JPH01262087A - 窒化硅素セラミックスのレーザ加工方法 - Google Patents
窒化硅素セラミックスのレーザ加工方法Info
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- JPH01262087A JPH01262087A JP63090924A JP9092488A JPH01262087A JP H01262087 A JPH01262087 A JP H01262087A JP 63090924 A JP63090924 A JP 63090924A JP 9092488 A JP9092488 A JP 9092488A JP H01262087 A JPH01262087 A JP H01262087A
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- ceramics
- silicon nitride
- nitride ceramics
- si3n4
- laser machining
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Landscapes
- Laser Beam Processing (AREA)
- Ceramic Products (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
窒化硅素セラミックスのレーザ加工に関し、寸法精度よ
く加工を行うことを目的とし、加工を行う窒化硅素セラ
ミックスの上面に銅板を、また下面には金属板を密着さ
せた後、レーザ照射を行うことにより窒化硅素セラミッ
クスのレーザ加工方法を構成する。
く加工を行うことを目的とし、加工を行う窒化硅素セラ
ミックスの上面に銅板を、また下面には金属板を密着さ
せた後、レーザ照射を行うことにより窒化硅素セラミッ
クスのレーザ加工方法を構成する。
本発明は窒化硅素セラミックスのレーザ加工方法に関す
る。
る。
窒化硅素(以下略して5i3N4)は1000℃を越す
高温においても高い強度を示し、軽量で熱衝撃性に優れ
た材料として知られている。
高温においても高い強度を示し、軽量で熱衝撃性に優れ
た材料として知られている。
すなわち、5iJaは高温においても安定であって、比
重は3.185と軽く、一方、ビッカース硬度は200
0と高く、また高温の融解金属に侵されないなどの特徴
をもっている。
重は3.185と軽く、一方、ビッカース硬度は200
0と高く、また高温の融解金属に侵されないなどの特徴
をもっている。
そのため、切削工具の刃、高温での耐蝕性が必要な坩堝
やノズルなどの構成材料として適し、またセラミックタ
ーボの構成材として期待されている。
やノズルなどの構成材料として適し、またセラミックタ
ーボの構成材として期待されている。
次に、Si3N4の熱的性質としては、1800’c付
近から徐々に解離する性質をもち、1900°Cでの解
離圧(N2)は1気圧である。
近から徐々に解離する性質をもち、1900°Cでの解
離圧(N2)は1気圧である。
5i3Naば上記のような特徴を活かし、電子機器への
適用が期待されているが、その中にト′ソI−・ブリニ
/り用のワイヤ・ガイド力くある。
適用が期待されているが、その中にト′ソI−・ブリニ
/り用のワイヤ・ガイド力くある。
このワイヤ・ガイドはセラミック基板上に微少な間隙を
隔て\径0.22mmの孔が配列しており、この孔を通
して径0.21貫の超硬合金よりなるワイヤが電磁作用
によりインクリボンを衝撃して記録紙に印字するもので
あり、アルミナ(α−Aβ20.)やジルコニヤ(Zr
Oz)などのセラミックが使用されているが、硬度の優
れたSi3N4セラミックスはか\る使用目的に適して
いる。
隔て\径0.22mmの孔が配列しており、この孔を通
して径0.21貫の超硬合金よりなるワイヤが電磁作用
によりインクリボンを衝撃して記録紙に印字するもので
あり、アルミナ(α−Aβ20.)やジルコニヤ(Zr
Oz)などのセラミックが使用されているが、硬度の優
れたSi3N4セラミックスはか\る使用目的に適して
いる。
こ\で、セラミックスへの微細孔の形成にはYAGレー
ザや炭酸ガス(Co。)レーザの使用が適しており、」
二部のセラミックスに対する孔あけにもレーザ加工が使
用されている。
ザや炭酸ガス(Co。)レーザの使用が適しており、」
二部のセラミックスに対する孔あけにもレーザ加工が使
用されている。
然し、5i3N−セラミックスにレーデ照射を行うと、
照射面の損傷が著しく、第2図の(A)。
照射面の損傷が著しく、第2図の(A)。
(B)に示すように■字形の傾斜をもって孔1が開くと
共に孔1の周囲には解離した硅素(Si) 2がイ」
着すると云う問題がある。
共に孔1の周囲には解離した硅素(Si) 2がイ」
着すると云う問題がある。
