JP2004138546A - チップ部品測定用治具 - Google Patents
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Abstract
【課題】電極が下底面にしかない微小なチップ部品であっても安定的にセットして測定器で測定できるチップ部品測定用治具の提供。
【解決手段】チップ部品５１の下底表面５２の各電極５３と接触する各接触端子１６を表出させた定置台部１３を固定した基台１２と、各接触端子１６に電極５３を各別に接触させてチップ部品５１を位置固定する保持機構２２とからなり、該保持機構２２は、基台１２上に配設される支台部２３と、該支台部２３上に直立配置されるボルト軸部３１と、該ボルト軸部３１にその長さ方向を直交させ、かつ、上昇方向への付勢力が付与されて遊挿される昇降腕部３８と、該昇降腕部３８の押し下げを自在にボルト軸部３１に螺着されるナット部４５とで少なくとも構成され、昇降腕部３８の先端側に垂設された圧接部４０の押圧力により位置固定してチップ部品５１を定置できるようにした。
【選択図】図１
【解決手段】チップ部品５１の下底表面５２の各電極５３と接触する各接触端子１６を表出させた定置台部１３を固定した基台１２と、各接触端子１６に電極５３を各別に接触させてチップ部品５１を位置固定する保持機構２２とからなり、該保持機構２２は、基台１２上に配設される支台部２３と、該支台部２３上に直立配置されるボルト軸部３１と、該ボルト軸部３１にその長さ方向を直交させ、かつ、上昇方向への付勢力が付与されて遊挿される昇降腕部３８と、該昇降腕部３８の押し下げを自在にボルト軸部３１に螺着されるナット部４５とで少なくとも構成され、昇降腕部３８の先端側に垂設された圧接部４０の押圧力により位置固定してチップ部品５１を定置できるようにした。
【選択図】図１
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、微小なチップ部品をその底面側を介して電気的な特性を測定しようとする際に電気的な接触関係を安定的に確保しながら位置固定することができるチップ部品測定用治具に関する技術である。
【０００２】
【従来の技術】
図９は、従来からあるチップ部品測定用治具の要部を拡大して示す説明図であり、ＬＣＲテスタなどの測定器本体１には、チップ部品１０１を落とし込むための溝部２ａを有する基台部２と、溝部２ａを介して載置されたチップ部品１０１の一方の電極端面１０２に電気的に接触させるため固定側支腕部３を介して固定配置された一側測定ピン４と、チップ部品１０１の他方の電極端面１０３に電気的に接触させるため可動側支腕部５に支持され、かつ、介装させたコイルバネ７の押圧力を鍔部８で受けて常に進出方向へと押圧付勢されている他側測定ピン６とが配設されている。
【０００３】
このため、非測定時は、一側測定ピン４の先端面に対し他側端子ピン６の先端面が当接しているものの、測定時は、他側端子ピン６が備える操作レバー９を介してその付勢力に抗して他側端子ピン６を押し込んで一側測定ピン４の側との間に形成した空隙内にチップ部品１０１を配置した後、一側測定ピン４は一方の電極端面１０２に、他側測定ピン６は他方の電極端面１０３にそれぞれ自動的に電気的に接触させることができる。なお、図中の符号１０は、一側測定ピン４と他側端子ピン６とに各別に直付けされている引出し線をそれぞれ示す。
【０００４】
また、従来からあるチップ部品測定用治具には、より寸法の小さい表面実装型のチップ部品であっても測定が可能であり、また、測定端子とチップ部品の電極との再接続ごとに測定値が変化することのないようにしたものがある（例えば、特許文献１参照。）。
【０００５】
【特許文献１】
特開２０００−１０５２６２号公報（段落番号「０００７」〜「０００９」，図６）
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、図９に示す従来例による場合には、微小なチップ部品１０１の一方の電極端面１０２には一側測定ピン４を、他方の電極端面１０３には他側測定ピン６をそれぞれ接触させるものであることから、チップ部品が微小化すればするほどその電極も小さくなって安定した測定ができなくなるばかりでなく、電極が両端面ではなく底面側に設けられているチップ部品に対しては対応できないという不都合もあった。
【０００７】
また、特許文献１の開示技術は、４端子法に好適な測定用治具に関するものであり、チップ部品が微小化すればするほど安定した測定ができなくなるほか、電極が両端面ではなく底面側に設けられているチップ部品に対しては対応できないという点で、図９に示す従来例と同様の課題を抱えるものであった。
【０００８】
本発明は、従来例にみられた上記課題に鑑み、チップ部品が微小化の程度を強めても安定的にセットでき、電極が底面にしかないチップ部品であってもＬＣＲテスタなどの測定器により測定することができるチップ部品測定用治具を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記目的を達成すべくなされたものであり、測定されるべきチップ部品が下底表面側に備える一対の電極と個別に接触する各接触端子を表出させてなる定置台部を固定した基台と、該基台上に配設されて前記接触端子に前記電極を各別に接触させた状態のもとで前記定置台部との間で前記チップ部品を位置固定する保持機構とからなり、該保持機構は、前記基台上に配設される支台部と、該支台部上にその雄ねじ側を突出させて直立配置されるボルト軸部と、該ボルト軸部にその長さ方向を直交させ、かつ、上昇方向への付勢力が付与されて遊挿される昇降腕部と、付勢力に抗した該昇降腕部の押し下げを自在に前記ボルト軸部に螺着されるナット部とで少なくとも構成され、前記定置台部上の前記チップ部品は、前記昇降腕部の先端側に垂設された圧接部の押圧力による定置を自在としたことに構成上の特徴がある。
