JPH01294600A - シリコン単結晶製造装置 - Google Patents
シリコン単結晶製造装置Info
- Publication number
- JPH01294600A JPH01294600A JP12685188A JP12685188A JPH01294600A JP H01294600 A JPH01294600 A JP H01294600A JP 12685188 A JP12685188 A JP 12685188A JP 12685188 A JP12685188 A JP 12685188A JP H01294600 A JPH01294600 A JP H01294600A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- raw material
- single crystal
- silicon
- crucible
- pulling
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims abstract description 76
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 75
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 75
- 239000010703 silicon Substances 0.000 title claims abstract description 75
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 11
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims abstract description 75
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims abstract description 36
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 33
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 239000010439 graphite Substances 0.000 claims description 13
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 8
- 239000002210 silicon-based material Substances 0.000 abstract 2
- 238000002231 Czochralski process Methods 0.000 abstract 1
- 238000007711 solidification Methods 0.000 description 4
- 230000008023 solidification Effects 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000002401 inhibitory effect Effects 0.000 description 3
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000013079 quasicrystal Substances 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 1
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、チョクラルスキー法によるシリコン単結晶の
製造装置に関するものである。
製造装置に関するものである。
[従来の技術]
シリコン単結晶の製造には、るつぼ内に保持されたシリ
コン溶融液から種結晶を用いて単結晶を引き上げる、所
謂チョクラルスキー法(CZ法)が広く用いられている
。この方法では、シリコン単結晶の抵抗率の制御の目的
で、ボロン、リン、アンチモンなどをシリコン溶融液中
に予め添加している。しかし、これらの添加元素は、シ
リコン溶融液が準結晶に凝固する際に一定の割合で単結
晶中に取り込まれ、残りは残シリコン溶融液中に排出さ
れる。そして単結晶引き上げにともなうシリコン溶Ml
の減少により、シリコン溶融液中の添加元素濃度が増加
し、従って引き上げられる単結晶中の添加元素濃度も準
結晶の頭部から尾部にかけて次第に増加する。従って抵
抗率も変化し、単結晶からシリコンウェハーを製造した
