JPH01272176A - 半導体発光装置 - Google Patents
半導体発光装置Info
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- JPH01272176A JPH01272176A JP62149141A JP14914187A JPH01272176A JP H01272176 A JPH01272176 A JP H01272176A JP 62149141 A JP62149141 A JP 62149141A JP 14914187 A JP14914187 A JP 14914187A JP H01272176 A JPH01272176 A JP H01272176A
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/34—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers
- H01S5/343—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser
- H01S5/3434—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser with a well layer comprising at least both As and P as V-compounds
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- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
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- H01S5/12—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
-
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- H01S5/343—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser
- H01S5/34306—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers in AIIIBV compounds, e.g. AlGaAs-laser, InP-based laser emitting light at a wavelength longer than 1000nm, e.g. InP based 1300 and 1500nm lasers
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
本発明は、半導体発光装置に於いて、活゛性層を超格子
と回折格子で挟み、該超格子に電圧を印加してその屈折
率を変化させることに依炉、発振波長を大幅に変化させ
ることを可能にした。
と回折格子で挟み、該超格子に電圧を印加してその屈折
率を変化させることに依炉、発振波長を大幅に変化させ
ることを可能にした。
本発明は、発振周波数、即ち、発振波長を制御すること
が可能な半導体発光装置に関する。
が可能な半導体発光装置に関する。
近年、コヒーレント光を用いて光通信を行う技術に関す
る研究及び開発が進んでいる。これは、従来の光通信に
於ける情報伝達が光のオン・オフ変調に依存していたの
に対し、光を電磁波として取り扱い、その位相、振幅、
周波数などに関し、電磁波と同様、FM、PMSFSK
SPSKなどの変調をかけて情報伝達を行うものであり
、これに依り、信号伝送距離を延伸したり、多量の情報
を伝達できるようにするものである。
る研究及び開発が進んでいる。これは、従来の光通信に
於ける情報伝達が光のオン・オフ変調に依存していたの
に対し、光を電磁波として取り扱い、その位相、振幅、
周波数などに関し、電磁波と同様、FM、PMSFSK
SPSKなどの変調をかけて情報伝達を行うものであり
、これに依り、信号伝送距離を延伸したり、多量の情報
を伝達できるようにするものである。
この場合、コヒーレント光の光源としては、矢張り半導
体レーザを用いることになるが、そのような目的を達成
する半導体レーザの一つとして、成る場合には一定の発
振波長で固定的に発振を持続し、また、成る場合には発
振波長が可変であるもの、即ち、波長チューニングを行
うことができる半導体レーザが必要になる。
体レーザを用いることになるが、そのような目的を達成
する半導体レーザの一つとして、成る場合には一定の発
振波長で固定的に発振を持続し、また、成る場合には発
振波長が可変であるもの、即ち、波長チューニングを行
うことができる半導体レーザが必要になる。
半導体レーザの発振波長を可変にするには、レーザ共振
器の長さを変える、媒質を変える、屈折率を変える、動