【００１０】
この場合、前記保持機構には、前記ボルト軸部に対し前記ナット部を緊締方向に回転させた際、昇降腕部の前記圧接部が前記定置台部上の前記チップ部品と正対する位置関係のもとで前記昇降腕部を回動停止させるストッパーを具備させることができる。
【００１１】
また、前記支台部は、昇降腕部の前記圧接部が定置台部の前記接触端子と正対する位置方向での進退を自在にして前記基台に位置固定させるのが好ましい。さらに、前記定置台部の各接触端子は、平面視が略三角形状を呈し、かつ、それぞれの頂角部側を対向させて隣接配置するのが望ましい。さらにまた、少なくとも圧接部が位置する昇降腕部は、その上下方向での透視が自在な透明性を付与して形成しておくこともできる。
【００１２】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明の一例を示す説明図であり、そのうちの（ａ）は縦断面図を、（ｂ）はその要部平面図をそれぞれ示す。また、図２は、図１（ａ）の要部拡大図である。
【００１３】
これらの図によれば、チップ部品測定用治具１１の全体は、測定されるべきチップ部品５１が水平な下底表面５２側に備える一対の電極５３，５３と個別に接触する各接触端子１６を表出させてなる定置台部１３を固定した筐体などからなる基台１２と、該基台１２上に配設されて接触端子１６に電極３を各別に接触させた状態のもとで定置台部１３との間でチップ部品５１を位置固定する保持機構２２とで構成されている。
【００１４】
このうち、定置台部１３は、基台１２側にねじ止めするなどして固定配置される絶縁樹脂材などの絶縁材からなる台本体部１４と、該台本体部１４の略中央部にチップ部品５１の大きさとの関係で定まる縦横幅が付与された凹部１５と、該凹部１５上の適宜位置に平面視が略三角形状を呈し、かつ、それぞれの頂角部１６ａ側を対向させて隣接配置された例えば真鍮基材に金メッキを施してなる導電性の一対の接触端子１６，１６とを備えて形成されている。一対の接触端子１６，１６をこのようにそれぞれの頂角部１６ａ側を対向させて対向面積を極力小さなものとして隣接配置することにより、接触端子１６，１６相互間の静電容量Ｃが減少して測定値に与える影響を小さくすることができる。
【００１５】
一方、保持機構２２は、基台１２上に位置固定を自在に配設される支台部２３と、該支台部２３上にその雄ねじ３２側を突出させて直立配置されるボルト軸部３１と、該ボルト軸部３１にその長さ方向を直交させ、かつ、上昇方向への付勢力を伴って遊挿される昇降腕部３８と、付勢力に抗した昇降腕部３８の押し下げを自在にボルト軸部３１に螺着されるナット部４５と、昇降腕部３８を回動停止させるストッパー４６とで形成されている。これにより、定置台部１３上のチップ部品５１は、昇降腕部３８の先端側に垂設された圧接部４０の押圧力によりその位置が固定された状態のもとで定置されることになる。
【００１６】
すなわち、支台部２３は、台本体部１４の凹部１５内に入り込む狭幅部２５をその前端部２４に備えており、さらに昇降腕部３８が備える圧接部４０が定置台部１３の接触端子１６と正対する位置方向での進退を自在にして基台１２側に位置固定されている。具体的には、支台部２３は、その後端部２６に進退方向を長さ方向とした長孔２７が設けられており、該長孔２７を介して導入される位置決めボルト材３０を基台１２の対応部位に設けられている螺孔１７に螺着することにより、狭幅部２５の進退を自在とすることで圧接部４０を接触端子１６に正対させて位置固定できるようになっている。
【００１７】
ボルト軸部３１は、支台部２３の略中央部に位置する上面側に設けられた穴部２８と、該穴部２８と連通させてその下面側に設けられた小孔部２９とを介して挿通させた基端部３３側が備える小径雄ねじ部３４を下方に突出させ、該小径雄ねじ部３４にナット材３５を緊締螺着することにより支台部２３側に固定されている。
【００１８】
昇降腕部３８は、定置台部１３の凹部１５内に入り込む大きさのもとで形成された圧接部４０を先端側に備えているほか、略中央部位を含む適宜位置にてその上下方向に設けられた通孔３９を備え、該通孔３９を介してボルト軸部３１に遊挿配置されている。また、少なくとも圧接部４０が位置する昇降腕部３８の上下方向を透明樹脂などで透視できるようにして形成しておくならば、定置させたチップ部品５１を上方からより確実に目視確認することができる。
【００１９】
この場合、通孔３９は、その上側を昇降腕部３８に遊挿される小径孔部３９ａとし、下側を該小径孔部３９ａよりは口径の大きな大径孔部３９ｂとすることでその全体が形成されている。
【００２０】
また、支台部２３の穴部２８と昇降腕部３８の大径孔部３９ｂとの間に位置するボルト軸部３１には、引張用コイルスプリング３６が介装配置されており、これにより昇降腕部３８が上昇方向への付勢力を伴ってボルト軸部３１に遊挿されることになる。