とき、つエバー毎に電導度が異なることになり、要求が
厳しい場合には、使用可能なウェハーの歩留が50%以
下になることもある。
コン溶融液から種結晶を用いて単結晶を引き上げる、所
謂チョクラルスキー法(CZ法)が広く用いられている
。この方法では、シリコン単結晶の抵抗率の制御の目的
で、ボロン、リン、アンチモンなどをシリコン溶融液中
に予め添加している。しかし、これらの添加元素は、シ
リコン溶融液が準結晶に凝固する際に一定の割合で単結
晶中に取り込まれ、残りは残シリコン溶融液中に排出さ
れる。そして単結晶引き上げにともなうシリコン溶Ml
の減少により、シリコン溶融液中の添加元素濃度が増加
し、従って引き上げられる単結晶中の添加元素濃度も準
結晶の頭部から尾部にかけて次第に増加する。従って抵
抗率も変化し、単結晶からシリコンウェハーを製造した
とき、つエバー毎に電導度が異なることになり、要求が
厳しい場合には、使用可能なウェハーの歩留が50%以
下になることもある。
また、るつぼ内のシリコン原料融)注の量が少なくなる
と、単結晶育成が困難になるため、最初にるつぼ内に装
入した原料シリコンすべてが単結晶になるわけではなく
、羊のうちの1割乃至2割程度はるつぼ内に残されたま
ま、操業を終わることになり、生産性向上を阻害する要
因のひとつになっている。
と、単結晶育成が困難になるため、最初にるつぼ内に装
入した原料シリコンすべてが単結晶になるわけではなく
、羊のうちの1割乃至2割程度はるつぼ内に残されたま
ま、操業を終わることになり、生産性向上を阻害する要
因のひとつになっている。
このような問題に対し、るつぼから単結晶を引き上げな
がら、前記るつぼ中に新たにシリコン原料を補給してい
く連続引き上げ法が考案されている。この方法によれば
、るつぼ内のシリコン溶融液は減少することなく、常に
同一の条件で単結晶引き上げを続けることが可能になり
、抵抗率(添加元素濃度)などの結晶特性も均一化でき
、歩留は飛躍的に向上する。
がら、前記るつぼ中に新たにシリコン原料を補給してい
く連続引き上げ法が考案されている。この方法によれば
、るつぼ内のシリコン溶融液は減少することなく、常に
同一の条件で単結晶引き上げを続けることが可能になり
、抵抗率(添加元素濃度)などの結晶特性も均一化でき
、歩留は飛躍的に向上する。
このような連続引き上げ法について開示された発明は、
例えば次に挙げるものがある。
例えば次に挙げるものがある。
■ 単結晶の引き上げ用るつぼとは別に、原料を溶解す
るるつぼを設け、このるつぼから原料溶融液を輸送管を
介して前記引き上げ用るつぼに補給する装=。(特開昭
52−58080)■ 二重構造にしたるつぼ内のシリ
コン溶融液から単結晶を引き上げるとともに、外周部の
シリコン溶融液中に供給管を介してシリコン原料を補給
する装置。(特開昭58−130195)■ 単結晶引
き上げ用るつぼの外側に原料供給部を設け、ここから原
料供給管により前記るつぼの側壁に設けられた小孔を通
して前記引き上げ用るつぼにシリコン原料を補給しなが
ら単結晶を引き上げる装置。(特開昭62−24188
9)上記■、■および■にそれぞれ開示されたシリコン
単結晶の製造装置の問題点はつぎの通りである。
るるつぼを設け、このるつぼから原料溶融液を輸送管を
介して前記引き上げ用るつぼに補給する装=。(特開昭
52−58080)■ 二重構造にしたるつぼ内のシリ
コン溶融液から単結晶を引き上げるとともに、外周部の
シリコン溶融液中に供給管を介してシリコン原料を補給
する装置。(特開昭58−130195)■ 単結晶引
き上げ用るつぼの外側に原料供給部を設け、ここから原
料供給管により前記るつぼの側壁に設けられた小孔を通
して前記引き上げ用るつぼにシリコン原料を補給しなが
ら単結晶を引き上げる装置。(特開昭62−24188
9)上記■、■および■にそれぞれ開示されたシリコン
単結晶の製造装置の問題点はつぎの通りである。
■の装置では、原料溶解るつぼから単結晶引き上げ用る
つぼへ溶融原料を輸送るための原料輸送管の温度制御と
原料溶解るつぼ内の圧力制御が困難で、単結晶引き上げ
用のるつぼに対する原料溶融液の補給が円滑に行われな
い虞がある。また、■の装置では、二重構造のるつぼを
用いているが、るつぼの材料である石英ガラスの輻射率
はシリコン溶融液のそれより大きく、るつぼ壁面からの
放熱が大きい。このため、前記るつぼ壁面からシリコン
溶融液の凝固が発生し、シリコン単結晶の育成を阻害す
る虞がある。さらに、■の装置では、原料溶解部の容量
が小さく、溶解潜熱の非常に大きいシリコンを連続的に
供給する場合には原料溶解部が凝固する虞があり、これ
を避けるため溶解量が不足する虞がある。
