JP2001044345A - 基板一体型構造体 - Google Patents

基板一体型構造体

Info

Publication number
JP2001044345A
JP2001044345A JP21179499A JP21179499A JP2001044345A JP 2001044345 A JP2001044345 A JP 2001044345A JP 21179499 A JP21179499 A JP 21179499A JP 21179499 A JP21179499 A JP 21179499A JP 2001044345 A JP2001044345 A JP 2001044345A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
aluminum
alloy
substrate
integrated structure
component
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP21179499A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4104253B2 (ja
Inventor
Masahiro Ibukiyama
正浩 伊吹山
Yoichi Ogata
陽一 尾形
Ryozo Nonogaki
良三 野々垣
Yasuto Fushii
康人 伏井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denka Co Ltd
Original Assignee
Denki Kagaku Kogyo KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denki Kagaku Kogyo KK filed Critical Denki Kagaku Kogyo KK
Priority to JP21179499A priority Critical patent/JP4104253B2/ja
Publication of JP2001044345A publication Critical patent/JP2001044345A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4104253B2 publication Critical patent/JP4104253B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Landscapes

  • Structure Of Printed Boards (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Electrical Apparatus (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】効率的な放熱性を有する、軽量なモジュールを
提供する。 【解決手段】少なくとも一面にアルミニウムまたはアル
ミニウム合金板が接合された窒化アルミニウム基板4
と、炭化珪素質多孔体にAl2を主成分とする金属を含
浸してなる放熱部品6とからなる基板一体構造体であっ
て、前記アルミニウムまたはアルミニウム合金板と前記
放熱部品とが、MgとCu、Ge及びSiからなる群か
ら選ばれる1種以上とを含有し、液相を形成する温度が
500〜630℃であるAl合金を介して接合されてい
ることを特徴とする基板一体型構造体。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、軽量にして放熱性
に優れ、高信頼性を有する半導体装置用回路基板一体型
構造体に関する。
【0002】
【従来の技術】パワーモジュールを初めとする各種の半
導体装置には、セラミックス基板の両面にCuからなる
回路を設けたものが、回路基板として利用されている。
特に高集積化及び大電力化により、高い放熱性を必要と
する場合には、セラミックスとして高熱伝導率の窒化ア
ルミニウムが賞用されている。
【0003】しかし、前記のCuからなる回路を設けて
いる回路基板においては、Cu回路(或いは、裏面に設
けられる放熱用Cu板)と窒化アルミニウム基板の熱膨
張係数の差に起因する熱応力の繰り返しによって、窒化
アルミニウム基板に微細なクラックが発生することがあ
るため、高い信頼性を必要とする場合には降伏耐力の低
いAl板を接合することが試みられている。