【００２１】
しかも、ボルト軸部３１の雄ねじ３２側には、遊挿されている昇降腕部３８をその付勢力に抗して押し下げることができるように、袋ナットなどからなるナット部４５が螺着されている。
【００２２】
さらに、支台部２３には、ボルト軸部３１に対しナット部４５を緊締方向へと回転させた際、圧接部４０が定置台部１３の凹部１５内に定置されているチップ部品５１と正対する位置にて昇降腕部３８の掛止部４１と掛合してその回動を停止させるストッパー４６が配設されている。
【００２３】
これを図１に示す例に基づいて詳しく説明すれば、支台部２３にあって位置決めボルト材３０とボルト軸部３１との間の適宜位置には、適宜長さのストッパー４６が立設されている。
【００２４】
また、ナット部４５を緊締方向へと回転させた際に従動する昇降腕部３８には、圧接部４０が定置台部１３の凹部１５内に定置されているチップ部品５１と正対する位置にてストッパー４６に掛止される掛止部４１が、その後端側に凹曲掛止片部４２として形成されており、これによりその回動を停止させることができるようになっている。
【００２５】
一方、図７は、本発明の他例を示す全体斜視図であり、この例においては、支台部２３にあってボルト軸部３１よりも前側に位置する部位に適宜長さのストッパー４６が立設されている。
【００２６】
また、ナット部４５を緊締方向へと回転させた際に従動する昇降腕部３８には、圧接部４０が定置台部１３の凹部１５内に定置されているチップ部品５１と正対する位置にてストッパー４６に掛止される掛止部４１が、その略中央部にて従動方向を開口させた凹曲溝部４３として形成されており、これにより図８に示すようにその回動を停止させることができるようになっている。なお、その他の構成は、図１に示す例と同じなので、同一の部位には同一の符号を付してその説明を省略する。
【００２７】
次に、上記構成からなる本発明の作用を図１に示す例に基づいて説明すれば、昇降腕部３８は、ナット材４５を抓むなどして緩めることにより、図２からも明らかなように圧縮用コイルスプリング３６の付勢力により自動的に押し上げられて上昇する。
【００２８】
ナット材４５を緩めた後は、昇降腕部３８をナット材４５を緩める回転方向に円滑に回動させることができるので、その圧接部４０も図１（ｂ）や図３に示されているように接触端子１６，１６上から待避させることができることになる。
【００２９】
この場合、チップ部品５１の大きさによっては、定置台部１３の凹部１５内に入り込んでいる支台部２３の狭幅部２５の位置を移動させる必要がある。図４は、支台部２３の移動状況を示すものであり、そのうちの（ａ）は、位置決めボルト材３０を緩めて支台部２３を後退させた後に位置決めボルト材３０を再度緊締して支台部２３を位置固定したパターンを、（ｂ）は、位置決めボルト材３０を緩めて支台部２３を前進させた後に位置決めボルト材３０を再度緊締して支台部２３を位置固定したパターンそれぞれ示す。
【００３０】
このようにして昇降腕部３８を回動させ、必要に応じ支台部２３を移動させた後は、定置台部１３の凹部１５が表出されることになるので、今回測定するチップ部品５１がその下底表面５２に有する一対の電極５３，５３を対応する接触端子１６に各別に接触する配置関係でのもとでチップ部品５１を載置してセットする。
【００３１】
チップ部品５１のセットを終えた後は、ナット材４５を緊締方向に回転させることにより、昇降腕部３８も圧縮用コイルスプリング３６の付勢力に抗して押し下げられることになる。
【００３２】
しかも、圧縮用コイルスプリング３６を介してナット部４５と圧接している昇降腕部３８は、ナット部４５を緊締方向へと回転させることにより従動して回動し、その後端側に形成されている凹曲掛止片部４２がやがて図１（ｂ）に示されているようにストッパー４６に掛止されるに至る。
【００３３】
この場合、その掛止位置は、圧接部４０が定置台部１３の凹部１５内に定置されているチップ部品５１と正対する位置となっているので、以後、ナット部４５を緊締し続けることにより昇降腕部３８の圧接部４０もチップ部品５１に向かって降下して圧接するに至る。
【００３４】
かくして、チップ部品５１は、保持機構２２により定置台部１３の側に各電極を５３を対応する接触端子１６に各別に確実に接触させて位置固定することにより、図５と図６とに示すように定置された状態のもとで必要な測定作業に入ることができる。
【００３５】
しかも、本発明によれば、鉢巻き状の電極を両端部側に備える一般的な微小チップ部品のほか、電極を下底表面にしか備えていない微小チップ部品であっても、これを定置させて測定作業に入ることができる。
【００３６】
一方、図７に示す例による場合には、ナット材４５を緩めることにより、圧縮用コイルスプリング３６の付勢力により昇降腕部３８も自動的に押し上げられて上昇する。
【００３７】
ナット材４５を緩めた後は、昇降腕部３８をナット材４５を緩める回転方向に円滑に回動させることができるので、その圧接部４０も接触端子１６，１６上から待避させることができることになる。
【００３８】
この場合、チップ部品５１の大きさによっては、定置台部１３の凹部１５内に入り込んでいる支台部２３の狭幅部２５の位置を移動させる必要がある。その際の移動状況は、図４（ａ），（ｂ）に示す手順と同様にして行うことができるので説明を省略する。
