JPH01279629A - バイアス回路 - Google Patents
バイアス回路Info
- Publication number
- JPH01279629A JPH01279629A JP63109314A JP10931488A JPH01279629A JP H01279629 A JPH01279629 A JP H01279629A JP 63109314 A JP63109314 A JP 63109314A JP 10931488 A JP10931488 A JP 10931488A JP H01279629 A JPH01279629 A JP H01279629A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transistor
- emitter
- bias
- resistor
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
- G05F3/02—Regulating voltage or current
- G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is dc
- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
- G05F3/22—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the bipolar type only
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- Control Of Electrical Variables (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「発明の目的」
(産業上の利用分野ン
本発明は半導体集積回路のバイアス回路に関するもので
、特にrフタルインターフ14フ回路に使用されるもの
である。
、特にrフタルインターフ14フ回路に使用されるもの
である。
(従来の技術)
従来、C廊S回路出力をバイポーラ回路でインターフェ
イスする場合、第3図のような回路が用いられることが
める。9中1は電源■。D、接地GND間の0M08回
路、2は電源■。c、GNDr&1Jのバイポーラ回路
、Cは回路1.2間のインターフェイスノード、Dは電
圧分割抵抗R1,R2間のバイアス点である。第3図に
おいて回路2のスレッショルド電圧はvcc/2である
ことが望ましく、かつ温度特性が極力ないことが散水さ
れ、ktl=R2としている。
イスする場合、第3図のような回路が用いられることが
める。9中1は電源■。D、接地GND間の0M08回
路、2は電源■。c、GNDr&1Jのバイポーラ回路
、Cは回路1.2間のインターフェイスノード、Dは電
圧分割抵抗R1,R2間のバイアス点である。第3図に
おいて回路2のスレッショルド電圧はvcc/2である
ことが望ましく、かつ温度特性が極力ないことが散水さ
れ、ktl=R2としている。
第3図においてノードCの電位が■cc/2より低いと
きは、トランジスタQ2に電流が訛れ、出力端Bの電位
はAの電位より低くなる。またノードCの電位がV。o
/2よシ高い場合は、トランジスタQlに電流が流れ、
出力端Bの電位はAの電位よシ^くなる。こうしてCM
O8fジタル出力がバイポーラ回路2内に取り込まれる
。
きは、トランジスタQ2に電流が訛れ、出力端Bの電位
はAの電位より低くなる。またノードCの電位がV。o
/2よシ高い場合は、トランジスタQlに電流が流れ、
出力端Bの電位はAの電位よシ^くなる。こうしてCM
O8fジタル出力がバイポーラ回路2内に取り込まれる
。
(発明が解決しようとする課題)
第3図のような回路2が、抵抗Kl、R2のバイアス回
路のノードDに、第4図の如く複数接続された場合、回
路2内のトランジスタQ2のベース電流によって抵抗R
ノのmKより多くの電流が流れ、ノードDの電位がvc
c//2より下がってしまう。例えばR1=R2=10
にΩで、回路2が8個で、トランジスタQ2のペース電
流がδμAとすると(ただしVco=5v)、ノードD
の電位は・2.3′vとなシ、Vcc/2 = 2.5
Vから200mV低下する。
路のノードDに、第4図の如く複数接続された場合、回
路2内のトランジスタQ2のベース電流によって抵抗R
ノのmKより多くの電流が流れ、ノードDの電位がvc
c//2より下がってしまう。例えばR1=R2=10