【0004】また、回路基板は、通常、その放熱用金属
板を放熱フィン等に接合するためにベースCu板に半田
付けして使用されるが、熱応力の繰り返しに対してベー
スCu板と回路基板間に発生する半田クラックを避ける
ため、ベース板に熱膨張係数が小さい材質を用いること
も行われ、近年では、炭化珪素多孔体にAlを主成分と
する金属を前記炭化珪素多孔体の空隙部に含浸させて得
られるアルミニウム−炭化珪素複合体(以下、Al/S
iC複合材という)が開発されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】近年の半導体装置の高
集積化、大電力化に伴って、軽量コンパクトで益々高い
放熱性が求められるようになり、(1)セラミックス基
板の両面に設けられた金属板のうち片面の金属板を省略
し直接ベース板に接合する、(2)ベース板を省略し
て、セラミックス基板を水冷板や放熱フィン等のヒート
シンクに直接搭載する、等の試みが進められている。し
かし、これらの試みは、各構成部品の熱膨張率差と組立
工程や使用環境の温度変化によって生じる応力に耐えら
れず、信頼性が確保できないという問題がある。
【0006】また、回路基板をベース板に取り付けるに
際して熱伝導を良くすることを主目的に半田を用いてい
るが、半田は、セラミックス基板とベース板等の間の熱
膨張差を吸収して変形し、セラミックス基板やシリコン
チップに割れを生じることを防ぐ役割をも持っていた。
しかし、今後、環境汚染問題から半田が鉛フリー組成に
なることが望ましく、この場合には塑性変形を起こす応
力が高くなり、応力緩和能が低下する。更に、鉛フリー
半田は現在のPb−Sn系に比べて半田濡れ性に劣るこ
とを考えると、回路基板とベース板またはヒートシンク
等の放熱部品との間で、密着性に優れた信頼性のある接
合がますます必要になってくる。
【0007】更に、Al/SiC複合材を放熱部品とし
て用いる場合、Alを主成分とする金属を炭化珪素多孔
体に含浸させると同時にセラミックス基板と接合させる
ことも検討されているが、複合材の製造自体が非常に高
度な技術であるうえ、セラミックス基板が前記Alを主
成分とする金属層に埋もれてしまう等、未解決な課題が
ある。しかも、放熱部品やセラミックス基板の形状が変
わると、それに合わせて使用する型枠等を変えなくては
ならなくなり、生産上不都合でもある。
【0008】一方、放熱部品であるベース板とセラミッ
クス基板を接合材で接着する技術については、例えば特
開平3−125463号公報のとおりに多くの提案があ
る。前記技術では、Al−Si系又はAl−Ge系の合
金箔を接合材とし、バッチ式真空炉を用いて接合が行わ
れているが、バッチ式真空炉に大きなベース板を投入す
ると容積効率が悪くなるので、生産性が低下する。ま
た、大型の連続真空炉は、高価であり厳密な温度制御も
難しいので、このような接合には不向きである。
【0009】上記したとおりに、セラミックス回路基板
と放熱部品とを直接接合すると、効率的な放熱性を有す
るモジュールが得られるにもかかわらず、工業的な接合
技術がないために、実現していない。
【0010】本発明は、上記に鑑みてなされたものであ
り、その目的は、セラミックス回路基板と放熱部品とを
接合する、工業的な接合技術を提供し、効率的な放熱性
を有する、軽量なモジュールを提供することにある。即
ち、窒化アルミニウム基板の少なくとも一方の面にAl
回路を形成させてなる回路基板が、半田を使用せずにA
l/SiC複合材からなる放熱部品に接合された構造を
持ち、軽量にして放熱性に優れた高信頼性の基板一体型
構造体を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は、少なくとも一
面にアルミニウムまたはアルミニウム合金板が接合され
た窒化アルミニウム基板と、炭化珪素質多孔体にAlを
主成分とする金属を含浸してなる放熱部品とからなる基
板一体構造体であって、前記アルミニウムまたはアルミ
ニウム合金板と前記放熱部品とが、MgとCu、Ge及
びSiからなる群から選ばれる1種以上とを含有し、液
相を形成する温度が500〜630℃であるAl合金を
介して接合されていることを特徴とする基板一体型構造
体である。
【0012】また、本発明は、放熱部品は、該放熱部品
の主面にAlを主成分とする金属層が厚さ10μm以上
設けられていることを特徴とする前記の回路基板一体型
構造体である。
【0013】また、本発明は、放熱部品が、炭化珪素を
40〜70体積%で残部がSiを4〜14重量%含むア