【００３９】
このようにして昇降腕部３８を回動させ、必要に応じ支台部２３を移動させた後は、定置台部１３の凹部１５が表出されることになるので、今回測定するチップ部品５１がその下底表面５２に有する一対の電極５３，５３を対応する接触端子１６に各別に接触する配置関係でのもとでチップ部品５１を載置してセットする。
【００４０】
チップ部品５１のセットを終えた後は、ナット材４５を緊締方向に回転させることにより、昇降腕部３８も圧縮用コイルスプリング３６の付勢力に抗して押し下げられることになる。
【００４１】
しかも、ナット部４５と圧接している昇降腕部３８は、ナット部４５を緊締方向へと回転させることにより従動して回動し、その略中央部にて従動方向を開口させて形成されている凹曲溝部４３がやがて図８に示されているようにストッパー４６に掛止されるに至る。
【００４２】
この場合、その掛止位置は、圧接部４０が定置台部１３の凹部１５内に定置されているチップ部品５１と正対する位置となっているので、以後、ナット部４５を緊締し続けることにより昇降腕部３８の圧接部４０もチップ部品５１に向かって降下して圧接するに至る。
【００４３】
かくして、チップ部品５１は、保持機構２２により定置台部１３の側に各電極５３を対応する接触端子１６に各別に接触させて位置固定することにより、定置された状態のもとで必要な測定作業に入ることができる。
【００４４】
以上は、本発明の実施形態を図示例に即して説明したものであり、その具体的な実施の形態例はこれに限定されるものではない。例えば、定置台部１３に配設される一対の接触端子１６，１６は、チップ部品５１の電極５３に各別に確実に接触させることができるものでさえあれば、略三角形状の平面形状以外にも略方形や線状を呈するなど、適宜の平面形状を呈するものを所望に応じ採用することができる。
【００４５】
また、保持機構２２は、その昇降腕部３８の掛止部４１と、これに対応するストッパー４６とを設けない簡素な構造により形成することもできる。さらに、必要により支台部２３は、進退移動できないように固定配置しておくものであってもよい。
【００４６】
【発明の効果】
以上述べたように本発明によれば、保持機構は、支台部上に直立配置したボルト軸部と、該ボルト軸部に上昇方向への付勢力を付与して遊挿された昇降腕部と、該昇降腕部の押し下げを自在に螺着したナット部とで少なくとも構成されているので、昇降腕部の圧接部の押圧力によりチップ部品の下底表面に設けられている電極を定置台部の接触端子と確実に接触させた状態で位置固定することにより、必要な電気的な特性を安定的に測定することができる。
【００４７】
したがって、電極を下底表面にしか備えていない微小チップ部品であっても、これを容易に定置させて測定作業に入ることができる。また、圧接部の位置する昇降腕部が上下方向での透視を自在にして形成されている場合には、その位置を目視確認しながらチップ部品を定置することができる。
【００４８】
さらに、昇降腕部の掛止部とこれに対応するストッパーとを設けて保持機構が形成されている場合には、チップ部品を位置固定させる際に圧接部を容易に正対させることができるので、作業性の効率化を実現することができる。また、保持機構を構成している支台部を進退自在に配設してある場合には、個々のチップ部品の大きさなどに柔軟に対応させてその位置を調整して定置することができる。
【００４９】
なお、一対の接触端子のそれぞれの頂角部側を対向させて対向面積を極力小さなものとして隣接配置してある場合には、接触端子相互間の容静電量を減少させて測定精度向上に有効に寄与させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一例を示す説明図であり、そのうちの（ａ）は縦断面図を、（ｂ）はその要部平面図をそれぞれ示す。
【図２】図１（ａ）の要部拡大図である。
【図３】図１に示す例につき昇降腕部を回動させた状態のもとで示す全体斜視図。
【図４】図１に示す例につき支台部の移動状況を示す説明図であり、そのうちの（ａ）は後退させた状態での平面図を、（ｂ）は前進させた状態での平面図をそれぞれ示す。
【図５】図１に示す例につき昇降腕部をストッパーに掛止させて回動停止させた状態のもとで示す全体斜視図。
【図６】図５に示す状態におけるチップ部品と保持機構との配置関係を示す要部拡大平面図。
【図７】本発明の他例につき昇降腕部を回動させた状態のもとで示す全体斜視図。
【図８】図７に示す例につき昇降腕部をストッパーに掛止させて回動停止させた状態のもとで示す全体斜視図。
【図９】従来からあるチップ部品測定用治具の一例をその要部を拡大して示す説明図。
【符号の説明】
１１ チップ部品測定用治具
１２ 基台
１３ 定置台部
１４ 台本体部
１５ 凹部
１６ 接触端子
１６ａ 頂角部
１７ 螺孔
２２ 保持機構
２３ 支台部
２４ 前端部
２５ 狭幅部
２６ 後端部
２７ 長孔
２８ 穴部
２９ 小孔部
３０ 位置決めボルト材
３１ ボルト軸部
３２ 雄ねじ
３３ 基端部
３４ 小径雄ねじ部
３５ ナット材
３６ 引張用コイルスプリング
３８ 昇降腕部
３９ 通孔
３９ａ 小径孔部
３９ｂ 大径孔部
４０ 圧接部
４１ 掛止部
４２ 凹曲掛止片部
４３ 凹曲溝部
４５ ナット部
４６ ストッパー