つぼへ溶融原料を輸送るための原料輸送管の温度制御と
原料溶解るつぼ内の圧力制御が困難で、単結晶引き上げ
用のるつぼに対する原料溶融液の補給が円滑に行われな
い虞がある。また、■の装置では、二重構造のるつぼを
用いているが、るつぼの材料である石英ガラスの輻射率
はシリコン溶融液のそれより大きく、るつぼ壁面からの
放熱が大きい。このため、前記るつぼ壁面からシリコン
溶融液の凝固が発生し、シリコン単結晶の育成を阻害す
る虞がある。さらに、■の装置では、原料溶解部の容量
が小さく、溶解潜熱の非常に大きいシリコンを連続的に
供給する場合には原料溶解部が凝固する虞があり、これ
を避けるため溶解量が不足する虞がある。
[発明が解決しようとする課題]
前記のような従来技術を基に、シリコンを連続的るつぼ
内に供給しながら単結晶を引き上げる場合、次のような
問題がある。すなわち、るつぼをシリコンの溶解部と単
結晶引き上げ部とを仕切る場合、伝熱でいわれているフ
ィン効果及びシリコン溶融液よりも放射率が高いことか
ら、この仕切り部から凝固が発生し易く、−旦凝固が発
生すると成長し続け、健全な単結晶の育成が阻害される
。また、シリコンの溶解部の容量が小さいので単結晶引
き上げに見合う量の溶融シリコンが供給出来ない虞があ
る。
内に供給しながら単結晶を引き上げる場合、次のような
問題がある。すなわち、るつぼをシリコンの溶解部と単
結晶引き上げ部とを仕切る場合、伝熱でいわれているフ
ィン効果及びシリコン溶融液よりも放射率が高いことか
ら、この仕切り部から凝固が発生し易く、−旦凝固が発
生すると成長し続け、健全な単結晶の育成が阻害される
。また、シリコンの溶解部の容量が小さいので単結晶引
き上げに見合う量の溶融シリコンが供給出来ない虞があ
る。
本発明は、上記の問題点を解決するなめになされたもの
で、溶融原料が入れられたるつぼ内に粒状のシリコンを
連続的に供給するようにしたシリコン単結晶の製造装置
において、単結晶の育成を阻害せず、単結晶引き上げに
見合う量のiW illシリコンを確実に単結晶引き上
げ部に供給し、引き上げ方向の添加元素濃度がほぼ一定
のシリコン単結晶を製造することのできる装置を得るこ
とを目的としたものである。
で、溶融原料が入れられたるつぼ内に粒状のシリコンを
連続的に供給するようにしたシリコン単結晶の製造装置
において、単結晶の育成を阻害せず、単結晶引き上げに
見合う量のiW illシリコンを確実に単結晶引き上
げ部に供給し、引き上げ方向の添加元素濃度がほぼ一定
のシリコン単結晶を製造することのできる装置を得るこ
とを目的としたものである。
[課舵を解決するための手段]
請求項1による発明のシリコン単結晶の製造装置は、る
つぼに入れられた溶融シリコンを引き上げてシリコン単
結晶を製造するシリコン単結晶の製造装置において、前
記るつぼは単結晶引き上げ部と原料溶解部で構成され、
この両者に収容されるシリコン溶融液が両者間に連通さ
れる小孔がその境界壁に設けられてあり、前記原料溶解
部は管状で、前記引き上げ部の外側面にこれを収り囲ん
テjQ Gtられ、上方からシリコン原料が導入される
原料導入孔を有するものであることを特徴とする 請求項2による発明は請求項1を限定するもので、上下
に分割可能に構成され、前記るつぼの底部および側面に
密着してこれを支持する黒鉛支持体が設けられているこ
とを特徴とする。
つぼに入れられた溶融シリコンを引き上げてシリコン単
結晶を製造するシリコン単結晶の製造装置において、前
記るつぼは単結晶引き上げ部と原料溶解部で構成され、
この両者に収容されるシリコン溶融液が両者間に連通さ
れる小孔がその境界壁に設けられてあり、前記原料溶解
部は管状で、前記引き上げ部の外側面にこれを収り囲ん
テjQ Gtられ、上方からシリコン原料が導入される
原料導入孔を有するものであることを特徴とする 請求項2による発明は請求項1を限定するもので、上下
に分割可能に構成され、前記るつぼの底部および側面に
密着してこれを支持する黒鉛支持体が設けられているこ
とを特徴とする。
[作用]
原料溶解部は前記黒鉛支持体の外側面に配設されたヒー
タにより、単結晶引き上げ部における引き上げに見合っ
た量のシリコンを溶解するのに十分な熱量が供給され、
また、前記原料溶解部は単結晶引き上げ部の外周部を取
り囲んだ環状体の中に十分な容量のシリコン溶融液を収
容している。
タにより、単結晶引き上げ部における引き上げに見合っ
た量のシリコンを溶解するのに十分な熱量が供給され、
また、前記原料溶解部は単結晶引き上げ部の外周部を取
り囲んだ環状体の中に十分な容量のシリコン溶融液を収
容している。
さらに、原料溶解部はその外側の側面および底面を黒鉛
支持体に覆われて保温されであるので輻射による放熱が