ルミニウム合金からなり、熱伝導率が160W/mK以
上であるアルミニウム−炭化珪素複合体からなることを
特徴とする前記の回路基板一体型構造体。
【0014】更に、窒化アルミニウム基板が、熱伝導率
130W/mK以上であり、その表面のX線回折ピーク
強度比が、2≦(Y23・Al23/AlN)×100
≦17、かつ(2Y23・Al23/AlN)×100
≦2を有するものであることを特徴とする前記の回路基
板一体型構造体である。
【0015】
【発明の実施の形態】本発明は、少なくとも一面にアル
ミニウムまたはアルミニウム合金板が接合された窒化ア
ルミニウム基板と、炭化珪素質多孔体にAlを主成分と
する金属を含浸してなる放熱部品とからなる基板一体型
構造体であって、前記アルミニウムまたはアルミニウム
合金板と前記放熱部品とが、MgとCu、Ge及びSi
からなる群から選ばれる1種以上とを含有するAl合金
で接合されていることを特徴とする基板一体型構造体で
ある。上記構成を採用することにより、軽量で、放熱性
に優れた高信頼性の基板一体型構造体を提供することが
できる。
【0016】本発明で使用される窒化アルミニウム基板
は、Y23を焼結助剤として焼成されたものであり、熱
伝導率が130W/mK以上であることが好ましい。ま
た、その表面のCuKαによるX線回折のメインピーク
の強度比が、2≦(Y23・Al23/AlN)×10
0≦17、かつ(2Y23・Al23/AlN)×10
0≦2であるものが好ましい。このような表面特性を有
する窒化アルミニウム基板は、酸化処理等の煩雑な表面
処理を施さなくとも、MgとCu、Ge及びSiからな
る群から選ばれる1種以上とを含有し、少なくとも一部
が液相を形成する温度が500〜630℃のAl合金を
用いて、Alを主成分とする金属と十分に強い強度で接
合させることができる。
【0017】前記窒化アルミニウム基板の表面特性の調
整は、原料窒化アルミニウム粉中のAl23とY23
組成比、脱脂後焼成前までの増加酸素量、焼成温度等を
調整することによって行うことができる。
【0018】例えば、2Y23・Al23が多い場合に
は、相対的にAl23を増やせば良いので、酸素量の多
い窒化アルミニウム粉末原料を用いるか、Al23を添
加して、Y23を減らす。一方、Y23・Al23が多
い場合には、Y23の添加量を減らすか、焼成温度を下
げる。その他、脱脂を空気中で行えばAl23を増加さ
せることができる。
【0019】窒化アルミニウム基板にAl回路を形成さ
せるには、Al板を接合してからエッチングする、Al
板から打ち抜かれたパターンを接合する、等によって行
うことができる。接合材には、MgとCu、Ge及びS
iからなる群から選ばれる1種以上とを含有し、液相を
形成する温度が500〜630℃のAl合金を用いる
が、これを含めた接合条件については後述する。生産性
向上のためには、放熱部品との接合と同時にAl板又は
Alからなるパターンを接合することが好ましい。
【0020】本発明で使用されるAlを主成分とする金
属を炭化珪素多孔体に含浸させてなる複合体からなる放
熱部品は、例えば、炭化珪素の多孔体(プリフォームと
もいう)にAlを主成分とする金属を含浸させることに
よって製造することができる(例えば、セラミックデー
タブック‘95、山口雄三、堀三郎、95〜101頁
(1995))。放熱部品は、適当な熱膨張率と高い熱
伝導率を持つことが望ましく、160W/mK以上の熱
伝導率と6〜10ppmの熱膨張率を持つことが望まし
い。この物性は、Alを主成分とする金属と炭化珪素の
体積比率等によって調節でき、炭化珪素が40〜70体
積%で残部がAlを主成分とする金属であることが望ま
しい。更に、Alを主成分とする金属としては、組立工
程や使用環境における温度にさらされた場合でも特性が
劣化しない合金組成が望ましく、たとえば、Siを4〜
14重量%含むAl合金が望ましい。
【0021】本発明に於いて、前記放熱部品は、その主
面に炭化珪素が露出していない構造のものが好ましく、
前記Alを主成分とする金属が10μm以上の層となっ
ている構造であることが望ましい。前記主面とは回路基
板がろう付けされる面のことであり、また、放熱部品の
表面がメッキされる場合は、メッキされる部分の表面を
さす。これらの表面に炭化珪素が露出していると、ろう
付け面に欠陥が生じやすい、メッキ被膜が形成しにく
い、メッキやろう付けの付着強度が低い等の欠点が生じ
やすい。
【0022】本発明の基板一体型構造体の表面は、必要
に応じて表面にAlまたはAl合金が露出している部分