また、裏面には真円状の孔は開かず、同図(C)に示す
ように小さくて歪んだ孔3が開き、また微量ながら孔3
の周囲には解離したS】が析出している。
ように小さくて歪んだ孔3が開き、また微量ながら孔3
の周囲には解離したS】が析出している。
以」−記したように5rJaセラミツクスをレーザ加工
する場合は精度のある孔が開かず、また孔の周囲に高温
で解離したSiが析出することが問題である。
する場合は精度のある孔が開かず、また孔の周囲に高温
で解離したSiが析出することが問題である。
上記の課題は加工を行うS i 3 N 4セラミツク
スの上面に銅(Cu)板を、また下面には厚手の金属板
を密着さゼた後、レーザ照射を行うことにより解決する
ことができる。
スの上面に銅(Cu)板を、また下面には厚手の金属板
を密着さゼた後、レーザ照射を行うことにより解決する
ことができる。
を構成する。
一般にレーザによる孔開は加工においては照射面側から
加工が進行するために照ルj面側は裏面に較べて熱の蓄
積が多く、そのために照射面側の孔径が拡がりテーパが
つく。
加工が進行するために照ルj面側は裏面に較べて熱の蓄
積が多く、そのために照射面側の孔径が拡がりテーパが
つく。
また、照射によってSi、N4の解離が生じて吹き上げ
られ、分解成分であるSiは落下した孔の周囲に付着す
る。
られ、分解成分であるSiは落下した孔の周囲に付着す
る。
また、加工が裏面近くに達すると加工部の周囲の熱容量
低下により加工速度は急激に」−昇する。
低下により加工速度は急激に」−昇する。
そして、急速に裏面に達して突き抜けるために“いびつ
″”状をした小さい貫通孔が生ずる。
″”状をした小さい貫通孔が生ずる。
そこで、真円の円筒状をした貫通孔を開けるには第1図
に示すように熱伝導率の高い金属薄板4を5iJ4セラ
ミツクス6の表面に、また裏面には熱容量を増加させる
ための金属板を接着して置き、レーザ加工を行えば上記
の問題点を解消することができる。
に示すように熱伝導率の高い金属薄板4を5iJ4セラ
ミツクス6の表面に、また裏面には熱容量を増加させる
ための金属板を接着して置き、レーザ加工を行えば上記
の問題点を解消することができる。
すなわち、表面に接着する金属薄板4は孔あけの行われ
ている領域の熱伝導を良くすると共に解離物の吹き上が
りを防ぎ、また裏面の金属板5ば裏面の孔付近の熱容量
を増加させることによりレーザ照射部のめに熱が籠もり
、瞬間的に孔あきが行われるのを防ぐものである。
ている領域の熱伝導を良くすると共に解離物の吹き上が
りを防ぎ、また裏面の金属板5ば裏面の孔付近の熱容量
を増加させることによりレーザ照射部のめに熱が籠もり
、瞬間的に孔あきが行われるのを防ぐものである。
なお、5iJ4セラミツクス6に金属板4.5を接着す
る接着剤7,8しては作業性の点から耐熱性に冨むワッ
クス類を使用し、加工処理後に剥ぎとるのがよい。
る接着剤7,8しては作業性の点から耐熱性に冨むワッ
クス類を使用し、加工処理後に剥ぎとるのがよい。
なお、この目的に適し、熱伝導率の優れた金属としては
次のものがある。
次のものがある。
表(単位W/mk)
こ\で、本発明は表面に接着する金属薄板4としては熱
伝導率が高く、且っレーザ照射による損傷の少ないCu
を用い、裏面に接着する金属とじてばCuを含め熱伝導
率の高い上記の金属を使用するものである。
伝導率が高く、且っレーザ照射による損傷の少ないCu
を用い、裏面に接着する金属とじてばCuを含め熱伝導
率の高い上記の金属を使用するものである。
密度が99%以上で、厚さが21の5iJa焼結体から
なる平板の表面にシリコーンワックス(商品名・エレク
トロンワックス)を用いて厚さQ、l*iのCu板を、
また裏面にも同じワックスを用いて厚さ1cmのIf板
を貼り付けた。
なる平板の表面にシリコーンワックス(商品名・エレク
トロンワックス)を用いて厚さQ、l*iのCu板を、
また裏面にも同じワックスを用いて厚さ1cmのIf板
を貼り付けた。
そして、YAG レーザを用い、パルス幅0.2μs。
パルスレート5pps、平均出力10W、焦点はずし量
Qmmの条件でレーザ加工を行った。
Qmmの条件でレーザ加工を行った。
その結果、直径が0.15mmで傾斜のない真っ直くな
孔を開りることができ、また孔の周囲にはSiの析出も
認められなかった。
孔を開りることができ、また孔の周囲にはSiの析出も
認められなかった。
以上記したように本発明の実施により、5iJ4セラミ
ツクスに対して精度の高い孔あけ加工を行うことができ
、これによりSi、、Nnセラミックスの用途の拡大が
可能となる。
ツクスに対して精度の高い孔あけ加工を行うことができ
、これによりSi、、Nnセラミックスの用途の拡大が
可能となる。
第1図は本発明に係る加工法を示す断面図、第2図(A
)、 (B)、 (C)は従来の加工状態の説明図
