JPH01113189A - 細い孔を持つセラミックス部品の製造方法 - Google Patents

細い孔を持つセラミックス部品の製造方法

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JPH01113189A
JPH01113189A JP62267904A JP26790487A JPH01113189A JP H01113189 A JPH01113189 A JP H01113189A JP 62267904 A JP62267904 A JP 62267904A JP 26790487 A JP26790487 A JP 26790487A JP H01113189 A JPH01113189 A JP H01113189A
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JP
Japan
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hole
tip
cavity
liquid tank
capillary
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Pending
Application number
JP62267904A
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English (en)
Inventor
Takeshi Shioda
塩田 武
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は細い径の口過孔を持つセラミックス部品の製造
方法に関する。
(従来の技術) 半導体素子を製造するに際して半導体チップと外部引出
し線とを接続するワイヤボンディングにおいては、外部
引出し線に用いる金Xii$ilをキャビラリイと呼ば
れる圧カニ具に通して半導体チップに形成されたボンデ
ィングバット上に案内し、キャビラリイの先端部で金属
線の先端に圧力を加えてボンディングバットに圧接する
とともに、半導体チップを加熱して、金属線の先端をボ
ンディングバットに接合することが行なわれている。
第5図で示すようにワイヤボンディングに用いられるキ
ャピラリイ1は、金属線を通すために筒形をなしており
、その先端部には金属線の線径に対応したミクロン単位
の細い孔2が形成しである。
このようにキャビラリイ1の先端部に細い孔2を形成す
るのは、金属線Aを振れないように安定して保持するた
めであり、これにより金属線を目指す半導体チップに向
けて確実に案内できるとともに、キャビラリイで金属線
を加圧する時に金属線の先端を動かないように保持する
ことができる。
しかして、最近このワイヤボンディングに用いるキャビ
ラリイを、経済性、機械的強度、耐摩耗性、耐熱性など
の優れた特性を持つセラミックス材料で形成することが
検討されており、このセラミックスからなるキャビラリ
イの実用化が進められている。キャビラリイを形成する
セラミックスとしては、アルミナ、窒化けい素などが適
している。
しかして、従来セラミックスからなるキャビラリイを製
造する場合、キャビラリイ1の先端部に孔2を孔明は加
工する方法として、治具ボール盤などの工作機械におい
て孔の径に応じた径のマイクロドリルを使用し、このマ
イクロドリルを回転してキャビラリイの先端部を貫通さ
せ、孔2をキの先端部を貫通させる方法が採用されてい
る。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、前記のようにキャピラリイの先端部に細
い孔をマイクロドリルにより貫通して形成する方法には
、次の球な問題がある。すなわち、工具すなわちマイク
ロドリルの関係上、加工する孔の径に限界があり、あま
り細い径の孔を大なる長さで加工することが困難である
。具体的には、現在孔の長さ300譚の場合孔径が30
mが加工の限界となっている。そこで、キャビラリイの
先端部の厚さを小さくして、すなわち先端部に形成する
孔の長さを小さくすることにより、先端部に形成する孔
の径をさらに小さくすることが考えられる。しかし、こ
の場合キャビラリイの先端部の厚さがあまり小さいと、
セラミックスからなるキャピラリイを製造する時に、セ
ラミックス粉末からなる粉末成形体を焼結すると、焼結
体すなわちキャビラリイの先端部が破損することが多く
ある。また、大気中のレーザ加工においては孔の直径の