作温度を変えるなど種々の手段がある。
器の長さを変える、媒質を変える、屈折率を変える、動
作温度を変えるなど種々の手段がある。
前記したように、半導体レーザの発振波長を可変にする
には種々の手段が存在するものの、従来技術に依るもの
では、波長の可変幅が不充分であり、しかも、それに随
伴して闇値電流が高くなったり、或いは、発光効率が低
下するなど半導体レーザの基本的特性が劣化してくるな
どの欠点があった。また、波長を可変とする為、半導体
のバルク効果であるバンド端効果或いはプラズマ効果を
利用したものに於いては、何れも順方向バイアスで使用
するので、リーク電流や発熱の面で問題があった。
には種々の手段が存在するものの、従来技術に依るもの
では、波長の可変幅が不充分であり、しかも、それに随
伴して闇値電流が高くなったり、或いは、発光効率が低
下するなど半導体レーザの基本的特性が劣化してくるな
どの欠点があった。また、波長を可変とする為、半導体
のバルク効果であるバンド端効果或いはプラズマ効果を
利用したものに於いては、何れも順方向バイアスで使用
するので、リーク電流や発熱の面で問題があった。
本発明は、レーザ共振器内の屈折率を外部から変化させ
、その結果、発振波長の安定なチューニングを可能とし
た半導体発光装置を提供しようとする。
、その結果、発振波長の安定なチューニングを可能とし
た半導体発光装置を提供しようとする。
C問題点を解決するための手段〕
本発明に依る半導体発光装置に於いては、活性層(例え
ばInGaAsP活性1i5)の一方の面側に配設され
且つ光学的に結合された超格子(例えば超格子7)と、
同じく活性層の他方の面側に配設され且つ光学的に結合
された回折格子(例えば回折格子2)と、前記超格子に
電圧を印加してその屈折率を変化させる制御電極(例え
ば制御電極11)とが形成されている。
ばInGaAsP活性1i5)の一方の面側に配設され
且つ光学的に結合された超格子(例えば超格子7)と、
同じく活性層の他方の面側に配設され且つ光学的に結合
された回折格子(例えば回折格子2)と、前記超格子に
電圧を印加してその屈折率を変化させる制御電極(例え
ば制御電極11)とが形成されている。
前記構成を採ることに依り、制御電極に印加する電圧で
発振波長を安定に且つ大幅に変化させることができ、そ
して、そのようにしても発振の闇値電流が窩(成ったり
、発光効率の低下、リーク電流の増加、発熱などの問題
も発生しないので、コヒーレント光に依る光通信に用い
て好適である。
発振波長を安定に且つ大幅に変化させることができ、そ
して、そのようにしても発振の闇値電流が窩(成ったり
、発光効率の低下、リーク電流の増加、発熱などの問題
も発生しないので、コヒーレント光に依る光通信に用い
て好適である。
第1図は本発明一実施例の要部切断側面図、第2図は第
1図に見られる線A−Aで切断した要部正面図をそれぞ
れ表している。
1図に見られる線A−Aで切断した要部正面図をそれぞ
れ表している。
図に於いて、1はn型1nP基板、2は回折格子、3は
n型!nPクラッド層、4はi型1nP高抵抗層、5は
InGaAsP活性層、6はp型rnPクラッド層、7
は超格子、7Aは超格子7の構成要素であるInP障壁
層、7Bは超格子7の構成要素であるInGaAsP井
戸層、8はn型1nP電流阻止層、9はp型InP電流
路層、lOはp側電極、11は制御電極、12はn側電
極をそれぞれ示している。
n型!nPクラッド層、4はi型1nP高抵抗層、5は
InGaAsP活性層、6はp型rnPクラッド層、7
は超格子、7Aは超格子7の構成要素であるInP障壁
層、7Bは超格子7の構成要素であるInGaAsP井
戸層、8はn型1nP電流阻止層、9はp型InP電流
路層、lOはp側電極、11は制御電極、12はn側電
極をそれぞれ示している。
本実施例に於ける各部分の主要データを例示すると次の
通りである。
通りである。
(a) 回折格子2について
ピッチ二0.2〜0.22(μm〕
(b) クランド層3について
厚さ: 1200〜2200 (人〕不純物濃度二5
X 101? (csa−3)(C) 高抵抗層
4について 厚さ:2〜3 〔μm〕 (d) 活性層5について 厚さ70.12〜0.17(μm〕 幅:0.8〜1.3〔μm〕 対応波長λ:1.5Cμm〕 (e) クラフト層6について 厚さ:0.2〜0.5 〔μm〕 不純物濃度: 1〜2X 10” (aa−”)if)
超格子7について 障壁層7A及び井戸層7Bの層数=5〜12層(gl
障壁層7A 厚さ:ao−120(人〕 (h) 井戸層7B 厚さ:20〜30[人〕 対応波長λ:1.3(μm〕 (1) 電流阻止層8について 厚さ=1〜1.5 〔μm〕 不純物濃度:5X101?(ロー3〕 (」)電流路層9について 厚さ:1〜1.5 〔μm〕 不純物濃度:lX10皿B (C11−3)(k)
p側電極10について 材料:TiPtAu (1) 制御電極11について 材料: T t P t A u (ロ) n側電極12について 材料: A u G e N i 本実施例に於いて、レーザ発振電流はp側電極10から