の全面又は部分にNiメッキされる。特に半田付け部分
はNiメッキが必要であり、Alワイヤボンドする部分
にはNiメッキがない方が信頼性が高いので、従って部
分メッキが好ましい。
【0023】本発明において、アルミニウムまたはアル
ミニウム合金板と窒化アルミニウム板の接合には、Mg
とCu、Ge及びSiからなる群から選ばれる1種以上
とを含有し、液相を形成する温度が500〜630℃の
Al合金、例えば、Al−Mg−Cu系合金、Al−M
g−Ge系合金、Al−Mg−Si系合金等を用いる。
その理由は、以下のとおりである。
【0024】前記したとおりの、窒化アルミニウム基板
とアルミニウムまたはアルミニウム合金板との接合には
Al−Si系合金やAl−Ge系合金が知られている
が、本発明になるMgとCu、Ge及びSiからなる群
から選ばれる1種以上とを含有するAl合金には、前記
合金に比較して、窒化アルミニウム基板との接合条件の
許容幅が広く、真空中でなくとも接合できる特徴がある
ので、生産性に優れた接合が可能となる。
【0025】即ち、従来公知のAl−Si系合金やAl
−Ge系合金では、比較的多量にSiやGeを添加しな
いと融点が低下しないが、多量に添加すると硬くて脆く
なる問題が生じる。このような問題を起こさせないよう
に、例えばAl−Si系合金において、Siの割合を5
%まで下げると融点が615℃となり、加圧を行っても
620℃以下の温度での接合は困難となる。
【0026】これに対し、本発明のMgを含有するAl
合金、ことにAl−Mg−Cu系合金、Al−Mg−G
e系合金或いはAl−Mg−Si系合金では、Cu、G
e、Siの割合を4%程度まで下げても適切に加圧等の
手段を講じることによって、600℃程度での接合も可
能となり、接合条件の許容幅が広がる。更に、Al−M
g−Cu系合金、Al−Mg−Ge系合金並びにAl−
Mg−Si系は、SiやGeが単独でAlに添加されて
いる場合に比べて、Cu、Ge、SiやMgがAl中に
均一に拡散し易いため、局部的な溶融が生じたり、余分
な接合材が押し出されてハミダシが生じ難く、比較的短
時間で安定した接合が可能となることによる。
【0027】本発明において、Mgを含有するAl合金
中のMgについては、少量添加することによって、接合
状態が良好になる。これはAl表面の酸化物層の除去効
果や窒化アルミニウム基板表面と接合材の濡れ性改善効
果によると推察される。Mgの割合は、0.05〜3重
量%が好ましい。0.05重量%未満では添加効果が顕
著でなくなり、3重量%超ではAl又はAl合金の硬度
に悪影響を与えるうえ、接合時に多量に揮発して炉操業
に支障をきたすことがある。特に好ましくは、0.1〜
1.0重量%である。
【0028】Al−Mg−Cu系合金中のCuの割合
は、2〜10重量%であることが好ましい。2重量%未
満では、接合温度が高くなってAlの融点に近くなって
しまい、また10重量%超では、接合後のろう材の拡散
部が特に硬くなって回路基板の信頼性が低下する恐れが
ある。好ましくは2〜6重量%である。
【0029】また、Al−Mg−Ge系合金中のGeの
割合は、2〜20重量%であることが好ましい。2重量
%未満では、接合温度が高くなってAlの融点に近くな
ってしまい、また20重量%超では、接合後のろう材の
拡散部が特に硬くなって回路基板の信頼性が低下する恐
れがある。好ましくは2〜10重量%である。
【0030】Al−Mg−Si系合金中のSiの割合
は、4〜14重量%あることが好ましい。4重量%未満
では、接合温度が高くなってAlの融点に近くなってし
まい、また14重量%超では、接合後のろう材の拡散部
が特に硬くなって回路基板の信頼性が低下する恐れがあ
る。好ましくは4〜12重量%である。
【0031】本発明で使用されるAl−Mg−Cu系合
金、Al−Mg−Ge系合金或いはAl−Mg−Si系
合金は、Al、Mg、Cu、Ge、Siの主要成分はも
とより、それ以外の成分を含んでいてもよい。例えばA
l、Mg、Cu、Ge、Si以外に、Zn、In、M
n、Cr、Ti、Bi、B、Fe等の成分を合計で5重
量%程度以下を含んでいてもよい。本発明で使用される
接合材の組成について日本工業規格の例をあげれば、4
重量%程度のCuと0.5重量%程度のMgが含まれる
2018合金、更に0.5重量%程度のMn等が含まれ
る2017合金を始め、2001、2005、200
7、2014、2024、2030、2034、203
6、2048、2090、2117、2124、221