内壁に溶融凝固層が付着し、後工程のラップ加工に多大
な時間を要していた。
本発明は前記事情に基づいてなされたもので、必要とす
る細い径の孔を精度良く加工することができ、しかも孔
明は加工に伴いセラミックス部品を破損することがなく
、さらに溶融凝固層の付着もない細い孔を持つセラミッ
クス部品の製造方法を提供することを目的とする。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段と作用)前記目的を達成
するために本発明の細い孔を持つセラミックス部品の製
造方法は、セラミックスからなる加工物をエツチング液
の中に配置し、この加工物に前記エツチング液を通して
レーザ光を照射して該加工物に細い孔を形成することを
特徴とするものである。
すなわち、セラミックスからなる加工物にレーザ光を照
射することにより、加工物の端部にその厚さに拘らず細
い径の孔を貫通して形成でき、しかも加工物をエツチン
グ液の内部に入れてレーザ加工を行なうことにより、加
工物に形成された孔の表面にレーザ光の照射により生じ
たセラミックス焼結体の溶融物がエツチング液により除
去され、表面が平滑な孔を形成することができる。
、(実施例) 以下本発明の実施例を図面について説明する。
この実施例は、第5図で示すように半導体索子を製造す
る上でワイヤボンディングを行なう装置に用いるキャビ
ラリイの先端部に孔を形成する方法について説明する。
先ず、窒化けい素やアルミナなどのセラミックス粉末を
加圧して粉末成形体を成形し、この粉末成形体を焼結し
て第2図に示すキャビラリイ1を製造する。このキャピ
ラリイ1は、孔2を形成する先端部の厚さを、粉末成形
体を焼結するときに先端部の破損を防止できる充分な大
きさとする。
すなわち、このキャピラリ1は焼結時に先端部が破損す
ることがない。
次に、第1図で示す装置を用意してキャビラリイ1に対
してレーザ加工により孔2を形成する。
この装置は、エツチング液12を入れた液槽11の内部
に加工物であるキャビラリイ1を直立して保持するため
の保持具13を設け、液槽11の天井部に設けた蓋14
は中央部を開口して、この開口にレーザ光を透過する透
明板15を設ける。また、液槽11に設けたエツチング
液12の入口16と出口17を液槽11と別に設置した
液タンり18と接続し、この液槽11と液タンク18と
の間を結ぶ流路にポンプ19とフィルタ20を設ける。
そして、キャピラリイ1を液槽11の内部に入れ、キャ
ビラリイ1の先端部が上端となるようにキャピラリイ1
を直立した状態で保持具13で保持する。液槽11の内
部にエツチング液12を入れる。このエツチング液12
は、レーザ光の照射によりセラミックスの表面に生じる
溶融物をセラミックス表面から除去できるもの、例えば
水酸化カリウム<KOH)水溶液、水を使用する。
図示しないレーザ発振装置でレーザ光を発振させ、この
レーザ光Rを集光レンズ21に通して液槽11の内部に
設けたキャビラリイ1の先端部の中央に集光する。この
場合、集光レンズ21を通ったレーザ光Rは液tt!1
1のi14に設けた透明板15と、液槽11に入れたエ
ツチング液12の内部を通ってキャビラリイ1の先端部
に達する。
レーザ光Rが集光したキャビラリイ1の先端部では、レ
ーザ光のエネルギーによりセラミックス焼結体の組織が
溶融して孔が明く。このため、レーザ光Rを所定の大き
さで集光して連続して照射することにより、キャビラリ
イ1の先端部中央にこの先端部をキャビラリイ1の軸方
向に沿って貫通する所定の細い径の孔2が形成される。
なお、レーザ光はYAGレーザをを用いて発振の形式を
CW、Qスイッチ式として発振する方法を採用すること
が充分なビークパワーを得られることから好ましい。
また、レーザ光の照射によりキャビラリイ1の先端部に
孔2を形成する時に、孔2の表面には、レーザ光のエネ
ルギーでセラミックス焼結体の組成物の溶融したものが
発生する。一方、キャビラリイ1に形成された孔2の内
部には、液槽11の内部に入れたエツチング液12が浸
入する。そして、孔2の内部に浸入したエツチング液1
2が、孔2の表面にレーザ光の照射により発生したセラ
ミックス焼結体の組成物の溶融したちの=溶融物を孔2
0表面に溶融凝固層として形成させない。
なお、ポンプ19を駆動して液槽11のエツチング液1
2を出口17から液タンク18に移送し、液タンク18
のエツチング液12を入口16から液槽11に移送する
ことにより、液槽11のエツチング液が必要以上に温度
上昇することを防止してキャピラリイ1の孔明は加工に