５１ チップ部品
５２ 下底表面
５３ 電極
【発明の属する技術分野】
本発明は、微小なチップ部品をその底面側を介して電気的な特性を測定しようとする際に電気的な接触関係を安定的に確保しながら位置固定することができるチップ部品測定用治具に関する技術である。
【０００２】
【従来の技術】
図９は、従来からあるチップ部品測定用治具の要部を拡大して示す説明図であり、ＬＣＲテスタなどの測定器本体１には、チップ部品１０１を落とし込むための溝部２ａを有する基台部２と、溝部２ａを介して載置されたチップ部品１０１の一方の電極端面１０２に電気的に接触させるため固定側支腕部３を介して固定配置された一側測定ピン４と、チップ部品１０１の他方の電極端面１０３に電気的に接触させるため可動側支腕部５に支持され、かつ、介装させたコイルバネ７の押圧力を鍔部８で受けて常に進出方向へと押圧付勢されている他側測定ピン６とが配設されている。
【０００３】
このため、非測定時は、一側測定ピン４の先端面に対し他側端子ピン６の先端面が当接しているものの、測定時は、他側端子ピン６が備える操作レバー９を介してその付勢力に抗して他側端子ピン６を押し込んで一側測定ピン４の側との間に形成した空隙内にチップ部品１０１を配置した後、一側測定ピン４は一方の電極端面１０２に、他側測定ピン６は他方の電極端面１０３にそれぞれ自動的に電気的に接触させることができる。なお、図中の符号１０は、一側測定ピン４と他側端子ピン６とに各別に直付けされている引出し線をそれぞれ示す。
【０００４】
また、従来からあるチップ部品測定用治具には、より寸法の小さい表面実装型のチップ部品であっても測定が可能であり、また、測定端子とチップ部品の電極との再接続ごとに測定値が変化することのないようにしたものがある（例えば、特許文献１参照。）。
【０００５】
【特許文献１】
特開２０００−１０５２６２号公報（段落番号「０００７」〜「０００９」，図６）
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、図９に示す従来例による場合には、微小なチップ部品１０１の一方の電極端面１０２には一側測定ピン４を、他方の電極端面１０３には他側測定ピン６をそれぞれ接触させるものであることから、チップ部品が微小化すればするほどその電極も小さくなって安定した測定ができなくなるばかりでなく、電極が両端面ではなく底面側に設けられているチップ部品に対しては対応できないという不都合もあった。
【０００７】
また、特許文献１の開示技術は、４端子法に好適な測定用治具に関するものであり、チップ部品が微小化すればするほど安定した測定ができなくなるほか、電極が両端面ではなく底面側に設けられているチップ部品に対しては対応できないという点で、図９に示す従来例と同様の課題を抱えるものであった。
【０００８】
本発明は、従来例にみられた上記課題に鑑み、チップ部品が微小化の程度を強めても安定的にセットでき、電極が底面にしかないチップ部品であってもＬＣＲテスタなどの測定器により測定することができるチップ部品測定用治具を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記目的を達成すべくなされたものであり、測定されるべきチップ部品が下底表面側に備える一対の電極と個別に接触する各接触端子を表出させてなる定置台部を固定した基台と、該基台上に配設されて前記接触端子に前記電極を各別に接触させた状態のもとで前記定置台部との間で前記チップ部品を位置固定する保持機構とからなり、該保持機構は、前記基台上に配設される支台部と、該支台部上にその雄ねじ側を突出させて直立配置されるボルト軸部と、該ボルト軸部にその長さ方向を直交させ、かつ、上昇方向への付勢力が付与されて遊挿される昇降腕部と、付勢力に抗した該昇降腕部の押し下げを自在に前記ボルト軸部に螺着されるナット部とで少なくとも構成され、前記定置台部上の前記チップ部品は、前記昇降腕部の先端側に垂設された圧接部の押圧力による定置を自在としたことに構成上の特徴がある。
【００１０】
この場合、前記保持機構には、前記ボルト軸部に対し前記ナット部を緊締方向に回転させた際、昇降腕部の前記圧接部が前記定置台部上の前記チップ部品と正対する位置関係のもとで前記昇降腕部を回動停止させるストッパーを具備させることができる。
【００１１】
また、前記支台部は、昇降腕部の前記圧接部が定置台部の前記接触端子と正対する位置方向での進退を自在にして前記基台に位置固定させるのが好ましい。さらに、前記定置台部の各接触端子は、平面視が略三角形状を呈し、かつ、それぞれの頂角部側を対向させて隣接配置するのが望ましい。さらにまた、少なくとも圧接部が位置する昇降腕部は、その上下方向での透視が自在な透明性を付与して形成しておくこともできる。
【００１２】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明の一例を示す説明図であり、そのうちの（ａ）は縦断面図を、（ｂ）はその要部平面図をそれぞれ示す。また、図２は、図１（ａ）の要部拡大図である。
【００１３】
これらの図によれば、チップ部品測定用治具１１の全体は、測定されるべきチップ部品５１が水平な下底表面５２側に備える一対の電極５３，５３と個別に接触する各接触端子１６を表出させてなる定置台部１３を固定した筐体などからなる基台１２と、該基台１２上に配設されて接触端子１６に電極３を各別に接触させた状態のもとで定置台部１３との間でチップ部品５１を位置固定する保持機構２２とで構成されている。