4、2218、2224、2324、7050等が挙げ
られる。
【0032】前記Mgを含有する液相温度が500〜6
30℃のAl合金で窒化アルミニウム基板とアルミニウ
ム板とを接合するときの温度については、液相範囲が5
00〜630℃にあるのでかなり広範囲の温度が適用で
きるが、接合材の組成によって適正温度条件は異なる。
ZnやIn等の低融点成分が添加されていたり、Mgや
Cu、Ge等の含有量が比較的多い場合には、600℃
以下でも十分に接合できる。接合温度が630℃超で
は、接合時にろう接欠陥(回路に生じる虫食い現象)が
生じやすくなるので好ましくない。
【0033】本発明において、加熱接合時に、窒化アル
ミニウム基板と垂直な方向に10〜100kgf/cm
2、特に15〜80kgf/cm2で加圧することは好ま
しいことである。加圧方法としては、重しを載せる、治
具を用いて機械的に加えることによって行うことができ
る。加圧は、少なくとも接合が始まる温度、例えば、A
l−0.3%Mg−4%Cu合金箔を用いて610℃で
接合する場合は、580℃までの温度範囲では前記圧力
以内に保たれていることが望ましい。
【0034】本発明の基板一体型構造体においては、窒
化アルミニウム基板の一方の面にAl回路が形成され、
他方の反対面にはアルミニウム板を介して、若しくは介
さずに、ベース板やヒートシンクなどの放熱部品が接合
される。上記のAl−Mg−Cu系合金、Al−Mg−
Ge系合金或いはAl−Mg−Si系合金の組成と、A
l/SiC複合材に用いるAlを主成分とする金属の組
成を適宜選択することにより、アルミニウムからなる回
路パターン又は放熱用アルミニウム板と、Al/SiC
複合材からなる放熱部品とを、同時に窒化アルミニウム
基板の表裏面に接合することができる。この場合、Al
−Mg−Cu系合金、Al−Mg−Ge系合金或いはA
l−Mg−Si系合金の接合材は、窒化アルミニウム基
板とアルミニウム回路パターン、或いはアルミニウム回
路形成用のアルミニウム板との間に積層介在させるが、
あらかじめアルミニウム板と接合用合金をクラッドして
おくと一層使用しやすく、好ましい。
【0035】放熱部品に用いているAl/SiC複合材
のAlを主成分とする金属の融点が低い場合、例えばS
i含有量が12重量%になると融点が580℃を下回
り、アルミニウムまたはアルミニウム合金板、窒化アル
ミニウム板並びに放熱部品を同時に接合するための条件
は、前記温度を下回る必要がある。Al−Mg−Cu系
合金のCu量を10重量%程度に増やせば可能である
が、Al−Mg−Ge系合金ではGeを10重量%まで
増やすと520℃でも接合することができ、一層好適で
ある。あるいは、窒化アルミニウム基板より回路基板を
あらかじめ製造し、それをAl/SiC複合材からなる
放熱部品にAl−Mg−Ge系合金を用いて接合しても
よい。
【0036】本発明の基板一体型構造体は、Mgを含有
する液相温度が500〜630℃のAl合金を接合材に
用いることによって、その生産性を著しく高めることが
できる。その理由の一つは、接合が真空炉に限定されな
いことである。真空炉は元来高価なうえ、連続化が難し
く、またバッチ炉では容積効率が悪い。大型炉にすると
温度分布が生じ易く、高収率での生産は望めない。これ
に対し、従来のAl−Si系やAl−Ge系合金の接合
材のかわりに、Al−Mg−Cu系合金やAl−Mg−
Ge系合金を始めとする、Mgを含有する液相温度が5
00〜630℃のAl合金をを用いると、真空下でなく
とも、N2、H2、不活性ガス及びこれらの混合ガスの
低酸素雰囲気下で接合することができるので、炉構造が
簡単になり、連続化も容易となる。更に、連続化によっ
て、温度分布等の製品のバラツキ要因を低減させること
ができ、歩留まりよく、品質の安定した製品を製造する
ことができるという効果を達することができる。
【0037】また、本発明の基板一体型構造体を製造す
る際、放熱部品同士と窒化アルミニウム基板同士が隣り
合うように積層して加熱することが好ましい。この理由
は、放熱部品は回路基板よりも一般に熱膨張係数が大き
いので、接合後の冷却によって回路基板側が凸形となり
やすく、そのような変形を軽減させるためである。これ
は、Alが塑性変形の容易な材料である点を利用したも
のである。この場合において、放熱部品や窒化アルミニ
ウム基板表面に存在するアルミニウム材同士の接着を避
けるため、必要に応じてスペーサー材を介在させても良
い。
【0038】尚、本発明の基板一体型構造体の、アルミ
ニウムまたはアルミニウム合金と窒化アルミニウム板と