にΩで、回路2が8個で、トランジスタQ2のペース電
流がδμAとすると(ただしVco=5v)、ノードD
の電位は・2.3′vとなシ、Vcc/2 = 2.5
Vから200mV低下する。
またトランジスタの電流増幅率hFEは温度特性をもっ
ているので、トランジスタQ2のペース電流が変化し、
抵抗R1,R2の値を正しく設定しておいても、ノード
DVcvco/2が得られなくなることがある。
ているので、トランジスタQ2のペース電流が変化し、
抵抗R1,R2の値を正しく設定しておいても、ノード
DVcvco/2が得られなくなることがある。
そこで本発明の目的は、温度特性がなく、かつバイアス
点に所望のバイアス電圧(%に■。c/2)が得られる
回路を提供することにある。
点に所望のバイアス電圧(%に■。c/2)が得られる
回路を提供することにある。
[発明の構成]
(l[l@を解決するための手段と作用)本発明は、1
/N(Nは2以上の整数)分割電位を得たい場合、第1
の電位供給端と第2の電位供給端との間に、N個の抵抗
とN個のダイオード接続されたトランジスタとを選択的
に並べて直列接続し、前記得たい電位点よシ前記ダイオ
ード1個分介したノードにペースが接続されコレクタが
前記第1の電位供給端に接続されエミッタが抵抗Rを介
して第2の電位供給端に接続されたトランジスタQを有
し、前記第1.第2の電位供給端間のトランジスタQ、
抵抗Rの直列回路のトランジスタQの電流密度と、前記
トランジスタQのペースにコレクタ及びペースが接続さ
れるダイオード接続のトランジスタのt流密度とを等し
くし、前記トランジスタQと抵抗凡の接続端をバイアス
出力端としたことを特徴とするバイアス回路である。
/N(Nは2以上の整数)分割電位を得たい場合、第1
の電位供給端と第2の電位供給端との間に、N個の抵抗
とN個のダイオード接続されたトランジスタとを選択的
に並べて直列接続し、前記得たい電位点よシ前記ダイオ
ード1個分介したノードにペースが接続されコレクタが
前記第1の電位供給端に接続されエミッタが抵抗Rを介
して第2の電位供給端に接続されたトランジスタQを有
し、前記第1.第2の電位供給端間のトランジスタQ、
抵抗Rの直列回路のトランジスタQの電流密度と、前記
トランジスタQのペースにコレクタ及びペースが接続さ
れるダイオード接続のトランジスタのt流密度とを等し
くし、前記トランジスタQと抵抗凡の接続端をバイアス
出力端としたことを特徴とするバイアス回路である。
即ち本発明は、温度特性のない■。c/N(%KVoo
/2)のバイアス電圧を得る回路を、電流ドライブ能力
のあ不エミッタフェロワ(前述のトランジスタQ)と、
そのVng(ペース・エミッタ間電圧)の温度特性を打
ち消すコレクタ・ベース短絡のトランジスタによシ構成
したものである。
/2)のバイアス電圧を得る回路を、電流ドライブ能力
のあ不エミッタフェロワ(前述のトランジスタQ)と、
そのVng(ペース・エミッタ間電圧)の温度特性を打
ち消すコレクタ・ベース短絡のトランジスタによシ構成
したものである。
(実施例)
以下図面を参照して本発明の詳細な説明する。第1図は
同実施例の回路であるが、ここで前記従来例と対応する
個所には同一符号を用いる。
同実施例の回路であるが、ここで前記従来例と対応する
個所には同一符号を用いる。
図示される如く電源V。0に抵抗R1の一端が接続サレ
、その他端がNPN l−ランジスタQllのコレクタ
、ベース接続点Eに接続され、トランジスタQllのエ
ミッタはNPN トランジスタQ12のコレクタ、ベー
ス接続点Fに接続され、トランジスタQ12のエミッタ
は抵抗R2の一端に接続され、抵抗R2の他端は接地さ
れる。ノードEはNPN )ランノスタQ13のペース
に接続され、トランジスタQ13のコレクタは′#L源
V。0に、エミッタは抵抗R3を介して接地される@ 6一 この第1図はV。o/2のバイアス電圧をノードDに得
る回路の実施例であシ、ダイオード接続のNPNトラン
ノスタQll、Ql2、エミッタフォロワ構成のトラン
ジスタQ13、抵抗R1〜R3よシなっている。R1,
R2は同じ太き畑の抵抗(例えば7にΩ)、Ql、Q2
は同一形状のトランジスタである。この場合ノードFの
電位はV。c/2゜トランジスタQ13の電流密度(エ
ミッタの単位面積当シの電流)がトランジスタQllの
それと同じになるように抵抗R3を設定してやれば(例
えばR,?=10にΩ)、ノードDの電位はvco/2
、からトランジスタQ13の■、落ちた電位となる。
、その他端がNPN l−ランジスタQllのコレクタ
、ベース接続点Eに接続され、トランジスタQllのエ