生じない。
支持体に覆われて保温されであるので輻射による放熱が
生じない。
原料溶解部と単結晶引き上げ部は前記小孔により両者間
に連通され、原料溶解部で溶解されるシリコン溶融液は
単結晶引き上げ部内の単結晶引き上げに見合う量で、こ
れが前記小孔を通してS、結晶引き上げ部に移動し、原
料溶解部と単結晶引き上げ部のシリコン溶融液面のレベ
ルは常に一定に保たれ、いうまでもなく、原料シリコン
の投入による液面の乱れは生じない。
に連通され、原料溶解部で溶解されるシリコン溶融液は
単結晶引き上げ部内の単結晶引き上げに見合う量で、こ
れが前記小孔を通してS、結晶引き上げ部に移動し、原
料溶解部と単結晶引き上げ部のシリコン溶融液面のレベ
ルは常に一定に保たれ、いうまでもなく、原料シリコン
の投入による液面の乱れは生じない。
[実施例]
本発明の実施例を添付の図面を参照しながら詳細に説明
する。
する。
第1図は本発明の実施例を模式的に示した縦断面図で、
この図において、1は単結晶引き上げ部1aと原料溶解
部1bからなるシリコン溶融原料が収容される石英製の
るつぼで、この見取り図を第2図に示す。るつぼ1は黒
鉛支持体2の中に、これに密着してセットされており、
前記黒鉛支持体2はペデスタル3に上下動及び回転可能
に支持されている。4a、4bはそれぞれ単結晶引き上
げ部1a、原料溶解部1bの中に入れられたシリコン溶
融原料で、これが単結晶引き上げ部1aにおいて、柱状
に育成されたシリコン単結晶5となって引き上げられる
。シリコン溶融原料4a、4bは単結晶引き上げ部1a
と原料溶解部1bの間の壁面に設けられた小孔14によ
り連通されている。
この図において、1は単結晶引き上げ部1aと原料溶解
部1bからなるシリコン溶融原料が収容される石英製の
るつぼで、この見取り図を第2図に示す。るつぼ1は黒
鉛支持体2の中に、これに密着してセットされており、
前記黒鉛支持体2はペデスタル3に上下動及び回転可能
に支持されている。4a、4bはそれぞれ単結晶引き上
げ部1a、原料溶解部1bの中に入れられたシリコン溶
融原料で、これが単結晶引き上げ部1aにおいて、柱状
に育成されたシリコン単結晶5となって引き上げられる
。シリコン溶融原料4a、4bは単結晶引き上げ部1a
と原料溶解部1bの間の壁面に設けられた小孔14によ
り連通されている。
6は黒鉛支持体2をとり囲むヒータ、7はこのヒータ6
をとり囲むホットゾーン断熱材で、これらはチャンバー
8内に収容されている。単結晶引き上げ部1aの外側部
にこれを取り囲んで原料溶解部1bが設けられ、これに
は第2図に示すとおり上向きの開孔部をもつ原料導入孔
9が設けられている。
をとり囲むホットゾーン断熱材で、これらはチャンバー
8内に収容されている。単結晶引き上げ部1aの外側部
にこれを取り囲んで原料溶解部1bが設けられ、これに
は第2図に示すとおり上向きの開孔部をもつ原料導入孔
9が設けられている。
単結晶引き上げ部1aの外周部上方には環状の満12を
有する原料供給部10が設けられ、これに前記原料導入
孔9に粒状のシリコン原料を供給する原料供給孔(特に
図示せず)が下方に開口して設けられている。前記溝1
2は前記原料供給孔に向かって傾斜され、また、この溝
12に粒状シリコンを供給する原料供給管13が設けら
れている。黒鉛支持体2は上下に分割可能に構成され、
これにより前記るつぼ1に密着するようにセットするこ
とができる。
有する原料供給部10が設けられ、これに前記原料導入
孔9に粒状のシリコン原料を供給する原料供給孔(特に
図示せず)が下方に開口して設けられている。前記溝1
2は前記原料供給孔に向かって傾斜され、また、この溝
12に粒状シリコンを供給する原料供給管13が設けら
れている。黒鉛支持体2は上下に分割可能に構成され、
これにより前記るつぼ1に密着するようにセットするこ
とができる。
次いで、以上のように構成されたシリコン単結晶の製造
装置の作用について説明する。単結晶引き上げ中、るつ
ぼ1とともに回転している前記原料供給部の樋状の渭1
2に原料供給管13がら装入された粒状のシリコン原料
は、講12を転がりながら原料供給孔に達し、ここから
原料溶解部の原料導入孔9を通じてシリコン溶融原料4
b内に装入される。
装置の作用について説明する。単結晶引き上げ中、るつ
ぼ1とともに回転している前記原料供給部の樋状の渭1
2に原料供給管13がら装入された粒状のシリコン原料
は、講12を転がりながら原料供給孔に達し、ここから
原料溶解部の原料導入孔9を通じてシリコン溶融原料4
b内に装入される。
原料溶解部1bは前記黒鉛支持体2の外側面に配設され
たヒータ6により、装入された粒状シリコンを溶解する
のに十分な熱量が供給され、十分な容量のシリコン溶融
