の測定
は、ＩＣソケットを介して行うか、あるいは測定用プリ
ント基板にハンダ付けして行うかのいずれかの方法が用
いられていた。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかし、ＩＣソケットを介して測定する方法は、高周波
特性が悪いため、精度良く測定することができなかった
。また、測定用プリント基板に直接ハンダ付けして測定
する方法は、高周波特性は良いが破壊検査であるという
欠点を有している。

本発明の課題は、このような問題点を解消することにあ
る。

〔課題を解決するための手段〕

上記課題を解決するために、本発明の集積回路測定装置
は、集積回路を測定するためのパターンが描かれている
測定用プリント基板と、このＡ？１定用プリント基板を
収納するパッケージと、前記測定用プリント基板上の所
定の領域に載置され厚み方向に導電性を有する異方性導
電ゴムと、前記パッケージに締め付け固定されることに
より前記異方性導電ゴムをその一部において上方から押
圧して前記ｎ１定用プリント基板上に固定すると共に異
方性導電ゴム上に載置される前記集積回路の位置を規制
する固定板と、前記異方性導電ゴム上に載置された前記
集積回路を微調整可能に押圧する手段を有する蓋とを備
えたものである。

〔作用〕

測定すべき集積回路を異方性導電ゴムの上に載せて蓋を
閉じると蓋に設けられた押圧手段が集積回路を押圧する
。この押圧によって集積回路と測定用プリント基板が電
気的に低抵抗で接続される。

このとき、測定用プリント基板に対する集積回路の位置
は固定板により規制されるので、抑圧手段の調整を予め
行っておけば、集積回路を所定の場所に載せ蓋を閉じる
だけで測定の準備が完了する。

測定後は、蓋を開けるだけで集積回路を同等破壊するこ
となく取り出せる。

〔実施例〕

第１図ないし第３図は本発明の一実施例を示すものであ
り、第２図は外観斜視図、第１図（Ａ）はパッケージ１
の平面図、第１図（Ｂ）はそのＢ−Ｂ断面図である。

パッケージ１の底部には、測定用プリント基板２を載置
するための支持台３が取り付けられている。なお、この
支持台３はパッケージ１と一体に形成されているもので
もよい。測定用プリント基板２にはパッケージドＩＣ４
を測定するための回路が描かれており、パッケージ１の
側壁を貫通して設けられている同軸コネクタ５．６や貫
通端子７などと電気的に接続されている。

ａｌ定用プリント基板２の表面のほぼ中央部には、パッ
ケージドＩＣ４と電気的に接続するためのバッド部のパ
ターンが描かれており、そのパターン上には異方性導電
ゴム８が載置されている。異方性導電ゴム８は、厚さ方
向すなわち垂直方向には導電性を有し、平面方向には絶
縁性を示す弾性体である。具体的には、ゴム板全面に、
ゴム板の厚さ方向に延びる非常に細い多数の金属導体を
埋め込んだものであり、たとえば、１　ｃＪあたり３０
０〜２０００本の金属線を埋め込んだものが既に知られ
ている。

異方性導電ゴム８は、その周囲を固定板９により測定用
プリント基板２に押さえ付けられている。

固定板９は比較的剛性の強い絶縁性樹脂でできており、
ビス１０ａ〜１０ｄによって周囲を支持台３に締め付け
固定され、この締め付け力によって異方性導電ゴム８の
周囲を押さえ付けている。なお、測定用プリント基板２
の四隅がハンダ付けエリアとなっていることや、１１ｐ
ｊ定用プリント基板２を貫通端子７あるいは同軸コネク
タ５．６と接続を図る必要があることなどから、固定板
９の周囲には、測定用プリント基板２がそれらの部分で
露出するための切り欠きが設けられている。なお、固定
板９がネジ止めされている支持台３は、パッケージ１の
底部に固定されているので、固定台９は実質的にパッケ
ージ１に固定されている。

パッケージ１には、端部において回動自在に連結された
蓋１１が設けられている。蓋１１のほぼ中央部には圧力
調整用ネジ１２が設けられており、蓋１１が閉じられた
ときにその先端部が異方性導電ゴム８上に載置されたパ
ッケージドＩＣ４に当接するようになっている。なお、
圧力調整用ネジ１２の先端部には、パッケージドＩＣ４
の表面に傷をつけないための弾性部材１２ａ（第３図に
図示）が設けられている。