供給され、p型1nP電流路層9−p型InPクラッド
層6−1nGaAsP活性層5→n型InPクラッド層
3−o n型1nP基板1−o n側電極12の順に流
れ、そして、その発振波長は制御電極11に印加される
電圧、即ち、超格子7に印加される逆バイアス電圧で制
御される。また、そのようにして発振波長がチューニン
グされたレーザ光は、回折格子2の作用に依って、発振
スペクトル幅が狭小化されることは云うまでもない。
X 101? (csa−3)(C) 高抵抗層
4について 厚さ:2〜3 〔μm〕 (d) 活性層5について 厚さ70.12〜0.17(μm〕 幅:0.8〜1.3〔μm〕 対応波長λ:1.5Cμm〕 (e) クラフト層6について 厚さ:0.2〜0.5 〔μm〕 不純物濃度: 1〜2X 10” (aa−”)if)
超格子7について 障壁層7A及び井戸層7Bの層数=5〜12層(gl
障壁層7A 厚さ:ao−120(人〕 (h) 井戸層7B 厚さ:20〜30[人〕 対応波長λ:1.3(μm〕 (1) 電流阻止層8について 厚さ=1〜1.5 〔μm〕 不純物濃度:5X101?(ロー3〕 (」)電流路層9について 厚さ:1〜1.5 〔μm〕 不純物濃度:lX10皿B (C11−3)(k)
p側電極10について 材料:TiPtAu (1) 制御電極11について 材料: T t P t A u (ロ) n側電極12について 材料: A u G e N i 本実施例に於いて、レーザ発振電流はp側電極10から
供給され、p型1nP電流路層9−p型InPクラッド
層6−1nGaAsP活性層5→n型InPクラッド層
3−o n型1nP基板1−o n側電極12の順に流
れ、そして、その発振波長は制御電極11に印加される
電圧、即ち、超格子7に印加される逆バイアス電圧で制
御される。また、そのようにして発振波長がチューニン
グされたレーザ光は、回折格子2の作用に依って、発振
スペクトル幅が狭小化されることは云うまでもない。
このように、制御電極11に印加される電圧で発振波長
が変化する理由は、該電圧で超格子7に於ける光屈折率
が変わり、延いては導波路全体の光屈折率が変化するこ
とに依る。斯かる動作をさせるには、活性層5と超格子
7との光学的結合が重要であり、従って、それ等は近接
して配設することが必要であって、その為にはp側のク
ラッド層6に於ける厚さは前記の範囲に維持することが
肝要である。
が変化する理由は、該電圧で超格子7に於ける光屈折率
が変わり、延いては導波路全体の光屈折率が変化するこ
とに依る。斯かる動作をさせるには、活性層5と超格子
7との光学的結合が重要であり、従って、それ等は近接
して配設することが必要であって、その為にはp側のク
ラッド層6に於ける厚さは前記の範囲に維持することが
肝要である。
このように超格子7に電圧を印加して光屈折率が変化す
るのは、量子閉じ込めスターク(S t ark)効果
によるものである。
るのは、量子閉じ込めスターク(S t ark)効果
によるものである。
本実施例に依ると、発振波長の可変幅は約400〜50
0 〔人〕程度に広くなった。因みに、従来技術に依っ
た場合のそれは高々50〔人〕程度である。
0 〔人〕程度に広くなった。因みに、従来技術に依っ
た場合のそれは高々50〔人〕程度である。
本発明に依る半導体発光装置に於いては、活性層を超格
子と回折格子で挟み、該超格子に制御電圧を印加してそ
の屈折率を変化させるようにしている。
子と回折格子で挟み、該超格子に制御電圧を印加してそ
の屈折率を変化させるようにしている。
この構成を採ることに依り、制御電極に印加する電圧で
発振波長を安定に且つ大幅に変化させることができ、そ
して、そのようにしても発振の閾値電流が高く成ったり
、発光効率の低下、リーク電流の増加、発熱などの問題
も発生しないので、コヒーレント光に依る光通信に用い
て好適である。
発振波長を安定に且つ大幅に変化させることができ、そ
して、そのようにしても発振の閾値電流が高く成ったり
、発光効率の低下、リーク電流の増加、発熱などの問題
も発生しないので、コヒーレント光に依る光通信に用い
て好適である。
第1図は本発明一実施例の要部切断側面図、第2図は第
1図に見られる線A−Aで切断した要部正面図をそれぞ
れ表している。 図に於いて、1はn型InP基板、2は回折格子、3は
n型1nPクラッド層、4はi型1nP高抵抗層、5は
InGaAsP活性層、6はp型InPクラッド層、7
は超格子、7Aは超格子7の構成要素であるInP障壁
層、7Bは超格子7の構成要素であるInGaAsP井
戸層、8はn型1nP電流阻止層、9はp型1nP電流
路層、10はp側電極、11は制御電極、12はn側電
極をそれぞれ示している。 特許出願人 富士通株式会社 代理人弁理士 相 谷 昭 司 代理人弁理士 渡 邊 弘 − 第2図
1図に見られる線A−Aで切断した要部正面図をそれぞ
れ表している。 図に於いて、1はn型InP基板、2は回折格子、3は