の接合界面には、20nm以下の厚さのAl−Mg−O
層が接合界面の一部もしくは全面に存在する。ここで、
Al−Mg−O層は、Al、Mgと酸素を主成分とする
アモルファス層である。Mgを含まない、もしくは少量
しか含まないろう材を用いて接合した場合は、Alまた
はAl合金と窒化アルミニウムの接合界面には、Al−
O層が部分もしくは全面に存在し、この場合には信頼性
の高い接合界面を得ることはできない。従って、このA
l−Mg−O層が界面の接合に有用な働きをしていると
予想される。
【0039】更に、本発明の基板一体型構造体は、20
0℃以上、好ましくは300〜350℃程度の温度範囲
で焼鈍することによって、窒化アルミニウム基板に残留
しがちな熱応力を緩和することができる。
【0040】
【実施例】以下、実施例と比較例に基づき、本発明を更
に詳細に説明する。
【0041】〔実施例1〜4、比較例1〜3〕 (1)窒化アルミニウム基板 市販の窒化アルミニウム粉にY23を表1に示す割合で
混合し、有機バインダーと有機溶剤を加えて混練した
後、ロール成形機によってシート状に成形した。これを
裁断して離型材(BN粉)を塗布し、積層して1Paの
減圧下、450℃で脱脂し、更に大気中で脱炭素した。
各試料はN2雰囲気下で表1に示す焼成条件で焼結し
て、40mm×40mm×0.635mmの窒化アルミ
ニウム基板を製造した。得られた窒化アルミニウム基板
について、X線回折により助剤相の生成を調べるととも
に、レーザーフラッシュ法により熱伝導率を求めた。そ
れらの結果を表1に示す。
【0042】
【表1】
【0043】(2)ヒートシンク及びAl回路 50mm×50mm×3mmのAl/SiC複合体(特
願平9−288219号に準じて製造したもの)、又は
50mm×50mm×10mmのAlブロックを用い
た。また、Al回路は市販のAl材(純度≧99.99
%)から、回路パターンを打ち抜いて用いた。
【0044】(3)一体型構造体の作製 表2に示される接合材と、前記の窒化アルミニウム基
板、放熱部品及びAl回路とを、図1のように積層し
た。これを炉外から油圧式の一軸加圧装置でカーボン製
の押し棒を介して窒化アルミニウム基板面と垂直方向に
加圧しながら加熱を行い、接合した。接合条件は、表3
に示すとおりであり、4×10-3Paの真空中(バッチ
炉)又はN2ガス中(連続炉)で行った。なお、比較例
1では、窒化アルミニウム基板の表裏面にAl板(厚み
0.4mm)を接合した後、共晶半田で放熱部品に接合
した。
【0045】
【表2】
【0046】
【表3】
【0047】(4)基板一体型構造体の評価 得られた回路基板一体型構造体について、その接合状態
を超音波探傷装置(SAT)で観察し、直径1mm以上の
未接合部又は1%以上の未接合面積部が確認できたもの
を接合不良とした。次に、各試料は、−40℃、30分
→室温、10分→125℃、30分→室温、10分を1
サイクルとして3000サイクルのヒートサイクルテス
トを行った後、外観観察して異常の有無を確認し、再び
SATで接合状態を調べた。それらの結果を表4に示
す。
【0048】
【表4】
【0049】実施例、比較例から明らかなように、本発
明の基板一体型造体では、いずれも良好な接合状態を示
した。特に、実施例1、2、4では、簡易的な連続炉を
用いたにも拘わらず、接合不良のない基板一体型構造体
が得られている。これに対して、比較例1〜3では、ヒ
ートサイクル後には不良品が多発している。
【0050】
【発明の効果】本発明によれば、軽量にして放熱性に優
れた高信頼性の基板一体型構造体が提供され、前記基板
上に回路形成するのみで、軽量で放熱性に優れた回路基
板が放熱部品に一体化された構造体を得ることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施例、比較例の基板一体型構造体
を得るときの積層方法を説明する図。
【符号の説明】
1 カーボン製スペーサー 2 Al 3 接合材 4 窒化アルミニウム基板 5 接合材 6 放熱部品
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05K 7/20 H01L 23/36 M (72)発明者 伏井 康人 福岡県大牟田市新開町1 電気化学工業株 式会社大牟田工場内 Fターム(参考) 5E322 AA11 AB06 5E338 AA18 BB71 BB75 CC01 EE02 5F036 AA01 BA04 BA26 BB01 BC06 BD01 BD03 BD14