支障が無いようにする。
第3図はこの様にしてキャビラリイ1の先端部に孔2を
形成した状態を示している。しかして、このキャビラリ
イ1の先端部に孔2を形成する方法によれば、キャビラ
リイ1の先端部にレーザ光Rを極めて小さな点の状態に
集束し、レーザ光Rの強力なエネルギーにより先端部の
セラミックス焼結体を溶融して貫通した孔2を形成する
ので、キャピライイ1の先端部の厚さに制約されること
なく径のミクロン単位の細い孔2を容易に形成すること
ができる。従って、従来の孔2の孔明は加工の限界であ
ったキャビラリイ1の先端部の厚さが300譚の場合に
径が307sL未満の孔2を形成することが可能になる
。このことからキャビラリイ1の先端部の厚さを、セラ
ミックス粉末成形体を焼結する時に先端部が破損しない
大きさにしても容易に孔2を形成することかできる。ま
た、キャビラリイ1をエツチング液12の中に入れてレ
ーザ光照射による孔明は加工を行なうことにより、エツ
チング液12の作用により孔2の表面にレーザ光照射に
より発生ずる溶融物の付着を防止するので、孔2の表面
を平滑に形成すすることができる。もし、孔2の表面に
セラミックス溶融物が凝固して付着している場合には、
後の仕上げ加工によってもこの溶融凝固物が除去に時間
を要している。
レーザ加工によりキャビラリイ1の先端部に形成された
孔2は、第3図で示すようにキャビラリイ1の先端面で
開口する部分が必要とする孔径よりも大径となるテーパ
となっているので、孔明は加工の後に、機械加工により
キャビラリイ1の先端面を削り取る。この殿械加工によ
り第4図で示すように孔2のテーパ部分を削り取り、必
要とする孔径を持った孔2のストレート部分のみを残す
最後にキャビラリイ1の孔2に対して仕上げ加工として
ワイヤラッピングを行なう。
このようにして製造したキャビラリイ1は先端部に高い
精度の孔径をもち且つ表面が平滑な孔2が形成されてい
るので、半導体の製造工程におけるワイヤボンディング
を行なう場合に使用すると、第5図で示すように金属線
Aを孔2に通して正確に半導体チップに送ることができ
る。
なお、本発明はワイヤボンディングに使用するキャビラ
リイに金属線を通す細い孔を形成する場合に適用するだ
けでなく、セラミックス部品にミクロン単位の細い孔、
特に細い透孔を形成する場合に広く適用することができ
る。
[発明の効果] 以上説明したように本発明の細い孔を持つセラミックス
部品の製造方法によれば、セラミックス部品に平滑な表
面を持ったミクロン単位の細い孔を正確に形成すること
ができ、しかも孔が貫通孔の場合に孔の径の大きさに拘
束されることなくセラミックス部品の貫通孔形成部の厚
さを焼結の時に破損しないように充分大きくとることが
できる。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の製造方法の一実施例を示し、第1図は孔
明は加工工程を示す説明図、第2図ないし第4図は各工
程におけるキャビラリイの状態を示す断面図、第5図は
キャビラリイを示す断面図である。 1・・・キャピラリイ、2・・・孔、11・・・液槽、
12・・・エツチング液。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)セラミックスからなる加工物をエッチング液の中
    に配置し、この加工物に前記エッチング液を通してレー
    ザ光を照射して該加工物に細い孔を形成することを特徴
    とする細い孔を持つセラミックス部品の製造方法。
  2. (2)加工物はワイヤボンディングに用いるキャビラリ
    ィであり、細い孔はキャビラリイの先端部を貫通する孔
    である特許請求の範囲第1項記載の細い孔を持つセラミ
    ックス部品の製造方法。
JP62267904A 1987-10-23 1987-10-23 細い孔を持つセラミックス部品の製造方法 Pending JPH01113189A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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US8861075B2 (en) 2009-03-05 2014-10-14 Board Of Trustees Of Michigan State University Laser amplification system

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