【００１４】
このうち、定置台部１３は、基台１２側にねじ止めするなどして固定配置される絶縁樹脂材などの絶縁材からなる台本体部１４と、該台本体部１４の略中央部にチップ部品５１の大きさとの関係で定まる縦横幅が付与された凹部１５と、該凹部１５上の適宜位置に平面視が略三角形状を呈し、かつ、それぞれの頂角部１６ａ側を対向させて隣接配置された例えば真鍮基材に金メッキを施してなる導電性の一対の接触端子１６，１６とを備えて形成されている。一対の接触端子１６，１６をこのようにそれぞれの頂角部１６ａ側を対向させて対向面積を極力小さなものとして隣接配置することにより、接触端子１６，１６相互間の静電容量Ｃが減少して測定値に与える影響を小さくすることができる。
【００１５】
一方、保持機構２２は、基台１２上に位置固定を自在に配設される支台部２３と、該支台部２３上にその雄ねじ３２側を突出させて直立配置されるボルト軸部３１と、該ボルト軸部３１にその長さ方向を直交させ、かつ、上昇方向への付勢力を伴って遊挿される昇降腕部３８と、付勢力に抗した昇降腕部３８の押し下げを自在にボルト軸部３１に螺着されるナット部４５と、昇降腕部３８を回動停止させるストッパー４６とで形成されている。これにより、定置台部１３上のチップ部品５１は、昇降腕部３８の先端側に垂設された圧接部４０の押圧力によりその位置が固定された状態のもとで定置されることになる。
【００１６】
すなわち、支台部２３は、台本体部１４の凹部１５内に入り込む狭幅部２５をその前端部２４に備えており、さらに昇降腕部３８が備える圧接部４０が定置台部１３の接触端子１６と正対する位置方向での進退を自在にして基台１２側に位置固定されている。具体的には、支台部２３は、その後端部２６に進退方向を長さ方向とした長孔２７が設けられており、該長孔２７を介して導入される位置決めボルト材３０を基台１２の対応部位に設けられている螺孔１７に螺着することにより、狭幅部２５の進退を自在とすることで圧接部４０を接触端子１６に正対させて位置固定できるようになっている。
【００１７】
ボルト軸部３１は、支台部２３の略中央部に位置する上面側に設けられた穴部２８と、該穴部２８と連通させてその下面側に設けられた小孔部２９とを介して挿通させた基端部３３側が備える小径雄ねじ部３４を下方に突出させ、該小径雄ねじ部３４にナット材３５を緊締螺着することにより支台部２３側に固定されている。
【００１８】
昇降腕部３８は、定置台部１３の凹部１５内に入り込む大きさのもとで形成された圧接部４０を先端側に備えているほか、略中央部位を含む適宜位置にてその上下方向に設けられた通孔３９を備え、該通孔３９を介してボルト軸部３１に遊挿配置されている。また、少なくとも圧接部４０が位置する昇降腕部３８の上下方向を透明樹脂などで透視できるようにして形成しておくならば、定置させたチップ部品５１を上方からより確実に目視確認することができる。
【００１９】
この場合、通孔３９は、その上側を昇降腕部３８に遊挿される小径孔部３９ａとし、下側を該小径孔部３９ａよりは口径の大きな大径孔部３９ｂとすることでその全体が形成されている。
【００２０】
また、支台部２３の穴部２８と昇降腕部３８の大径孔部３９ｂとの間に位置するボルト軸部３１には、引張用コイルスプリング３６が介装配置されており、これにより昇降腕部３８が上昇方向への付勢力を伴ってボルト軸部３１に遊挿されることになる。
【００２１】
しかも、ボルト軸部３１の雄ねじ３２側には、遊挿されている昇降腕部３８をその付勢力に抗して押し下げることができるように、袋ナットなどからなるナット部４５が螺着されている。
【００２２】
さらに、支台部２３には、ボルト軸部３１に対しナット部４５を緊締方向へと回転させた際、圧接部４０が定置台部１３の凹部１５内に定置されているチップ部品５１と正対する位置にて昇降腕部３８の掛止部４１と掛合してその回動を停止させるストッパー４６が配設されている。
【００２３】
これを図１に示す例に基づいて詳しく説明すれば、支台部２３にあって位置決めボルト材３０とボルト軸部３１との間の適宜位置には、適宜長さのストッパー４６が立設されている。
【００２４】
また、ナット部４５を緊締方向へと回転させた際に従動する昇降腕部３８には、圧接部４０が定置台部１３の凹部１５内に定置されているチップ部品５１と正対する位置にてストッパー４６に掛止される掛止部４１が、その後端側に凹曲掛止片部４２として形成されており、これによりその回動を停止させることができるようになっている。
【００２５】
一方、図７は、本発明の他例を示す全体斜視図であり、この例においては、支台部２３にあってボルト軸部３１よりも前側に位置する部位に適宜長さのストッパー４６が立設されている。
【００２６】
また、ナット部４５を緊締方向へと回転させた際に従動する昇降腕部３８には、圧接部４０が定置台部１３の凹部１５内に定置されているチップ部品５１と正対する位置にてストッパー４６に掛止される掛止部４１が、その略中央部にて従動方向を開口させた凹曲溝部４３として形成されており、これにより図８に示すようにその回動を停止させることができるようになっている。なお、その他の構成は、図１に示す例と同じなので、同一の部位には同一の符号を付してその説明を省略する。