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】少なくとも一面にアルミニウムまたはアル
    ミニウム合金板が接合された窒化アルミニウム基板と、
    炭化珪素質多孔体にAlを主成分とする金属を含浸して
    なる放熱部品とからなる基板一体型構造体であって、前
    記アルミニウムまたはアルミニウム合金板と前記放熱部
    品とが、MgとCu、Ge及びSiからなる群から選ば
    れる1種以上とを含有し、液相を形成する温度が500
    〜630℃であるAl合金を介して接合されていること
    を特徴とする基板一体型構造体。
  2. 【請求項2】放熱部品は、該放熱部品の主面にAlを主
    成分とする金属層が厚さ10μm以上設けられているこ
    とを特徴とする請求項1項記載の回路基板一体型構造
    体。
  3. 【請求項3】放熱部品が、炭化珪素を40〜70体積%
    で残部がSiを4〜14重量%含むアルミニウム合金か
    らなり、熱伝導率が160W/mK以上であるアルミニ
    ウム−炭化珪素複合体からなることを特徴とする請求項
    1又は請求項2項記載の回路基板一体型構造体。
  4. 【請求項4】窒化アルミニウム基板が、熱伝導率130
    W/mK以上であり、その表面のX線回折ピーク強度比
    が、2≦(Y23・Al23/AlN)×100≦1
    7、かつ(2Y23・Al23/AlN)×100≦2
    を有するものであることを特徴とする請求項1、請求項
    2又は請求項3記載の回路基板一体型構造体。
JP21179499A 1999-07-27 1999-07-27 基板一体型構造体 Expired - Fee Related JP4104253B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21179499A JP4104253B2 (ja) 1999-07-27 1999-07-27 基板一体型構造体