、 である。 図において、 4は金属薄板、 5は金属板、 6は5iJaセラミツクス、 7.8は接着剤、 である。 ≧ 代に
)、 (B)、 (C)は従来の加工状態の説明図
、 である。 図において、 4は金属薄板、 5は金属板、 6は5iJaセラミツクス、 7.8は接着剤、 である。 ≧ 代に
Claims (1)
- 窒化硅素セラミックスにレーザ加工を行うに当たり、該
セラミックスの上面に銅板を、また下面には金属板を密
着させた後、レーザ照射を行うことを特徴とする窒化硅
素セラミックスのレーザ加工方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63090924A JPH01262087A (ja) | 1988-04-13 | 1988-04-13 | 窒化硅素セラミックスのレーザ加工方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63090924A JPH01262087A (ja) | 1988-04-13 | 1988-04-13 | 窒化硅素セラミックスのレーザ加工方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01262087A true JPH01262087A (ja) | 1989-10-18 |
Family
ID=14011980
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63090924A Pending JPH01262087A (ja) | 1988-04-13 | 1988-04-13 | 窒化硅素セラミックスのレーザ加工方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01262087A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0428490A (ja) * | 1990-05-23 | 1992-01-31 | Nippon Steel Corp | セラミックスのレーザ穴加工法 |
WO2007135955A1 (ja) * | 2006-05-20 | 2007-11-29 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | スルーホール成形体およびレーザー加工方法 |
JPWO2008004307A1 (ja) * | 2006-07-07 | 2009-12-03 | 富士通株式会社 | 穴あけ加工方法、基板の製造方法、および電子部品の製造方法 |
WO2016161692A1 (zh) * | 2015-04-09 | 2016-10-13 | 江苏大学 | 一种在金属表面制造微凸点的方法 |
-
1988
- 1988-04-13 JP JP63090924A patent/JPH01262087A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0428490A (ja) * | 1990-05-23 | 1992-01-31 | Nippon Steel Corp | セラミックスのレーザ穴加工法 |
WO2007135955A1 (ja) * | 2006-05-20 | 2007-11-29 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | スルーホール成形体およびレーザー加工方法 |
US8268182B2 (en) | 2006-05-20 | 2012-09-18 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Product having through-hole and laser processing method |
JPWO2008004307A1 (ja) * | 2006-07-07 | 2009-12-03 | 富士通株式会社 | 穴あけ加工方法、基板の製造方法、および電子部品の製造方法 |
WO2016161692A1 (zh) * | 2015-04-09 | 2016-10-13 | 江苏大学 | 一种在金属表面制造微凸点的方法 |
GB2555250A (en) * | 2015-04-09 | 2018-04-25 | Univ Jiangsu | Method for forming micro-bump on metal surface |
GB2555250B (en) * | 2015-04-09 | 2021-10-13 | Univ Jiangsu | Method for forming micro-bump on metal surface |
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