また、Ｍｌｌの開放端１１ａ側のパッケージ１側面には
、クランパ１３がその下端部において回動自在に設けら
れている。クランパ１３は、蓋１１が閉じたときにその
開放端１１ａを爪部１３ａにて係正し、蓋１１の開放を
防ぐ手段である。

つぎに、本実施例の動作を説明する。

まず、蓋１１を開放し、測定すべきパッケージドＩＣ４
を固定板９の開口を介して露出している異方性導電ゴム
８の上に載せる。この固定板９の開口は、パッケージド
ＩＣ４の形状に合わせて穿設されており、パッケージド
ＩＣ４の位置決め用ガイドとしての機能を有する。つぎ
に、開放されているＭｌｌを閉じ、その先端部１１ａを
クランパ１３の爪部１３ａで係止する。このとき、圧力
調整用ネジ１２は上方に引き上げられており、その先端
部はパッケージドＩＣ４とは非接触状態にある。この状
態から圧力調整用ネジ１２を第２図の矢印Ａの方向に回
転させると、徐々に降下してその先端がパッケージドＩ
Ｃ４に接触する。そして、さらに圧力調整用ネジ１２を
同方向に回転させると、蓋１１がクランパ１３によりそ
の開放を規制されているのでパッケージドＩＣ４を上方
から押圧し始める。第３図は、このときの圧力調整用ネ
ジ１２とパッケージドＩＣ４との接触状態を示すもので
ある。圧力調整用ネジ１２の先端に設けられた弾性部材
１２ａを介してパッケージドＩＣ４が押圧され、この押
圧力により異方性導電ゴムｇが圧縮され、パッケージド
ＩＣ４のコネクタと測定用プリント基板２の所定の電極
とが電気的に低抵抗で接続される。なお、圧力調整用ネ
ジ１２による圧力調整は、−度行えば、同一のパッケー
ジドＩＣを測定する限り、以後の調整は不要である。

本実施例では、蓋１１がパッケージ１に回動自在に取り
付けられているが、蓋１１をパッケージ１とは完全に別
体とすると共に、その両側をクランパで係止するような
構造としても良い。

また、測定用プリント基板２と蓋１１との平行を一層厳
格に出すために、パッケージ１内の四隅に蓋１１を支え
る平行出し用ボールを立てるなどの構造を付加しても良
い。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明の集積回路測定装置によれ
ば、測定すべき集積回路とΔ１１定用プリント基板とを
低抵抗の異方性導電ゴムを介して接続するので高い周波
数においても高精度で測定することができる。しかも、
集積回路をルー１定用プリント基板上の異方性導電ゴム
に単に押し付けるだけなので、この押圧力を解放すれば
ＩｌＮ定済みの集積回路を同等破壊することなく取り出
せる。さらに、測定のための１備操作は、集積回路を所
定の場所に載せて蓋を閉じるだけであり、測定作業を大
幅に簡素化できる。

【図面の簡単な説明】

第１図（Ａ）は、本発明の一実施例を示す平面図、第１
図（Ｂ）は、そのＢ−Ｂ断面図、第２図は、本実施例の
外観斜視図、第３図は、本実施例において蓋１１を閉じ
たときの状態を示す図である。 １・・・パッケージ、２・・・測定用プリント基板、４
・・・パッケージドＩＣ，８・・・異方性導電ゴム、９
・・・固定板、１１・・・蓋、１２・・・圧力調整用ネ
ジ、１３・・・クランパ。 実施例 第２図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 　集積回路を測定するためのパターンが描かれている測
   定用プリント基板と、この測定用プリント基板を収納す
   るパッケージと、前記測定用プリント基板上の所定の領
   域に載置され厚み方向に導電性を有する異方性導電ゴム
   と、前記パッケージに締め付け固定されることにより前
   記異方性導電ゴムをその一部において上方から押圧して
   前記測定用プリント基板上に固定すると共に異方性導電
   ゴム上に載置される前記集積回路の位置を規制する固定
   板と、前記異方性導電ゴム上に載置された前記集積回路
   を微調整可能に押圧する手段を有する蓋とを備えた集積
   回路測定装置。