【００２７】
次に、上記構成からなる本発明の作用を図１に示す例に基づいて説明すれば、昇降腕部３８は、ナット材４５を抓むなどして緩めることにより、図２からも明らかなように圧縮用コイルスプリング３６の付勢力により自動的に押し上げられて上昇する。
【００２８】
ナット材４５を緩めた後は、昇降腕部３８をナット材４５を緩める回転方向に円滑に回動させることができるので、その圧接部４０も図１（ｂ）や図３に示されているように接触端子１６，１６上から待避させることができることになる。
【００２９】
この場合、チップ部品５１の大きさによっては、定置台部１３の凹部１５内に入り込んでいる支台部２３の狭幅部２５の位置を移動させる必要がある。図４は、支台部２３の移動状況を示すものであり、そのうちの（ａ）は、位置決めボルト材３０を緩めて支台部２３を後退させた後に位置決めボルト材３０を再度緊締して支台部２３を位置固定したパターンを、（ｂ）は、位置決めボルト材３０を緩めて支台部２３を前進させた後に位置決めボルト材３０を再度緊締して支台部２３を位置固定したパターンそれぞれ示す。
【００３０】
このようにして昇降腕部３８を回動させ、必要に応じ支台部２３を移動させた後は、定置台部１３の凹部１５が表出されることになるので、今回測定するチップ部品５１がその下底表面５２に有する一対の電極５３，５３を対応する接触端子１６に各別に接触する配置関係でのもとでチップ部品５１を載置してセットする。
【００３１】
チップ部品５１のセットを終えた後は、ナット材４５を緊締方向に回転させることにより、昇降腕部３８も圧縮用コイルスプリング３６の付勢力に抗して押し下げられることになる。
【００３２】
しかも、圧縮用コイルスプリング３６を介してナット部４５と圧接している昇降腕部３８は、ナット部４５を緊締方向へと回転させることにより従動して回動し、その後端側に形成されている凹曲掛止片部４２がやがて図１（ｂ）に示されているようにストッパー４６に掛止されるに至る。
【００３３】
この場合、その掛止位置は、圧接部４０が定置台部１３の凹部１５内に定置されているチップ部品５１と正対する位置となっているので、以後、ナット部４５を緊締し続けることにより昇降腕部３８の圧接部４０もチップ部品５１に向かって降下して圧接するに至る。
【００３４】
かくして、チップ部品５１は、保持機構２２により定置台部１３の側に各電極を５３を対応する接触端子１６に各別に確実に接触させて位置固定することにより、図５と図６とに示すように定置された状態のもとで必要な測定作業に入ることができる。
【００３５】
しかも、本発明によれば、鉢巻き状の電極を両端部側に備える一般的な微小チップ部品のほか、電極を下底表面にしか備えていない微小チップ部品であっても、これを定置させて測定作業に入ることができる。
【００３６】
一方、図７に示す例による場合には、ナット材４５を緩めることにより、圧縮用コイルスプリング３６の付勢力により昇降腕部３８も自動的に押し上げられて上昇する。
【００３７】
ナット材４５を緩めた後は、昇降腕部３８をナット材４５を緩める回転方向に円滑に回動させることができるので、その圧接部４０も接触端子１６，１６上から待避させることができることになる。
【００３８】
この場合、チップ部品５１の大きさによっては、定置台部１３の凹部１５内に入り込んでいる支台部２３の狭幅部２５の位置を移動させる必要がある。その際の移動状況は、図４（ａ），（ｂ）に示す手順と同様にして行うことができるので説明を省略する。
【００３９】
このようにして昇降腕部３８を回動させ、必要に応じ支台部２３を移動させた後は、定置台部１３の凹部１５が表出されることになるので、今回測定するチップ部品５１がその下底表面５２に有する一対の電極５３，５３を対応する接触端子１６に各別に接触する配置関係でのもとでチップ部品５１を載置してセットする。
【００４０】
チップ部品５１のセットを終えた後は、ナット材４５を緊締方向に回転させることにより、昇降腕部３８も圧縮用コイルスプリング３６の付勢力に抗して押し下げられることになる。
【００４１】
しかも、ナット部４５と圧接している昇降腕部３８は、ナット部４５を緊締方向へと回転させることにより従動して回動し、その略中央部にて従動方向を開口させて形成されている凹曲溝部４３がやがて図８に示されているようにストッパー４６に掛止されるに至る。
【００４２】
この場合、その掛止位置は、圧接部４０が定置台部１３の凹部１５内に定置されているチップ部品５１と正対する位置となっているので、以後、ナット部４５を緊締し続けることにより昇降腕部３８の圧接部４０もチップ部品５１に向かって降下して圧接するに至る。
【００４３】
かくして、チップ部品５１は、保持機構２２により定置台部１３の側に各電極５３を対応する接触端子１６に各別に接触させて位置固定することにより、定置された状態のもとで必要な測定作業に入ることができる。
【００４４】
以上は、本発明の実施形態を図示例に即して説明したものであり、その具体的な実施の形態例はこれに限定されるものではない。例えば、定置台部１３に配設される一対の接触端子１６，１６は、チップ部品５１の電極５３に各別に確実に接触させることができるものでさえあれば、略三角形状の平面形状以外にも略方形や線状を呈するなど、適宜の平面形状を呈するものを所望に応じ採用することができる。