ミッタはNPN トランジスタQ12のコレクタ、ベー
ス接続点Fに接続され、トランジスタQ12のエミッタ
は抵抗R2の一端に接続され、抵抗R2の他端は接地さ
れる。ノードEはNPN )ランノスタQ13のペース
に接続され、トランジスタQ13のコレクタは′#L源
V。0に、エミッタは抵抗R3を介して接地される@ 6一 この第1図はV。o/2のバイアス電圧をノードDに得
る回路の実施例であシ、ダイオード接続のNPNトラン
ノスタQll、Ql2、エミッタフォロワ構成のトラン
ジスタQ13、抵抗R1〜R3よシなっている。R1,
R2は同じ太き畑の抵抗(例えば7にΩ)、Ql、Q2
は同一形状のトランジスタである。この場合ノードFの
電位はV。c/2゜トランジスタQ13の電流密度(エ
ミッタの単位面積当シの電流)がトランジスタQllの
それと同じになるように抵抗R3を設定してやれば(例
えばR,?=10にΩ)、ノードDの電位はvco/2
、からトランジスタQ13の■、落ちた電位となる。
第1図の回路では、バイアス出力が電流ドライブ能力の
あるエミッタフォロワ形式になっているため、該トラン
ジスタQ13の極小のベース電流でQl3のコレクタ・
エミッタから回路2にバイアス供給できるため、従来技
術の欠点で述べたインターンェイス回路2が多数個接続
された際も、そのベース電流によってノードDの電位が
VCo/2から低下することがほとんどない。また第1
図で述べたようにトランジスタQllとQl3の電流密
度が同じになるように設定されているため、温が約−2
mV/ ℃で変化しても、トランジスタQ13のvBE
CvBl、(Ql3))も全く同じ温度係数で変化す
るから、ノードDの電位は■co/2よシはとんど変化
しない。トランジスタQllとQl3の電流密度を同じ
にすることはvBEを一致させること、つまシその温度
係数を一致させることで、重要なことである。
あるエミッタフォロワ形式になっているため、該トラン
ジスタQ13の極小のベース電流でQl3のコレクタ・
エミッタから回路2にバイアス供給できるため、従来技
術の欠点で述べたインターンェイス回路2が多数個接続
された際も、そのベース電流によってノードDの電位が
VCo/2から低下することがほとんどない。また第1
図で述べたようにトランジスタQllとQl3の電流密
度が同じになるように設定されているため、温が約−2
mV/ ℃で変化しても、トランジスタQ13のvBE
CvBl、(Ql3))も全く同じ温度係数で変化す
るから、ノードDの電位は■co/2よシはとんど変化
しない。トランジスタQllとQl3の電流密度を同じ
にすることはvBEを一致させること、つまシその温度
係数を一致させることで、重要なことである。
なお本発明は実施例に限られず種々の応用が可能である
。例えば本発明はvCo/N(Nは2以上の整数)のバ
イアスを得たい場合に通用できる。第2図はトランジス
タQ14、抵抗R4t−追加してVoo/3のバイアス
をノードDIC得る場合の例である。
。例えば本発明はvCo/N(Nは2以上の整数)のバ
イアスを得たい場合に通用できる。第2図はトランジス
タQ14、抵抗R4t−追加してVoo/3のバイアス
をノードDIC得る場合の例である。
「発明の効果」
以上説明した如く本発明によれば、温度特性のない■。
’c /Hのバイアスが正確に得られるバイアス回路が
提供できるものである。
提供できるものである。
第1図、第2図は本発明の各実施例の回路図、第3図は
従来回路の説明図、第4図は同回路の欠点を説明する回
路図である。 Qll〜Q14・・・NPN トランジスタ、R1〜R
4・・・抵抗、D・・・バイアス出力ノード、vcco
“・電源、GND・・・接地。
従来回路の説明図、第4図は同回路の欠点を説明する回
路図である。 Qll〜Q14・・・NPN トランジスタ、R1〜R
4・・・抵抗、D・・・バイアス出力ノード、vcco
“・電源、GND・・・接地。
Claims (2)
- (1)1/N(Nは2以上の整数)分割電位を得たい場
合、第1の電位供給端と第2の電位供給端との間に、N
個の抵抗とN個のダイオード接続されたトランジスタと
を選択的に並べて直列接続し、前記得たい電位点より前
記ダイオード1個分介したノードにベースが接続されコ
レクタが前記第1の電位供給端に接続されエミッタが抵
抗Rを介して第2の電位供給端に接続されたトランジス
タQを有し、前記第1、第2の電位供給端間のトランジ
スタQ、抵抗Rの直列回路のトランジスタQの電流密度
と、前記トランジスタQのベースにコレクタ及びベース