原料が保持されている。さらに、単結晶引き上げ部1a
はその外側の側面および底面を黒鉛支持体2または原料
溶解部との境界壁で囲まれているので、この内面から凝
固が発生する虞はない。
たヒータ6により、装入された粒状シリコンを溶解する
のに十分な熱量が供給され、十分な容量のシリコン溶融
原料が保持されている。さらに、単結晶引き上げ部1a
はその外側の側面および底面を黒鉛支持体2または原料
溶解部との境界壁で囲まれているので、この内面から凝
固が発生する虞はない。
また、原料溶解部lb内のシリコン溶融原料4bの液面
上に粒状シリコンが落下して生じる波紋は原料溶解部1
bの壁面に遮られて、単結晶引き上げ部の内部に達する
ことはなく、したがって、これにより単結晶の成長が乱
されることはない。
上に粒状シリコンが落下して生じる波紋は原料溶解部1
bの壁面に遮られて、単結晶引き上げ部の内部に達する
ことはなく、したがって、これにより単結晶の成長が乱
されることはない。
単結晶引き上げ部1aと原料溶解部1bとは両者の境界
壁に設けられた小孔14により連通され、原料溶解部1
bで溶解されるシリコン溶融原料は単結晶引き上げ部l
a内で行われる単結晶引き上げに見合う量で、これが前
記小孔14を通して単結晶引き上げ部1aに静かに移動
し、単結晶引き上げ部1a、原料溶解部1bにそれぞれ
保持されるシリコン溶融原料4a、4bの液面レベルは
常に一定に保たれる。
壁に設けられた小孔14により連通され、原料溶解部1
bで溶解されるシリコン溶融原料は単結晶引き上げ部l
a内で行われる単結晶引き上げに見合う量で、これが前
記小孔14を通して単結晶引き上げ部1aに静かに移動
し、単結晶引き上げ部1a、原料溶解部1bにそれぞれ
保持されるシリコン溶融原料4a、4bの液面レベルは
常に一定に保たれる。
[発明の効果]
以上の説明から明らかなように、本発明はシリコン溶融
原料の容器として、単結晶引き上げ部とこれを取り囲む
原料溶解部を設け、この間にシリコン溶融原料を連通さ
せる小孔を設け、前記るつぼは黒鉛支持体で覆って保温
されであるので、単結晶引き上げに見合う量の溶融シリ
コン原料を単結晶の育成を阻害することなく、単結晶引
き上げ部に供給し、引き上げ方向の添加元素濃度がほぼ
一定のシリコン単結晶を製造することができる。
原料の容器として、単結晶引き上げ部とこれを取り囲む
原料溶解部を設け、この間にシリコン溶融原料を連通さ
せる小孔を設け、前記るつぼは黒鉛支持体で覆って保温
されであるので、単結晶引き上げに見合う量の溶融シリ
コン原料を単結晶の育成を阻害することなく、単結晶引
き上げ部に供給し、引き上げ方向の添加元素濃度がほぼ
一定のシリコン単結晶を製造することができる。
第1図は本発明の実施例を模式的に示した縮開面図、第
2図はるつぼの見取り図である。 1・・・るつぼ、1a・・・単結晶引き上げ部、1b・
・・原料溶解部、2・・・黒鉛るつぼ、3・・・ペデス
タル、4a、4b・・・シリコン溶融原料、5・・・シ
リコン単結晶、6・・・ヒータ、7・・・断熱材、8・
・・チャンバ、9・・・原料導入孔、10・・・原料供
給部、11・・・原料供給孔、12・・・溝、13・・
・原料供給管。
2図はるつぼの見取り図である。 1・・・るつぼ、1a・・・単結晶引き上げ部、1b・
・・原料溶解部、2・・・黒鉛るつぼ、3・・・ペデス
タル、4a、4b・・・シリコン溶融原料、5・・・シ
リコン単結晶、6・・・ヒータ、7・・・断熱材、8・
・・チャンバ、9・・・原料導入孔、10・・・原料供
給部、11・・・原料供給孔、12・・・溝、13・・
・原料供給管。
Claims (2)
- (1)るつぼに入れられた溶融シリコンを引き上げてシ
リコン単結晶を製造するシリコン単結晶の製造装置にお
いて、前記るつぼは単結晶引き上げ部と原料溶解部で構
成され、この両者に収容されるシリコン溶融液が両者間
に連通される小孔がその境界壁に設けられており、前記
原料溶解部は管状で、前記引き上げ部の外側面にこれを
取り囲んで設けられ、上方からシリコン原料が導入され
る原料導入孔を有するものであることを特徴とするシリ
コン単結晶の製造装置。 - (2)上下に分割可能に構成され、前記るつぼの底部お
よび側面に密着してこれを支持する黒鉛支持体が設けら
れていることを特徴とする請求項1記載のシリコン単結
晶の製造装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12685188A JPH01294600A (ja) | 1988-05-23 | 1988-05-23 | シリコン単結晶製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12685188A JPH01294600A (ja) | 1988-05-23 | 1988-05-23 | シリコン単結晶製造装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01294600A true JPH01294600A (ja) | 1989-11-28 |