n型1nPクラッド層、4はi型1nP高抵抗層、5は
InGaAsP活性層、6はp型InPクラッド層、7
は超格子、7Aは超格子7の構成要素であるInP障壁
層、7Bは超格子7の構成要素であるInGaAsP井
戸層、8はn型1nP電流阻止層、9はp型1nP電流
路層、10はp側電極、11は制御電極、12はn側電
極をそれぞれ示している。 特許出願人 富士通株式会社 代理人弁理士 相 谷 昭 司 代理人弁理士 渡 邊 弘 − 第2図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 活性層の一方の面側に配設され且つ光学的に結合された
超格子と、 同じく活性層の他方の面側に配設され且つ光学的に結合
された回折格子と、 前記超格子に電圧を印加してその屈折率を変化させる制
御電極と が形成されてなることを特徴とする半導体発光装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62149141A JPH0732292B2 (ja) | 1987-06-17 | 1987-06-17 | 半導体発光装置 |
US07/203,199 US4817105A (en) | 1987-06-17 | 1988-06-07 | Integrated laser device with refractive index modulator |
DE88401506T DE3887013D1 (de) | 1987-06-17 | 1988-06-16 | Integrierte Laservorrichtung mit Brechungsindex-Modulator. |
EP88401506A EP0296066B1 (en) | 1987-06-17 | 1988-06-16 | An integrated laser device with refractive index modulator |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62149141A JPH0732292B2 (ja) | 1987-06-17 | 1987-06-17 | 半導体発光装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01272176A true JPH01272176A (ja) | 1989-10-31 |
JPH0732292B2 JPH0732292B2 (ja) | 1995-04-10 |
Family
ID=15468657
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62149141A Expired - Lifetime JPH0732292B2 (ja) | 1987-06-17 | 1987-06-17 | 半導体発光装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4817105A (ja) |
EP (1) | EP0296066B1 (ja) |
JP (1) | JPH0732292B2 (ja) |
DE (1) | DE3887013D1 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04105386A (ja) * | 1990-08-24 | 1992-04-07 | Nec Corp | 波長可変半導体レーザ |
JPH09162499A (ja) * | 1995-12-08 | 1997-06-20 | Canon Inc | 半導体レーザ装置、その駆動方法及びそれを用いた光通信システム |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE58906978D1 (de) * | 1988-09-22 | 1994-03-24 | Siemens Ag | Abstimmbarer DFB-Laser. |
US4987576A (en) * | 1988-11-30 | 1991-01-22 | Siemens Aktiengesellschaft | Electrically tunable semiconductor laser with ridge waveguide |
EP0383958B1 (de) * | 1989-02-15 | 1993-06-02 | Siemens Aktiengesellschaft | Abstimmbarer Halbleiterlaser |
EP0404551A3 (en) * | 1989-06-20 | 1992-08-26 | Optical Measurement Technology Development Co. Ltd. | Optical semiconductor device |
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