が接続されるダイオード接続のトランジスタの電流密度
とを等しくし、前記トランジスタQと抵抗Rの接続端を
バイアス出力端としたことを特徴とするバイアス回路。 - (2)第1の電位供給端に第1の抵抗の一端が接続され
、該第1の抵抗の他端が第1のNPNトランジスタのコ
レクタ、ベースに接続され、第1のNPNトランジスタ
のエミッタが第2のNPNトランジスタのコレクタ、ベ
ースに接続され、第2のNPNトランジスタのエミッタ
が第2の抵抗の一端に接続され、該第2の抵抗の他端は
第2の電位供給端に接続され、前記第1のNPNトラン
ジスタのコレクタ、ベースが第3のNPNトランジスタ
のベースに接続され、前記第3のNPNトランジスタの
コレクタは第1の電位供給端に、エミッタは第3の抵抗
の一端にそれぞれ接続され、該第3の抵抗の他端は第2
の電位供給端に接続され、前記第1のNPNトランジス
タの電流密度と第3のNPNトランジスタの電流密度と
を等しくし、前記第3のトランジスタのエミッタと第3
の抵抗との接続端をバイアス出力端としたことを特徴と
するバイアス回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63109314A JPH01279629A (ja) | 1988-05-02 | 1988-05-02 | バイアス回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63109314A JPH01279629A (ja) | 1988-05-02 | 1988-05-02 | バイアス回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01279629A true JPH01279629A (ja) | 1989-11-09 |
Family
ID=14507069
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63109314A Pending JPH01279629A (ja) | 1988-05-02 | 1988-05-02 | バイアス回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01279629A (ja) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5620316A (en) * | 1979-07-27 | 1981-02-25 | Hitachi Denshi Ltd | Buffer circuit |
JPS56169285A (en) * | 1980-06-02 | 1981-12-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Pulsed electric power circuit |
JPS59231620A (ja) * | 1983-06-15 | 1984-12-26 | Nec Corp | 基準電圧発生回路 |
JPS62119613A (ja) * | 1985-11-20 | 1987-05-30 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路の内部電源電圧発生回路 |
-
1988
- 1988-05-02 JP JP63109314A patent/JPH01279629A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5620316A (en) * | 1979-07-27 | 1981-02-25 | Hitachi Denshi Ltd | Buffer circuit |
JPS56169285A (en) * | 1980-06-02 | 1981-12-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Pulsed electric power circuit |
JPS59231620A (ja) * | 1983-06-15 | 1984-12-26 | Nec Corp | 基準電圧発生回路 |
JPS62119613A (ja) * | 1985-11-20 | 1987-05-30 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路の内部電源電圧発生回路 |
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