Family
ID=14945423
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12685188A Pending JPH01294600A (ja) | 1988-05-23 | 1988-05-23 | シリコン単結晶製造装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01294600A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002060296A (ja) * | 2000-08-21 | 2002-02-26 | Crystal System:Kk | 単結晶製造用るつぼおよび単結晶製造装置ならびにこれを用いた単結晶の製造方法 |
-
1988
- 1988-05-23 JP JP12685188A patent/JPH01294600A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002060296A (ja) * | 2000-08-21 | 2002-02-26 | Crystal System:Kk | 単結晶製造用るつぼおよび単結晶製造装置ならびにこれを用いた単結晶の製造方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR930001895B1 (ko) | 실리콘 단결정의 제조방법 및 장치 | |
US10145024B2 (en) | Cooling rate control apparatus and ingot growing apparatus including same | |
JP5909276B2 (ja) | 最初のチャージだけをドーピングすることによる、均一にドーピングされたシリコンインゴットの成長 | |
US5087429A (en) | Method and apparatus for manufacturing silicon single crystals | |
TWI609104B (zh) | 連續cz方法和設備 | |
JPH02133389A (ja) | シリコン単結晶の製造装置 | |
US4834832A (en) | Process and apparatus for the manufacture of silicon rods | |
JPH01192789A (ja) | 結晶引上げ装置及び結晶引上げ方法 | |
US5143704A (en) | Apparatus for manufacturing silicon single crystals | |
JP4555677B2 (ja) | 連続的な結晶化により、所定の横断面及び柱状の多結晶構造を有する結晶ロッドを製造するための装置 | |
US5785758A (en) | Single crystal growing apparatus | |
JPH01294600A (ja) | シリコン単結晶製造装置 | |
JPH01317189A (ja) | シリコン単結晶の製造方法及び装置 | |
JPH01122988A (ja) | 単結晶を成長させる方法および単結晶製造装置 | |
JPH01294588A (ja) | シリコン単結晶の製造方法およびその装置 | |
JPH01286987A (ja) | 単結晶の製造方法及び装置 | |
JPH0259494A (ja) | シリコン単結晶の製造方法及び装置 | |
WO1986006109A1 (en) | Method and apparatus for growing single crystal bodies | |
JPH07110798B2 (ja) | 単結晶製造装置 | |
JPH02172885A (ja) | シリコン単結晶の製造方法 | |
JPH01286994A (ja) | シリコン単結晶の製造方法及び装置 | |
JPH01301579A (ja) | シリコン単結晶の製造方法及び装置 | |
JPH0316989A (ja) | シリコン単結晶の製造装置 | |
JPS6136192A (ja) | 単結晶製造用るつぼ | |
JPH038791A (ja) | シリコン単結晶の製造方法及び製造装置 |