【００４５】
また、保持機構２２は、その昇降腕部３８の掛止部４１と、これに対応するストッパー４６とを設けない簡素な構造により形成することもできる。さらに、必要により支台部２３は、進退移動できないように固定配置しておくものであってもよい。
【００４６】
【発明の効果】
以上述べたように本発明によれば、保持機構は、支台部上に直立配置したボルト軸部と、該ボルト軸部に上昇方向への付勢力を付与して遊挿された昇降腕部と、該昇降腕部の押し下げを自在に螺着したナット部とで少なくとも構成されているので、昇降腕部の圧接部の押圧力によりチップ部品の下底表面に設けられている電極を定置台部の接触端子と確実に接触させた状態で位置固定することにより、必要な電気的な特性を安定的に測定することができる。
【００４７】
したがって、電極を下底表面にしか備えていない微小チップ部品であっても、これを容易に定置させて測定作業に入ることができる。また、圧接部の位置する昇降腕部が上下方向での透視を自在にして形成されている場合には、その位置を目視確認しながらチップ部品を定置することができる。
【００４８】
さらに、昇降腕部の掛止部とこれに対応するストッパーとを設けて保持機構が形成されている場合には、チップ部品を位置固定させる際に圧接部を容易に正対させることができるので、作業性の効率化を実現することができる。また、保持機構を構成している支台部を進退自在に配設してある場合には、個々のチップ部品の大きさなどに柔軟に対応させてその位置を調整して定置することができる。
【００４９】
なお、一対の接触端子のそれぞれの頂角部側を対向させて対向面積を極力小さなものとして隣接配置してある場合には、接触端子相互間の容静電量を減少させて測定精度向上に有効に寄与させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一例を示す説明図であり、そのうちの（ａ）は縦断面図を、（ｂ）はその要部平面図をそれぞれ示す。
【図２】図１（ａ）の要部拡大図である。
【図３】図１に示す例につき昇降腕部を回動させた状態のもとで示す全体斜視図。
【図４】図１に示す例につき支台部の移動状況を示す説明図であり、そのうちの（ａ）は後退させた状態での平面図を、（ｂ）は前進させた状態での平面図をそれぞれ示す。
【図５】図１に示す例につき昇降腕部をストッパーに掛止させて回動停止させた状態のもとで示す全体斜視図。
【図６】図５に示す状態におけるチップ部品と保持機構との配置関係を示す要部拡大平面図。
【図７】本発明の他例につき昇降腕部を回動させた状態のもとで示す全体斜視図。
【図８】図７に示す例につき昇降腕部をストッパーに掛止させて回動停止させた状態のもとで示す全体斜視図。
【図９】従来からあるチップ部品測定用治具の一例をその要部を拡大して示す説明図。
【符号の説明】
１１ チップ部品測定用治具
１２ 基台
１３ 定置台部
１４ 台本体部
１５ 凹部
１６ 接触端子
１６ａ 頂角部
１７ 螺孔
２２ 保持機構
２３ 支台部
２４ 前端部
２５ 狭幅部
２６ 後端部
２７ 長孔
２８ 穴部
２９ 小孔部
３０ 位置決めボルト材
３１ ボルト軸部
３２ 雄ねじ
３３ 基端部
３４ 小径雄ねじ部
３５ ナット材
３６ 引張用コイルスプリング
３８ 昇降腕部
３９ 通孔
３９ａ 小径孔部
３９ｂ 大径孔部
４０ 圧接部
４１ 掛止部
４２ 凹曲掛止片部
４３ 凹曲溝部
４５ ナット部
４６ ストッパー
５１ チップ部品
５２ 下底表面
５３ 電極
Claims (5)
- 測定されるべきチップ部品が下底表面側に備える一対の電極と個別に接触する各接触端子を表出させてなる定置台部を固定した基台と、該基台上に配設されて前記接触端子に前記電極を各別に接触させた状態のもとで前記定置台部との間で前記チップ部品を位置固定する保持機構とからなり、
該保持機構は、前記基台上に配設される支台部と、該支台部上にその雄ねじ側を突出させて直立配置されるボルト軸部と、該ボルト軸部にその長さ方向を直交させ、かつ、上昇方向への付勢力が付与されて遊挿される昇降腕部と、付勢力に抗した該昇降腕部の押し下げを自在に前記ボルト軸部に螺着されるナット部とで少なくとも構成され、
前記定置台部上の前記チップ部品は、前記昇降腕部の先端側に垂設された圧接部の押圧力による定置を自在としたことを特徴とするチップ部品測定用治具。 - 前記保持機構には、前記ボルト軸部に対し前記ナット部を緊締方向に回転させた際、昇降腕部の前記圧接部が前記定置台部上の前記チップ部品と正対する位置関係のもとで前記昇降腕部を回動停止させるストッパーを具備させた請求項１に記載のチップ部品測定用治具。
- 前記支台部は、昇降腕部の前記圧接部が定置台部の前記接触端子と正対する位置方向での進退を自在にして前記基台に位置固定させた請求項１または２に記載のチップ部品測定用治具。
- 前記定置台部の各接触端子は、平面視が略三角形状を呈し、かつ、それぞれの頂角部側を対向させて隣接配置した請求項１ないし３のいずれかに記載のチップ部品測定用治具。
- 少なくとも圧接部が位置する昇降腕部は、その上下方向での透視が自在な透明性を付与して形成した請求項１ないし４のいずれかに記載のチップ部品測定用治具。
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