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21179499A JP4104253B2 (ja) 1999-07-27 1999-07-27 基板一体型構造体

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001044345A true JP2001044345A (ja) 2001-02-16
JP4104253B2 JP4104253B2 (ja) 2008-06-18

Family

ID=16611727

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP21179499A Expired - Fee Related JP4104253B2 (ja) 1999-07-27 1999-07-27 基板一体型構造体

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4104253B2 (ja)

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002334959A (ja) * 2001-05-10 2002-11-22 Denki Kagaku Kogyo Kk モジュール構造体
JP2003008177A (ja) * 2001-06-18 2003-01-10 Denki Kagaku Kogyo Kk 一体型セラミックス回路基板製造方法
JP2005252136A (ja) * 2004-03-08 2005-09-15 Dowa Mining Co Ltd アルミニウム−セラミックス接合基板およびその製造方法
JP2014132687A (ja) * 2014-03-20 2014-07-17 Mitsubishi Materials Corp パワーモジュール用基板の製造方法
JP2014138124A (ja) * 2013-01-17 2014-07-28 Mitsubishi Materials Corp ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法
JP2014143351A (ja) * 2013-01-25 2014-08-07 Mitsubishi Materials Corp ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法
JP2014167984A (ja) * 2013-02-28 2014-09-11 Mitsubishi Materials Corp ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法
JP2015130431A (ja) * 2014-01-08 2015-07-16 三菱マテリアル株式会社 ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法
JP2017120828A (ja) * 2015-12-28 2017-07-06 三菱マテリアル株式会社 接合体の製造方法、ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法、接合体及びヒートシンク付パワーモジュール用基板
JP2017168568A (ja) * 2016-03-15 2017-09-21 三菱マテリアル株式会社 接合体の製造方法、及び、パワーモジュール用基板の製造方法
JP2018030755A (ja) * 2016-08-24 2018-03-01 三菱マテリアル株式会社 セラミックス/Al−SiC複合材料接合体の製造方法、及びヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法
JP2018032732A (ja) * 2016-08-24 2018-03-01 三菱マテリアル株式会社 セラミックス/Al−SiC複合材料接合体の製造方法、及びヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法
KR20180077170A (ko) 2015-11-06 2018-07-06 미쓰비시 마테리알 가부시키가이샤 세라믹스/알루미늄 접합체, 파워 모듈용 기판, 및 파워 모듈
JP2019145604A (ja) * 2018-02-19 2019-08-29 三菱マテリアル株式会社 ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法
JP2019165100A (ja) * 2018-03-19 2019-09-26 三菱マテリアル株式会社 ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002334959A (ja) * 2001-05-10 2002-11-22 Denki Kagaku Kogyo Kk モジュール構造体
JP2003008177A (ja) * 2001-06-18 2003-01-10 Denki Kagaku Kogyo Kk 一体型セラミックス回路基板製造方法
JP4674999B2 (ja) * 2001-06-18 2011-04-20 電気化学工業株式会社 一体型セラミックス回路基板製造方法
JP2005252136A (ja) * 2004-03-08 2005-09-15 Dowa Mining Co Ltd アルミニウム−セラミックス接合基板およびその製造方法
JP4543275B2 (ja) * 2004-03-08 2010-09-15 Dowaメタルテック株式会社 アルミニウム−セラミックス接合基板およびその製造方法
JP2014138124A (ja) * 2013-01-17 2014-07-28 Mitsubishi Materials Corp ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法
JP2014143351A (ja) * 2013-01-25 2014-08-07 Mitsubishi Materials Corp ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法
JP2014167984A (ja) * 2013-02-28 2014-09-11 Mitsubishi Materials Corp ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法
JP2015130431A (ja) * 2014-01-08 2015-07-16 三菱マテリアル株式会社 ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法
JP2014132687A (ja) * 2014-03-20 2014-07-17 Mitsubishi Materials Corp パワーモジュール用基板の製造方法
KR20180077170A (ko) 2015-11-06 2018-07-06 미쓰비시 마테리알 가부시키가이샤 세라믹스/알루미늄 접합체, 파워 모듈용 기판, 및 파워 모듈
US10607907B2 (en) 2015-11-06 2020-03-31 Mitsubishi Materials Corporation Ceramic-aluminum conjugate, power module substrate, and power module
JP2017120828A (ja) * 2015-12-28 2017-07-06 三菱マテリアル株式会社 接合体の製造方法、ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法、接合体及びヒートシンク付パワーモジュール用基板
JP2017168568A (ja) * 2016-03-15 2017-09-21 三菱マテリアル株式会社 接合体の製造方法、及び、パワーモジュール用基板の製造方法
JP2018030755A (ja) * 2016-08-24 2018-03-01 三菱マテリアル株式会社 セラミックス/Al−SiC複合材料接合体の製造方法、及びヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法
JP2018032732A (ja) * 2016-08-24 2018-03-01 三菱マテリアル株式会社 セラミックス/Al−SiC複合材料接合体の製造方法、及びヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法
JP2019145604A (ja) * 2018-02-19 2019-08-29 三菱マテリアル株式会社 ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法
JP2019165100A (ja) * 2018-03-19 2019-09-26 三菱マテリアル株式会社 ヒートシンク付パワーモジュール用基板の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP4104253B2 (ja) 2008-06-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4104253B2 (ja) 基板一体型構造体
KR20110015544A (ko) 파워 모듈용 기판, 파워 모듈, 및 파워 모듈용 기판의 제조 방법
JP2017183716A (ja) ヒートシンク付絶縁回路基板の製造方法、及び、ヒートシンク付絶縁回路基板
JP6958441B2 (ja) ヒートシンク付き絶縁回路基板の製造方法
JP4104429B2 (ja) モジュール構造体とそれを用いたモジュール
JP6645368B2 (ja) 接合体、パワーモジュール用基板、接合体の製造方法、及び、パワーモジュール用基板の製造方法
JP5016756B2 (ja) 窒化物系セラミックス部材と金属部材の接合体およびそれを用いた窒化物系セラミックス回路基板
JP6790945B2 (ja) 絶縁回路基板の製造方法、及び、ヒートシンク付き絶縁回路基板の製造方法
JPH08102570A (ja) セラミックス回路基板
WO2021200866A1 (ja) 回路基板、接合体、及びこれらの製造方法
JP3797823B2 (ja) 回路基板複合体
JP2006156975A (ja) 接合体、パワーモジュール用基板、及び、パワーモジュール並びに接合体の製造方法
JPH0723964Y2 (ja) 半導体装置用軽量基板
JP3302714B2 (ja) セラミックス−金属接合体
JP6780561B2 (ja) 接合体の製造方法、絶縁回路基板の製造方法、及び、接合体、絶縁回路基板
JP3190282B2 (ja) 回路基板の製造方法
JPH06263554A (ja) セラミックス−金属接合基板
JPH06329480A (ja) セラミックス−金属接合体およびその製造方法
CN111801790B (zh) 带散热器的绝缘电路基板的制造方法
JP2001267468A (ja) セラミックス回路基板複合体
JPH0786444A (ja) 半導体用複合放熱基板の製造方法
JPH04168792A (ja) 耐熱衝撃性に優れた高放熱性セラミックス回路基板の製造方法
JP2018030738A (ja) セラミックス基板とアルミニウム含浸炭化珪素多孔質体との接合体の製造方法
JP2000349098A (ja) セラミック基板と半導体素子の接合体及びその製造方法
JP2004344958A (ja) 炭素アルミニウム複合材料または炭化珪素アルミニウム複合材料に金属を接合したハイブリッド材料および該ハイブリッド材料を用いた熱交換器用部品

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20041201

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20051019

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20051101

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20051114

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060912

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20061017

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061024

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20061212

A912 Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20070112

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080228

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080325

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110404

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120404

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130404

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130404

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140404

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees